Fluorescenţa de raze X (XRF)

Tehnica de analiză prin fluorescenţă de raze X (XRF- X-Ray Fluorescence) este

considerată ca fiind una din cele mai evoluate metode instrumentale care are drept scop
obţinerea de informaţii cu privire la compoziţia elementală a unui anumit material.

Prin spectrometria de fluorescenta de raze X se identifică elemente chimice într-o substantă

(analiza elementală calitativă) şi se stabilesc cantităţile acestor elemente prezente (analiza
cantitativă), pentru a determina în cele din urmă compoziţia unei probe. Fluorescenţa de radiaţii
X (XRF) permite determinarea elementelor chimice dintr-o probă, avand o limita de detectie de
ordinul zecimilor ppm.

Principiul fizic al Fluorescentei de raze X are la baza emisia de radiatii X atunci când se
utilizează ca sursă pentru excitarea emisiei secundare de radiatii X un fascicul incident (fascicul
primar) de radiatii X. Fascicul de radiatii X de mare intensitate (fasciculul primar) care ajunge pe
probă produce o excitare a atomilor acesteia. Revenirea atomilor excitaţi în starea fundamentală
se realizează prin emisie de radiatii X caracteristice care se numeste radiaţie de fluorescenţă sau
emisie secundară de radiatie X şi este caracteristiă fiecarui element chimic.

Un element caracteristic este identificat prin lungimea de undă (λ) a razelor X emise sau
prin energia acestora (E). Cantitatea fiecărui element chimic din probă, este cuantificată prin
măsurarea intensitătii (I) a emisiei sale caracteristice.

În fluorescenţa de raze X, au loc succesiv următoarele procese prezentate in figura 1.

Figura 1. Schema modului de producere a razelor X caracteristic în analiza XRF:

 1. Electronii interiori ai atomilor probei sunt expulzaţi datorită ciocnirilor cu fotonii X ai
sursei de raze X primare.

2. Electronii din straturile exterioare ocupă locurile rămase vacante de pe straturile

inferioare(K, L, M).

3. În urma tranziţiilor care au loc, se eliberează cuante de energie din domeniul razelor X
care părăsesc proba în toate direcţiile.

Energia sursei de raze X este cuprinsă între 5 şi 100keV. Razele X primare, cum se numesc
radiaţiile care provin de la sursă (adesea un tub de raze X), sunt dirijate spre proba supusă analizei.
Radiaţiile X caracteristice - specifice elementelor probei şi reemise de către aceasta - părăsesc
eşantionul, conţinând informaţii care permit stabilirea compoziţiei chimice a materialului (solid
sau soluţie), fenomen cunoscut sub numele de fluorescență secundară cu raze X și este
caracteristic unui element chimic.

Mecanismul producerii radiaţiei X caracteristice, este prezentat în detaliu în figura nr. 2.

Figura 2. Mecanismul producerii radiaţiei X caracteristice

In urma coliziunii mecanice dintre fotonii X ai sursei primare cu electronii de pe straturile

inferioare, mai săraci în energie, aceştia sunt expulzaţi. Locurile vacante rămase după plecarea
electronilor, sunt ocupate de electroni aflaţi pe straturile superioare - mai bogaţi în energie.
Diferenţa de energie este emisă sub forma unei cuante care, pentru majoritatea atomilor din
sistemul periodic, se găseşte în domeniul razelor X. Doar elementele uşoare Z = 1..5 nu au aceste
tranziţii în domeniul razelor X.

Razele X primare care părăsesc tubul de raze X, sunt dirijate asupra probei de analizat.
Aceasta, va emite aşa-numita radiaţie de fluorescenţă - caracteristică elementelor probei, fiind
însoţită şi de o radiaţie continuă care are un spectru larg datorită interacţiunii electronilor cu
câmpul electric al nucleului.

Astfel in urma bombardarii cu radiatii X a unei probe prin intemediul unui dispozitiv
spectrometric XRF, se poate detecta radiatia X de fluorescenta emisa si se poate inregistra spectrul
de fluorescenta de care X ( spectrul caracteristic de linii, despre care s-a discutat la capitolul
Radiatii X). Excitarea atomilor din probă are loc doar într-un strat subţire de la suprafaţa probei,
a cărui grosime depinde de energia sursei (variind între câteva sute de microni la 1cm). De aceea
orice neuniformităţi ale suprafeţei pot influenţa corecta emisie si detectie a radiatiilor X de
fluorescenta

Din spectrul de raze X se pot identifica elementele din proba, energia razelor X caracteristice fiind
proportionala cu frecventa acestora, frecventa care, conform legii lui Moseley, depinde de numarul
atomic al elementului identificat in proba. Intensitatea liniilor din spectru permite determinarea
concentratiei elementelor identificate.

In figura 3 este prezentat un spectru caracteristic de raze X, pentru o proba de muschi verde. Se
pot vizualiza liniile de raze X caracteristice elementelor din proba de muschi: Sr, Mo, Cd, Ca, Sb,
Nd, Fe, Co, Yb, Cu, Zn.

Pozitia liniilor , in spectrul de linii, pozitie data de energia radiatiilor X caracteristice elementelor
din proba conduce la identificarea elementelor din proba.
 Figura 3. Spectrul caracteristic de raze X – proba de muschi verde, diferite grosimi