Sunteți pe pagina 1din 5

Microscopia electronic

Istoric
Primul microscop electronic a fost construit n 1931 de ctre inginerii germani Ernst Ruska i Max Knoll.[1] Acesta era bazat pe ideile i descoperirile fizicianului francez Louis de Broglie. Dei primitiv i nepotrivit utilizrilor practice, instrumentul era capabil s mreasc obiectele de patru sute de ori. Reinhold Rudenberg, directorul de cercetri al companiei Siemens, a patentat microscopul electronic n 1931, dei Siemens nu fcea cercetri n domeniul microscoapelor electronice la acea vreme. n 1937 Siemens a nceput s-i finaneze pe Ruska i pe Bodo von Borries pentru dezvoltarea unui microscop electronic. Siemens l-a angajat i pe fratele lui Ruska, Helmut s lucreze la aplicaii, n particular cu specimene biologice. n acelai deceniu, Manfred von Ardenne a inventat microscopul electronic cu scanare i un microscop electronic universal. Siemens a nceput producia comercial a microscopului electronic cu transmisie n 1939, dar pn atunci primul microscop electronic cu utilizare practic fusese construit la Universitatea Toronto n 1938, de ctre Eli Franklin Burton i studenii Cecil Hall, James Hillier i Albert Prebus. Dei microscoapele electronice moderne pot mri obiectele de pn la dou milioane de ori, toate se bazeaz pe prototipul lui Ruska. Microscopul electronic este nelipsit n multe laboratoare. Cercettorii l folosesc pentru a examina material biologic (cum ar fi microorganisme i celule), diferite molecule mari, probe de biopsie medical, metale i structuri cristaline, i caracteristicile diferitelor suprafee. Microscopul electronic este folosit extensiv pentru inspecia i asigurarea calitii n industrie, inclusiv, n mod deosebit, n fabricarea dispozitivelor semiconductoare. Cel mai puternic microscop din lume a fost anunat la inceputul lui 2008. Transmission electron aberration-corrected microscope, prescurtat "TEAM"

atinge rezoluia de 0,5 ngstrm, n jur de 1 milion de ori mai mic dect diametrul unui fir de pr. Principiu de funcionare: electronii generai de un tun electronic i supui la tensiuni de accelerare sunt focalizai i dispersai pentru a forma o imagine prin trecerea lor prin campuri electrostatice sau electromagnetice. Un microscop electronic este un tip de microscop care folosete electroni pentru a ilumina specimenul i a crea o imagine mrit a acestuia. Microscoapele electronice au rezoluie superioar microscoapelor cu lumin, i pot mri de mult mai multe ori imaginea. Unele microscoape electronice ajung s mreasc de 2 milioane de ori, pe cnd cele mai bune microscoape cu lumin mresc de 2 000 de ori.

Clasificare:
1. Microscopul electronic de transmisie (TEM) utilizat pentru cercetari ultrastructurale 2. Microscopul electronic de baleiaj (SEM) folosit la studiul ultramorfologiei suprafeelor cu ajutorul electronilor secundari sau reflectai 3. Microscopul electronic de transmisie si baleiaj (STEM) ce permite studiul ultrastructural prin transmisie de electroni i al suprafetelor prin electroni secundari sau reflectai 4. Microscopul electronic analitic de transmisie (TEAM) folosit pentru cercetri simultane ultrastructurale i analitice 5. Microscopul electronic sistemic aparat cu funcionalitate de sistem ce permite cercetari multiple simultan pe acelai preparat 6. Microscopul electronic cu fotoemisie (PEM) cu aceleai aplicaii ca i cele de tip SEM 7. Microsonde electronice (EPI) utilizate n analize elementare si n studiul suprafeelor 8. Microscopul ionic cu emisie de camp (FIM) cu ajutorul cruia se poate vizualiza direct orientarea atomilor ntr-un material Microscopul electronic de transmisie (TEM) Microscopia electronic de transmisie este determinat de interaciunea cmpurilor electromagnetice produse de lentile cu electronii i de interaciunea electronilor cu proba. Pentru ca electronii s poat traversa proba este necesar o grosime suficient de mic a ei i totodat energii de accelerare suficient de mari ale electronilor. Din acest punct de vedere deosebim: Tip Tensiune de accelerare

Microscopul electronic de transmisie convenional (CTEM) Microscopul electronic de voltaj nalt(HVEM)

20-125 kV 3+MeV

Alctuire: Sistemul electronooptic este responsabil de realizarea imaginii, localizat n coloana microscopului, alctuit din: Sistemul de iluminare, care la rndul lui este alctuit din: - Tunul electronic=ansamblul catod-filament, cilindru Wehnelt i anod, este plasat n partea cea mai nalta de sus a coloanei microscopului, n prelungirea cablului de nalt tensiune. Filamentul, care joaca rol de catod, realizat din tungsten, wolfram sau hexaborura de lantan, sub forma literei V este sursa de radiatii X i se gsete n vecintatea cilindrului Wehnelt, electrodul cu rol de focalizare i care se aseamn ntructva cu cel al grilei dintr-o triod, tetrod sau pentod. Anodul, n general, este confecionat dintr-un disc metalic avnd un orificiu central cu diametrul de 3-5 mm, care dirijeaz electronii n axul optic al coloanei microscopului. Energia ridicat a electronilor necesar traversrii seciunilor preparatului se realizeaz prin aplicarea unei tensiuni de accelerare anod catod, specific tipului de microscop, dar i naturii i grosimii probelor - Lentilele condensor servesc la focalizarea fasciculului electronic pe prob i constau dintr-un ansamblu de 2 lentile, prima cu distan focal scurt care creeaz o imagine micorat a sursei de electroni, deci a filamentului, a 2-a cu distan focal marita , care transfera imaginea micorat n planul obiect. Pentru compensarea aberaiilor optice care sunt prevzute i n microscopia electronic, lentilelor condensoare li se adaug sisteme de corectare i compensare (deflectorul, stigmatorul si compensorul de deplasare). - Camera probei spaiul din interiorul coloanei microscopului, dintre lentilele condensor i lentilele de formare a imaginii, mrginit de 2 diafragme. Accesul se face printr-o camer ecluza pentru adaptarea presiunii la cea ambiental sau la vidul din colan, iar proba, introducndu-se ntr-un orificiu n lungul axului optic prevzut n msua preparatului. - Sistemul de formare a imaginii realizat prin intermediul a 4 lentile: obiectiv, intermediar (1+2) i proiector, toate fiind de tip electromagnetic. - Camera de observaie situat la nivelul panoului de comanda, este prevzut cu 3 ferestre de vizualizare a imaginii, fiind n legatur n partea superioar cu lentila proiector, iar n partea inferioar cu caseta fotografic. n interiorul ei se afl ecranul, format dintr-o plac metalic circular

acoperit cu o susbtan fluorescent (monocristale de sulfur de zinc i cadmiu). - Camera fotografic se gasete sub camera de observaie i este prevzut cu o caset cu 12 sau 24 de plci fotografice a cror emulsie este specific radiaiei X. - Sistemul electronic i consola de comand este alcatuit din 2 blocuri: unul responsabil de realizarea unei tensiuni nalte, care s permit obinerea rezoluiei propuse (sub 10 A), al doilea fiind responsabil de realizarea unui curent bine stabilizat pentru alimentarea lentilelor, micornd pe ct posibil aberaiile lor. - Sistemul de vid mpiedic interaciunile dintre radiaiile X i moleculele de aer pentru obinerea unui fascicul coerent cu o deplasare perfect rectilinie pn la ecranul fluorescent; vidul este de aproximativ 10-4-10-6 torr. Microscopul electronic cu voltaj nalt (HVEM) Este un microscop de transmisie ce folosete o tensiune >300 kV, ajungnd, la unele tipuri, pn la 3-5 MeV. Primul microscop electronic cu o tensiune de accelerare de 1 MeV a fost construit n 1960 de ctre Dupony si Perrier n laboratorul de optic electronic din Toulouse. Folosindu-se microscopul electronic Toulouse 3000 cu o tensiune de accelerare de 1 MeV s-au obinut fotografii ale unor bacterii, ale moleculelor de acizi nucleici. Acest tip de microscop se bazeaz pe acelai principiu constructiv ca i la microscoapele convenionale de 100 kV. nalta tensiune utilizat presupune ns realizarea unei coloane cu mult mai nalt, iar nlturarea vibraiilor din coloana necesit i realizarea unei fundaii cu mult mai stabil dect n mod obinuit. Astfel, ntreg ansamblul poate atinge naltimea unei cldiri pe 3 nivele. Microscopul electronic analitic de transmisie (TEAM) Este format dintr-un microscop electronic de transmisie de nalt rezoluie, la care se ataeaz un microanalizator de raze X din clasa spectrometrelor. Noutatea adus de TEAM const n posibilitatea de a culege i informaii cu privire la elementele chimice cuprinse n preparat, pe lang cele de ordin morfo-structural, prin difracie de electroni coninute de CTEM. El funcioneaz pe baza analizei lungimii de und dispersate, sau mai nou pe baza analizei energiei dispersate. Astfel, bombardarea printr-un fascicul de

electroni a unor preparate determina emisia de radiaii X a cror lungime de und este caracteristic atomilor bombardai; spectrometrul msoar aceste lungimi de und, permind determinarea compoziiei chimice elementare a unor volume extrem de mici de materie. Pn n prezent s-au conturat cteva direcii de cercetare, prin utilizarea TEAM, cum ar fi: - Localizarea elementelor chimice existente n condiii normale n esuturi, n special a ionilor de Na+ si de K+ - Detectarea unor elemente n anumite stri patologice cum ar fi de ex: intoxicaiile sau carenele fiziologice - Aprecierea distribuiei unor elemente poluante n diferite verigi ale lanului biologic - Indetificarea unor reacii chimice ntre diferite elemente pe baza analizrii unor precipitate ce se formeaz n esuturi. Microscopul electronic de baleiaj (SEM) Spre deosebire de TEM furnizeaz imagini tridimensionale ale suprafeelor probelor cercetate, ale caror dimensiuni sunt de ordinul centimetrilor, dar nu poate furniza informaiile morfo-structurale ce se regsesc n grosimea materialului. Formarea imaginii se bazeaz pe principiul emisiei electronilor secundari, reflectai n urma bombardrii probei de ctre fasciculul primar de radiaii X. De aceast dat, fasciculul de electroni cade sub un anumit unghi pe proba producnd reflexii sub unghiuri diferite n funcie de incidena particulei cu zona de impact. Spotul de radiaii baleiaz n timp ntreaga suprafa a probei, astfel nct pe ecran apare imaginea, la scara dorit, a zonei scanate. Constructiv, SEM are n plus un detector al electronilor secundari emii n urma interaciunii cu suprafaa probei. Curentul produs de aceasta este modulat i trimis n final spre blocul de baleiere al unui tub cinescopic dintrun monitor.

S-ar putea să vă placă și