Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Controlul Pieselor Turnate PDF
Controlul Pieselor Turnate PDF
MINISTERUL MUNCII,
FAMILIEI I
PROTECIEI SOCIALE
O.I.P.O.S.D.R.U. NORD-VEST
Investete n oameni!
ECHIPAMENTE SI TEHNOLOGII
INOVATIVE DE PROCESARE A
PIESELOR OBTINUTE PRIN
TURNARE
(Disciplina 5 -ECHIPAMENTE SI TEHNICI DE CONTROL AL
CALITATII PIESELOR TURNATE)
2
5.1 Clasificarea si terminologia defectelor pieselor turnate
Defectele pieselor turnate sunt consecinte fie ale unei cauze unice, fie ale unor actiuni reciproce
de cauze foarte complexe, fiecare din acestea fiind, la randul lor, functie de un mare numar de
variabile specifice; doua defecte cu un aspect exterior cu totul deosebit pot avea una sau mai
multe cauze comune.
Din aceste cauze, prezentam o clasificare morfologica si nu o clasificare bazata pe cauzele
defectelor.
In tabelul 1 este prezentata clasificarea si simbolizarea defectelor pieselor turnate, cu indicarea
pe scurt a cauzelor care le genereaza.
Obtinerea unor piese turnate de calitate superioara, cu defecte minime, este conditionata de
intocmirea unei tehnologii de fabricatie cat mai corecta, insotita de cea mai severa disciplina
tehnologica.
Tehnologia de fabricatie nu constituie un sistem unic si limitat; ea se perfectioneaza continuu in
cursul desfasurarii procesului de productie, cu tendinta permanenta de a obtine produse de
calitate optima.
3
Tabelul 1 (continuare)
1 2 3 4 5
Dezaxa Deplasarea unei parti a - Inchiderea defectuoasa a cutiei de
re piesei turnate in raport miez sau lipirea gresita a jumatatilor
cu cealalta parte a ei de miez;
(fete in scara) - Jocuri prea mari intre marci;
- Inchiderea formelor cu ghidaje cu
DT12 jocuri prea mari;
- Deplasarea semiformelor in timpul
turnarii;
- Suprapunerea incorecta a partilor de
model;
5
Tabelul 1 (continuare)
1 2 3 4 5
Creasta Surplus de metal sub - Uscare prea brusca a formei si
forma de nervura miezurilor;
(placa) mai mult sau - Extragerea incorecta a modelului din
DT25 mai putin proeminenta, forma sau a miezului din cutia de
cu suprafete neregulate miez;
pe suprafata piesei
turnate, ca urmare a
patrunderii metalului in
fisurile formei sau
miezurilor.
Picatura Proeminenta in forma - Producerea licutiei in cazul turnarii
de picatura pe suprafata metalelor neferoase;
DT26 pieselor turnate. In - Turnarea neingrijita;
cazul aliajelor staniu- - Degazare insuficienta a aliajelor
plumb, este cauzata de neferoase;
licutia unor componenti
in timpul solidificarii.
Arsura Strat de metal oxidat pe - Incalzire la temperaturi ridicate, timp
suprafata piesei turnate, indelungat si in atmosfera oxidanta;
DT27 mai mult sau mai putin - Defect caracteristic otelului si
aderent, rezultat in fontelor maleabile, daca acestea sunt
timpul tratamentului tratate in cuptoare fara atmosfera
termic. controlata;
Adancitur Deteriorarea suprafetei - Dezbatere necorespunzatoare (izbire
a, urma de piesei turnate in timpul cu barosul in piesele calde sau cu
lovitura, operatiilor mecanice, pereti subtiri);
deteriorare (ex. la dezbaterea din - Curatirea de nisip prin izbire cu
DT28 forma), indepartarea barosul atat pentru indepartarea
maselotelor si a retelei nisipului de formare cat si a
de turnare, la transport miezurilor;
etc. Se intalneste de
obicei la piesele din
aliaje moi, a caror
calitate a suprafetei este
precizata in conditiile
tehnice.
Carie Canal vermicular cu -Generare locala a unei cantitati mari
DT291 margini neregulate, de gaze care neputand trece prin masa
umplut uneori cu nisip de amestec de formare, isi face drum
plasat pe peretii piesei printre peretii formei si ai piesei
turnate. turnate in curs de solidificare;
Rugozitate Suprafata zgrunturoasa -Granulatie prea mare a nisipului sau
necorespu a piesei turnate. fluiditate prea ridicata a metalului
nzatoare DT292 turnat;
-Presiune metalostatica foarte mare;
-Indesare insuficienta a formei;
6
Tabelul 1 (continuare)
1 2 3 4 5
Cuta Adancituri sub forma - Dilatare necorespunzatoare a
de val (santulet) suprafetei formei. Se denumesc si cozi
DT293 localizate pe suprafata de sobolan;
piesei turnate.
Fagure Adancituri concentrate - Gaze dezvoltate de aliaje
pe suprafata piesei supraincalzite si supraoxidate, in
DT294 turnate, de forme mai special la otelul manganos austenitic;
mult sau mai putin - Reteaua de turnare
regulate cu contururi necorespunzatoare;
poligonale.
Crapatura Discontinuitate - Franarea mecanica a contractiei,
la cald intercristalina in peretii uneori combinata cu franarea termica.
piesei turnate, aparuta - Contractia metalului, fluiditatea,
la temperaturi ridicate. cristalizarea primara, retasurile
Crapatura are o forma influenteaza forma crapaturilor la cald.
neregulata, cu margini - De asemenea, temperatura si viteza
DT31 zdrentuite si suprafete de turnare a metalului, dimensiunile si
oxidate. Uneori pozitia retelei de turnare si lipsa de
cristalele dendritice compresibilitate a formei;
sunt bine dezvoltate. - Tratament termic necorespunzator;
Aici se clasifica si
crapaturile aparute la
tratament termic.
Crapatura Discontinuitate - Tensiuni termice mari datorita
la rece intercristalina in peretii diferentei de grosime a peretilor
piesei turnate, aparuta combinate adesea cu tensiuni de
la temperaturi joase. contractie;
Crapatura are o forma - Socuri sau solicitari mecanice mari
regulata si margini aplicate pieselor turnate in procesul de
DT32 continue, taioase. curatire, inainte de detensionare;
Suprafete neoxidate
prezentand uneori o
slaba coloratie de
revenire. Din acestea
fac parte si crapaturile
aparute la taierea
oxiacetilenica a
retelelor de turnare,
maselotelor etc., la
piesele turnate din otel
nealiat.
7
Tabelul 1 (continuare)
1 2 3 4 5
Suflura Gol deschis (suflura -Includere de hidrogen in metalul
exterioara) sau inchis lichid in timpul topirii;
(suflura interioara) in -Dezoxidare insuficienta a metalelor
DT41 corpul piesei turnate, in timpul elaborarii;
care in majoritatea -Antrenarea aerului la turnare datorita
cazurilor are forma retelei de alimentare incorecte;
rotunjita (sferica sau -Umiditate exagerata a amestecurilor
alungita) si suprafete de formare crude sau reparatii
netede, curate de incorecte;
culoare argintie; rareori -Carbonati in amestecurile de formare;
sunt oxidate sau -Suporti de miez murdari.
prezinta culori de
revenire. Apar izolat
sau in grup.
Sita Goluri mici alungite cu - Folosirea repetata a deseurilor
(sulfuri suprafata neteda proprii, imbogatite in hidrogen;
aciculare) orientate perpendicular - Incarcaturi umede in cuptoare;
DT42 pe suprafata piesei si - Elaborarea incorecta a metalului;
amplasate la o - Pregatirea incorecta a jgheabului si
adancime de 2-3mm oalelor de turnare;
sub aceasta. Dupa - Uscarea insuficienta a formelor si
tratamentul termic al miezurilor sau umiditatea exagerata a
piesei, aceste goluri formelor crude;
sunt descoperite, luand
aspectul unei site.
Retasura Gol deschis sau inchis - Contractia mare a aliajului in
in corpul piesei turnate perioada de solidificare;
DT43 cu suprafata rugoasa - Temperatura ridicata la turnarea
sau macrocristalina, de metalului;
obicei oxidata, care se - Constructie necorespunzatoare a
formeaza in piesa piesei;
turnata sub influenta - Maselotaj incorect aplicat si retele de
contractiei in timpul turnare gresit dimensionate si aplicate.
solidificarii. Uneori
retasura apare ca o
adancitura pe suprafata
piesei turnate (retasura
exterioara).
Microretas Acumularea locala de - Solidificarea simultana provoaca de
ura si DT44 goluri mici, uneori obicei microretasuri in nodurile
porozitate DT45 microscopice, termice;
concentrate sub forma - Aliaje cu interval mare de
de zone afanate in solidificare;
corpul piesei. - Temperatura inalta de turnare;
8
Tabelul 1 (continuare)
1 2 3 4 5
Microsufl Goluri punctiforme - Insuficienta rafinare a aliajelor in
ura DT46 mici repartizate timpul elaborarii;
neregulat in peretii - Folosirea de blocuri de aluminiu cu
piesei turnate; sunt suprafata oxidata;
caracteristice aliajelor
de aluminiu
Incluziune Gol deschis sau inchis - Neindepartarea corecta a zgurei din
de zgura in corpul piesei turnate oalele cu turnarea prin cioc;
DT51 umplut total sau partial - Detasarea de material refractar din
cu zgura captusala oalei;
- Retea de turnare incorecta;
Incluziune Gol deschis sau inchis, - Cavitatea formei necuratata de
de DT52 umplut total sau partial impuritati dupa asamblarea miezurilor;
amestec cu material de formare, - Metoda de turnare incorecta;
de material ceramic,
formare grafit, etc.
Incluziune Particula nemetalica - Conducerea incorecta a procesului de
nemetalica microscopica, inclusa elaborare;
DT53 in corpul piesei turnate, - Turnarea neingrijita;
formata in timpul
elaborarii sau turnarii
metalului
Picatura Strop de metal de - Solidificarea intarziata a eutecticului
rece DT54 forma rotunjita, fosforos din restul topiturii presata
amplasat de obicei intr- (impinsa) intr-o suflura.
o suflura deschisa sau
inchisa.
Incluziune Particula metalica - Executarea neglijenta a operatiei de
metalica straina inclusa in corpul formare;
DT55 piesei turnate, care se - Amplasarea excentrica a armaturilor
deosebeste bine de miezurilor (armaturi iesite din miez);
metalul piesei
Separarea a doi - Temperatura scazuta de turnare si
Licutia componenti de solidificare lenta;
DT61 compozitie diferita - Elaborare necorespunzatoare a
datorita neamestecarii metalului;
totale sau partiale a
acestora, din care cauza
se depun in doua
straturi.
Necorespo Abateri fata de - Elaborarea si turnarea incorecta a
ndenta DT62 marimea grauntelui, aliajelor;
marimii prescrisa de standarde - Tratament termic necorespunzator;
grauntelui sau conditii tehnice,
referitor la structura
piesei turnate.
9
Tabelul 1 (continuare)
1 2 3 4 5
Zona dura Prezenta pe suprafata - Segragatie inversa;
DT63 sau pe peretii piesei - Racitori gresit aplicati;
turnate a unor zone - Modificatori folositi in cantitati
continand constituenti necorespunzatoare;
metalografici mai duri - Viteza prea mare de racire in raport
decat cei care formeaza cu compozitia chimica ( la fonte);
metalul de baza, din
care cauza nu se poate
prelucra usor prin
aschiere, de ex. la fonta
cenusie, existenta
cementitei libere
(albire).
Segregatie Acumulare in interiorul - Neuniformitatea peretilor piesei
piesei turnate a turnate;
DT64 elementelor separate - Continutul mare de elemente cu
sau combinatiilor tendinta de segregatie (P, S si C la
chimice in urma aliaje feroase si Mn la aliaje de
cristalizarii selective in aluminiu;
timpul solidificarii. - Conducerea gresita a procesului de
elaborare - turnare;
Neconcor Abaterea cantitatii, - Compozitie chimica a aliajului
danta DT65 marimii si formei necorespunzatoare;
structurii constituentilor - Elaborarea metalului incorecta;
structurali de la - Conditii de cristalizare a metalului in
prevederile forma necorespunzatoare;
standardelor, normelor - Tratament termic gresit aplicat;
sau ale conditiilor
tehnice.
Strat Decarburarea - Reactia chimica intre materialul
decarburat DT66 superficiala a piesei formei si metalul turnat;
turnate pe o adancime
variabila.
Neconcor Abateri la compozitia - Conducerea gresita a procesului de
danta DT71 chimica a piesei turnate elaborare a sarjei;
compoziti fata de prevederile - Dozarea gresita a incarcaturii;
ei chimice standardelor, normelor - Patrunderea de elemente straine in
sau conditiilor tehnice. sarja;
Neconcor Abateri la proprietatile - Nerespectarea compozitiei chimice a
danta DT72 mecanice ale piesei aliajului;
proprietati turnate fata de - Elaborarea gresita a sarjei;
lor prevederile - Solidificarea necorespunzatoare a
mecanice standardelor, normelor metalului in forma;
sau conditiilor tehnice. - Tratament termic gresit aplicat;
- Modificarea incorecta a aliajului;
Neconcor Abateri la proprietatile -Nerespectarea compozitiei chimice a
danta DT73 fizice ale piesei turnate aliajului;
proprietati fata de prevederile -Elaborarea gresita a sarjei;
10
lor fizice standardelor, normelor -Solidificarea necorespunzatoare a
sau conditiilor tehnice. metalului in forma;
-Tratament termic gresit aplicat;
-Modificarea incorecta a aliajului;
Fig. 3. Pregatirea pentru sudare a unei zone cu sufluri: Fig. 4. Prevenirea intinderii crapaturii in timpul
1- sufluri; 2- metal ce trebuie indepartat; 3- piesa sudarii:
1- crapatura; 2- gauri de limitare
Sudarea pieselor din fonta. Remedierea defectelor pieselor turnate din fonta cenusie se poate
face fie prin sudare la cald, fie prin sudare la rece.
Dintre metodele de sudare la cald cele mai utilizate sunt sudarea cu flacara oxiacetilenica si
sudarea pe cale electrica.
In tabelele 4-6 sunt indicate cateva date privind sudarea pieselor din fonta.
12
Tabelul 4. Temperatura de incalzire a Tabelul 5. Sudarea pieselor din fonta cu flacara
pieselor din fonta la sudarea cu flacara oxiacetilenica
Caracterul piesei Temperatura de Grosimea Deschiderea Diametrul Consumul
turnate incalzire,( 0 C) peretilor arzatorului electrozilor de acetilena
(mm) (mm) (mm) (mm)
Piese din fonta 300-400 4 -8 6-9 6 600
cenusie de forma
obisnuita
Piese mari de calitate 480-540 9 - 12 9 - 14 6 1000
obisnuita cu diferite
grosimi de perete
Piese din fonta 560-670 13 - 19 9 - 14 8 - 10 1300
cenusie de calitate
superioara
Observatie: Temperatura pieselor la 20 - 30 20 - 30 10 2750
sfarsitul operatiei de sudare nu trebuie sa
coboare sub 2000 C.
13
aliat cu 0.15 - 0.30%C
Slaba Otel cu peste 0,5%C slab 350-420 600-650
aliat cu0,2%C si suma
elementelor de aliere <
3%
Slaba Otel manganos austenitic - - Electrozii contin: 4-
cu 12-14%Mn 14%Ni; 11-
13%Mn; 0,6-1,0%C
Tabelul 8 diametrul electrozilor utilizati la sudarea otelului
Lipirea bronzurilor si alamelor se face cu alame de lipit, turnate in bare sau in lingouri pentru
laminarea in vergele sau sarma, si cu vergele de cupru.
15
5.2 Echipamente si tehnici de inspectare si testare
utilizate in scopul calitatii pieselor turnate (particule
magnetice, radiatii gama si radiatii X, lichide
penetrante, ultrasonic, electromagnetice si curenti eddy).
In prezent, fenomenul de globalizare insotit de intensificarea interactiunii diferitelor sisteme
economice si implicit a concurentei, deschide agentilor economici si omenirii in general noi
orizonturi si provocari legate de dezvoltare, dar pune in aceeasi masura accentul pe
durabilitatea lucrurilor sau strategiilor create. Interconectarea sistemelor si viziunea globala a
pietei nu confera intotdeauna stabilitate firmelor, stabilitatea depinzand in primul rand de felul
in care agentii economici inteleg schimbarile, consecintele acestora si viteza cu care isi
adapteaza strategiile la mediu. Datorita intensificarii concurentei scopul intreprinderii
capitaliste acela de a produce pentru piata se transforma astazi in acela de supravietuire pe
termen lung de aici necesitatea unei dezvoltari durabile. Stabilitatea si rezistenta, fiabilitatea
echipamentelor joaca unul din rolurile esentiale in ceea ce economistii numesc competitivitatea
produselor. Astazi ciclul de viata al produselor este din ce in ce mai scurt, practicarea
economiilor de scara sau internalizarea diferitelor activitati nu sunt intotdeauna la indemana
oricui, iar exigentele consumatorilor (exploatatorilor) ce privesc caracteristicile echipamentelor
si calitatea produselor au crescut si s-au diversificat. Cu toate acestea, dintr-o viziune tehnica
dar si economica s-a simtit nevoia standardizarii in majoritatea domeniilor de activitate. In
acest context, omul si masina sunt astfel determinati sa construiasca tot mai mult, mai
economic, mai rapid, dar si mai sigur in acelasi timp. Controlul este chemat sa participe la toate
etapele de elaborare a unui produs de la concepere la exploatare, mentenanta sau reciclare.
5.2.1.Aspecte generale
Calitatea pieselor depinde de un numar foarte mare de factori, cum sunt: calitatea materialelor
de formare, modul lor de preparare, calitatea formarii, precizia dimensionala a garniturilor de
model, a formelor metalice sau matritelor, calitatea si intretinerea utilajului de formare, modul
de asamblare pentru turnare, modul de elaborare a materialului metalic, compozitia si
temperatura de prelucrare, conducerea proceselor de incalzire, topire, solidificare sau racire,
viteza de umplere a formei - in cazul produselor turnate - sau viteza de executie a altor tipuri de
prelucrari, curatirea pieselor sau finisarea lor.
O deficienta la oricare din acesti factori sau la mai multi din ei, duce la aparitia unor piese care
nu indeplinesc una sau mai multe din conditiile de livrare.
Desi conventionala, prin notiunea de defect a piesei, se intelege orice abatere de la forma,
dimensiuni, masa, aspect exterior, compactitate, structura, compozitie chimica sau proprietati
mecanice si fizice prescrise in standardele respective, normative tehnice sau conditii tehnice
contractuale. In functie de standardele respective, normative tehnice sau conditiile tehnice
contractuale aceeasi discontinuitate a piesei turnate poate fi in unele cazuri admisibila sau
remaniabila, iar in alte cazuri poate fi considerata un defect inadmisibil.
Clasificarea si terminologia discontinuitatilor pieselor sunt standardizate in standarde specifice
modului de prelucrare al produsului. Standardul stabileste clasificarea si terminologia
discontinuitatilor pieselor pentru toate tipurile de aliaje feroase si neferoase, indiferent de
modul de fabricare al acestora. In general, in practica industriala si prin standarde, clasificarile
nu se fac numai cu scopul unei sistematizari intr-un ansamblu de notiuni, ci in special pentru a
16
pune la indemana practicienilor un instrument util care sa coordoneze activitatea acestora.
Din acest punct de vedere, clasificarea discontinuitatilor pieselor trebuie sa indeplineasca
anumite conditii:
- sa cuprinda toate defectele caracteristice pieselor in functie de modul de prelucrare al
acestora;
- sa permita incadrarea discontinuitatii cu precizie intr-o anumita categorie;
- sa permita identificarea cauzelor care au produs discontinuitatea;
- sa permita evidenta usoara, clara si operativa a defectelor.
In standard, sistemul folosit pentru clasificarea discontinuitatilor se bazeaza pe descrierea fizica
a fiecarei discontinuitati. Acest sistem permite identificarea discontinuitatilor fie prin
observarea directa a piesei, fie dupa o descriere precisa a discontinuitatii folosind doar criteriile
formei, aspectului, localizarii si dimensiunilor acestora. Astfel identificarea se poate face fara a
se recurge la numele discontinuitatii sau la cauzele care pot interveni (si care de fapt sunt
necunoscute in prealabil).
Pe baza acestor elemente, discontinuitatile pieselor se pot imparti corespunzator fiecarui tip de
prelucrare, in functie de importanta lor, in trei grupe:
discontinuitati admisibile, fara remanieri;
discontinuitati admisibile, cu remanieri;
discontinuitati inadmisibile (defecte).
Grupa intai cuprinde discontinuitatile care nu afecteaza in nici un fel calitatea si
functionalitatea piesei. Pentru imbunatatirea aspectului comercial al acestei grupe de
discontinuitati ele se inlatura aparent prin acoperirea cu chituri sau vopsele.
Grupa a doua cuprinde acele discontinuitati care influenteaza defavorabil functionalitatea
piesei. Aceste discontinuitati se pot inlatura prin remanierea pieselor utilizand diferite procedee
(mecanice, metalurgice, chimice sau speciale) in asa fel incat piesele turnate sa corespunda
integral conditiilor tehnice prevazute in standarde, documentatii tehnice, norme interne sau
caiete de sarcini.
Grupa a treia cuprinde defectele inadmisibile, care conduc, fara exceptie, la rebutarea pieselor.
17
Dezvoltarea impetuoasa a examinarii nedistructive pe terenul tot mai extins a pretentiilor pentru
calitate si rentabilitate, are ca principal argument eficienta economica. Ea rezulta, in primul
rand pe cale directa prin:
- reducerea cheltuielilor materiale, a fortei de munca si a timpului pentru examinari;
- reducerea cheltuielilor de folosire a tehnologiilor active de executie;
- marirea productivitatii si ritmicitatii muncii;
- preintampinarea pierderilor in productie si in exploatare, prin eliminarea in faze timpurii de
executie a semifabricatelor si pieselor necorespunzatoare si micsorarea rebuturilor;
- reducerea cheltuielilor de exploatare si intretinere;
- imbunatatirea calitatii produselor, prin marirea gradului de detectabilitate a defectelor si a
preciziei examinarii.
In alegerea metodei de examinare pentru evaluarea discontinuitatilor trebuie avute in vedere
urmatoarele:
- tipul discontinuitatilor ce urmeaza a fi detectate;
- procedeul de fabricare al produselor;
- accesibilitatea articolului;
- nivelul de sensibilitate dorit;
- echipamentul de examinare disponibil;
- costul.
Pentru a pune in evident defectele fara a prejudicia aspectul piesei se utilizeaza controlul
nedistructiv.
Controlul nedistructiv (englez nondestructive testing, prescurtat NDT) reprezint modalitatea
de control al rezistenei unei structuri, piese etc. fr a fi necesar demontarea, ori distrugerea
acestora.
Controlul nedistructiv este definit ca ansamblul de metode care permit caracterizarea starii de
integritate a structurilor industriale, fara a le degrada, fie in decursul productiei (piesele care ies
din turnatorii nu sunt intotdeauna lipsite de defecte), fie pe parcursul utilizarii (aparitia
defectului). Este necesara determinarea de maniera empirica a taliei defectului acceptat, apoi
detectarea defectului fara a afecta piesa si inlocuirea la nevoie a acesteia. In linii mari testarea
nedistructiva (CND) reprezinta testarea fara a provoca daune asupra elementelor testate creand
o lume mai sigura.
Putina lume in afara de specialistii in domeniu intalnesc deseori termenul de testare
nedistructiva (NDT-Nondestructiv Testing sau CND Controle Non Destructif). Cu toate acestea
testarea nedistructiva participa la pastrarea in siguranta a noastra si a obiectelor cu care
interactionam, multe dintre acestea fiind testate nedistructiv.
Functionarea in siguranta a echipamentelor industriale determina necesitatea efectuarii unui
control sistematic de catre specialistii controlului nedistructiv. Se spune ca ignorarea
controlului reprezinta astazi mai mult decat ignorarea unei bune functionari, ea reprezinta o
greseala sociala.
Controlul de calitate ocupa o pondere din ce in ce mai importanta in toate domeniile cu care
acesta interactioneaza de la industria automobilelor, aeronautica, petrochimie, infrastrutura de
transport la sanatate. Multe din obiectele cu care intram in contact sunt testate nedistructiv.
18
Control nedistructiv
Domenii de aplicare
Domeniile de aplicare ale controlului nedestructiv sunt cele mai diverse sectoare ale industriei:
industria automobilelor (diferite piese)
industria naval (controlul corpului navei i a structurilor sudate)
conducte ngropate sau submerse sub ap supuse coroziunii
platforme marine
aeronautic (aripile avioanelor, diferite piese de motor, etc)
industria energetic (reactoare, turbine, cazane de nclzire, tubulatur, etc)
industria aerospaial i militar
arheologie
structuri feroviare
industria petrochimic
construcii de maini (piese turnate sau forjate, ansamble i subansamble)
Se poate afirma c metodele CNT se aplic n toate sectoarele de producie.CNT
interactioneaza cu diferite domenii de activitate de la industria aerospatiala,
petrochimie,industria navala.
21
Examinare visuala (VT)
Controlul visual pune in evidenta numai defectele de suprafata. Orice tip de investigare trebuie
s fie precedat de o examinare vizual a supafeei. Procedeul este simplu dar indispensabil,
examinarea vizual presupune respectarea condiiilor de claritate satisfctoare a suprafeelor
materialelor, echipamentelor lund n considerare caracteristicile i proprietile acestora.
Pentru control vizual se folosesc diferite ustensile optice cum ar fi: endoscop, lupe, lmpi etc.
Prin control visual sunt furnizate o serie de indicii legate de aspectul suprafeei metalului
precum i estimarea unor defecte interne (recipiente metalice, butelii de gaze, conducte, tuburi
etc). Odat cu controlul visual se pot determina i dimensiuile defectelor de mbinare.Se aplica
in special la suduri la grosimile recipientului sudat, dimensiunile cordonului sudat etc.
Generator de raze X
Radiatiile X sunt de natura electromagnetica, deosebindu-se de lumina prin lungimea de unda
mai mica.
Radiatiile electromagnetice sunt produse prin oscilatia sau acceleratia unei sarcini
electrice.Undele electromagnetice au atat componente electrice cat si magnetice. Gama
radiatiilor electromagnetice este foarte larga: unde cu frecventa foarte inalta si lungime mica
sau frecventa foarte joasa si lungime mare.
Lumina vizibila constituie numai o parte din spectrul undelor electromagnetice. In ordine
descrescatoare de frecventa, spectrul undelor electromagnetice se compune din: radiatii gama,
radiatii X, radiatii ultraviolete, lumina vizibila, radiatii infrarosii, microunde si unde radio.
Undele electromagnetice nu au nevoie de mediu pentru a se transmite. Astfel, lumina si undele
radio pot circula in spatiul interplanetar si interstelar, la soare si stele, pana la Pamant.
Indiferent de frecventa si lungimea de unda, undele electromagnetice au o viteza de
299.792km/s in vid. Lungimea si frecventa undelor electromagnetice sunt importante in
determinarea efectului termic, al vizibilitatii, al penetrarii si a altor caracteristici.
Radiatiile X sunt radiatii electromagnetice penetrante, cu lungime de unda mai scurta decat a
luminii si rezulta prin bombardarea unei tinte de tungsten cu electroni cu viteza mare. Au fost
descoperite intamplator in anul 1895 de fizicianul german Wilhem Conrad Roentgen, in timp ce
facea experimente de descarcari electrice in tuburi vidate, respectiv el a observat ca din locul
unde razele catodice cadeau pe sticla tubului razbeau in exterior raze cu insusiri deosebite;
aceste raze strabateau corpurile, impresionau placutele fotografice, etc. El le-a numit raze X
deoarece natura lor era necunoscuta. Ulterior au fost numite raze (radiatii) Roentgen, in cinstea
fizicianului care le-a descoperit.
Natura radiatiilor X
Radiatiile X sunt radiatii electromagnetice cu o putere de penetrare indirect proportionala cu
lungimea de unda. Cu cat lungimea de unda este mai mica, cu atat puterea de penetrare este mai
mare. Razele mai lungi, apropiate de banda razelor ultraviolete sunt cunoscute sub denumirea
de radiatii moi. Razele mai scurte , apropiate de radiatiile gama, se numesc raze x dure.
22
Radiatiile X se produc cand electronii cu viteza mare lovesc un obiect material. O mare parte
din energia electronilor se transforma in caldura iar restul se transforma in raze x, producand
modificari in atomii tintei, ca rezultat al impactului.
Radiatia emisa nu este monocromatica ci este compusa dintr-o gama larga de lungimi de unda.
Primul tub care a produs raze X a fost conceput de fizicianul William Crookes. Cu un tub de
sticla partial vidat, continand doi electrozi prin care trece curent electric. Ca rezultat al
ionizarii, ionii pozitivi lovesc catodul si provoaca iesirea electronilor din catod. Acesti
electroni, sub forma unui fascicul de raze catodice, bombardeaza peretii de sticla ai tubului si
rezulta razele X. Acest tub produce numai raze X moi, cu energie scazuta.
Un tub catodic imbunatatit, prin introducerea unui catod curbat pentru focalizarea fasciculului
de electroni pe o tinta din metal greu, numita anod, produce raze X mai dure, cu lungimi de
unda mai scurte si energie mai mare. Razele X produse, depind de presiunea gazului din tub.
Urmatoarea imbunatatire a fost realizata de William David Coolidge in 1913 prin inventarea
tubului de raze X cu catod incalzit. Tubul este vacuumat iar catodul emite electroni prin
incalzire cu un curent electric auxiliar. Cauza emiterii electronilor nu este bombardarea cu ioni,
ca in cazurile precedente. Accelerarea procesului de emitere a electronilor se face prin aplicarea
unui current electric de inalta tensiune, prin tub. Cu cat creste voltajul, scade lungimea de unda
a radiatiei.
Fizicianul american Arthur Holly Compton (1892 1962), laureat al Premiului Nobel, prin
studiile sale a descoperit asa numitul efect Compton in anul 1922. Teoria sa demonstreaza ca
lungimile de unda ale radiatiilor X si gama cresc atunci cand fotonii care le formeaza se
ciocnesc de electroni. Fenomenul demonstreaza si natura corpusculara a razelor X.
Proprietatile radiatiilor X
Radiatiille X impresioneaza solutia fotografica, ca si lumina. Absorbtia radiatiilor depinde de
densitatea si de greutatea atomica. Cu cat greutatea atomica este mai mica, materialul este mai
usor patruns de razele X. Cand corpul uman este expus la radiatiii X, oasele, cu greutate
atomica mai mare decat carnea, absorb in mai mare masura radiatiile si apar umbre mai
pronuntate pe film. Radiatiile cu neutroni se folosesc in anumite tipuri de radioagrafii, cu
rezultate total opuse: partile intunecate de pe film sunt cele mai usoare.
Radiatiile X provoaca fluorescenta anumitor materiale, cum ar fi platinocianidul de bariu si
sulfura de zinc. Daca filmul fotografic este inlocuit cu un ecran tratat cu un asemenea material,
structura obiectelor opace poate fi observata direct. Aceasta tehnica se numeste fluoroscopie.
Alta caracteristica importanta este puterea de ionizare, care depinde de lungimea de unda.
Capacitatea razelor X monocromatice de a ioniza, este direct proportionala cu energia lor.
Aceasta proprietate ne ofera o metoda de masurare a energiei razelor X. Cand razele X trec
printr-o camera de ionizare, se produce un curent electric proportional cu energia fascicolului
incidental. De asemenea, datorita capacitatii de ionizare, razele X pot fi vazute intr-un nor. Alte
proprietati: difractia, efectul fotoelectric, efectul Compton si altele.
Examinarea cu raze X const n bombardarea piesei supuse controlului cu radiaii X,
obinndu-se pe filmul radiografic imaginea structurii macroscopice interne a piesei.
Generatoarele de raze X, n funcie de energia ce o furnizeaz i de domeniul lor de utilizare
pot fi:
generatoare de energii mici (tensiuni < 300 kV) pentru controlul pieselor din oel de
grosime mic (< 70 mm),
generatoare de energii medii (tensiuni de 300...400 kV) pentru controlul pieselor din
oel de grosime mijlocie (100...125 mm)
generatoare de energii mari (tensiuni de peste 1...2 MV i betatroane de 15...30 MV)
pentru controlul pieselor din oel de grosime mare (200...300 mm).
23
Examinare cu raze gamma (gammagrafie)
Gammagrafia const n iradierea piesei supuse controlului cu radiaii gamma, dup care se
obine pe filmul radiografic imaginea structurii macroscopice interne a piesei respective, prin
acionarea asupra emulsiei fotogafice.
Creterea permanent a parametrilor funcionali ai instalaiilor industriale moderne (presiune,
temperatur, solicitri mecanice, rezisten la coroziune), au impus examinarea cu raze gamma
ca o metod modern de control cu grad ridicat de certitudine. Elementul de baz al
gammagrafiei este sursa de radiaii gamma care datorit proprietilor sale (energie ridicat,
mas de repaus nul, sarcin electric nul), o fac deosebit de penetrant.
Principala surs de radiaii folosit n gammagrafie o constituie izotopii radioactivi de Cobalt-
60, Iridiu-192, Cesiu-137, Cesiu-134, Tuliu-170 i Seleniu-75, obinui prin activare deoarece
au un pre de cost mai sczut i avantajul obinerii unor activiti mari.
Aceti izotopi sunt utilizai astfel:
Cobalt-60 pentru oeluri cu grosime mare (>80 mm);
Iridiu-192 pentru oeluri cu grosime mijlocie (10-80 mm);
Tuliu-170 pentru oeluri cu grosime mic (<10 mm).
Defectele pieselor turnate puse in evident prin fotografierea cu raze gamma se impart in
urmatoarele:
Sufluri-incluziuni de gaze, cu zgura, cu nisip, porozitati, afanari, picaturi
reci,discontinuitati-fisuri la cald si rece;
Defecte superficiale-arsuri, cute, cruste solidificate, etc.
Marimea defectelor din piesa turnata in directia traiectoriei radiatiei trebuie sa fie in limitele
sensibilitatii metodei si sa constituie cel putin 2% din grosimea obiectului controlat.
Un material metalic ce va contine un defect interior, figura 5b, (gol,incluziune, fisur etc.) va
absorbi diferit radiatia, astfel c, in acest caz,radiatia trecut prin material va avea valoarea (l2 ).
Fiind o metod comparativ informatia util provine din raportul dintre intensitatea (I2 )
corespunztoare materialului neomogen i intensitatea (l1 ) corespunztoare materialului
omogen. Acest raport poart denumirea de contrast de radiatie i se noteaz cu (K):
K=I2 /I1
unde: I2 = I0 e(-1 (x-x)-2 x)
25
Figura 6- Distributia intensittii radiatiei trecute prin pies in cazul diferitelor defecte
a) goluri (pori, retasuri, fisuri); b) incluziuni cu W1<W2; c) incluziuni cu W2>W1 i in cazul a
diferiti parametri geometrici; d) incluziuni la diferite adancimi
In figura 6 este redat repartitiei intensittii (I2) pentru diferite situatii i naturi ale defectelor
precum i repartitia intensittii in functie de pozitia sursei de radiatie dat de defect.
In figura 6a sunt prezentate retasuri, microretasuri, pori sau fisuri. Cea mai mare intensitate a
radiatiei (I2) apare in spatele acestor omogenitti. Fisurile influenteaz repartitia intensittii
numai atunci cand acestea sunt perpendiculare, cu grosimea cea mai mare dispus pe directia
de radiatie, respectiv atunci cand ele aduc o contributie important la (x).
26
Figura 6b prezint cazul unor incluziuni nemetalice i segregatii in otel. Asemenea situatii sunt
caracterizate tot de o intensitate a radiatiei (I2) mai mare decat intensitatea radiatiei (I1),
corespunztoare probei omogene (figura 5). Intensitatea radiatiei (I2), la o mrime egal a
defectului, figura 6a, este mai mic decat in cazul precedent intrucat coeficientul de absorbtie
(W) al materialelor nemetalice este mai mare decat al aerului sau al gazelor ce umplu defecte
de genul celor mentionate in figura 6a.
Figura 6c prezint evolutia intensittii (I2) atunci cand este vorba de incluziuni metalice mai
grele decat materialul de baz. Coeficientul de absorbtie mai ridicat al acestor incluziuni fat de
coeficientul de absorbtie al metalului de baz face ca intensitatea (I2) a radiatiei transmise in
dreptul incluziunii s fie mai mic decat intensitatea radiatiei (I1) transmis in dreptul
materialului omogen. O situatie semntoare cu cea descris mai sus se obtine i atunci cand
defectul este situat la diferite adancimi in pies, figura 6d sau atunci cand iradierea se face sub
unghi oarecare i nu perpendicular, situatie in care se modific nu numai distributia ci i forma
peak-ului (maximului distributiei radiatiei).
Dat fiind faptul c se obtine o imagine plan a defectului piesei sau semifabricatului, concluzii
precise despre adancimea defectului se pot obtine numai dup efectuarea unei iradieri i din alt
unghi, cea mai favorabil directie fiind cea perpendicular pe prima directie de iradiere.
Trebuie specificat c intensitatea radiatiei transmise depinde in mare msur i de conditiile
geometrice ale radiatiei, proiectia cea mai bun obtinandu-se la radiatia paralel.
Transformarea intensittii (I2) in informatie precis despre adancimea i pozitia defectului se
poate realiza prin radiografie, radioscopie i radiometrie.
Metoda radiografic
Radiatia transmis prin material este inregistrat pe un film fotografic special. In figura 7 este
reprezentat schema de principiu a radiografiei cu radiatii penetrante, folosit pentru
evidentierea unor defecte interioare (de exemplu, pentru cazul concret al unui semifabricat cu
cordon de sudur).Pentru a obtine o imagine precis incadrat pe piesa precis radiografiat (1) se
aeaz o fereastr cu ram din plumb (2). De asemenea, in zona liber a ferestrei, acolo unde nu
se bnuiete a fi defecte se aeaz litere i cifre mici din plumb (3), care servesc la marcarea
radiografiei in scopul unei identificri i interpretri ulterioare. Tot in zona liber a ferestrei se
mai pot lsa mire de control, mici plcute de plumb ce contin de regul orificii de diametre
diferite destinate stabilirii mrimii defectului. Filmele radiografice (5) pot avea forme diverse
pornind de la filmul sub form de plac pan la filme bobinate, atunci cand se face, de
exemplu, controlul radiografic continuu al unor tevi sudate, pe generatoare sau elicoidal.
27
Metoda radioscopiei
Radiatia transmis prin prob provoac pe un ecran fluorescent o repartitie a intensittii,
putandu-se astfel vizualiza imaginea plan a piesei cu defect. Dat fiind intensitatea deosebit de
mare a radiatiei, pericolul examinrii vizuale este ridicat, motiv pentru care imaginea de pe
ecranul fluorescent este preluat de ctre o camer video i transmis intr-o incpere alturat,
pe un monitor de control.
Metoda radiometric
Se bazeaz pe msurarea intensittii, functie de timp i loc, a unui fascicul de radiatie
penetrant transmis prin pies. Tomografia computerizat este o realizare mai recent a
radiometriei. Semnalul electric corespunztor intensittii radiatiei transmise este procesat de
ctre un calculator prin intermediul unui soft adecvat, astfel incat in final s se obtin o imagine
secvential (pe felii), de mare precizie, a obiectului examinat.
28
Examinari cu particule magnetice- Magnetoscopie
Peste 50 de ani utilizat in controlul nedistructiv!
Englezul Saxby folosea inca din 1868 indicarea cimpului magnetic de dispersie cu ajutorul
busolei pentru detectarea fisurilor tevilor de tun. Ca in multe alte domenii ale dezvoltarii
tehnologice, tot problemele de tehnica militara au reprezentat motivul pentru care americanul
Hoke imagina metode de detectare a fisurilor cu ajutorul piliturii de fier. Doi ani mai tirziu a
fost acordat un patent, pe baza caruia de Forest, intemeietorul firmei MAGNAFLUX din
Chicago, a obtinut licenta, inainte ca sa se foloseasca, prima oara in 1929, metoda de
magnetizare cu ajutorul fluxului de curent prin piesa. Primul aparat european de control al
fisurilor a fost construit in anul 1937 de italianul Giraudi sub denumirea de Metalloscopio
Karl si Volker DEUTSCH au inceput in anul 1960 productia aparatelor pentru controlul
fisurilor prin metoda "recipientului cu virtej", trecind in 1965 la aparatele universale cu
alimentare cu curenti alternativi defazati.
Rezultatele quasi-imediate sau aspectul economic sunt principalele avantaje ale acestei metode.
Astazi, tehnica de control PM este statuata in nemumarate specificatii, norme si directive, incit
noutatile se impun greu, chiar daca se pot obtine avantaje tehnice clare. Necesitatile dezvoltarii
tehnice se refera, in primul rind, la prelucrarea automata a imaginilor indicatiilor de fisuri
29
oferite de controlul PM. In prezent exista instalatii pilot ale fabricantilor renumiti de aparatura
PM. Ponderea in industrie a acestora s-ar putea realiza in ultima decada a mileniului .
Defectoscopia magnetic se bazeaz pe evidentierea imprtierii liniilor de camp magnetic in
materiale feromagnetice de ctre defecte precum: fisuri, desprinderi de material, retasuri,
incluziuni .a. Aceste defecte se pot evidentia cu atat mai precis cu cat sunt situate mai aproape
de suprafat.
Materializarea imprtierii liniilor de camp se poate face in trei moduri:
cu pulberi magnetice, figura 8.a;
cu band magnetic, figura 8.b;
cu sond magnetic, figura 8.c.
Orice aparat sau instalatie defectoscopic bazat pe principiul defectoscopiei magnetice posed,
dou componente importante:
sistemul de producere a campului magnetic;
sistemul de localizare i evidentiere a defectelor.
Prin sistemul de producere a campului magnetic se urmrete obtinerea unui camp magnetic
perpendicular pe defect (fisur). In felul acesta rezult o deviere maxim a liniilor de camp i
corespunztor o precizie i rezolutie ridicat. Dat fiind multitudinea de forme, dimensiuni i
pozitii ale defectelor in piesele sau semifabricatele examinate sunt necesare mai multe sisteme
de producere a campului magnetic continuu sau alternativ. In tabelul 11. a, b i c sunt
prezentate, principial, diferite sisteme electromagnetice de producere a fluxului magnetic
necesar in defectoscopia magnetic. Pentru producerea campului magnetic pot fi folositi
magneti permanenti precum i electromagneti de curent continuu sau de curent alternativ.Din
cauza adancimii mici de ptrundere, campurile alternative se folosesc numai pentru
evidentierea defectelor de suprafat cu adancimi de maximum 2 mm. Prin campuri continue pot
fi evidentiate defecte pan la adancimi de 10 mm. In functie de natura defectului i a orientrii
pe care se presupune c acesta o are (la laminare fisurile sunt in exclusivitate longitudinale),
magnetizarea poate fi longitudinal (a), circular (b) sau combinat (c).Criteriul care st la baza
alegerii unui anumit procedeu de magnetizare este respectarea principiului c liniile de camp
magnetic s fie perpendiculare pe fisur astfel incat campul de imprtiere provocat s fie
maxim.Magnetizarea longitudinal se obtine fie cu magneti continui de tip jug magnetic
(a.1), fie cu electromagneti (a.2), la care materialul de analizat reprezint miezul dintr-o bobin
parcurs de curent. Magnetizarea circulara se obtine prin trecerea curentului electric prin piesa
de analizat (b.1), prin trecerea curentului printr-un conductor prin interiorul piesei cercetate
(cazul tevilor; b.2) sau prin inductie (b.3). Magnetizarea combinat (c) este folosit pentru
punerea in evident a unor fisuri cu pozitii intampltoare. In scopul obtinerii acestei
magnetizri este necesar ca peste campul magnetic continuu s se suprapun un camp magnetic
alternativ, perpendicular pe cel continuu. Aceast suprapunere duce la obtinerea unor campuri
magnetice elicoidale ale cror vector de magnetizare ii schimb continuu directia, acoperind
30
astfel toate directiile posibile de orientare ale unei fisuri. Intensitatea campului magnetic trebuie
astfel aleas incat permeabilitatea maxim s ating valori care s asigure intensitti ale
campului de imprtiere de cel putin 100 A/cm2, in zonele lipsite de defecte intensitatea
campului trebuind s ating 1525 A/cm2. Examinarea defectelor nu trebuie efectuat
obligatoriu in timpul magnetizrii, ea poate fi fcut i dup intreruperea campului magnetic
(efectul de remanent magnetic). Esential la acest tip de examinare este faptul c materialul
pieselor sau semifabricatelor examinate s aib un camp coercitiv suficient de mare (cca. 10
A/cm). Aceast conditie este indeplinit de oteluri atunci cand procentul de carbon depete
0,2%.
2. Continuu Defecte
Magnetizare Alternativ longitudinale
cu bobina
b. 1. Continuu Defecte
Magnetizare Cu autoflux Alternativ longitudinale
circular
2. Continuu Defecte
Cu flux Alternativ longitudinale
ajuttor
3. Alternativ Defecte
Cu flux transversale
inductiv
31
c. Magnetizare Continuu Defecte
Magnetizare cu jug i cu transversale
combinat autoflux i
longitudinale
Defectoscopia cu pulberi magnetice este cea mai veche metod defectoscopic. Se bazeaz pe
evidentierea devierii liniilor de camp magnetic cu ajutorul unor particule magnetice cu
dimensiuni cuprinse intre 0,1100 Wm. In ceea ce privete natura particulelor, acestea pot fi
particule de fier pur sau particule de oxid feroferic (Fe3O4).
Pentru a evidentia mai bine aglomerrile de particule in dreptul liniilor magnetice se pot aduga
substante colorate sau substante fluorescente. Ca medii de suspensii pentru pulberi magnetice
se folosesc lichide (uleiuri de viscozitate mic, petrol lampant) sau aerul. Folosirea lichidelor
duce la o imprtiere mai uniform a pulberilor magnetice pe suprafa_a de examinat. Prin
procedeul defectoscopic cu pulberi magnetice pot fi evidentiate atat fisuri superficiale, figura
8a, cat i fisuri sub stratul superficial, figura 9, pan la adancimi de maxim 6 mm. Procedeul
este recomandat in special la piese cu geometrii complexe i de dimensiuni mari, unde celelalte
metode nu dau rezultatele scontate.
Defectoscopia cu banda magnetic si sonda magnetica este aplicata cu succes pentru imbinarile
sudate. Metoda pune in evident in principal natura defectelor din mbinarea sudat.
Cureni turbionari(ET)
Principalii factori care influenteaza metoda de control cu curenti turbionari sunt:
- efectul pelicular;
- frecventa;
- permebilitatea magnetic;
- conductivitatea electrica;
- distanta conductor piesa;
- efectul de margine;
Fazele examinarii cu curenti turbionari sunt urmatoarele;
- alegerea sistemului de bobine
- calibrarea
- desfasurarea controlului
- evaluarea si interpretarea semnalelor
Metoda const n inducerea unor cureni turbionari n pereii evii controlate. Cmpul magnetic
al curenilor turbionari indui, datorit prezenei unor discontinuiti i neomogeniti n
32
material, modific impedana bobinei de msurare, ceea ce afecteaz amplitudinea i faza
curenilor turbionari. Amplitudinea, defazajul i adncimea de ptrundere a curenilor
turbionari, depind de amplitudinea i frecvena curentului de excitaie, de conductibilitatea
electric, de permeabilitatea magnetic a materialului, de forma piesei controlate, de poziia
relativ a bobinelor fa de pies, precum i de omogenitatea materialului controlat.
33
Figura 10: Generarea unui curent turbionar in materialul de test
Un tip de aparat folosit pentru testarea cu curenti turbionari este unul ZETEC MIZ 21B care
are urmatoarele caracteristici:
- circuit de suprimare a zgomotului
- convertor A/D 16 bit
- circuit analog de amplificare
- afisare impedanta coordonate XY
- afisaj care permite comparare a doua impedante in acelasi timp
- memorie non volatila cu 50 configuratii test si care suporta pina la 10 capturi imagini
- conductivitate si masurarea grosimii invelisului la 4 frecvente: 60, 120 si 480 kHz
- frecventa intre 50 Hz si 8 MHz
- 2 frecvente independente pentru testare duala
- certificari MIL STD 810, CE mark si ISO 9001
Ultrasunete
Ultrasunetele sunt vibraii mecanice ale particulelor unui mediu elastic ale cror frecvene de
oscilaie sunt superioare pragului de percepie al urechii umane 20KHz i care se propag n
mediu sub form de unde elastice. La baza obinerii ultrasunetelor se afl cel mai adesea
fenomenul piezoelectric, efect descoperit de ctre Pierre i Jacques Curie, n anul 1880.
Posibilitatea utilizarii undelor ultrasonice pentru testari nedistructive s-a recunoscut de abia in
anii '30, in Germania de catre Mulhauser, Trost, Pohlman, iar in Rusia de catre Sokoloff,
acestia folosind tehnici variate cu unde continue. Echipamentul de detectie s-a dezvoltat
bazandu-se pe principiul interceptarii energiei ultrasonice de catre o discontinuitate aflata in
calea fascicolului ultrasonic. Aceasta tehnica a fost cunoscuta mai tarziu sub denumirea de
metoda prin transmisie. Un sistem ingenios de transmisie a fost dezvoltat de catre Pohlman.
Acesta se baza pe producerea de imagini ca niste umbre ale defectelor interne. Mai tarziu s-au
perfectionat cateva tipuri de astfel de detectori. In timpul perioadei de inceput examinarea cu
ultrasunete era destul de limitata deoarece metoda prin transmisie necesita accesul la ambele
34
fete ale materialului testat. Nu a fost gasita o practica mai buna pana cand Firestone a inventat
aparatul ce utilizeaza trenul de pulsuri ultrasonice, obtinand reflexii de la discontinuitatile din
materialul testat. Acest aparat, pe care el l-a numit "reflectoscopul ultrasonic" s-a dezvoltat
rapid datorita perfectionarii instrumentatiei ultrasonice. In anii '40 acest aparat era un lider al
aparatelor ultrasonice de detectie a defectelor, atat in Statele Unite ale Americii cat si in afara
acestora. In aceeasi perioada, echipamentul de testare ultrasonica a fost dezvoltat independent
de catre Sproule, in Anglia.
Aplicatii ale acestei metode au aparut in scurt timp, in productie inspectia ultrasonica fiind
aplicata in cadrul examinarii calitative in metalurgie. Cercetarile au continuat, Firestone fiind
din nou cel care a adus majoritatea contributiilor importante impreuna cu asociatii sai de la
Universitatea Michigan, ei preocupandu-se de investigarea mecanismului de functionare al
traducatorilor, posibilitatea utilizarii undelor de forfecare, aplicatiile Rayleigh, ale undelor
Lamb, metoda rezonantei pentru masuratori de grosime etc.
Deoarece metoda ultrasonica este bazata pe fenomene mecanice, in particular ea este adaptata
determinarii structurii materialelor tehnice. Principalele aplicatii ale acestei metode sunt:
determinarea discontinuitatilor, masurarea grosimilor, determinarea modului de elasticitate,
studiul structurii metalurgice. Avantajele acestei metode sunt urmatoarele: sensibilitatea mare
de detectie, putere de penetrare mare (permitand examinarea unor grosimi foarte mari),
acuratete in determinarea pozitiei discontinuitatii si estimarea marimii acesteia, raspuns rapid,
metoda pretandu-se la automatizare, accesul numai dintr-o singura parte a materialului test
Metoda ultrasonica are totusi limitari cum ar fi: geometria nefavorabila a produsului testat
(marime, contur, complexitate si orientare a discontinuitatilor), structura interna nefavorabila
(granulatie mare, porozitati structurale, incluziuni etc).
In zilele noastre examinarea cu ultrasunete acopera un domeniu foarte larg de investigare, cum
ar fi: industria metalurgica, energetica, aeronautica, constructoare de masini, constructii
transporturi etc.Metoda este bazat pe undele mecanice (ultrasunete) generate de un element
piezo-magnetic excitat la o frecven cuprins de regul ntre 2 i 5 Mhz. Controlul presupune
transmiterea, reflexia, absorbia unei unde ultrasonore ce se propag n piesa de controlat.
Fasciculul de unde emis se reflect n interiorul piesei i pe defecte, dup care revine ctre
defectoscop ce poate fi n acelai timp emitor i receptor. Poziionarea defectului se face prin
interpretarea semnalelor.Metoda prezint avantajul de a gsi defectele n profunzime datorit
unei rezoluii ridicate, ns este lent datorit necesitii de scanare multipl a piesei. Uneori
este necesar executarea controlului pe mai multe suprafee ale piesei. Metoda de control prin
ultrasunete este foarte sensibil la detectarea defectelor netede.
Propagarea ultrasunetelor
Modurile de propagare se definesc n funcie de dou direcii i anume: direcia de propagare a
undelor i direcia de oscilaie a particulelor materiale. n funcie de acest criteriu, se disting
urmtoarele:
Modul de propagare longitudinal (unde longitudinale);
Modul de propagare transversal (unde transversale);
Modul de propagare la suprafa (unde de suprafa);
Modul undelor de plac (unde Lamb).
35
Domenii de aplicabilitate a ultrasunetelor
Numeroase aplicaii tehnologice ale ultrasunetelor sunt cunoscute n domeniul medicinei, al
industriei metalurgice, aerospaial, naval i alimentar, etc. Printre numeroasele arii de
aplicabilitate a ultrasunetelor, se numr i defectoscopia cu ultrasunete.
Utilizarea acestei metode de investigare nedistructiv permite stabilirea existenei defectelor de
tipul: fisuri, goluri, incluziuni, localizate n interiorul unor piese metalice masive, astfel nct s
nu le fie afectat integritatea.
Analiza dinamicii ideilor n domeniul testrilor nedistructive, n special domeniul testrilor cu
ultrasunete, permite urmtoarele:
- se poate aplica materialelor metalice i nemetalice, capabile s propage unde ultrasonice
cu frecvene cuprinse ntre 1 i 20 MHz.
- proprietile ultrasunetelor au determinat ca metoda de investigare cu ultrasunete s fie
utilizat pentru numeroase aplicaii tehnologice i anume: identificarea i evaluarea
mrimii defectelor (defectoscopie); msurarea grosimilor; a constantelor elastice;
determinarea duritii materialului; msurarea densitii, a debitului; msurarea
vscozitii; determinarea tensiunilor remanente;
- au aparut tehnici noi, prin care se caracterizeaz diferite tipuri de materiale, detecteaz,
localizeaz i msoar defecte, pot determina o ntreag gam de evenimente cu urmri
mai mult sau mai puin periculoase.
Atenuarea ultrasunetelor
Undele ultrasonore care se propag printr-un material sunt recepionate ntotdeauna cu o
anumit pierdere care se poate observa pe ecranul aparatului de investigat, prin diferena dintre
amplitudinile impulsurilor de ecou succesive.
Analiza materialelor utilizate n practica industrial a determinat consolidarea unei baze
materiale format dintr-un set de probe din aluminiu i oel. Fiecrei probe i s-au provocat
diferite n acord cu tipul de experiment desfurat.
Rezultatele procesului de investigare cu ultrasunete sunt influenate, n cea mai mare parte, de
reglarea i verificarea aparaturii folosite n acest scop. Prin identificarea etaloanelor i
metodelor de etalonare specifice fiecrei aplicaii, se urmrete buna funcionare a aparatului i
a sensibilitii acestuia care trebuie s rmn constant pe parcursul testrii.
Asupra calitii procesului de investigare cu ultrasunete exercit influene o multitudine de
factori precum: definirea domeniului de lucru, alegerea traductorului, etalonarea scrii de
msurare a distanelor, controlul proporionalitii scrii distanelor, reglarea sensibilitii,
determinarea zonei moarte a traductorului, corecia punctului zero, verificarea puterii
separatoare n adncime i trasarea curbelor DAC/DGS pentru evaluarea mrimii defectelor.
Evaluarea mrimii defectelor se face pe baza diagramelor DAC/DGS.
36
piezoelectric invers, iar pe cealalt parte receptorul ce lucreaz pe baz de efect piezo direct,
figura 11. In cazul existentei unui defect, ca urmare a reflexiei i a absorbtiei, in dreptul lui
intensitatea ultrasonor este mai mic. In cadrul acestui procedeu exist dou zone de transfer
ale sunetului: de la emittor in material i de la material la receptor.
Avantajul utilizrii acestei metode const in faptul c nu exist pericolul suprapunerii undei
reflectate peste cea incident. Ca dezavantaje trebuie specificate imposibilitatea localizrii
adancimii la care se gsete defectul, necesitatea centrrii perfecte a emittorului fat de
receptor, precum i erori datorate imposibilittii detectrii unor defecte mici, datorit efectului
de curbare convex a umbrei.
In cadrul procedeului prin reflexie (impuls ecou) se msoar parametrii undei reflectate. In
emittor (receptor) se emite la inceput un tren de impulsuri scurte prin efect piezoelectric invers
i pe urm acesta trece rapid, inainte de intoarcerea undei reflectate (ecou), pe pozitie de
receptor (lucru in regim piezoelectric direct). Principal pentru o pies omogen fr defecte
exist dou reflexii, figura 12, una la intrarea in materialul examinat i una la ieirea din
materialul examinat. La prezenta unui defect exist trei reflexii: una la intrare, (a), una de pe
defect, (b) i una de pe fundul piesei. Prin corelarea distantei (d) dintre semnalul de intrare i
semnalul reflectat cu viteza de propagare a ultrasunetului in materialul de incercat, se poate
determina adancimea (h) la care se gsete defectul, iar prin etalonarea inltimii (1) a
semnalului se pot trage concluzii asupra dimensiunii defectului. Forma semnalului ofer
informatii asupra dimensiunii i formei defectului. In acest sens sunt edificatoare situatiile
prezentate in figura 12. Aprecierea mrimii i formei defectelor depinde in mare msur de
cunotintele i experienta examinatorului, indicatiile pe ecran fiind foarte diferite in functie de
orientarea defectului fat de axa de propagare a undei sonore.
37
Figura 12. Principiul procedeului prin reflexie i diferite forme de semnal,
caracteristice anumitor tipuri de defecte.
Traductori ultrasonici
Traductorii ultrasonice difer de la unul la altul, dup modul de utilizare prin: dimensiuni,
frecven, limea benzii i modul de construcie. n figura 15. se prezint cteva forme tipice
de execuie a traductorilor ultrasonici
MPKL 2 2 50 1: LEMO-00
2: LEMO - 1
SEKG 2 2 50 1: LEMO-00
2: 2xLEMO-1
SEKM 2 2 50 1: 2x Microdot
2: 2xLEMO-1
Mediul de cuplare
Mediile de cuplare cel mai des folosite n practica industrial sunt: apa, uleiul, vaselina,
amestecul de glicerin-ap, mierea de albine, etc. De asemenea i mercurul este un foarte bun
mediu de cuplare, ns toxicitatea acestuia i preul destul de ridicat nu-l recomand a fi utilizat.
Pentru a ndeplini condiiile de propagare, un cuplant trebuie s ndeplineasc urmtoarele
caracteristici:
- s aib o bun adeziune la suprafaa de examinare pentru a elimina aerul;
- s fie omogen, sa nu conin particule solide sau bule de aer;
- s nu intre n reacie chimic cu materialul de investigat;
- sa poat fi uor de ndeprtat de pe suprafaa de investigat
40
Instrumente utilizate pentru reglarea i verificarea aparaturii de investigare cu ultrasunete
Aplicabilitatea extins a testrilor nedistructivecu ultrasunete pentru piese de geometrii diferite
a condus la dezvoltarea unei aparaturi complexe cu diverse accesorii, care s se asocieze cu
orice tip de verificare i anume:
a) blocuri de calibrare, folosite pentru reglarea i verificarea aparatului ultrasonic, al
traductorilor i al sistemului de investigare n ansamblu.
b) blocuri de referin, folosite pentru aprecierea mrimii defectelor i pentru verificarea
anumitor parametri de lucru ai aparatului.
Blocuri de calibrare
Blocul de calibrare K2, la fel ca i blocul de calibrare K1, este confecionat din oel carbon i s-
a impus n practica industrial odat cu utilizarea pe scar tot mai larg a traductoarelor
miniaturale nclinate. Acest bloc este folosit pentru controlul mbinrilor sudate.
41
Fig 18. Blocuri de referin (aluminiu)
n figura 18 este prezentt imaginea blocurilor de referin construite pentru etalonarea i
verificarea aparatului de investigare cu ultrasunete USLT 2000.
42
Parametrii de ieire:
- parametrii piesei (grosimea piesei, mrimea stratului durificat);
- parametrii defectului (distana pn la defect, mrimea echivalent, tipul defectului);
- parametrii ecourilor reflectate (amplitudine, distan, etc.);
- diagrama DAC/DGS pentru evaluarea mrimii defectelor;
- frecvena i viteza de propagare a ultrasunetelor;
- zona moart a traductorului;
- atenuarea ultrasunetelor n material;
Lichide penetrante
Defectoscopia cu lichide penetrante este o metod de control nedistructiv a materialelor
metalice sau nemetalice prin care se urmrete punerea n eviden a defectelor de suprafa sau
din imediata vecintate a suprafeei i care comunic cu exteriorul (SR ISO 9916-95).
Controlul cu lichide penetrante const n aplicarea pe suprafaa supus controlului a unui lichid
cu caliti bune de penetrare care ptrunde n discontinuitile superficial i le pune n eviden
prin contrast, cum ar fi: pori, fisuri, crpturi i rupture, producandu-se datorit efectului de
capilaritate. Regula de baz pentru aplicarea acestui procedeu in scop defectoscopic este
urmtoarea: intotdeauna defectul trebuie s plece de la suprafat, intrarea in defect trebuind s
fie neacoperit. Substantele chimice folosite trebuie s fie compatibile cu materialul de
incercat, netrebuind s-l degradeze.
Developarea penetrantului are loc datorit efectului de absorbie care, tot prin capilaritate, va
absorbi o parte din lichidul penetrant reinut n defect i va scoate n eviden locul i forma
defectului. Pentru aplicarea acestei metode se folosete un set de lichide penetrante, compus
din: degresant, penetrant i developant.
Cu ajutorul lor pot fi detectate trei categorii de defecte i anume:
- defecte ale materialelor obinute prin turnare, laminare, forjare, tragere etc.;
- defecte ale pieselor rezultate n procesul de fabricaie prin sudare, lipire, presare,
achiere etc.;
- defecte aprute n procesul de exploatare a pieselor:
- fisuri la oboseal, crpturi, rupturi, uzuri etc.
Cele mai folosite metode de control cu lichide penetrante sunt:
- metoda colorrii, la care contrastul pentru evidenierea defectelor este un contrast de
culoare roie pe fond alb.
- metoda fluorescenei, la care contrastul pentru evidenierea defectelor se obine prin
examinarea n lumin ultraviolet, fiind de obicei galben-verde pe fond nchis sau
violet;
- metode radioactive, la care defectele se pun n eviden prin impresionarea unui film de
ctre substane radioactive.
- metoda activrii cu ultrasunete la care penetrabilitatea este asigurat cu ajutorul
vibraiilor ultrasonice produse de emisia acestora n mediul de penetrare.
Lichidele penetrante utilizate se clasific dup urmtoarele criteria:
- dup contrast, n: penetrani colorani; penetrani fluoresceni; penetrani radioactivi.
- dup solubilitate, n:penetrani solubili n ap, penetrani solubili n solveni organic,
penetrani cu post emulsionare.
Cel mai frecvent se utilizeaz penetratorii colorani i fluoresceni, solubili n ap
Cei solubili n solveni organici sunt calitativ superiori celor solubili n ap. Developanii
utilizai sunt fie sub form de pulbere, fie sub form de suspensie. n principiu, controlul cu
lichide penetrante presupune realizarea a apte etape (faze) succesive, figurile 18.
43
Figura 18. Fazele defectoscopiei cu lichide penetrante.
Este una dintre cele mai raspandite metode de examinare nedistructiva datorita costurilor mici,
sensibilitatii ridicate si gamei largi de defecte detectabile (defecte de suprafata, din apropierea
suprafetei care comunica cu exteriorul, de etanseitate) si datorita aplicabilitatii extinse la o
gama de material fara restrictii referitoare la caracteristicile magnetice sau electrice. In mod
uzual , in planurile de examinare nedistructiva, examinarea cu lichide penetrante se situeaza pe
locul 2 dupa cea optico-vizuala, pentru materiale nemagnetice.
- este una dintre cele mai utilizate metode de control nedistructiv,
- permite detectarea discontinuitatilor de suprafata in materialele neporoase;
- poate fi aplicata oricarui tip de material (magnetice sau ne-magnetice);
- este portabile;
- poate fi folosita in controlul proceselor de fabricatie
Defectele de suprafata puse in evidenta ,vezi figura 19
44
Figura 19-Defecte puse in evidenta
Descrierea operatiilor:
- un rol deosebit de important in metoda controlului cu lichide penetrante o are pregtirea
suprafeei supus controlului. Ea are drept scop ndeprtarea murdriei, oxizilor i
substanelor grase de pe suprafaa probei, astfel nct s se asigure accesul penetrantului
la cavitile defecte, cu condiia de a nu se produce nchiderea sau mascarea defectelor.
- depunerea penetrantului pe suprafaa de controlat (penetrarea const n aplicarea i
meninerea penetrantului, pe suprafaa piesei, o perioad de timp necesar ptrunderii
acestuia n defectele existente n material. Timpul de meninere se numete timp de
penetrare i este specific fiecrui lichid penetrant.
- indeprtarea excesului de penetrant de pe suprafaa controlat se face cu ajutorul unui
solvent specific penetrantului. O parte din lichidul penetrant rmne n cavitile
defectelor.
- developarea se realizeaz prin depunerea, pe suprafaa controlat, a unui developant
care nu este altceva dect o substan cu capacitate mare de absorbie a lichidelor. De
obicei, aceast substan este o pulbere foarte fin care poate fi depus pe suprafaa
piesei prin pulverizare sau prin presrare. Pentru a se putea pune prin pulverizare,
aceast pulbere se gsete n suspensie ntr-un lichid uor volatil. La scoaterea n
eviden a defectelor este necesar a se atepta un anumit timp de developare, care este
specific fiecrui developant. Mrimea i aspectul petei de culoare ce apare pe
developantul depus pe pies indic prezena defectului i, ntr-o anumit msur,
mrimea i forma lui.
- examinarea defectelor observate i nregistrate.
45
Ea se efectueaz numai dup trecerea timpului de penetrare sau de emulsionare.
Suprafaa se usuc natural sau prin suflare cu aer cald.
- aplicarea developantului. Developantul de tip pulbere se aplic prin presrare,
pulverizare sau electrostatic, urmrindu-se obinerea unui strat ct mai uniform i fin.
Developanii de tip suspensie se aplic prin pulverizare, imersie sau pensulare. Cei mai
des folosii developani solizi sunt oxidul de magneziu, silicagelul, talcul, creta etc.
Timpul de developare poate fi cuprins ntre 0,5i 1 din timpul de penetrare. Pulberea
trebuie s aib o granulaie fin, cuprins ntre 4i 5m.
46
Figura 20. Defecte specifice i modul de evidentiere a acestora de ctre
developant.
47
5.3 METODE DE DETERMINARE A COMPOZITIEI
SI STRUCTURII MATERIALELOR
O caracterizare complet a unui aliaj sau metal tehnic nu este posibil fr cunoaterea
compozitiei i a concentratiei diferitelor elemente de aliere sau impuritti care le compun. In
acest scop sunt folosite la ora actual tot mai mult procedeele analitice instrumentale. Fat de
metodele chimico analitice clasice, procedeele de analiz instrumental au avantajul principal
de a fi rapide, complet automatizabile i posibil de a fi cuplate la calculator, in vederea
prelucrrii datelor rezultate din incercri. Determinrile calitative (de compozitie) vizeaz
punerea in evident a naturii tuturor componentelor dintr-un aliaj metalic, iar determinrile
cantitative (de concentratie) vizeaz stabilirea concentratiei componentelor aliajului respectiv.
49
Figura 21. Clasificarea metodelor spectroscopice.
Pentru vizualizarea, inregistrarea, examinarea i analiza spectrelor se folosesc aparate
specializate cunoscute sub denumirea de spectroscoape. Indiferent de tipul de spectroscopie,
structura unui spectroscop include intotdeauna sursa de radiatie, proba de analizat i sistemul de
vizualizare i inregistrare, figura 22.
50
Electrogravimetrie
Coulometrie
Electrografie
Metode electrochimice
de analiz
Poteniometrie
Voltametrie
Conductometrie
5.3.3 Metalografia
Metalografia este tiinta structurii metalografice a metalelor i aliajelor. Spre deosebire de
chimie, care studiaz compozitia chimic, metalografia studiaz aspecte fizice legate de
structur, ajungand pan in domeniul fizicii moleculare i a fizicii descriptive. Studiile
metalografice sunt importante, printre altele, la studiul:
recoacere,
imbtranire, recristalizare);
tarea cristalelor);
aturilor superficiale obtinute prin clire superficial, tratamente termochimice,
depuneri galvanice, depuneri in vacuum, cordoane de sudur etc.;
gatii, microretasuri, incluziuni de zgur, fisuri,
etc.);
In metalografie probele se pot caracteriza;prin:
Analiza microscopic se face cu microscoape optice, cu puterea de mrire de maximum 1200
sau cu microscoape electronice cu puterea de mrire de pan la cateva sute de mii de ori.
Analiza macroscopic se face cu ochiul liber sau cu lupe sau alte dispozitive optice ce au
puterea de mrite de maxim 15.
51
Analiza microscopic
Analiza microscopic se refer la metodele optice, opto-electronice sau electronice de analiz
structural i de microtopografie a suprafetei. Se imparte in dou categorii mari:
microscopia optic
microscopia electronic
Scopul microscopiei este acela de a face vizibile clar dou puncte apropiate de pe o prob sau
de pe un obiect, care in mod obinuit nu pot fi distinse cu ochiul omenesc. Analiza
microscopic se efectueaz cu aparate denumite microscoape. Posibilittile unui microscop
referitoare la selectivitate, claritate, ordin de mrire sunt definite printr-o serie de mrimi
specifice:
rezolutia (puterea de separare pe orizontal);
puterea de mrire;
rezolutia pe adancime (puterea/adancimea de ptrundere).
Rezolu1ia (puterea de separare pe orizontal) reprezint distanta la care pot fi percepute clar
i distinct dou puncte unul de cellalt:
d=/A=/nsin
unde:
- lungimea de und a luminii folosite la iluminare; poate varia intre lungimea de und a
luminii albastre (400nm) i lungimea de und a luminii roii (800nm);
n - indicele de refractie al mediului ce se gsete intre prob i lentila obiectivului;
poate varia intre indicele de refractie a aerului (n=1) corespunztor microscopiei
optice uscate i indici de refractie supraunitari specifici unor substante lichide
(microscopie in imersie), cele mai utilizate substan_e fiind uleiul de cedru
(n=1,52), iodura de metilen (n=1,74) i monobromnaftalin (n=1,66);
- jumtatea unghiului de deschidere; 2 reprezint unghiul format de dou raze intre
ele, care pleac dintr-un punct de pe proba de analizat, traverseaz lentila pe la
marginea extrem a acesteia, cu conditia ca ele s ajung in ocular. Teoretic, se poate
atinge un unghi de 2=180o. Practic acest unghi dublu poate fi de maxim 2=144o,
atunci cand lumina cade perpendicular pe prob;
A apertura (A = nsin); este de regul gravat pe obiectivul optic al microscopului : A
= 0,15; 0,49, etc.
Din analiza relatiei de mai sus rezult c cea mai mare rezolutie se obtine in urmtoarele
conditii:
folosirea celei mai mici lungimi de und posibile (lumina albastr);
folosirea unei substante de imersie (iodur de metilen);
folosirea celui mai mare unghi de deschidere (=72o).
Puterea de mrire este dat de produsul dintre mrirea optic a obiectivului (Mob) i mrirea
optic a ocularului (Moc)
M = Mob x Moc
Rezolu1ia pe adancime (puterea/adancimea de ptrundere) este definit prin distanta (S) la
care dou puncte de pe prob, situate pe axa optic unul sub cellalt, mai pot fi distinse clar.
Adancimea de ptrundere scade cu puterea de mrire i cu creterea aperturii (A):
S=0.07/AM(1+1/M) [mm]
52
Microscopia optic
Microscopia optic folosete lumina vizibil, cuprins intre ultravioletul inalt i infraroul jos.
Fenomenul de compunere a imaginii microstructurii examinate in ocularul unui microscop, pe
un film fotografic sau fotoelementul CCD al unei camere de luat vederi este un fenomen
complex, ingloband reflexii, refractii i absorbtii de lumin. Din punct de vedere principial i
constructiv, un microscop optic este un ansamblu optomecanic, ce are ca scop obtinerea unui
ordin de mrire cat mai ridicat, in conditiile unei rezolutii i a unei adancimi de ptrundere cat
mai bune. Partea optic a microscopului este format din trei elemente principale:
obiectivul (partea optic dinspre obiectivul examinat);
ocularul (partea optic dinspre ochiul omenesc);
sistemul de iluminare.
Lumina provenit de la sistemul de iluminare este focalizat spre obiectul de examinat, de
unde, prin transmisie sau reflexie, ajunge la ochiul omenesc, cu informatii optice despre
structura sau microtopografia examinat. Microscoapele se impart, in consecint, in dou
categorii mari:
microscoape cu transmisie (microscoape biologice);
microscoape cu reflexie (microscoape metalografice).
In general, pentru analiza calitativ a materialelor sunt folosite in exclusivitate microscoape cu
reflexie. La majoritatea microscoapelor, iluminarea probei se face de sus in jos, figura 24. La
piese de dimensiuni mai mari se folosesc microscoape cu iluminare de jos in sus, care permit
aezarea direct a probei pe masa microscopului
Figura 24. Schema optic a microscopului cu reflexie i iluminare de sus in jos; 1-prob, 2-
obiectiv, 3-ocular, 4-oglind semitransparent.
In vederea retinerii imaginilor ca document, sunt folosite la ora actual atat aparate foto
analoge cat i digitale, cele din urm avand posibilitatea racordrii lor directe la calculatoare,
permitand astfel o procesare i o analiz optoelectronic a imaginii, deosebit de util in special
pentru analiza cantitativ. In figura 25 este reprezentat schema de principiu a unui microscop
echipat cu camer video i sistem de analiz optoelectronic a imaginii.
53
Figura 25. Sistem de analiz optoelectronic a imaginii; 1 microscop metalografic, 2 - camer
de luat vederi, 3 - monitor, 4,5,6 - calculator, 7 imprimant;
Exist situatii concrete cand este necesar studiul microscopic in conditii de temperatur ridicat
sau sczut. Asemenea studii sunt utile mai ales in fundamentarea i analiza transformrilor de
faz. In acest scop sunt folosite incinte termice sau frigorifice ecranate spre exterior, care sunt
aezate pe masa microscopului, in momentul atingerii temperaturii dorite realizandu-se
examinarea microscopic a structurii. Camera de inclzire, figura 26, este o incint (1) inchis
i vidat, prevzut cu un geam de cuart (2) prin care se realizeaz examinarea probei (3).
Inclzirea probei se face fie cu un rezistor, fie cu un inductor (4), iar msurarea temperaturii cu
un termocuplu (5) aflat in contact cu proba. Pentru a proteja obiectivul (6) al microscopului de
radiatia termic se sufl aer comprimat, printr-un ajutaj (7), intre obiectiv i geamul de cuart.
Figura 26. Schema de principiu a unei camere de inclzire destinat studiului microscopic al
metalelor la temperatur ridicat; 1-incint vidat, 2-geam de cuart, 3-proba de studiat, 4-
rezistor sau inductor; 5-termocuplu, 6-obiectiv,7-ajutaj cu aer pentru rcirea obiectivului.
De regul, probele pentru studiul microscopic la temperatur ridicat trebuie numai lustruite i
nu necesit pregtirea chimic sau electrochimic a suprafetei de examinat, deoarece
54
coeficientii de dilatare diferiti fac ca gruntii cristalini s se profileze clar din planul de lefuire.
Vidarea incintei termice (1) are ca scop impiedicarea oxidrii suprafetei. Camera de rcire,
figura 27 este folosit pentru rcirea probei de examinat pan in domeniul temperaturilor
negative. Procedeul este important mai ales pentru analiza descompunerii austenitei reziduale
in martensita tetragonal specific otelurilor clite. Aceast transformare este legat de
modificarea de volum, ceea ce face ca acele de martensit s se ridice practic peste planul de
lustruire al probei, permitand o examinare microscopic comod a structurii. Proba de examinat
(1) se aeaz pe un suport cilindric metalic (2), care intr in freonul (3) din vasul Dewar (4).
Atat proba cat i vasul Dewar se gsesc plasate intr-o incint vidat (5), examinarea
microscopic fcandu-se prin geamul de cuart (6) i obiectivul optic (7), msurarea i controlul
temperaturii realizandu-se cu termocuplul (8).
In analiza materialelor de mare important este microscopia optic cantitativ, folosit pentru
determinarea mrimii i numrului de grunti cristalini.
Mrimea gruntilor cristalini poate fi variat in limite foarte largi in functie de o serie de factori
tehnologici: conditiile de turnare i solidificare, de deformare plastic la cald sau la rece,
ratament termic sau termomecanic, etc. Avand in vedere aceste dependente, pe baza msurrii
mrimii gruntilor se poate stabili cat de corect a fost aplicat un anumit procedeu tehnologic
sau in ce msur un material, cu o anumit mrime de grunte, se preteaz pentru o anumit
prelucrare sau utilizare.
Figura 27. Schema de principiu a unei camere de rcire destinat studiului microscopic la
temperatur sczut; 1-prob, 2-suport cilindric metalic, 3-freon, 4-vas Dewar, 5-incint vidat,
6-geam din cuart, 7-obiectiv, 8-termocuplu;
O structur metalografic ca imagine microscopic a unui plan care se gsete in punctul focal
al obiectivului nu spune totul despre mrimea real a gruntilor, intrucat a treia dimensiune a
acestora, respectiv grosimea lor este inaccesibil. Cu toate acestea, dat fiind uurinta de
aplicare a microscopiei i datele satisfctor de precise, s-a convenit s se accepte, ca mrime a
gruntelui unui metal, suprafata cristalelor vizibile in planul de examinare, cu indicarea unei
mrimi medii. Ca mrime medie se folosete fie suprafata medie a gruntilor fie diametrul
mediu a acestora. In situatia in care se cer precizii mai mari se pot face studii de distributie
55
statistic. Se recomand ca pe fiecare prob s se fac trei msurtori ale cror valori se
mediaz. In ce privete ordinul de mrire ales, acesta se stabilete in aa fel incat, in campul
vizual al ocularului sau al ecranului de examinare s apar cca. 100200 de grunti cristalini.
Din punct de vedere tehnic, msurarea mrimii gruntilor cristalini poate fi efectuat prin
determinarea:
suprafetei medii;
a diametrului mediu. Pentru determinarea suprafe1ei medii se proiecteaz structura pe un
ecran, se contureaz un anumit numr de grunti printr-o linie continu, se planimetreaz
suprafata total (A) [mm2] a acestor grunti i se numr gruntii (n) din perimetrul incercuit,
figura 28. Suprafata medie a gruntelui () in m2 are valoarea:
=A106 /nM2
Metoda cantririi const in executarea unei fotografii a structurii cercetate. Se decupeaz apoi
conturul gruntilor diferitelor faze i se cantresc decupajele, figura 28-IIc. La grosimea i
densitatea hartiei fotografice masele decupajelor reprezint corespondente exacte cu suprafata
medie a gruntelui.
Metoda cercului circumscris unui numr mare de grunti este deseori folosit pentru
determinarea mrimii medii a gruntilor cristalini. Un cerc cu suprafata (A) este proiectat peste
o anumit zon a structurii cristaline din campul vizual al microscopului, figura 29a. La inceput
se numr gruntii (n1) care se gsesc in interiorul cercului i pe urm grunti (n2) tiati de
ctre cerc. Numrul de grunti (n2) se inmultete cu 0,67, considerandu-se c 67% din grunti
cristalini se gsesc in interiorul cercului. Pentru o anumit putere de mrire (M), suprafata
medie a sectiunii gruntelui () se determin cu relatia:
In situatia in care dimensiunile gruntilor unei probe metalice analizate sunt foarte diferite sau
in cazul in care se doresc determinri cu precizie mai mare se va realiza o situatie statistic. In
acest scop gruntii planimetrati se impart pe clase de dimensiuni. Cu clasele de dimensiuni i
cu numrul (n) de grunti dintr-o clas se reprezint grafic distributia acestora, obtinandu-se o
histogram de distributie (figura 30).
Figura 31. Determinarea volumului mediu al grun_ilor unei faze pe baza analizei in puncte (a)
sau a analizei liniare (b).
Analiza in puncte este preferat in cazul structurilor polifazice sau in a celor in care gruntii
cristalini sunt foarte fini.Analiza liniar presupune deplasarea unei linii gradate inclinate de
lungime (L) de-a lungul structurii metalografice. Punctual de intersectie a liniei cu limita de
grunte, respectiv de faz, se numr, iar corzile respective se msoar, in final realizandu-se o
clasificare dup grupe de mrime. Mrimea medie a gruntelui (L ) este definit ca medie
aritmetic a lungimii corzilor. Pentru o structur monofazic ea se determin cu
L=L/N
In cazul structurilor multifazice
LA=LA/NA
LB=LB/NB
unde: ( L A ) i ( L B) reprezint lungimile totale ale corzilor din faza (A) respectiv din faza (B),
iar (N A ) i (N B) reprezint numrul corzilor din faza (A) respectiv din faza (B).
Dat fiind faptul c, in cazul analizei liniare, volumul unei faze corespunde componentei liniare,
partea volumului unei faze din volumul total este dat de raportul dintre lungimea total a
corzilor fazei respective LA raportat la lungimea liniei de scanare (L):
V=LA/L
Metodele de msurare a mrimii gruntelui tratate mai inainte, duc la determinri destul de
exacte, ins sunt inadecvate unor determinri curente, in serie, datorit efortului mare in timp.
In afar de aceasta, de multe ori sunt necesare aprecieri asupra numrului i a distributiei
impurittilor sau a distributiei unor constituenti, aprecieri in general subiective. Pentru a oferi o
metod rapid de msurare a mrimii gruntelui sau a unei incluziuni (de exemplu, a grafitului)
i pentru a reduce erorile de apreciere a distributiei impurittilor, a grafitului, a carburilor .a. s-
au pus la punct serii de structuri etalon cu care se compar proba. Rationamentul care a condus
la aceste considerente tine de faptul c omul percepe mai bine deosebirile decat valorile
absolute. Metoda de lucru se bazeaz pe compararea structurii metalografice a probei cu
structuri asemntoare, clasificate in trepte, dup mrimea i/sau distributia gruntilor cristalini.
58
Structurile etalon pot fi structuri reale sau structuri grafice confectionate special in acest scop.
Fiecrei structuri etalon ii este asociat un numr de identificare. Pentru a permite o comparatie
cat mai exact a probei cu etaloanele, acestea din urm sunt proiectate cu un dispozitiv special,
pe rand sau in grupuri de cate trei, in ocularul microscopului, unde apar alturi de prob,
permitand o comparare uoar. Pentru comparare trebuie respectat neaprat puterea de mrire
recomandat.
In figurile 32 i 33 sunt reprezentate serii etalon pentru determinarea mrimii gruntelui i
pentru determinarea mrimii i distributiei lamelelor de grafit din fontele cenuii. Pentru
determinarea gradului de puritate al otelurilor se folosesc serii de etaloane cu incluziuni de
impuritti (figura 34), care stabilesc cantitatea i distributia impurittilor nemetalice din otel.
Impurittile nemetalice pot fi fragile (oxizi i silicati cu compozitie complex), acestea
fragmentandu-se in timpul deformrii materialului sau plastice (sulfurile, o parte din silicati),
care se alungesc pe directia deformrii.
Figura 33. Asocierea de probe etalon cu o imagine metalografic a probei de font, in vederea
determinrii mrimii i distributiei grafitului lamelar din fontele cenuii.
59
Figura 34. Asocierea de probe etalon cu impuritti cu imaginea
metalografic a unei probei cu impuritti; a - impuritti plastice, b - impuritti
fragile.
Microscopia electronic
Dup cum s-a artat deja in cadrul microscopiei optice, cu cat lungimea de und a radiatiei
incidente este mai mic cu atat rezolutia este mai mare, lungimile de und cele mai mici, cu
care se poate lucra, situandu-se in domeniul violet (cca. 400 nm). Un progres important s-a
realizat prin folosirea ca surs de radiatie a unui fascicul de electroni puternic accelerat intr-un
camp electric. La impactul fasciculului de electroni cu substanta de analizat sunt emii electroni
secundari, care sunt i purttori de informatii despre topografia suprafetei analizate. Lungimea
de und poate fi determinat cu relatia:
=(150/U)1/2
unde: U - tensiunea de accelerare, ce poate avea valori de zeci de mii sau chiar peste o sut de
mii de volti, in ultimul caz putandu-se ajunge la o rezolutie (putere de separare) de pan la
0,1nm.
Microscopia electronic de transmisie reprezint un procedeu de analiz microscopic la care
radiatia (fasciculul de electroni) trece prin proba de analizat (figura 35). Este folosit in
principal pentru studiul structurilor cristaline, pentru analiza defectelor de retea i pentru
studierea limitelor de faz. Deoarece corpurile solide absorb radiatiile, pentru examinare sunt
necesare folii deosebit de subtiri ale materialului analizat. Grosimea minim a foliilor este
dependent de numrul atomic al materialului analizat i de tensiunea de accelerare folosit. In
cazul in care, din motive tehnice, nu se pot obtine folii suficient de subtiri pentru a fi strpunse
de fasciculul de electroni sau in cazul in care la trecerea fasciculului de electroni prin folie
contrastul este prea slab se apeleaz la obtinerea de replici ale suprafetei.
60
Fig.35 Schema de principiu al microscopului electronic prin transmisie; 1-catod, 2-gril de
comand, 3-anod, 4-lentil (bobin) condensatoare, 5-diafragm condensatoare, 6-obiect
examinat, 7-lentil (bobin) obiectiv, 8-diafragm sectorial, 9-lentil (bobin) intermediar,
10-planul ecranului intermediar,11-lentil (bobin) de proiectie, 12-plac fotografic
Pentru obtinerea foliilor se pleac de la probe cu grosimi cuprinse intre 0,1 1 mm. Dup
extragerea probelor din material de analizat urmeaz subtierea acestora, cele mai eficiente
metode fiind cele chimice i electrochimice (dizolvare anodic). Dup atingerea unei grosimi
suficient de mici se realizeaz lustruirea foliei pe cale electrochimic, pan in momentul in care
materialul este strpuns, in imediata vecintate a strpungerii obtinandu-se o folie sub form de
pan inclinat, folie care este suficient de subtire pentru a putea fi folosit ca prob pentru
studiul microscopic. Pentru reproducerea suprafetei de analizat a probei (obtinerea unei replici
a acesteia) initial se pregtete proba prin procedeele caracteristice microscopiei optice. De pe
suprafata acestei probe se poate apoi obtine o replic, care reproduce destul de bine relieful
acesteia i care, la randul ei, este uor de strpuns de fluxul de electroni. Se mai folosesc, de
asemenea, amprente din lac transparent, care reprezint copii negative ale suprafetei de
examinat. Aceste lacuri, diluate cudiluanti speciali, sunt intinse pe suprafata de examinat, dup
evaporarea diluantului rmanand pe suprafata probei un film solid, care reproduce bine
microreliefului de pe suprafata acesteia. Desprinderea filmului de lac se face prin flotare
mecanic intr-un lichid, pe cale chimic sau electrochimic.
61
de impact a fasciculului de electroni primari (EP) cu proba de analizat. Aceti electroni
secundari (ES1) dau cea mai bun rezolutie in plan orizontal, acetia continand cele mai multe
informa_ii despre topografia de studiat i dau imaginile cele mai clare. Electronii secundari
(ES3 ) i (ES4 ) proveniti prin reemisie de pe prob, respectiv de pe peretele camerei in care se
gsete proba, formeaz radiatia rezidual i provoac o inruttire a contrastului (ce poate fi
corectat pe cale electronic).
Figura 37 Schema bloc a unui microscop electronic cu baleiaj; 1-catod, 2- grila de comand, 3-
anod, 4,5-lentile electromagnetice condensatoare i de focalizare, 6-proba de analizat, 7-
62
fotomultiplicator, 8,9-sursa de tensiune, 10-unitate de baleiere, 11-unitate de mrire, 12-
amplificator, 13-unitate de afiare i procesare.
Accelerarea electronilor are loc intr-un tun electronic format dintr-un catod (1), o gril de
comand (2), un anod (3), lentile condensatoare electromagnetice (4) i lentile de focalizare
electromagnetice (5). In tunul electronic vidat se gsete proba de analizat (6) i detectorul
optic (fotomultiplicatorul) (7). Ca unitti de deservire, respectiv de prelucrare a datelor, mai
sunt folosite: sursa de alimentare de joas i inalt tensiune (8), sursa de alimentare a lentilelor
electromagnetice (9), unitatea de baleiere (10), unitatea de mrire (11), amplificatorul (12) i
unitatea de procesare i afiare (13). Fasciculul de electroni de inalt energie bombardeaz
proba (6), determinand aparitia emisiei de electroni secundari i a radiatiilor X.
63
5.4 Metode de analiza pe flux a parametrilor specifici
elaborarii si turnarii aliajelor
Dei principiile de baz ale analizei termice sunt cunoscute de muli ani, aceast metod de
control a nceput s fie utilizat pe scar industrial n turntorii abia la nceputul anilor 1960.
Contribuii mari la aceast dezvoltare au fost aduse pe de o parte de introducerea cupelor
consumabile cu reinere termic de cost redus, i pe de alt parte de comercializarea de
nregistratoare stabile i precise cu band i apariia analizoarelor termice pe baz de
microprocesor care elimin erorile de interpretare umane.
n zilele noastre analiza termic a devenit o metod excelent utilizata n toate turntoriile
moderne pentru un control rapid, de precizie, fiabil i cu un cost redus, iar n ultimii ani, analiza
termic este din ce n ce mai mult aplicat pentru controlul calitativ al fontei cenuii,
lamelare,fonta cu grafit nodular,oteluri.
Necesitatea analizei termice in turnatorii a impulsionat o serie de firme in producerea unor
varietati de aparate de masura si control printre acestea numarandu-se si firma Heraeus Electro-
Nite De acum aproape 50 de ani Heraeus Electro-Nite a condus la nivel internaional tehnologia
msurrilor in metale lichide. S-au oferit industriei metalurgice sisteme complete cuprinznd
senzori nerecuperabili, instrumentaie i hard-ware aferent.
Dar cum intotdeauna experienta practica este cea care impune directia de dezvoltare, s-a
realizat un sistem de masurare de mare calitate care poate asigura acuratetea necesara si a
valorifica pe deplin aplicatiile analizei termice si anume sistemul MELT CONTROL
SYSTEM- compus din cateva instrumente de masura locale cum sunt :
QuiK- Lab E Win Process ( analizor tremic)
Digitemp E Win Process (instrument de masura a temperaturii in fonta lichidus)
PC cu program Melt-Control 2000-Win.
Desi poate opera ca o statie de masura independenta de analiza termica, QuiK Lab E Win
Process este destinat in principal pentru a fi parte integranta a sistemului Melt Control.
Aparatele QuiK-Lab E Win Process au aceleasi programe de evaluare si calcul ca si QuiK-Lab
E. Mai mult, ele sunt proiectate sa lucreze intr-o reta interna a turnatoriei.
Software-ul Melt-Control permite stocarea, procesarea si istoricul tuturor valorilor de intrare.
Curbele de racire sunt clar vizualizate impreuna cu valorile masurate si calculate. Formulele de
calcul pot fi programate. Pentru comparatie, pot fi afisate pana la trei curbe de racire. Pot fi
instalate module optionale de calcul pentru calculul sarjei, datelor de cantarire, de masurare a
oxigenului activ, analize spectrografice, rapoartele/fisele de topire, rapoartele/ fisele de turnare,
SPC, etc.
Pentru cuptoarele cu arc si cu inductie existente in turnatorii este recomandabil urmatorul
sistem de masura si control al temperaturii:
1) Digilance IV Wireless ( Memory) Instrument digital pentru masurare a temperaturii, cu
memorie si transmisie radio a datelor la PC;
2) QuiK- Lab E Instrument pentru masurare a temperaturii cu determinarea urmatorilor
parametrii:
- pentru solidificarea cenusie si alba a fontelor turnate : TL, CEL, Sc,TS, %Si,%C,
T, TM
- program aditional pentru piese turnate din fonta lamelara, nealiate:
Z/H,HB,RM,K,MEG
- temperatura baii metalice
3) Cabon-Lab E Instrument pentru determinarea temperaturii lichidus, TL a pieselor
turnate din otel inalt sau slab aliat si a otelurilor inoxidabile.
4) MELT Control 2000 win Sistem management, date de masurare cu software integrabil
in turnatorii.
64
Acest sistem cu pana la 32 canale de masura si cu posibilitate de stocare, procesare si analiza
comparativa pana la trei curbe de racire simultan, permite urmarirea celor trei instrumente de
masura, afisand ora, data, precum si implementarea altor caracteristici de material si module
programabile optionale.
Inainte de a prezenta cateva din aparatele de analiza termice puse la dispozitie de firmele
specializate sa prezentam cateva notiuni teroretice care au dus la cercetari in acest domeniu.
In cazul controlului fontelor turnate acestea necesit probe de metal semnificative din toate
fazele procesului de topire.
Aceste probe trebuie s fie corespunztor pregtite astfel nct s poat fi analizate prin:
Spectrometrie cu emisie optic (OES) pentru determinarea componentelor chimice;
Fluorescen cu raze X (XRF) de asemenea pentru determinarea componentelor chimice ;
Analiz prin combustie pentru determinarea elementelor chimice specifice;
Microscop optic pentru evaluarea la nivel microstructural a probei;
Instrumente (acustice) sonice i ultra-sonice pentru msurarea caracteristicilor de umectare a
materialului.
Verificare optic pentru evaluarea adncimii clirii (gradului de inoculare).
Principiile de baz
Curba de rcire temperatur faa de timp a unui aliaj metalic care se solidific prezint
unele particulariti (schimbare de pant, subrcire, recalescena, puncte de reinere termica)
care corespund transformrilor aliajului pe durata solidificrii.
Analiza termic a fontei topite utilizeaz aceste particulariti pentru:
- determinarea carbonului echivalent, coninutului de carbon i siliciu
- determinarea gradului de control al inoculrii i subrcirii eutectice
- predicia proprietilor mecanice i fizice
- determinarea gradului de nodularitate n font cu grafit nodular.
Pornim de la diagrama tipic de echilibru de faz (Fig.9). Este prezentat diagrama
temperatur/ compoziie a unui aliaj constnd din dou elemente A i B care sunt reciproc
solubile n starea lichid i complet insolubile n stare solid. TA i TB sunt temperaturile de
topire ale elementelor respectiv pure A i B. Pot fi considerate patru zone n diagrama faz
binar:
Zona 1 deasupra curbei de sus TAE-ETB (curba lichidus), sistemul const dintr-o soluie de
elemente lichide A i B.
Zona 2 cristale ale elementului A n echilibru cu metal lichid
Zona 3 cristale ale elementului B n echilibru cu metal lichid
Zona 4 stare solid, amestec de cristale de A i B pure.
Fig. 38- Solubilitatea completa in stare lichida si insolubilitatea completa in stare solida
65
Cnd se rcete un aliaj lichid constnd din x% A i y% B, cristalele solide B n echilibru metal
lichid (compoziie dat de curba de lichidus) ncep s precipite la TL, i apare o modificare de
pant n curba de rcire (Fig.38).
La temperatura eutectic TE va apare o poriune orizontal a curbei, denumit oprire eutectic.
ntr-adevr, conform regulei de faz Gibbs F = C P + 1 (forma adaptat pentru sisteme
metalurgice n condiii atmosferice normale), n care F este numrul de grade de libertate a
unui sistem n echilibru, C este numrul de component, iar P este numrul de faze, sistemul este
invariant la TE . Temperatura va rmne constant pn cnd dispare una din cele trei faze, n
acest caz faza lichid. Evident, durata reinerii eutectice va depinde de compoziia aliajului i
va atinge un maxim la compoziia eutectic.
66
Determinarea carbonului echivalent (CEL)
Diagrama amestecului binar Fe-C pur, prezentat n Fig.41 nu este utilizabil pentru analiza
termic a fontei nealiate din cauza importantei influene n principal a Si i P asupra punctelor
caracteristice C(sau C) i E (sau E), precum i asupra temperaturilor de lichefiere TL i de
solidificare TS. Ar fi necesar cunoaterea diagramei amestecului cuaternar Fe-C-Si-P. n
scopul de a evita complexitatea diagramelor cuaternare, mai muli cercetatori din cadrl unor
firme au efectuat studii statistice pentru a gsi o corelaie direct ntre temperatura de lichefiere
i coninutul n C, Si i P. Prin analiza de regresie multipl, Heraeus Electro-Nite a gsit
urmtoarea ecuaie (1) reprezentat grafic n Fig.42:
TL (in C) = 1623,60 112,36 (C + Si/4 + P/2)
n care: CEL = C + Si/4 + P/2 , CEL fiind aa zisul carbon echivalent lichidus; Deviaia
standard este +/- 0,047 CEL; Coeficientul de corelaie r = 0,987
Fig.41-Diagrama Fe-C
Determinarea CEL prin analiza termic prezint cu toate acestea restricii importante. La valori
mrite ale CEL, reinerea lichidus se apropie de reinerea eutectic i, n final, la compoziia
eutectic remanenta lichidus coincide cu remanenta eutectic. Solidificarea fontei cenuii
hipereutectic, ncepnd cu precipitarea grafitului (sistem stabil), nu are ca rezultat o remanenta
termic clar din cauza cantitii mici de cldur eliberat prin aceast cristalizare.
Pentru a extinde domeniul de msurare a CEL, s-au ncercat mai multe metode. Cea mai bun
metod const n a determina solidificarea fontei potenial cenuie ca font alb prin adugarea
unui element puternic de formare de carbur puternic cum ar fi telurul.
n afar de extinderea domeniului de msurare a CEL, solidificarea alb forat are marele
avantaj c spre deosebire de solidificarea gri (a se vedea Fig. 43) nu apare nici o subrcire, ceea
ce nseamn c TS se determina rapid i corect.
67
Fig. 43.-Extinderea domeniului de masurare a valorii CEL la solidificarea alba
68
Fig. 45.-Corespundenta dintre %Si si TS pentru diferite continuturi de P
Controlul inoculrii.
Este bine cunoscut faptul c inocularea reduce n mod considerabil subrcirea eutectic. Pe
baza definiiei sale dat suprarcirii, K.H. Caspers a introdus noiunea de coeficient de
subrcire. Prin definiie coeficientul de subrcire este coeficientul subrcirii msurate nainte i
dup inoculare. Dup cum se poate vedea din Fig. 46, aceast noiune este un ajutor excelent
pentru controlul inoculrii.
Fig. 47.-Diagrama de calitate pentru fonta cenusie, pe baza rezultatelor obtinute in urma
analizei termice ( Dr.Hummer)
Determinarea nodularittii
Heraeus Electro-Nite a dezvoltat deja cu civa ani n urm cupa QuiK-Nod care estimeaz
gradul de nodularitate pe baza diferenei de conductivitate termic dintre fonta nodular i
lamelar. Fig 48 prezint o reprezentare schematic a unei astfel de cupe.
Cupa de testare are dou seciuni diferite: una mic i una mai mare astfel nct cnd fonta
topita turnata n cup, se solidific i se rcete mai rapid n seciunea mic cauznd apariia
70
unui gradient termic ntre cele dou seciuni. Viteza de rcire n seciunea mic va fi influenat
nu numai de propria sa conductivitate termic, dar i de cldura respins n timpul solidificrii,
de fonta din seciunea mare. Acest lucru va avea ca rezultat o schimbare de pant n curba de
rcire nregistrat de termocuplul din seciunea mai mic. ntruct conductivitatea termic este
funcie de gradul de nodularitate, aceasta nseamn c aceasta din urm va influena mai mult
sau mai puin forma curbei de rcire, astfel nct este posibil deducerea gradului de
nodularitate msurnd deviaia de la curba standard pentru fonta cenuie cu nodularitate 100%.
Aparatura de msurare
Este evident c numai un sistem de msurare de nalta calitate poate asigura acurateea necesar
pentru a valorifica pe deplin aplicaiile analizei termice descrise. Fig. 20 prezint o aparatur
modern de msurare propusa de firma Heraeus Electro-Nite constnd din:
- un analizor termic programabil, pe baz de microprocesor, Multi-Lab QuiK-Cup
- o cup de testare consumabil Quick-Cup coninnd un termocuplu tip K
- un suport de cup cu blocul de contacte
- un cablu de racord tip K pentru conectarea suportului de cup cu instrumentul de msurare.
Pe lng analiza termic, instrumentul Multi-Lab poate fi de asemenea utilizat pentru a msura
temperatura bii prin intermediul unui termocuplu tip Positherm i lncii de imersie adecvate.
Varianta economica, o reprezinta aparatul QuiK- Lab E care este un instrument pentru
determinarea temperaturilor lichidus i solidus, a subrcirii eutectice, a CEL, a carbonului i
siliciului n fonte.
Datorita utilizarii pe scara larga a metodei de analiza termica pentru controlul cantitativ rapid
si fiabil al fontei, fontei cu grafit lamelar, fontei lamelare, otelului si aliajelor neferoase s-a
diversificat si aparatura utilizata.
Prezentam cateva dintre aparatele utilizate si a caracteristicilor tehnice puse la dispozitie de
firma Heraeus Electro-Nite.
Digilance IV Memory
Este un instrument manual, ce functioneaza pe baza de baterie, pentru masurarea temperaturii,
folosit cu termocupluri compatibile de unica folosinta in metale lichide si alte medii lichide
similar.
Masuratorile sunt inregistrate impreuna cu o serie de intrare pentru utilizator sau un numar al
cuptorului, si data imersiei.In memorie pot fi inregistrate pana la 500 de masuratori.
71
Digilance IV este prevazut din fabrica cu un pachet software serial infrarosu si pentru PC,
pentru a permite transferul rapid si eficient al datelor de la instrument la un PC, cu riscuri
minime sau fara nici un risc de erori umane. Programul software asigura si accesul la revizuirea
si modificarea parametrilor de masurare stabilit prin Digilance IV.
Inglobate intr-o carcasa rezistenta din aluminiu, componentele electronice de precizie sunt
protejate impotriva conditiilor de mediu solicitante si nefavorabile intalnite in industria
metalelor lichide.De asemenea instrumentul functioneaza cu doua tiputi de termocupluri
Positherm si tip K.
Digilance IV Memory]
Enumeram cele mai importante date tehnice ale aparatului.
Principiu de masurare Evaluarea curbei cu ajutorul ferestrei de timp
si comparatiei tolerantei
Domenii de masurare Tip S(Pt 10%,Ph/Pt),40017600 C,liniarizat si
cu compensare jonctiune la rece
Tip S(Pt 13%,Ph/Pt),40017600 C,liniarizat si
cu compensare jonctiune la rece
Tip S(Pt 30%,Ph/Pt 6% Rh),40018200 C,
liniarizat si cu compensare jonctiune la rece
Tip K (Ni-Cr/Ni) 40013700 C, liniarizat si cu
compensare jonctiune la rece Masuratoare
permanenta pana la 1000 C
Liniarizat cu ajutorul unui
microprocessor.Liniaritatea corespunde IEC
584/IPTS,IPTS 68,ITS 90
Proces de citire Ready,Measurement,Complete cu LED
uri colorate.Semnal acustic electronic pentru
a indica Finalul procesului de masurare
Temperatura de referinta 00 C cu sensor de temperature ambientala
instalat ( jonctiune la rece)
Acuratete 10 C la o temperature ambientala +18 0 C+50
0
C
Afisaj temeparatura Digital, LED cu 4 cifre, inaltime 14,2 mm,
interschimbabil de la 0 C la 0 F
0
Rezolutie C(0 F) rezolutie interna 0,1 0 C
Stocarea datelor Rezultatele a 500 de masuratori prin imersie cu
numarul cuptorului si stocarea datei
/orei.Transferul datelor stocate prin
intermediul interfetei seriale infrarosii
Sursa de curent 4 baterii reincarcabile NiMH(Tip
72
AA,1100mAh,tensiune admisa 1,2 V)
Tensiunea de incarcare 12V DC, 1000 mA
Control incarcare Prin LED-ul din partea frontal a
instrumentului:rosu=instrumental se
incarca,verde=baterii incarcate
Consum energetic 0.5VA
Temperature de functionare 0.500 C 90% contrapresiune la umiditate
atmosferica de 90%
Tip de protectie IP54
Greutate 1,9 kg fara lance de masurare
Dimensiuni 215x120x165 mm
Referinta EMC Acest instrument corespunde standardului cu
privire la compatibilitatea EMS conform
directive UE EN 50082-2 interferenta
ES50081-2 si imunitate la interferenta
Rezultatul masuratorii are la baza un set de parametrii, care sunt pregatiti de valorile setate prin
software-ul PC sau pre-setate.Valoarea initiala reprezinta nivelul temperaturii atunci cand
Digilance IV detecteaza inceputul imersiunii (in topitura) si porneste cronometrul Timp de
masurare.
Aparatul Digilance IV Memory stocheaza pana la 500 de masuratori intr-o memorie tampon cu
baterie.In functie de necesitati, rezultatele pot fi transferate la calculator, de exemplu zilnic sau
saptamanal.Dupa inregistrarea a 500 de masuratori, aparatul emite un semnal acustic, in cazul
in care este initiata o noua masuratoare.Acest semnal acustic, va aminti operatorului sa
transfere datele inregistrate la calculator. Daca acest avertisment este ignorat, cele mai vechi
masuratori memorate vor fi inlocuite cu rezultatele urmatoarei masuratori.
Cu exceptia verificarii calibrarii si schimbarii bateriilor, componentele electronice ale
Digilance IV nu necesita intretinere.
Lancea de masurare este supusa unui stres termic si mecanic foarte ridicat, prin urmare se
recomanda ca hardware-ul (in functie de frecventa utilizarii) sa fie verificat saptamanal pentru
identificarea avariilor, acuratetea calibarrii si izolatia electrica.
Digitemp E
Este un instrument de ultima generatie creat special pentru masurarea temperaturii otelului,
fontei si aliajelor neferoase in stare topita.
Instrumentul Dgitemp-E se poate utilize impreuna cu un numar mare de senzori diferiti, pentru
fiecare dintre acestiea putand fi incarcate diverse module software in instrument.
Pentru masuratorile intamplatoare de temperatura la topituri feroase si neferoase se recomanda
utilizarea senzorilor imersabili Positherm, iar senzorii Contitherm sunt dispositive adecvate
pentru masuratori continue ale temperaturii metalelor lichide.
In plus cu sonde de masura speciale si software-ul corespunzator, este posibil utilizarea
dispozitivului Digitemp-E la efectuarea unor masuratori suplimentare in fonta lichida.
Instrumentele din seria Digitemp-E sunt instrumente ce functioneaza autonom in vederea
analizarii temperaturii.Functionarea acestor instrumente este automatizata,operatorul
instrumentului de masura a temperaturii are grija doar de lancea de imersie conectata la
instrument si de imersia senzorilor. Pe panoul frontal al instrumentului prin semnale luminoase
sunt indicate diverse secvente de functionare sau masurare.
73
Ca rezultat al designului electronic avansat, Digitemp-E necesita foarte putine operatiuni de
intretinere.Intrucat sistemul de masura este supus solicitarilor termice si mecanice, se
recomanda ca sistemul de masura sa fie verificat o data pe saptamana pentru a asigura niste
rezultate exacte.
Enumeram cele mai importante date tehnice ale aparatului.
Mod masurare Masurare temperaturii prin scufundare,continua sau MultiStick
Canal masurare 1 intrare analogical izolata,10 esantioane/sec
Temperature lipitura rece Compensate in intervalul de la -55 la + 1250 C
Precizie lipitura rece 0,50 C intre 0 si 70 0 C
Interval intrare Tip termocuplu S,R,B,K aliniat la IEC 584,IPTS68 sau 48 Tip
termocuplu D conform ASTME 988
Precizie masurara 10 C pentru o temperature intre 0 si 50 0 C
Precizie calcul 1/10
Temperature start 200-1200 0 C cu pasi de 50 0 C,recunoastere automata senzor
Timp maxim de masurare 6-60 sec.In modul de masurare continua, acest parametru se
foloseste pentru reglarea intervalului de transfer al datelor
Durata complete de masurare 0-10sec in pasi de 1 sec
Tensiunea retea 90-260 VAC/47-63Hz/max 34VA (17W0
Temperature ambientala 0-50 0 C
Protectie IP55
Dimensiuni si greutate Inaltime =230mm,latime=260mm,adancime=150mm,greutate
aprox.7.5gk
Quik-Lab-E-A-50
Este un analizor termic cu ecran digital incorporat intr-o carcasa de otel dur, protectie IP
65.Acesta este gata de functionare dupa conectarea alimentarii de la retea si suportului de
creuzet.Prin intermediul analizei termice Quik-Lab-E-A-50 permite efectuarea calcului
diferitelor materiale care vor fi continute in fonta.Aceasta operatie este realizata cu ajutorul
creuzetelor corespunzatoare.Cu ajutorul analizei termice se vor calcula urmatorii parametrii:
- temperature de turnare;
- temperature lichidus (TL);
- carbon echivalent (CEL);
- grad de saturatie (SC);
- tepmeratura solidus(T S);
- continut de siliciu(%Si);
- continut de carbon(%C);
- rezistenta la rupere la tractiune (RM);
- duritate brinell (HB);
- indice de calitate (Z/H);
- factor de grafitizare (K);
74
- valoare grafitizare eutectica (MEG);
- supraracire (T)
- supraracire diferenta Min/max (TM)
Datorita constructiei electronice Quik-Lab-E-A-50 nu necesita lucrari de intretinere si nu este
supus uzurii.intrucat suportul de creuzet are de suferit in urma sarcinii termice si mecanice
ridicate se recomanda verificarea sistemului de masurare impreuna cu toate perifericele o data
pe saptamana pentru a asigura o functionare optima
Enumeram cele mai importante date tehnice ale aparatului.
Principiu de masurare Procedura de analiza a punctelor critice ale lichidus si solidus
Program de analiza Pentru fontele solidificate cenusii si albe, calcularea CEL,%C;
%Si,supraracire T
Program suplimentar rezistenta la rupere la tractiune(RM); duritate brinell(HB); indice
de calitate (Z/H);grafitizare
Temperatura de referinta 00 C cu compensare sudura la rece
Acurateta Peste 1 0 C
Perioada limita de 240 secunde
masurare
Ecran process masurare Lumini pe panoul frontal care semnalizeaza ready-
pregatit;measurement- masurare
Iesire semnal Contacte fara masurare, cu relee,ready-pregatit,measurement-
masurare,complete-finalizat,trebuie suprimate interfata peste o
combinative R-C
Iesire date Iesire serial TTY-20mA 300Baud, 1 bit pornire,7 biti date, 1 bit
paritatea (egal), 2 biti oprire
Date de exploatare Digitem- E sau ecran suplimentar circa 30 VA.Temperatura
ambientala 00 C500 C
Referinta de siguranta Acest aparat este in conformitate cu DIN VDE 0701 repararea,
modificarea si testarea aparatelor electrice
Referinta CEM Acest aparat este in conformitate cu instructiunea CE 89/336/CEE
standardul privind compatibilitatea electromagnetictransmitere
perturbatii EN 50081-2 si imunitate perturbatii EN 50082-2
Checkmate III
Este un dispozitiv de calibrare a doua canale pentru simularea temperaturilor si tensiunilor
pentru instrumente ca de exemplu Digitemp Multi-Lab Celox sau Multi-Lab Quick-Cup.Toate
operatiunile se efectueaza prin intermediul unei tastaturi cu 5 taste.Checkmate III dispune de o
fisa pentru diferite adaptoare, ceea ce faciliteaza conectarea diferitelor adaptoare ale
instrumentului si lancii.
In concluzie firma Heraeus Electro-Nite pune la dispozitie o intreaga aparatura (aparatura
prezentata in linii mari) si instrumente de sine statatoare pentru determinarea principalilor
parametrii in vederea obtinerii unor aliaje de calitate cu caracteristicile mecanice cerute,:
- pentru determinarea temperaturii:Positherm( fara pulverizare), Multi-stick,Contitherm-
lite
- pentru analiza termica:Quik Cup
- pentru prelevare de probe: Nu toate probele trebuie prelevate la o adncime mare de
imersie n topitur. Dac este utilizat o lingur, poate fi suficient o prelevare
superficial sau de mic adncime.Astfel se reduce preul operaiunii.n funcie de
aplicaia la care este utilizat prelevatorul de probe, sunt disponibile ambele sisteme de
cufundare (superficial sau n adncime). La cufundarea superficial este utilizat un
sistem de conectare rapid. n cazul cufundrilor de adncime se pot reutiliza tuburile
75
de termocuplu. Cnd este important securitatea, tuburile fr stropire Non-splash
reprezint cea mai bun soluie. Heraeus Electro-Nite ofera urmatoarele tipuri de
prelevatoare de probe pentru turnatorii:SAF,SAF-DO,QPON,SAA,SAF-ICWsiSA-E.
- pentru oxigenul active:CELOX pentru turnatorie.
76
magneziu adaugat este functie de foarte multi factori: oxigenul total, sulf, carbonul echivalent
activ, potentialul de nucleere, temperatura la care se trateaza, etc.
Analiza spectrala nu mai este suficienta. Aceasta analiza arata cantitatea fiecarui element si nu
starea in care se afla: oxizi, sulfuri, silicati, etc.
Aceasta problema este rezolvata de PQ-DIT - Producerea Fgn de calitate superioara folosind
aditii ultra scazute de magneziu. Sistemul estimeaza oxigenul total ca si activitatea oxigenului
in topitura, carbonul echivalent activ, potentialul de nucleere, etc. Cu aceste date PQ-DIT
evalueaza topitura, recomanda materialele de corectie si cand fonta de baza este gata PQ-DIT
calculeaza cantitatea ideala de magneziu pentru fiecare categorie de piese produse.
CE FACE PQ-DIT?
- Traseaza si analizeaza automat curbele de racire. Operatorul introduce numai cantitatea
de topitura, temperatura si compozitia chimica.
-
- Evalueaza automat oxigenul total si oxigenul activ.
- Optimizeaza aditia - arata ce aditii sunt necesare pentru corectarea compozitiei si va
indica cantitatea optima de aliaj de magneziu ce trebuie adaugata pentru obtinerea de
Fgn cu aditie minima de magneziu.
- Asigura calitatea - prin testarea fontei tratate face aprecieri legate de gradul de
nodulizare, numarul de nodule si magneziu activ.
77
Bibliografie
1.Cl.Stefanescu,DM Stefanescu-Indreptar pentru Turnatori,Ed.tehnica 1972
2.Conf.Dr.Ing Ioan Rusu-Tehnici de analiza in ingineria materialelor-note de curs
3.M Voicu, A Mihai, S Funar, A D Rujinschi- Examinarea cu lichide penetrante
4.Ing. W.Van Der Perre- Analiza termica a fontei principii si aplicatii
5.Prospecte aparatura de control Firma HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL
NV-HOUTHALEN, BELGIA
6.Prospecte aparatura de control Novocast Lixland
7.Branzan C,Radu R-Controlul nedistructiv al materialelor prin metoda radioactiva,Ed tehnica
1975
8.M Neagu- Metode de masura si control nedistructiv a materialelor-Edit Univ A I Cuza Iasi
2003
9.Wikipedia
10.Basil Banks,Gordon E.Oldfield- La dtection ultrasonique des dfaults dans les mtaux
11.Comitetul International al Asociatiilor Tehnice de turnatorie-Atlas international al defectelor
de turnare-Ed.tehnica 1977
78