Sunteți pe pagina 1din 41

Curs 3 Fizica sem.

Tipuri de microscoape
Instrument pentru obtinerea unor imagini marite cu o mare rezolutie a detaliilor. Microscoapele optice si electronice sunt cele mai utilizate Microscoape: acustice - utilizeaza ultrasunete de inalta frecventa Microscoapele cu efect tunel Microscoapele de forta, care formeaza imagini dupa felul probei de a resimti bombardamentele cu particule. Acestea pot mari de milioane de ori, pentru a reda un singur atom.

Clasificare in functie de tipul iluminarii


microscop cu lumin artificial:
microscop cu lumin polarizat microscop fluorescent microscop cu contrast de faz microscop de contrast prin interferen microscop cu lumin catodic microscop confocal cu laser (CLSM - Confocal Laser Scanning Microscope) microscop de contrast i reflexie microscop cu imersie

microscop-roentgen microscop electronic: microscop cu neutroni microscop cu unde ultrascurte

Microscopul simplu
Microscop bazat pe principiul lupei ce foloseste o lentila cu convergenta mare si distanta focala foarte mica

Primul microscop

Microscop cu structura de baza din lemn

Microscop cu montura din metal si fildes

Microscop construit in intregime din lemn

Microscop cu reglare a claritatii prin fir metalic

Microscop portabil cu montura metalica si caseta de transport

Microscopul compus
Sistem optic centrat format din obiectiv si ocular

Primul microscop alcatuit din mai multe lentile

Microscop din lemn cu suport tripod metalic

Microscop cu corpul din lemn

Microscop cu suport din metale pretioase

Microscop cu structura apropiata de cele moderne

Microscop portabil cu caseta de transport din lemn

Microscop modern

Euglena verde

Ameoba

Parameciul

Diatomee

Foita de ceapa

Alcatuirea microscopului

Caracteristicile optice ale aparatelor optice


Mrirea transversal a unui aparat optic este dat de raportul:

it m= ot
unde it este mrimea imaginii n direcia perpendicular pe axa optic, iar o t este mrimea obiectului n aceeai direcie. Mrirea longitudinal sau axial este dat de raportul dintre mrimea imaginii i obiectului n direcia axei optice:

il m= ol

Caracteristicile optice ale aparatelor optice Puterea de mrire este raportul:


2

P=

tg 2 ot

unde este unghiul sub care se vede prin aparatul optic un obiect, iar ot este mrimea obiectului n direcie perpendicular pe axa optic. Pentru unghiuri mici, relaia precedent se poate scrie i sub forma: p 2
ot

Grosismentul sau mrirea unghiular este raportul: unde 2 este unghiul sub care se vede un obiect prin aparat, iar 1 este unghiul sub care se vede obiectul cnd este privit direct cu ochiul.
tg 2 G= tg 1

Caracteristicile optice ale aparatelor optice Pentru unghiuri mici se poate scrie:
G 2 1

Dac este distana de vedere optim, la care este privit obiectul direct cu ochiul, atunci: o = t 1

Combinnd relaiile anterioare rezult:

G= P

Rezumat
Puterea separatoare se refer la posibilitatea de a vedea prin instrument, ca distincte, dou puncte obiect. Ea poate fi determinat fie prin inversul distanei minime dintre dou puncte obiect care mai dau imagini diferite, numit putere separatoare liniar (Sl), fie prin inversul unghiului minim dintre razele care vin de la dou puncte obiect care se vd distinct, numit putere separatoare unghiular (Su) sau putere de rezoluie (A). Cmpul optic al unui aparat este regiunea din spaiu n care sunt coninute puncte care pot fi vzute pentru o poziie oarecare a aparatului. Exist un cmp n adncime i un cmp n lrgime.

Fig1

Aparatul fotografic
Aparatul fotografic are ca parte principal un sistem optic numit obiectiv fotografic care este un sistem de lentile, optic convergent, care formeaz imagini reale pe placa sau filmul aparatului fotografic (Fig.1). S presupunem c pe obiectivul unui aparat de fotografiat cade o und plan, provenit de la un izvor ndeprtat. Difracia produs de diafragm va face ca la un punct obiect s corespund inele circulare ntunecate i luminoase care nconjoar o pat luminoas central (Fig.2).

Fig 2

Deschiderea maxim a diafragmei este egal cu diametrul obiectivului.

Aparatul fotografic

Raza primului inel ntunecat corespunde unghiului dat de relaia:


sin = 1, 22 D

unde D este diametrul obiectivului iar lungimea de und a sursei Dac r este raza primului inel ntunecat atunci:

r = f tg
unde f este distana focal a obiectivului. Datorit faptului c este mic se poate scrie:

r = 1, 22

f D

Aparatul fotografic

Rayleigh a propus drept limit a rezolvrii, acea situaie pentru care primul inel ntunecat al unei imagini de difracie i1 trece prin centrul luminos al celeilalte imagini de difracie (Fig. 2). In aceast situaie avem:

= i sin = sin = 1, 22

D
= = 1, 22

Deoarece i sunt mici, putem scrie

Puterea separatoare unghiular (sau de rezoluie) este cu att mai mare cu ct diametrul obiectivului este mai mare i mai mic.

1 D S n = A= = 1, 22

Microscopy Techniques
Electron in, Electron out:

Brief discussion of Transmission/Reflection Electron Microscopy (TEM/REM)


Scanning Electron Microscopy (SEM)

Scanning Probe Microscopy:


Scanning Tunneling Microscopy (STM) Atomic Force Microscopy (AFM)

Transmission Electron Microscopy

TEM Electron Gun Non-scanning TEM, REMREM Electron Microscopy:


Reflection EM

Electron Gun

Sample is located BEFORE the magnetic lens, allowing the entire image to be collected at one time.

Electron Microscopy: Scanning STEM SEM Scanning Transmission EM Scanning Electron Microscopy SEM, STEM

Electron Gun

Electron Gun

Sample is located AFTER the magnetic lens and the beam is scanned to obtain an image.

Scanning Electron Microscope


Examples of SEM images SEM Optics: Gun, Lenses, Apertures, Scan Generator, Detector
Mr. BUG!

Electron Interactions: Secondary and Backscattered Electrons


semguy.com/gfx/bobz1.jpg

Optical Image

SEM Image

SEM Images: Improved Depth of Focus

screw

From Brundle

cells

From Flegler

Secondary electrons of SEM provide higher depth of

SEM: Optics #1
Electron gun produces beam of monochromatic electrons. First condenser lens forms beam and limits current ("coarse knob"). Condenser aperture eliminates high-angle electrons. Second condenser lens forms thinner, coherent beam ("fine knob" ). Objective aperture further eliminates high-angle electrons from beam.

Phys 661 - Baski

Microscopy Techniques

Page 7

SEM: Optics #2
Beam "scanned" by deflection coils to form image. Final objective lens focuses beam onto specimen. Beam interacts with sample and outgoing electrons are detected. Detector counts electrons at given location and displays intensity. Process repeated until scan is finished (usu. 30 frames/sec).

http://www.unl.edu/CMRAcfem/semoptic.htm
Phys 661 - Baski Microscopy Techniques Page 8

Bibliografie
http://microscopy.fsu.edu www.hometrainingtools.com www.personal.psu.edu www.microscopy.uk.org www.micro.magnet.psu.edu www.oberlink.k12.oh.us http://a-s.clayton.edu