Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Tipuri de microscoape
Instrument pentru obtinerea unor imagini marite cu o mare rezolutie a detaliilor. Microscoapele optice si electronice sunt cele mai utilizate Microscoape: acustice - utilizeaza ultrasunete de inalta frecventa Microscoapele cu efect tunel Microscoapele de forta, care formeaza imagini dupa felul probei de a resimti bombardamentele cu particule. Acestea pot mari de milioane de ori, pentru a reda un singur atom.
Microscopul simplu
Microscop bazat pe principiul lupei ce foloseste o lentila cu convergenta mare si distanta focala foarte mica
Primul microscop
Microscopul compus
Sistem optic centrat format din obiectiv si ocular
Microscop modern
Euglena verde
Ameoba
Parameciul
Diatomee
Foita de ceapa
Alcatuirea microscopului
it m= ot
unde it este mrimea imaginii n direcia perpendicular pe axa optic, iar o t este mrimea obiectului n aceeai direcie. Mrirea longitudinal sau axial este dat de raportul dintre mrimea imaginii i obiectului n direcia axei optice:
il m= ol
P=
tg 2 ot
unde este unghiul sub care se vede prin aparatul optic un obiect, iar ot este mrimea obiectului n direcie perpendicular pe axa optic. Pentru unghiuri mici, relaia precedent se poate scrie i sub forma: p 2
ot
Grosismentul sau mrirea unghiular este raportul: unde 2 este unghiul sub care se vede un obiect prin aparat, iar 1 este unghiul sub care se vede obiectul cnd este privit direct cu ochiul.
tg 2 G= tg 1
Caracteristicile optice ale aparatelor optice Pentru unghiuri mici se poate scrie:
G 2 1
Dac este distana de vedere optim, la care este privit obiectul direct cu ochiul, atunci: o = t 1
G= P
Rezumat
Puterea separatoare se refer la posibilitatea de a vedea prin instrument, ca distincte, dou puncte obiect. Ea poate fi determinat fie prin inversul distanei minime dintre dou puncte obiect care mai dau imagini diferite, numit putere separatoare liniar (Sl), fie prin inversul unghiului minim dintre razele care vin de la dou puncte obiect care se vd distinct, numit putere separatoare unghiular (Su) sau putere de rezoluie (A). Cmpul optic al unui aparat este regiunea din spaiu n care sunt coninute puncte care pot fi vzute pentru o poziie oarecare a aparatului. Exist un cmp n adncime i un cmp n lrgime.
Fig1
Aparatul fotografic
Aparatul fotografic are ca parte principal un sistem optic numit obiectiv fotografic care este un sistem de lentile, optic convergent, care formeaz imagini reale pe placa sau filmul aparatului fotografic (Fig.1). S presupunem c pe obiectivul unui aparat de fotografiat cade o und plan, provenit de la un izvor ndeprtat. Difracia produs de diafragm va face ca la un punct obiect s corespund inele circulare ntunecate i luminoase care nconjoar o pat luminoas central (Fig.2).
Fig 2
Aparatul fotografic
unde D este diametrul obiectivului iar lungimea de und a sursei Dac r este raza primului inel ntunecat atunci:
r = f tg
unde f este distana focal a obiectivului. Datorit faptului c este mic se poate scrie:
r = 1, 22
f D
Aparatul fotografic
Rayleigh a propus drept limit a rezolvrii, acea situaie pentru care primul inel ntunecat al unei imagini de difracie i1 trece prin centrul luminos al celeilalte imagini de difracie (Fig. 2). In aceast situaie avem:
= i sin = sin = 1, 22
D
= = 1, 22
Puterea separatoare unghiular (sau de rezoluie) este cu att mai mare cu ct diametrul obiectivului este mai mare i mai mic.
1 D S n = A= = 1, 22
Microscopy Techniques
Electron in, Electron out:
Electron Gun
Sample is located BEFORE the magnetic lens, allowing the entire image to be collected at one time.
Electron Microscopy: Scanning STEM SEM Scanning Transmission EM Scanning Electron Microscopy SEM, STEM
Electron Gun
Electron Gun
Sample is located AFTER the magnetic lens and the beam is scanned to obtain an image.
Optical Image
SEM Image
screw
From Brundle
cells
From Flegler
SEM: Optics #1
Electron gun produces beam of monochromatic electrons. First condenser lens forms beam and limits current ("coarse knob"). Condenser aperture eliminates high-angle electrons. Second condenser lens forms thinner, coherent beam ("fine knob" ). Objective aperture further eliminates high-angle electrons from beam.
Microscopy Techniques
Page 7
SEM: Optics #2
Beam "scanned" by deflection coils to form image. Final objective lens focuses beam onto specimen. Beam interacts with sample and outgoing electrons are detected. Detector counts electrons at given location and displays intensity. Process repeated until scan is finished (usu. 30 frames/sec).
http://www.unl.edu/CMRAcfem/semoptic.htm
Phys 661 - Baski Microscopy Techniques Page 8
Bibliografie
http://microscopy.fsu.edu www.hometrainingtools.com www.personal.psu.edu www.microscopy.uk.org www.micro.magnet.psu.edu www.oberlink.k12.oh.us http://a-s.clayton.edu