Curs 3

Fizica sem. 2
 Tipuri de microscoape
Instrument pentru obtinerea unor imagini marite cu o mare
rezolutie a detaliilor.
Microscoapele optice si electronice sunt cele mai utilizate
Microscoape: acustice - utilizeaza ultrasunete de inalta
frecventa
Microscoapele cu efect tunel
Microscoapele de forta, care formeaza imagini dupa felul
probei de a resimti bombardamentele cu particule. Acestea
pot mari de milioane de ori, pentru a reda un singur atom.
 Clasificare in functie de tipul
iluminarii
microscop cu lumin artificial:
microscop cu lumin polarizat
microscop fluorescent
microscop cu contrast de faz
microscop de contrast prin interferen
microscop cu lumin catodic
microscop confocal cu laser (CLSM - Confocal Laser Scanning
Microscope)
microscop de contrast i reflexie
microscop cu imersie
microscop-roentgen
microscop electronic:
microscop cu neutroni
microscop cu unde ultrascurte
Microscopul simplu

Microscop bazat pe principiul lupei

ce foloseste o lentila cu convergenta
mare si distanta focala foarte mica
Primul microscop
Microscop cu structura
de baza din lemn
Microscop cu montura din metal si
fildes
Microscop construit
in intregime din
lemn
Microscop cu reglare a claritatii prin fir metalic
Microscop portabil cu montura metalica si
caseta de transport
 Microscopul
compus

Sistem optic centrat format din obiectiv si ocular

Primul microscop alcatuit
din mai multe lentile
Microscop din
lemn cu suport
tripod metalic
Microscop cu corpul
din lemn
Microscop cu suport din
metale pretioase
 Microscop cu structura
apropiata de cele moderne
Microscop portabil cu caseta de transport din lemn
Microscop modern
Euglena verde
Ameoba
Parameciul
Diatomee
Foita de ceapa
Alcatuirea microscopului
 Caracteristicile optice ale aparatelor optice

Mrirea transversal a unui aparat optic este dat de raportul:

it
m=
ot
unde it este mrimea imaginii n direcia perpendicular pe axa optic, iar ot este mrimea
obiectului n aceeai direcie.

Mrirea longitudinal sau axial este dat de raportul dintre mrimea imaginii i obiectului
n direcia axei optice:

il
m=
ol
 Caracteristicile optice ale aparatelor optice

tg 2
Puterea de mrire este raportul: P=
ot
unde este unghiul sub care se vede prin aparatul optic un
2

obiect, iar ot este mrimea obiectului n direcie

perpendicular pe axa optic.
Pentru unghiuri mici, relaia precedent se poate scrie i sub
forma: p 2
ot
Grosismentul sau mrirea unghiular este raportul:
tg 2
G=
tg 1
unde 2 este unghiul sub care se vede un obiect prin aparat,
iar 1 este unghiul sub care se vede obiectul cnd este privit
direct cu ochiul.
 Caracteristicile optice ale aparatelor optice

Pentru unghiuri mici se poate scrie:

G 2
1

Dac este distana de vedere optim, la

care este privit obiectul direct cu ochiul,
atunci:
o
= t
1

Combinnd relaiile anterioare rezult:

G= P
 Rezumat

Puterea separatoare se refer la posibilitatea de a vedea

prin instrument, ca distincte, dou puncte obiect.
Ea poate fi determinat fie prin inversul distanei minime
dintre dou puncte obiect care mai dau imagini diferite,
numit putere separatoare liniar (Sl), fie prin inversul
unghiului minim dintre razele care vin de la dou puncte
obiect care se vd distinct, numit putere separatoare
unghiular (Su) sau putere de rezoluie (A).
Cmpul optic al unui aparat este regiunea din spaiu n care
sunt coninute puncte care pot fi vzute pentru o poziie
oarecare a aparatului. Exist un cmp n adncime i un
cmp n lrgime.
 Lentile. Formula lentilelor

Prin asociaia a doi dioptri cu suprafee curbe obinem ceea ce

se numete o lentil.
In particular, aceste suprafee pot fi sferice, plane sau
cilindrice.
Dreapta care unete centrele dioptrilor constituie axul optic al
lentilei.
Dac distana dintre vrfurile V1 i V2 ale celor doi dioptri este
neglijabil fa de celelalte lungimi care intervin n formarea
imaginilor, spunem c avem o lentil subire. De fapt, la
acestea ne vom referi n cele ce urmeaz.
Dup proprietile lor, lentilele pot fi clasificate n convergente
i divergente
Dup forma geometric, ele se clasific n:
1) biconvexe, plan convexe, menisc convexe,
care sunt convergente;
2) biconcave, plan concave, menisc concave,
care sunt divergente
Poziia imaginii unui obiect ntr-o lentil, n cazul
unui fascicul de raze paraxial, este dat de relaia:

1 1 n2 1 1
1
p2 p1 n1 R1 R2

unde p1 i p2 sunt distanele de la obiect i imagine

pn la lentil, R1 i R2 sunt razele de curbur a celor
doi dioptri, iar n2 este indicele de refracie al mediului
lentilei i n1 al mediului exterior lentilei.

O mrime caracteristic lentilelor este convergena

lentilelor, definit astfel: Unitatea de msur a convergenei este
1 dioptria, care este convergena unei

C= .
lentile cu distana focal f de un metru

f
Din relaia (7.57) se pot defini distanele focale ale
lentilelor: pentru p1 = - , rezult p2 = f2 i deci:
1
f2 =
n2 1 1
1
n1 R1 R2

sau, dac p2 = + , rezult p1 = f1 i:

1
f1 =
n2 1 1
1
n1 R1 R2

din care se observ c f1 = f2 = f. In acest caz putem scrie:

1 1 1

p 2 p1 f
care reprezint formula lentilelor subiri, relaie n care f se ia
cu semnul plus dac focarul este real i cu semnul minus dac
focarul este virtual.
Oglinzi sferice i plane

Cursul urmator
 Microscopy Techniques
Electron in, Electron out:
Brief discussion of Transmission/Reflection Electron Microscopy
(TEM/REM)
Scanning Electron Microscopy (SEM)
Scanning Probe Microscopy:
Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Atomic Force Microscopy (AFM)
 Electron Gun
TEMElectron Microscopy:
Electron Gun Non-scanning TEM, REMREM
Transmission
Reflection EM
Electron
Microscopy

Sample is located BEFORE the magnetic lens,

allowing the entire image to be collected at one time.
 Electron SEM
Microscopy: Scanning
STEM
Scanning Transmission EM
SEM, STEM
Scanning Electron Microscopy

Electron Gun Electron Gun

Sample is located AFTER the magnetic lens and the

beam is scanned to obtain an image.
 Scanning Electron Microscope
Examples of SEM images

SEM Optics: Gun, Lenses, Apertures, Scan

Generator, Detector
Mr. BUG!

Electron Interactions: Secondary and

Backscattered Electrons

semguy.com/gfx/bobz1.jpg
 Optical Image SEM Image
SEM Images: Improved Depth of Focus

screw

From Brundle

cells

From Flegler

Secondary electrons of SEM provide higher depth of

 SEM: Optics #1

Electron gun produces beam of

monochromatic electrons.
First condenser lens forms beam
and limits current ("coarse knob").
Condenser aperture eliminates
high-angle electrons.
Second condenser lens forms
thinner, coherent beam ("fine
knob" ).
Objective aperture further
eliminates high-angle electrons
from beam.

Phys 661 - Baski Microscopy Techniques Page 7

 SEM: Optics #2

Beam "scanned" by deflection coils

to form image.
Final objective lens focuses beam
onto specimen.
Beam interacts with sample and
outgoing electrons are detected.
Detector counts electrons at given
location and displays intensity.
Process repeated until scan is
finished (usu. 30 frames/sec).

http://www.unl.edu/CMRAcfem/semoptic.htm
Phys 661 - Baski Microscopy Techniques Page 8
 Bibliografie
http://microscopy.fsu.edu
www.hometrainingtools.com
www.personal.psu.edu
www.microscopy.uk.org
www.micro.magnet.psu.edu
www.oberlink.k12.oh.us
http://a-s.clayton.edu
 OCHIUL OMENESC, CA APARAT OPTIC

Din punct de vedere anatomic, ochiul este un organ deosebit

de complex, servind la transformarea imaginilor geometrice
ale corpurilor n senzaii vizuale. Privit ns din punct de
vedere al opticii geometrice, el constituie un sistem optic
format din trei medii transparente: umoarea apoas,
cristalinul i umoarea sticloas (fig.7.48.). Acestea se gsesc
n interiorul globului ocular mrginit n exterior de o
membran fibroas rezistent numit sclerotic care are o
zon transparent n fa (n = 1,377), numit corneea
transparent.