Laboratorul 2 Materiale Pentru Electronica

LUCRAREA NR.
MATERIALE FEROELECTRICE
M ATE R I A L E F E R O E L E C T R I C E
1.
Scopul lucrrii
Scopul acestei lucrri este determinarea dependenei de frecven i

temperatur a permitivitii complexe relative i studiul efectului
piezoelectric pentru materiale ceramice feroelectrice.
2.
Noiuni teoretice
2.1
Feroelectricitatea
Materialele cu polarizare spontan sunt materiale care se

caracterizeaz prin existena unui moment electric nenul al unitii de volum
n absena unui cmp electric exterior. Celula elementar a unui asemenea
material prezint moment dipolar spontan printr-unul din urmtoarele
mecanisme:
-
polarizarea de deplasare a electronilor atomici;
polarizarea de deplasare a ionilor celulei elementare.
Vectorul polarizaie spontan
se caracterizeaz prin simetria
limit de tip m care conine urmtoarele elemente de simetrie:

-
o ax de rotaie de ordinul care conine dreapta suport a vectorului
o infinitate de plane de oglindire care conin aceast dreapt.
Pentru ca ntr-un material s existe polarizaie spontan este necesar

ca simetria structural a materialului s constituie, conform principiului lui
Neumann, un subgrup al clasei de simetrie limit m; din cele 32 de clase
de simetrie cristalin existente n natur, numai 10 ndeplinesc aceast
condiie i anume: 1, 2, 3, 4, 6, m, mm, 3m, 4mm, 6mm.
LUCRAREA NR. 2
2
Starea feroelectric reprezint o stare de ordine a materiei, rezultat
spontan din tendina ctre stabilitate care corespunde unui minim al energiei
libere totale a materialului. Din acest motiv temperatura influeneaz starea
de polarizaie spontan prin efectul perturbator. n consecin exist o
temperatur limit, numit temperatur Curie TC, la care agitaia termic
distruge starea de ordine dielectric, materialul pierznd polarizarea sa
spontan.
Prefixul fero nu are legtur cu materialul fier, dar reprezint o
analogie cu fenomenul de feromagnetism care se va studia la materiale
magnetice. n anumite materiale, dipolii electrici nu sunt distribuii aleator,
ci interacioneaz unul cu altul, astfel c se pot alinia, unul dup altul, chiar
n absena unui cmp electric aplicat. Va rezulta, prin urmare, o polarizare
spontan i o constant dielectric r mare. Asemenea proprieti sunt foarte
utile la realizarea condensatoarelor dar, la fel ca n cazul feromagnetismului,
nu sunt multe materiale care au aceste proprieti.
Dup modul n care are loc tranziia de faz la temperatura Curie TC
materialele feroelectrice se mpart n dou categorii:
-
materiale cu tranziie de faz de ordinul I caracterizate prin
anularea cu salt a polarizaiei spontane la TC (Figura 1a);

-
materiale cu tranziie de faz de ordinul II caracterizate prin
scderea monoton i continu a polarizaiei spontane la TC (Figura 1b).

Structura materialelor feroelectrice poate fi monocristalin sau
policristalin. Indiferent de structura cristalin se constat c n aceste
materiale ordinea dielectric spontan se caracterizeaz prin formarea de
domenii dielectrice n interiorul crora momentele electrice ale celulelor
elementare sunt orientate n aceeai direcie i sens, dar diferite domenii pot
avea orientri diferite. Drept rezultat polarizaia macroscopic prezentat de
LUCRAREA NR. 2
3
material este n general mai mic dect valoarea corespunztoare orientrii
homoparalel a tuturor momentelor dipolare elementare, putnd fi i nul.
Figura 1. Materiale feroelectrice de spea I i II.
Principalele
caracteristici
ale
materialelor
feroelectrice
sunt
dependena de tip histerezis a induciei electrice de intensitatea cmpului

electric aplicat i dependena permitivitii complexe relative de intensitatea
cmpului electric, de frecven i temperatur.
2.2
Piezoelectricitatea
Materialele feroelectrice care prezint la nivel macroscopic

polarizaie remanent nenul se caracterizeaz prin efect piezoelectric direct
i invers, care const n interaciunea dintre mrimile electrice (intensitatea
cmpului electric
mecanic
i inducia electric
) i mrimile mecanice (tensiunea
i deformaia mecanic relativ
). n domeniul liniar, de
semnal mic, n regim armonic (cnd mrimile cauz mecanice i electrice

variaz sinusoidal n timp) efectul piezoelectric poate fi descris cantitativ
prin urmtorul sistem de ecuaii:
[D]=0[T][E]+[d][T]
(1)
[S]=[dt][E]+[sE][T]
unde
LUCRAREA NR. 2
4
[E] este reprezentarea n complex simplificat a vectorului cmp electric;
[T] - reprezentarea n complex simplificat a tensorului tensiune mecanic;
[D] - reprezentarea n complex simplificat a vectorului inducie electric;
[S] - reprezentarea n complex simplificat a tensorului deformaie elastic.
Factorii de proporionalitate sunt parametri de material.
Rezonatoarele piezoelectrice (rezonatoare cu cuar i rezonatoare
ceramice) fac parte din categoria dispozitivelor piezoelectrice funcionale
alturi de filtrele piezoelectrice, liniile de ntrziere piezoelectrice i
transformatoarele piezoelectrice. Din punct de vedere al domeniului
frecvenelor de lucru, rezonatoarele piezoelectrice se ncadreaz n
dispozitivele piezoelectrice neliniare, dispozitive care funcioneaz n
aproprierea rezonanei elastice unde amplitudinea undei staionare de natur
elastic are amplitudine mare; amplitudine care scade puternic n afara
rezonanei.
Metoda de determinare a proprietilor materialelor piezoelectrice
este o metod dinamic de rezonan. Ea se bazeaz pe faptul c prin
aplicarea unui cmp electric sinusoidal de frecven f punctele materiale ale
unei probe piezoelectrice vor oscila elastic forat cu aceeai frecven f.
Amplitudinea oscilaiilor elastice este maxim dac nu exist fore elastice
externe care s le atenueze. Unda elastic determinat de oscilaiile elastice
se propag fie pe o direcie paralel cu direcia de oscilaie, n acest caz unda
elastic numindu-se und longitudinal, fie pe o direcie perpendicular,
corespunztor obinndu-se o und elastic transversal.
Lungimea de und care caracterizeaz propagarea undei elastice
este dat de relaia:
vf
f
(2)
LUCRAREA NR. 2
5
unde: vf este viteza de propagare a undei elastice n materialul
piezoelectric, iar f frecvena oscilaiei elastice.
n cazul cnd dimensiunea probei pe direcia de propagare a undei
elastice este un multiplu al jumtii lungimii de und, n proba
piezoelectric se stabilete un regim de und elastic staionar, determinnd
fenomenul de rezonan elastic. n acest caz oscilaiile sunt maxime,
singurul fenomen care limiteaz amplitudinea lor fiind frecarea intern.
Deci, rezonatorul piezoelectric este un dispozitiv electronic care
funcioneaz la frecvena electric corespunztoare regimului de und
staionar. El este construit dintr-o structur de form i dimensiuni
oarecare, confecionat din material piezoelectric i dou armturi metalice
pe care aplicnd o tensiune electric de frecven dorit se induce n
structur un cmp electric corespunztor de comand care va genera oscilaii
i unde elastice. Modul fundamental de vibraie la rezonan este
caracterizat de frecvena fs dat de urmtoarea relaie:
fs
vf vf
2l
(3)
Indiferent de forma constructiv i tipul de material piezoelectric,

schema electric echivalent, general valabil, a unui rezonator piezoelectric
n regiunea rezonanei fundamentale este prezentat n Figura 2.
Figura 2. Schema echivalent a unui rezonator piezoelectric.
LUCRAREA NR. 2
6
Elementele din schema echivalent au urmtoarele
semnificaii:
C S0 este capacitatea electric prezentat de rezonator dac se
mpiedic, printr-o metod oarecare (de exemplu ncastrare), oscilaia

elastic;
R0 este rezistena echivalent a pierderilor de putere activ de natur
dielectric;
Reactana L-C modeleaz electric rezonana elastic; inductana L
este determinat de masa rezonatorului, iar C de coeficientul de elasticitate;
R este o rezisten care atenueaz oscilaia electric a circuitului
serie L-C, fiind determinat de pierderile de putere activ de natur elastic,
datorate vscozitii interne a materialului piezoelectric.
Circuitul serie R-L-C este activ numai n apropierea rezonanei
elastice, n orice alt domeniu de frecven el fiind pasiv, prezentnd o
impedan mult mai mare dect circuitul derivaie C S0 -R0: pentru frecvene
mult mai mici dect fs impedana mare este determinat de C, iar pentru
frecvene superioare lui fs impedana mare este determinat de L.
Dependena admitanei de intrare a unui rezonator piezoelectric de frecvena
electric este caracterizat de un grup de ase frecvene cu urmtoarele
semnificaii:
fs - frecvena de rezonan serie a circuitului L-C;
fp - frecvena de rezonan derivaie a circuitului (L-C)- C S0 ;
fm - frecvena la care modulul admitanei este maxim;
fn - frecvena la care modulul admitanei este minim;
fr i fa - frecvenele la care susceptana este nul.
LUCRAREA NR. 2
7
n cazul rezonatoarelor piezoelectrice cu pierderi de natur
dielectric i elastic neglijabile cele trei perechi de frecvene coincid:
fm = f n = f s
fr = f a = f p
La rezonatoarele piezoelectrice realizate din materiale ceramice
piezoelectrice cu coeficient de cuplaj piezoelectric mare i cu factori de
calitate electrici i elastici de valori medii, dei aceste frecvene sunt foarte
apropiate, nu mai pot fi neglijate pierderile elastice care separ frecvenele f s
i fp de fn i fm astfel:
fp fs
fn fm
4
1 2
Qm
(4)
unde Qm este factorul de calitate elastic.

Diferena ntre aceste dou frecvene este mai mic de 1% dac este
ndeplinit condiia urmtoare:
Q 2m f p f s
fs
100
(5)
Caracteristica de frecven a modulului admitanei de intrare a unui

rezonator piezoelectric ceramic este prezentat n Figura 3.
LUCRAREA NR. 2
8
Figura 3. Caracteristica de frecven a modulului admitanei de intrare a unui
rezonator piezoelectric ceramic
Rezonatoarele piezoelectrice sunt dispozitive la care impedana

electric de intrare este puternic dependent de frecven, motiv pentru care
sunt utilizate ca circuite rezonante cu factori de calitate mari i foarte mari
(103 108).
Funcionarea rezonatoarelor piezoelectrice se bazeaz pe efectul
piezoelectric i
Fenomenul de rezonan elastic, caracteristic materialelor cu
structur cristalin.
Materialele cu structur cristalin sunt materiale solide, anizotrope,
monocristaline
(cuarul,
sarea
Seignette)
sau
materiale
ceramice
policristaline (titanatul de bariu, titanatul de plumb) i care sunt denumite

materiale piezoelectrice.
Rezonatoarele piezoelectrice prezint avantajul unei mari stabiliti a
frecvenei de oscilaie datorit excelentei combinaii ntre proprietile
piezoelectrice i cele mecanice, termice i chimice ale materialelor
monocristaline sau policristaline cu proprieti piezoelectrice.
Oscilaiile (vibraiile) mecanice care apar n materialele piezoelectrice
se manifest n interiorul cristalului sub forma undelor elastice (mecanice)
de volum sau la suprafaa cristalului sub forma undelor elastice de suprafa.
3.
Aparatura folosit
Aparatele folosite n cadrul acestei lucrri sunt:

- Analizorul de reele E 5061 A Agilent descris n Anexa A2.1.
- Punte de msur RLC de precizie E 4980A, Agilent descris n
Capitolul 8 al ndrumarului.
LUCRAREA NR. 2
4.
Desfasurarea lucrarii
4.1 Determinarea dependenei de frecven a

permitivitii complexe relative
4.1.1 Metoda de msur
Se utilizeaz plachete din material feroelectric ceramic de tip PZT
(soluie solid de titanat- zirconat de plumb) de suprafa S i grosime b,
avnd armturile depuse pe suprafeele mari (al). Schema electric
echivalent a probei este compus dintr-un condensator plan C S0 i un
rezistor R0 , n paralel conform Figurii 4.
Figura 4. Schema echivalent a unei probe de material ceramic de tip PZT.
Valorile condensatorului plan C S0 i a rezistorul R0 se msoar cu

ajutorul Analizorului de Reea E 5061A, ntr-o gam de frecvene date, la
temperatura ambiant.
Schema de msur din Figura 5 evideniaz c, proba de material
ceramic de tip PZT este un uniport cuplat prinr-un cablu coaxial la Portul
1 (radiofrecven) RF al Analizorului de Reea E 5061A, care prin
s
msurarea parametrului S11 determin prin calcul valorile lui C0 i R 0
(pentru detalii vezi anexa).
LUCRAREA NR. 2
10
Figura 5 Schema de msur a a unei probe de material ceramic de tip PZT.
T
1
Analizor de
reea
E 5061 A
Port 1
U
a
b
R0
CS0
Se determin permitivitatea relativ real ', permitivitatea relativ

imaginar '' i tangenta unghiului de pierderi tg cu relaiile:
1
C 0S b
C 0S b
;
; tg
Q
S 0
S 0 Qe
e
(6)
unde 0 este permitivitatea electric absolut a vidului:0=8,85610-12

F/m.
4.1.2
Mod de lucru
Se folosete o plachet de PZT cu grosimea b = 3 mm care se

introduce ntr-un dispozitiv de prob cu aria armturilor A = 80 mm 2. Acest
dispozitiv de prob se monteaz la portul 1 al Analizorului de Reele
E5061A (Figura 3).
Pentru aceasta se execut urmtoarele operaii pregtitoare asupra
analizorului de reele E5061A n conformitate cu precizrile fcute privind
funcionarea acestuia n anex :
a) Se stabilete domeniului de frecven 300kHz 40MHz astfel:
Se selecteaz cu ajutorul mousului din meniul Stimulus comanda
Start i se introduce, fie de la tastatura valoarea 300k urmat de
ENTER, fie prin actionare butoanelor de tip Up/ Down din fereastra de
dialog. Dup aceasta se selecteaz comanda Stop i procednd n mod
similar, se introduce valoarea de 40MHz.
LUCRAREA NR. 2
11
b) Programarea markerilor se execut astfel:
Se selecteaz din meniul Marker, pe rnd, cte un marker i se
stabilete frecvena acestuia similar cu punctul anterior. Dup ce s-au
programat markerii care sunt afisai se apas comanda More Marker i se
continu programarea lor. Frecvenele sunt cele din Tabelul 1.
c)
Afiarea rspunsului necesit urmtoarele comenzi dup ce s-
a selectat meniul Response:
Comanda
Avg
la care se stabilete valoarea de 100Hz
(banda filtrului de mediere a masurtorii i viteza de variaie a frecvenei);
Comanda Format la care se selecteaz subcomanda Smith
i R+JX;
Comanda Meas se seteaz la s11
Comanda Scale la care se selecteaz subcomanda Auto.
d) Se noteaz n tabel datele citite n dreptul fiecrui marker i se

efectueaz calculele pentru , i tg
Ultima seciune a Tabelului 1 se completeaz folosind relaiile (6).
Tabelul 1.
F [MHz] 0.3
C S0 [pF]
R
'
"
tg
0.5
10
20
40
Se traseaz diagramele '(f), ''(f), tg(f) i diagrama ColeCole "(').
LUCRAREA NR. 2
4.2
12
Determinarea dependenei de temperatur a

permitivitii complexe relative

Se determin variaia cu temperatura a capacitii C S0 i a
conductanei G0 = 1/R0 cu ajutorul montajului din Figura 6.
6
R
4
3
~130V/50Hz
~ 220V/50Hz
Figura 6. Montajul folosit pentru determinarea dependenei

de temperatur a permitivitii.
Cuptorul (1) este nclzit cu o rezisten (3) aflat n pereii

cuptorului. Rezistena de nclzire este alimentat de la reea prin
intermediul unui autotransformator (4). Temperatura din interiorul
cuptorului se determin cu ajutorul termometru (5). Cuptorul gliseaz pe
in astfel nct s poat fi introdus proba (2) care este fixat cu ajutorul a
dou tije de ceramic refractar care apas elastic asupra probei. Prin aceste
tije trec dou fire de conexiune, fiecare fiind n contact cu cte o armtur a
probei. Cele dou fire sunt conectate la o punte RLC ( 6) care msoar
elementele C S0 i G0 ale probei. Msurarea se execut conform punctului
6.3. , Capitolul 8 al ndrumarului .
Se determin variaia lui C S0 i G0 n intervalul de
temperaturi 20300C.
Se calculeaz parametrii de material cu urmtoarele relaii:
LUCRAREA NR. 2
13
S
G
' '
bC 0
0
'
; tg
(7)
S 0
0 C S0 '
unde 0 este frecvena unghiular a semnalului de lucru al punii:
0=104 rad/s.
Temperatura Curie corespunde maximului curbei '(T),
reprezentnd temperatura la care dispare ordinea dielectric n material.
Conform teoriei fenomenologice a feroelectricitii pentru
materialele feroelectrice cu tranziie de faz de ordinul II dependena
permitivitii relative reale de temperatur este de tipul:
'
1
4 0 A 0 TC T
pentru T<TC (8)
'
1
2 0 A 0 T TC
pentru T>TC (9)
unde A0 este o constant fenomenologic.

Conform acestei teorii graficul
7, pantele celor dou drepte ale lui
tg 2
2
tg1
1
f (T ) arat ca n Figura
'
1
pentru T<TC i T>TC avnd raportul:
'
(10)
LUCRAREA NR. 2
14
Figura 7. Dependena
4.2.2
1
f (T ) pentru materiale feroelectrice.
'
Mod de lucru
Proba are grosimea b=3 mm i aria armturilor S=80 mm2.

Se execut montajul din Figura 6 i se efectueaz o determinare la
temperatura ambiant.
Se regleaz autotransformatorul pe poziia de ~ 110V/ 50Hz astfel
nct cuptorul s-i modifice lent temperatura i se fac citiri din 5C n 5C
pn la temperatura de 250 C (pn la o temperatur cu aproximativ 50 C
mai mare dect TC). La fiecare valoare a temperaturii se msoar C S0 i R0.
Valorile acestora se trec n Tabelul 2.
Tabelul 2
T [C]
C S0 [nF]
R0 [K]
"
tg
ambiant 80
85
90
95
...
245
250
LUCRAREA NR. 2
15
Se calculeaz ', " i tg cu ajutorul relaiilor (7) i tiind c
factorul de calitate al probei este Qe = 0R0 C S0 , iar 0 este frecvena
unghiular de lucru a punii de msur. Valorile calculate se trec n seciunea
a doua din Tabelul 2.
Se traseaz diagramele '(T), ''(T) i tg(T).
Se traseaz diagrama
1
f T determinnd TC i pantele celor dou
'
drepte. Se calculeaz raportul
tg 2
.
tg1
Se calculeaz constanta A0 la T1 = TC - 5 C i la T2 = TC + 5 C.
4.3
Determinarea parametrilor de material
elastici i piezoelectrici
Metoda de determinare a proprietilor materialelor piezoelectrice
este o metod dinamic de rezonan. Ea se bazeaz pe faptul c prin
aplicarea unui cmp electric sinusoidal de frecven f punctele materiale ale
unei probe piezoelectrice vor oscila elastic forat cu aceeai frecven f.
Amplitudinea oscilaiilor elastice este maxim dac nu exist fore elastice
externe care s le atenueze. Unda elastic determinat de oscilaiile elastice
se propag fie pe o direcie paralel cu direcia de oscilaie, n acest caz unda
elastic numindu-se und longitudinal, fie pe o direcie perpendicular,
corespunztor obinndu-se o und elastic transversal.
Pentru determinarea caracteristicii de frecven a rezonatorului
piezoelectric ceramic vom utiliza Analizorul de Reea E 5061A. Schema de
legtur simplificat a rezonatorului la analizor este prezentat n Figura 8.
LUCRAREA NR. 2
16
Figura 8. Schema de legtur a a rezonatorului piezoelectric ceramic cu

Analizorul de Reea E 5061A
Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de

la msurarea termenului S11, care este factorul de reflexie la intrarea
rezonatorului la portul 1 i a
termenului S21 ,care este coeficientul de
transfer al semnalului transmis de rezonator de la portul 1 la portul 2.
4.3.2 Mod de lucru

Schema efectiv de msur este prezentat n figura 9.
4.3.2.a Se vor determina frecvenele fn i fm pentru un rezonator
piezoelectric cu cuar, conform diagramei din Figura 3.
Pentru aceasta, similar cu cap. 4.1.2 se stabilesc la analizorul de
reele, urmtorii parametrii:
Frecvena de start 4,8MHz;
Frecvena de stop 5,2MHz;
Formatul pe LogMag;
Meas pe S21;
Scala pe Auto
Avg pe 10Hz
LUCRAREA NR. 2
17
Se mut trapurile de pe placa de msur, astfel nct s fie n circuit
rezonatorul cu cuar i cu ajutorul unui marker se stabilete i se noteaz
ntr-un tabel(Tabelul 3) frecvena maximului curbei (fn) i a minimului
curbei (fm) i de asemeni se noteaz 3 puncte naintea lui fn , 2 puncte ntre fn
i fm i 3 puncte superioare lui fm , pe baza crora se va trasa un grafic.
Tabelul 3
f(MHz)
fn
fm
A(db)
Se schimba apoi valoarea pentru Avg i se face o comparaie ntre
curbe.Valorile pentru Avg sunt: 30Hz, 100Hz, 1KHz, 3kHz, 10kHz, 30kHz.
Figura 9. Montajul pentru determinarea caracteristicii de frecven.

unde: RZ - rezonator piezoelectric;
FC 1, FC 2, FC3 sunt filtre ceramice realizate in moduri diferite.
4.2.3.b Se mut trapurile pe unul dintre filtrele ceramice i se

ncearc determinarea benzii de trecere i a neunifirmitii n band i se
LUCRAREA NR. 2
18
ncearc s se rspund la ntrebarea Cte elemente rezonatoare compun
filtrul?.
5 Coninutul referatului
5.1 Scopul lucrrii;
5.2 Tabelul 1 mpreun cu relaiile da calcul folosite, precum i
graficele de la punctul 4.1.2.
5.3 Tabelul 2 i relaiile de calcul folosite, mpreun cu graficele de
la punctul 4.2.2, mpreun cu calculul constantei A0 i al raportului
tg 2
.
tg1
5.4 Tabelul 3 i graficul de la punctul 4.3.2.a.

5.5 Concluzii i comentarii personale i rspunsurile la ntrebri.
6 ntrebri i probleme
1.
Prezentai elementele de simetrie caracteristice cristalelor
dielectrice din clasele de simetrie mm, 3m i 6mm. Cror sisteme

cristalografice le aparin aceste cristale?
2.
S se determine configuraia concret a tensorului de
permitivitate pentru cristalul de niobat de litiu care face parte din clasa de
simetrie 3m.
3.
S se prezinte dependena de tip histerezis a induciei
electrice ( D ) de intensitatea cmpului electric ( E ) caracteristic unui
material feroelectric.
LUCRAREA NR. 2
19
4.
Prin ce proprieti fizice difer materialele feroelectrice cu
tranziie de faz de ordinul I de materialele feroelectrice cu tranziie de faz
de ordinul II?
5.
Pe baza rezultatelor msurtorilor efectuate la punctul 2.3.b
s se calculeze impedana corespunztoare a rezonatorului msurat la

frecvenele fn i fm i s se pecizeze ce reprezint aceste impedane. Pentru
aceasta trbuie inut cont de urmtoarele:
-
0dB corespunde unei tensiuni de 226mV.
n paralel cu cele dou rezistente de 780 este prezent i
impedana de intrare a portului 2 a analizorului de reele in valoare de 50 .
LUCRAREA NR. 2
20
ANEXA 2
M ATE R I A L E F E R O E L E C T R I C E
A2.1 Analizorul de reea E 5061A

ATENIE!
Nu se execut upgradarea Windows-ului i a softului VBA (Visual
Basic for Applications) instalat, pentru a nu afecta programul implementat i
rezultatele msurtorilor efectuate de analizor.
Atenie! Windows-ul instalat nu are program anti-virus, de aceea
este interzis salvarea datelor pe supori hard neverificai privind virusarea
acestora.
Descrcrile electrostatice (ESD) pot fi un pericol pentru
microcircuitele sensibile ale Analizorului de reea 1,5 GHz, model E 5061A.
Acest pericol poate aprea mai ales la montarea i demontarea probelor de
test la bornele de intrare ale analizorului (mufe N). Pentru protecia
Analizorului de reea 1,5 GHz, trebuie asigurat legtura la mas a
utilizatorului, prin purtarea unei brri la mn legat la pmnt printr-o
rezisten mare.
A2.1.1
Cuplarea
Analizorului
de
reea
E5061A/E5062A.
nainte de cuplare, analizorul este legat la reeaua de 220 V AC/
50Hz la priz Shuko prin cablul de reea cu trei fire. Analizorul se utilizeaz
doar n locuri cu protecie antistatic (ESD), Figura A2.1, amenajate n felul
urmtor: covor antistatic sub aparat i pe pardoseal, legate printr-un fir la
bara de mpmntare a reelei, brar de mn legat la pmnt printr-o
LUCRAREA NR. 2
rezisten 1M,
21
legtur suplimentar a aparatului la bara de
mpmntare a reelei printr-un cablul la borna
de pe panoul frontal.
Figura A2.1 Loc de lucru cu protecie antistatic
La analizor se cupleaz la bornele corespunztoare de pe panoul din

spate: mouse, tastaur i monitor suplimentar, pentru a uura lucru la aparat.
Cuplarea tensiunii de alimentare se face cu ajutorul comutatorului
Power, de pe panoul din spate al aparatului, pe poziia ON ( 1 ) i cu
butonul Standby (
) apsat, respectiv de pe poziia
pe
A2.1.2
Executarea msurtorilor
Pentru executarea msurtorilor cu analizorul de reea E 5061A se

procedeaz aa cum este prezentat n schema logic din Figura A2.2.
LUCRAREA NR. 2
22
Figura A2.2 Schema logic de msur cu analizorul de reea E 5061A
Pasului 1. Determinarea condiiilor de msur
LUCRAREA NR. 2
23
a) Iniializarea E5061A. Dup cuplarea tensiunii, pe ecranul
analizorului, pe baza software-lui Windows 2000 Professional apare o
imagine grafic cu dou bare de meniu. Pe bara de meniu, din partea
superioar a ecranului, se deplaseaz sgeata, cu mouse-ul, pe Instr. state
, iar n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas Preset care asigur
iniializarea datelor.
b) Selectarea parametrilor S. Pe bara de meniu din partea
superioar a ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i
n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe Meas , iar n bara de
meniu din dreapta ecranului se apas :
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii
complexe relative pe: S11;
pentru
determinarea
parametrilor
de
material
elastici
piezoelectrici pe: S21.

c) Selectarea formatului datelor. Pe bara de meniu din partea
superioar a ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i
n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe Format , iar n bara de
meniu din dreapta ecranului se apas :
complexe relative pe Smith i R +jX;
pentru
determinarea
parametrilor
de
material
elastici
piezoelectrici pe Log Mag.

d) Specificarea gamei de frecven. Pe bara de meniu din partea
superioar a ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Stimulus i
n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe Start , iar frecvena
iniial se stabilete n felul urmtor:
LUCRAREA NR. 2
24
complexe relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [3][0][0][k] i [Enter]
sau cu sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 300 kHz.
Not: Frecvena de 300kHz este i limita inferioar a gamei de
lucru a analizorului i apare la iniializarea aparatului;
pentru
determinarea
parametrilor
de
material
elastici
piezoelectrici cu ajutorul tastaturii se tasteaz [4][.][8][M] i [Enter] sau cu

sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a ecranului,
cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 4.8 MHz.
n cazul frecvenei finale se apas pe Stop i se procedeaz n felul
urmtor:
- pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii
complexe relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [4][0][M] i [Enter] sau
cu sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 40 MHz.
- pentru determinarea
parametrilor
de material
elastici
piezoelectrici cu ajutorul tastaturii se tasteaz [5][.][2][M] i [Enter] sau cu

cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 5.2 MHz.
e) Specificarea numrului de puncte de msur. Analizorul, la
iniializare (4.1.2 a), stabilete un numr de 201 de puncte de msur care
asigur o precizie de determinare a rezultatelor ridicat. Aceste puncte de
msur se verific prin deplasarea sgeii, cu mouse-ul, pe bara de meniu
superioar, pe Stimulus i n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas
LUCRAREA NR. 2
25
pe Sweep Setup , iar n bara de meniu din dreapta va apare: Points
201.
Dac dorim s modificm numrul de puncte, apasm pe bara de
meniu din dreapta Points i tastm, de exemplu:
[4] [0] [1] [x 1] i
[Enter], pentru 401 puncte de msur. De asemenea, cu sgeile din csua

de meniu a punctelor de msur, din partea superioar a ecranului, cu
mouse-ul, brut i fin, se stabilesc cele 401 puncte.
f) Specificarea nivelului puteri sursei de semnal. Analizorul, la
iniializare (4.1.2 a), stabilete un nivel al puteri semnalului de
radiofrecven de 0 dBm. Aceast putere se verific deplasnd sgeata cu
mouse-ul pe Stimulus i n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe
Sweep Setup , iar n bara de meniu din dreapta va apare: Power 0
dBm.
Dac dorim s modificm puterea, apasm pe bara de meniu din
dreapta Power - Power Ranges i tastm, de exemplu: [-] [5] [x 1] [d]
i [Enter], pentru o putere de -5dBm. De asemenea, cu sgeile din
csua de meniu a puterii, din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul,
brut i fin, se stabilete puterea la -5dBm.
g) Specificarea bandei IF a receptorului. Analizorul, la iniializare
(4.1.2 a), stabilete banda IF a receptorului la 30 kHz. Aceast band IF a
receptorului se verific deplasnd sgeata cu mouse-ul pe Response i n
cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe Avg. , iar n bara de meniu
din dreapta va apare: IF Bandwidth 30 kHz.
Modificarea bandei IF a receptorului, dup ce am intrat n csua IF
Bandwidth , se execut n felul urmtor:
LUCRAREA NR. 2
26
complexe relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [1][0][0][H] i [Enter]
sau cu sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 100 Hz.
pentru
determinarea
parametrilor
de
material
elastici
piezoelectrici cu ajutorul tastaturii se tasteaz [1][0][H] i [Enter] sau cu

cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 10Hz. Asemenea se
procedeaz i pentru frecvenele IF de: 30Hz, 100Hz, 1Khz.
Determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe
relative. Activm n meniul din dreapta 8 markeri: Marker 1, Marker
2,...,More Marker, ..., Marker 8, Figura17. n dreptul fiecrui marker
stabilim, n ordine, frecvenele de msur din tabelul 1 al lucrrii fie cu
tastatura ( exemplu [1] [M] pentru 1MHz ), fie cu sgeile brut i fin din
csua de meniu a markerului. Formatul ales pentru rezultatele acestei
determinri este Smith, R+jX care deschide o etichet n stnga
ecranului cu urmtoarele valori: prima este frecvena n kHz sau MHz, a
doua este rezistena n , a treia este reactana n , iar ultima este
capacitatea sau inductana corespunztoare reactanei la frecvena dat i
calculat cu ajutorul diagramei Smith. Pentru ca citirile s fie uor de
interpretat IF Bandwidth trebuie s fie pe 100Hz
Dup citirea rezultatelor, interpretarea i dup caz salvarea lor, n
vederea trecerii la urmtoarele msurtori, n bara de meniu din dreapta
ecranului se activeaz Clear Marker Menu , All Markers i n bara
de meniu din partea superioar a ecranului activm Response i prin
Format pe Log Mag
LUCRAREA NR. 2
27
Determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici.
Activm n aceeai ordine, din meniul din dreapta Marker 1 i cu ajutorul
mouse-ului deplasm markerul pe frecvenele stabilite n lucrare pentru
determinarea caracteristici de frecven a modulului admitanei de intrare a
rezonatorului piezoelectric ceramic i a filtrelor ceramice. n eticheta din
stnga ecranului apar n ordine frecvena n MHz i amplitudinea n dB. De
asemenea, se poate activa meniul Marker Search ( din eticheta meniului
Mkr/ Analysis i cu Min, Max sau Peak Value markerul se
deplaseaz pe caracteristica de frecven a rezonatorului i filtrelor ceramice
i n etichita din stnga ecranului citim valorile minime, maxime sau de vrf
a caracteristicilor de frecven .
Pentru ca citirile s fie uor de interpretat IF Bandwidth trebuie
s fie pe 10Hz i ulterior pe : 30Hz, 100Hz, 1Khz.
A2.1.3
Decuplarea
Analizorului
de
reea
E5061A/E5062A.
La terminarea msurtorilor se face n mod obligatoriu decuplarea
Analizorului de reea de la reeaua de tensiune.
Operaiile sunt urmtoarele:
-
Se apas butonul Standby (

n poziia
),acesta trecnd din poziia
Se ateapt ca analizorul s execute subrutinele de oprire. La

terminarea acestora ecranul analizorului se stinge.
Comutatorul Power, de pe panoul din spate al aparatului, se trece

de pe poziia ON ( 1 ) pe poziia OFF ( 0 ).
LUCRAREA NR. 2
28
A2.2 Diagrama Smith

Schema de msur din Figura A2.3 evideniaz c, proba de
material ceramic de tip PZT este un uniport cuplat prinr-un cablu coaxial la
Portul 1 (radiofrecven) RF al Analizorului de Reea E 5061A.
T
1
Analizor de
reea
E 5061 A
Port 1
U
a
R0
CS0
1
Figura A2.3 Schema de msur a a unei probe de material ceramic de tip PZT.
n planul T de referin al uniportului pentru tensiunea U i curentul I

echivalent semnalului RF aplicat, impedana echivalent a probei
materialului de tip PTZ este dat de relaia:
Z S R0 j
1
C0S
(A2.1)
unde: 2f , iar f este frecvena semnalului (radiofrecven) RF

al analizorului de reea.
Pentru a determina valoarea capacitii C S0 i a rezistor R0 din
schema echivalent a probei, analizorul de reea determin parametrul S11
care se egal cu factorul de reflexie la sarcin definit de relaia:
S
b
a
(A2.2)
unde:
a este unda direct a semnalului (radiofrecven) RF;
b este unda reflectat a semnalului (radiofrecven) RF.
LUCRAREA NR. 2
29
Dup determinarea factorului de reflexie, avnd n vedere legtura
dintre acest factor i impedana echivalent a probei materialului de tip PTZ
dat de relaia:
ZS
1
ZS Z0 Z0
z 1
S
n
ZS Z0 ZS
z 1
1 n
Z0
(A2.3)
unde: Z0 = 50 este impedana caracteristic a cablului coaxial

de legtur i a conectorul (radiofrecven) RF al analizorului de reea,
z n rn jx n este impedana normalizat a impedanei
echivalente a probei materialului de tip PTZ, cu ajutorul diagramei Smith,

din Figura A2.4, determinm valoarile condensatorului plan C S0 i a
rezistorului R0.
Figura A2.4 Diagrama Smith
LUCRAREA NR. 2
30
Diagrama Smith, pe baza relaiei 12, prezint legtura dintre factorul
de reflexie S cu impedana de sarcin normalizat a analizorului de reea.
Impedana normalizat este determinat cu ajutorul cercurilor R constant i
a liniilor curbe X constant. n semicercul superior al diagramei Smith, liniile
X constant au un caracter inductiv i n semicercul inferior al diagramei,
liniile X constant au un caracter capacitiv .
Diametrul diagramei Smith este strabtut doar de cercurile R
constant, iar liniile X constant sunt tangente la acest diametru. Aceasta arat
c impedana cu valorile pe acest diametru are un caracter rezistiv n
urmtoarele limite:
1, Z , sarcinan gol,
S
S
0, Z Z 50, sarcin adaptat ,
S
S
0
(A2.4)
1, Z 0, sarcin n scurtcircuit
S
S
Pe baza datelor obinute pentru impedana normalizat cu ajutorul

diagramei Smith analizorul va afia pe ecran valorile condensatorului plan
C S0 i a rezistorului R0.
A3
Parametrii s ai unui diport
Pentru determinarea caracteristicii de frecven a rezonatorului

piezoelectric ceramic vom utiliza Analizorul de Reea E 5061A. Schema de
legtur simplificat a rezonatorului la analizor este prezentat n
FiguraA2.4.
Analizor de reea
E 5061 A
Port 1
a1
b1
S11
1
S
1
Port 2
S21
a2
b2
2
2
LUCRAREA NR. 2
31
Figura A2.4. Schema de legtur a a rezonatorului piezoelectric ceramic cu

Analizorul de Reea E 5061A
Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de

la msurarea termenului S11, care este factorul de reflexie la intrarea
rezonatorului la portul 1 i a
termenului S21 ,care este coeficientul de
transfer al semnalului transmis de rezonator de la portul 1 la portul 2.

Termenii S11 i S21 aparin matricei de repartiie [S] a diportului echivalent
rezonatorului piezoelectric ceramic (figura 9) i se determin cu relaia:
b1 S11a1 S12 a 2
b 2 S 21a1 S 22 a 2
(A2.5)
din aceast relaie rezult :

b
S
1
11 a
1
a2 0
b
S
1
12
a
2
a 0
1
(A2.6)
unde : S11 este factorul de reflexie la intrare, cnd la ieire exist

sarcin de adaptare ;
S12 este coeficientul de transfer al semnalului transmis de
rezonator de la portul 1 la portul 2, cnd la intrare exist adaptare;
a1 i a2 reprezint unda incident a semnalului
analizorului;
b1 i b2 reprezint unda reflectat de rezonator a
semnalului analizorului;
Similar se definesc i parametri S21 i S22 respectiv:
LUCRAREA NR. 2
32
S 21
b2
a1 a 2 0
S 22
b2
a2
a1 0
(A2.7)
unde: S22 este factorul de reflexie la ieire, cnd la intrare este
adaptare;
S21 este coeficientul de transfer al semnalului transmis de de
la portul 2 la portul 2, cnd la intrare exist adaptare;
Rezonatorul piezoelectric ceramic este un diport echivalent
reciproc i n acest caz:
S12 S 21
(A2.8)

Laboratorul 2 Materiale Pentru Electronica

Încărcat de

Informații document

Titlu original

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Laboratorul 2 Materiale Pentru Electronica

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

LUCRAREA NR.

Scopul acestei lucrri este determinarea dependenei de frecven i

Materialele cu polarizare spontan sunt materiale care se

polarizarea de deplasare a electronilor atomici;

polarizarea de deplasare a ionilor celulei elementare.

Vectorul polarizaie spontan

se caracterizeaz prin simetria

limit de tip m care conine urmtoarele elemente de simetrie:

o ax de rotaie de ordinul care conine dreapta suport a vectorului

o infinitate de plane de oglindire care conin aceast dreapt.

Pentru ca ntr-un material s existe polarizaie spontan este necesar

materiale cu tranziie de faz de ordinul I caracterizate prin

anularea cu salt a polarizaiei spontane la TC (Figura 1a);

materiale cu tranziie de faz de ordinul II caracterizate prin

scderea monoton i continu a polarizaiei spontane la TC (Figura 1b).

Figura 1. Materiale feroelectrice de spea I i II.

dependena de tip histerezis a induciei electrice de intensitatea cmpului

Materialele feroelectrice care prezint la nivel macroscopic

) i mrimile mecanice (tensiunea

i deformaia mecanic relativ

semnal mic, n regim armonic (cnd mrimile cauz mecanice i electrice

Indiferent de forma constructiv i tipul de material piezoelectric,

Figura 2. Schema echivalent a unui rezonator piezoelectric.

mpiedic, printr-o metod oarecare (de exemplu ncastrare), oscilaia

unde Qm este factorul de calitate elastic.

Caracteristica de frecven a modulului admitanei de intrare a unui

rezonator piezoelectric ceramic

Rezonatoarele piezoelectrice sunt dispozitive la care impedana

policristaline (titanatul de bariu, titanatul de plumb) i care sunt denumite

Aparatele folosite n cadrul acestei lucrri sunt:

4.1 Determinarea dependenei de frecven a

Figura 4. Schema echivalent a unei probe de material ceramic de tip PZT.

Valorile condensatorului plan C S0 i a rezistorul R0 se msoar cu

(pentru detalii vezi anexa).

Se determin permitivitatea relativ real ', permitivitatea relativ

unde 0 este permitivitatea electric absolut a vidului:0=8,85610-12

Se folosete o plachet de PZT cu grosimea b = 3 mm care se

Afiarea rspunsului necesit urmtoarele comenzi dup ce s-

a selectat meniul Response:

la care se stabilete valoarea de 100Hz

(banda filtrului de mediere a masurtorii i viteza de variaie a frecvenei);

Comanda Format la care se selecteaz subcomanda Smith

Comanda Meas se seteaz la s11

Comanda Scale la care se selecteaz subcomanda Auto.

d) Se noteaz n tabel datele citite n dreptul fiecrui marker i se

Se traseaz diagramele '(f), ''(f), tg(f) i diagrama ColeCole "(').

Determinarea dependenei de temperatur a

4.2.1 Metoda de msur

Figura 6. Montajul folosit pentru determinarea dependenei

Cuptorul (1) este nclzit cu o rezisten (3) aflat n pereii

pentru T<TC (8)

pentru T>TC (9)

unde A0 este o constant fenomenologic.

Proba are grosimea b=3 mm i aria armturilor S=80 mm2.

drepte. Se calculeaz raportul

Determinarea parametrilor de material

Figura 8. Schema de legtur a a rezonatorului piezoelectric ceramic cu

Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de

termenului S21 ,care este coeficientul de

transfer al semnalului transmis de rezonator de la portul 1 la portul 2.

4.3.2 Mod de lucru

Frecvena de start 4,8MHz;

Frecvena de stop 5,2MHz;