Curs Fiabilitate

Fiabilitate funcional n electronic
CUPRINS
1. INTRODUCERE ..........................................................................................
1.1. Generaliti..........................................................................................
1.1.1. Importana fiabilitii funcionale n transporturi .....................
1.1.2. Scurt istoric. Principii de abordare ...........................................
10
1.2. Analiza funcional a proceselor de circulaie i navigaie...............
16
1.2.1. Funciune i rspuns .................................................................
16
1.2.2. Evaluarea funcional a parametrilor de sistem ........................
25
1.2.3. Transformarea rspunsului fals n rspuns eronat ....................
30
2. UZUR I DEFECTARE .......................................................................
33
2.1. Deterioarea componentelor de echipament ......................................
33
2.2. Modele de analiz a uzurii i defectrii .............................................
41
3. VARIABILITATEA PARAMETRIC N RELAIA

FUNCIONAL COMPONENT SISTEM ..........................................
54
3.1. Abordarea sistemic a funcionalitii ..............................................
54
3.2. Modele de variaie parametric .........................................................
59
3.3. Studii de caz .......................................................................................
63
4. INDICATORII STATISTICI I INDICATORII PROBABILISTICI

AI FIABILITII ECHIPAMENTELOR. DURATA DE VIA..........
67
4.1. Aspecte statistice .................................................................................
67
4.2. Indicatorii probabilistici ...................................................................
70
4.3. Modelarea matematic a duratei de via .........................................
76
4.4. Date primare de fiabilitate .................................................................
81
3
Cuprins
4.4.1. Consideraii generale ...............................................................
81
4.4.2. Solicitri n microambian ......................................................
83
4.4.3. Solicitri n ambian ...............................................................
92
4.4.4. Solicitri combinate ................................................................
95
5. STRUCTURI / SISTEME DE FIABILITATE .........................................
97
5.1. Schema structural pentru sisteme neredundante ...........................
97
5.2. Schema structural pentru sisteme redundante ...............................
102
5.3. Scheme structurale decompozabile ...................................................
105
5.3.1. Structuri serie derivaie (SD) ................................................ 106

5.3.2. Structuri derivaie serie (DS) ................................................ 107
5.3.3. Structuri neuniforme ................................................................ 110
5.4. Scheme structurale nedecompozabile ...............................................
112
5.4.1. Structuri tip stea i structuri tip triunghi .................................. 112

5.4.2. Structuri tip punte .................................................................... 114
6. ANALIZA MODULUI DE DEFECTARE .............................................. 118

6.1. Dedublarea elementelor ..................................................................... 118
6.2. Comportarea elementelor dedublate n perioada normal de via
125
7. PROTECII FIABILISTE PRIN MODUL DE DEFECTARE......... 130

7.1. Protecia simpl.................................................................................. 130
7.1.1. Elemente defectabile exclusiv prin cretere parametric ......... 131
7.1.2. Elemente defectabile dominant prin cretere parametric ....... 133
7.1.3. Elemente defectabile dominant prin scdere parametric ....... 146
7.2. Protectia dubl................................................................................... 149
8. REDUNDANA FIABILIST . TOLERANA LA DEFECTRI ........ 155

8.1. Ordinul defectrii .............................................................................. 155
4
8.2. Redundana de echipament............................................................... 160

8.3. Tolerana la defectri ........................................................................ 176
8.3.1. Sisteme autotestabile ............................................................... 176
8.3.2. Sisteme reconfigurabile ........................................................... 183
9. UNELE TEHNICI SPECIFICE DE REALIZARE A
FUNCIUNILOR DE PROTECIE........................................................... 196
9.1. Separarea galvanic .......................................................................... 197
9.2. Scurtcircuitarea elementelor / subansamblelor de execuie ............ 205
9.3. Protecii n frecven ......................................................................... 208
9.4. Protecii prin electroalimentare ........................................................ 213
10. SISTEME CU NALT FIABILITATE FUNCIONAL .................. 219
10.1. Generaliti ...................................................................................... 219
10.2. Analiza i evaluarea rspunsului fals ............................................ 224
10.3. Structuri sistemice i tehnologii aplicate pentru realizarea
fiabilitii funcionale ridicate .................................................... 230
10.3.1. Logica majoritar .................................................................. 231
10.3.2. Logica dinamic ..................................................................... 244
10.3.3. Logica de tip cablat ................................................................ 265
11. COSTURILE FIABILITII FUNCIONALE. FIABILITATEA
COST ........................................................................................................ 291
11.1.
Costuri generale ........................................................................... 291
11.2.
Costuri de implementare ............................................................... 294
11.3.
Costurile mentenanei ................................................................... 296
12. APLICAII .................................................................................................. 303

12.1.
Probleme de fiabilitate .................................................................. 303
12.2.
Valori ai principalilor indicatori de fiabilitate ............................. 316

5
Cuprins
12.3.
Fiabilitatea previzional a unui inductor de cale din sistemul

de control automat al vitezei trenului ..................................... 325
12.3.1. Modul de funcionare a sistemului (sintez) .........................
325
12.3.2. Condiii generale de calcul .....................................................
334
12.3.3. Fiabilitatea general / clasic .................................................
335
12.3.4. Fiabilitatea funcional la rspuns eronat ...............................
348
12.3.5. Fiabilitatea funcional la rspuns fals ...................................
356
12.3.6. Unele elemente de defectologie fiabilist ..............................
363
13. NOTAII, ABREVIERI I SIMBOLURI GRAFICE UTILIZATE ....
368
13.1.
Notaii i abrevieri ......................................................................... 368
13.1.1. Caractere n alfabet latin .......................................................
368
13.1.2. Caractere n alfabet grec ........................................................ 378

13.2.
Simboluri grafice ..........................................................................
381
14. BIBLIOGRAFIE ........................................................................................
382
Prefa
La o prim analiz, din punct de vedere fizic, un sistem tehnic
poate fi privit ca fiind un ansamblu organizat de materiale i energii
iar din punct de vedere funcional ca reprezentnd un mijloc de
realizare a unor operaii pentru atingerea un ui scop util. Prima faet
conduce la noiunea hardware iar cea de-a doua la noiunea software.
Este evident c operaiile
(software) nu se pot realiza fr existena
unui sistem material (hardware) corespunztor, iar de comportarea

acestuia depinde realizarea corect a operaiilor programate (performanele software).
nc din antichitate preocuprile de factur inginereasc au fost
orientate, empiric, spre obinerea unor obiecte, construcii etc. mai
robuste, mai rezistente la uzur. Aceasta a condus, ulterior, la noiunea
general de fiabilitate: proprietatea de conservare dinamic n timp a
performanelor sistemelor tehnice.
Datorit unor condiii favorabile, primele i ulterior cele mai
dezvoltate studii teoretice i experimentale de fiabilitate au fost
realizate n domeniul Inginerie electronic i telecomunicaii, la
Universitatea POLITEHNICA din Bucureti.
Astfel, ntr-o prim etap, s-au obinut date experimentale i au
fost elaborate modele matematice de calcul i analiz pentru evaluarea
fiabilitii sistemelor, fr a se face distincie ntre diferitele funciuni
care trebuie ndeplinite.
Efectund o separare ntre aceste funciuni s -a ajuns la noiunea
de fiabilitate funcional: proprietatea selectiv a sistemelor tehnice de
a-i conserva dinamic, n timp, performanele n legtur direct cu
1
Prefa
diferitele funciuni ndeplinite. O categorie extrem de important este

cea a funciunilor de protecie n procesul de aplicaie; evaluarea lor
fiabilist necesit analize riguroase de proces fizic i calcule mate matice cu precizie foarte ridicat ajungnd, n unele cazuri, dup
cerine, pn la valori yoctoprobabile (10 - 2 4 ).
n acest manual este tratat, teoretic i practic, tematica fiabili tii funcionale n domeniul echipamentelor electronice, cu aplicaii
directe n trensporturi. Acest aspect are o importan actual de prim
rang, avndu-se n vedere coridoarele transeuropene IV i IX prin care
se vor realiza legturi stabile de transport, ntre nordul i sud-estul
continentului european, prin centrul su.
Dup coninut, manualul este adresat, n mod direct, studenilor
i masteranzilor seciei Telecomenzi i electronic n transporturi
Universitatea Politehnica din Bucureti:
pentru studeni: capitolele 1-2-4-5-6-8-9-12 i problemele A-G;

pentru masteranzi: capitolele 3-7-10-11-12 i problemele H-R;
pentru doctoranzi: documentri i dezvoltri tematice ulterioare,
legate de domeniul fiabilitii funcionale n ingineria electronic.
De asemenea, prin generalizarea unor aspecte de factur proble matic, manualul poate fi utilizat pentru studii i elaborri n cadrul
altor sisteme tenhnice cu mare rspundere funcional: centrale
atomoelectrice, aplicaii militare etc.
Prin modalitatea de tratare, materialul expus poate fi util i n
activitile de cercetare tiinific, proiectare - elaborare, fabricaie,
montaj i mentenan pentru echipamente electronice de tip profesional.
Autorii
Capitolul 1
Introducere
1.1. Generaliti
1.1.1. Importana fiabilitii funcionale n
transporturi
n domeniul larg al transporturilor se desfoar n permanen o
activitate tehnic, iar prin integrarea diferitelor ramuri se for meaz
supersisteme tehnice extinse la scar continental, respectiv pe ntregul
glob terestru.
Se disting astfel ase sisteme fundamentale de transport (fig.1.1).
aer
cosmos
(A)
(S)
uscat
(R)
(A)
(C)
(F)
(F)
(C)
apa
(N)
geoid
(C) (N)
(R)
(R)
(S)
(F)
Fig.1.1
Sistemul rutier (R) conine ci de circulaie, de la drumuri
simple pn la autostrzi moderne de mare capacitate i viteze ridicate,
instalaii simple sau complexe de dirijare, de la semafoare uzuale pn
7
1 Introducere
la instalaii de pilotare automat a autovehiculelor. Arterele rutiere, n

marea lor majoritate, se construiesc pe uscat, dar i n subteran sau sub
ap (n cazul tunelelor lungi).
Sistemul feroviar (F) este format din linii, aparate de cale i
instalaii de dirijare pe uscat, sub sol sau sub ap (tunele lungi, metro uri, mine). De asemenea, acest sistem conine trenuri (vagoane i
locomotive), tramvaie, staii i depouri, linii de alimentare pentru
traciune electric etc.
Sistemul naval (N) cuprinde navigaia maritim i fluvial, pe
canale, ruri i lacuri. Pentru deplasarea corespunztoare a navelor sunt
necesare porturi, instalaii portuare, faruri i diferite instalaii de
dirijare (la uscat sau pe ap).
Sistemul aerian (A) se afl att la sol ct i n atmosfera terestr:
aeronave care se deplaseaz pe ci aeriene, aeroporturi, mijloace de
protecie a navigaiei aeriene etc.
Sistemul spaial (S) are componente n spaiul cosmic, fixe sau n
deplasare (fa de globul terestru): satelii artificiali, rachete, platforme
etc. De asemenea, la sol, sunt amplasate centre de comand i control,
cosmodromuri etc.
Sistemul de transport prin conducte (C) este cel mai simplu
dintre toate sistemele enumerate i conine rezervoare, conducte, staii
de pompare, instalaii de comand i control servind la transportul
apei, petrolului, gazului metan etc.
Avnd puncte fixe i puncte mobile, situate la distane mici, medii,
mari sau foarte mari, toate sistemele de transport necesit asigurarea
unor protecii la diferite grade de rigurozitate, deoarece n procesul de
circulaie/navigaie se pot produce accidente, ajungn du-se la catastrofe,
8
cu pierderi de viei omeneti, pagube materiale importante, poluarea

mediului etc.
De asemenea este necesar s se realizeze legturi informaionale
(telecomenzi, telecomunicaii, telematic) , dup situaie, de tipul:
vehicul punct de dirijare, vehicul vehicul, punct de dirijare punct
de dirijare. Acest schimb de informaie, de care depinde esenial
protecia necesar a proceselor de circulaie/navigaie, se realizeaz n
toate mediile de transport, precum i ntre aceste medii: so l-sol, sol-aer,
sol-ap, sol-cosmos, aer-aer, aer-ap, aer-cosmos, ap-ap, ap-cosmos,
cosmos-cosmos.
Toate
aceste
aspecte
impun
utilizarea
unor
echipamente
specializate de tip profesional, de a cror bun funcionare depinde

desfurarea oricrui tip de transport.
n fine, i nu n ultimul rnd, n toate procesele de transport este
implicat, direct sau indirect, factorul uman att n activitatea de
manevrare ct i n cea de ntreinere tehnic.
Rezumnd, sistemele de transport reprezint ansambluri cu diferite
grade de dezvoltare i legturi informaionale ntre puncte fixe i puncte
mobile, un rol important, din punct de vedere funcional, avndu -l
operatorii umani.
Scopul principal n utilizarea acestor sisteme este realizarea unui
transport n timp util, ritmic i comod, n condiii impuse de siguran i
protecie pentru desfurarea circulaiei i navigaiei. Traficul n
transporturi este caracterizat, n mod esenial, prin densitatea de
vehicule i prin viteza lor de deplasare. Totodat, mrimea acestuia este
n direct corelaie cu dezvoltarea economic n teritoriu.
Spre a se concretiza aceste cerine, sunt utilizate ansambluri
tehnice speciale care, n unele cazuri, ajung la un grad ridicat de
9
1 Introducere
dezvoltare supersisteme, bazate pe realizrile moderne din electronic,

telecomunicaii, automatic, informatic, cibernetic, ergonomie etc.
Aprofundnd, sistemele de reglare a circulaiei i navigaiei au o
serie de caracteristici generale:
- funcioneaz n condiii, uneori, extrem de dificile fiind afectate
de perturbri naturale sau artificiale (cea, furtuni, tentative de
deturnare, terorism etc.), n marea lor majoritate avnd o funcionare
permanent;
- realizeaz protecia necesar, n primul rnd, pentru pasageri i
pentru personalul implicat funcional n proces;
- pentru schimbul i procesarea informaiei necesare sunt utilizate
semnale acustice, optice, radioelectrice etc., cu diferite forme de und i
frecvene situate ntre limite extrem de largi (Hz
GHz);
- efectueaz operaii cu caracter logic, elabornd decizii n timp

util, majoritatea lor fiind n timp real;
- n regim de funcionare automat, ca de exemplu la pilotri
automate, modeleaz i realizeaz operaiile umane n proces, mai ales
pe cele de manevrare;
- n etapa actual se trece, pe scar larg, la aplicaii ale
inteligenei artificiale (n transporturi).
1.1.2. Scurt istoric. Principii de abordare .

Cele mai mari i mai vechi construcii realizate de om, n
antichitate, avnd un anumit rol funcional (piramidele egiptene, z idul
chinezesc etc.), sunt caracterizate printr -o uzur foarte lent de-a lungul
timpului, altfel spus printr-o durat foarte mare de via. Ulterior, acest
deziderat a fost urmrit cu persuasiune de constructorii medievali
(catedrale, castele etc.) .
10
n epoca modern, a industrializrii, inginerii din toate domeniile

de activitate au elaborat i au produs obiecte simple sau complexe
urmrind, intuitiv i euristic, asigurarea unei durate de via ct mai
mare, n condiiile unor costuri raionale.
n prima jumtate a secolului XX, aceast proprietate ncepe a fi
implementat cu mult precauie, deoarece progresele rapide nregistrate
au condus la demodarea funcional relativ rapid a produselor, prin
apariia unora noi cu performane superioare. n acest mod, durata de
via care implic costuri, mai mult sau mai puin ridicate, ncepe a fi
calculat n mod riguros, marcnd astfel nceputurile fiabilitii, n
concepie actual:
- n anul 1924 Walter A. Stewart, n cadrul firmei Western Electric
Co., introduce fie pentru inspecia i analiza produselor de mare serie
pe baza statisticii matematice;
- n perioada anilor 30 interbelic, se dezvolt conceptul de
fiabilitate bazat pe tehnici de determinare cantitativ i evaluare;
- la nceputul i n timpul celui de al doilea rzboi mondial, pentru
aviaia militar a Statelor Unite, este studiat fiabilitatea sistemului
pilot avion de vntoare;
- dup al doilea rzboi mondial, n anii 50, n primul rnd din
necesiti de ordin militar i ulterior spa ial, se urmrete evaluarea
posibilitilor de realizare a unei misiuni; acum fiabilitatea este definit
ca domeniu tiinific propriu, prelund unele modele de analiz din
teoria informaiei i elabornd modele noi, aplicabile n domeniul
echipamentului;
- n anii 60, tot n Statele Unite, sunt desfurate cercetri intense
pentru realizarea unor sisteme de nalt fiabilitate, cu aplicaii directe n
comutaia electronic, inclusiv a celei realizate cu circuite integrate;
11
1 Introducere
succesele
miniaturizrii
componentelor
echipamentelor
electronice, n anii 70, au permis implementarea unor rezervri

funcionale (redu ndan) cu costuri acceptabile; de exemplu, la bordul
navei spaiale cu care a aselenizat primul om, s -a montat i folosit un
ansamblu de trei calculatoare de proces n interdependen funcional
(redu ndan tripl).
n prezent, unele modele de analiz a fiabilitii au nceput a fi
extinse i n alte domenii: biologie, medicin, ergonomie, mediu etc.
Primele rezultate remarcabile n studiul fiabilit ii, s-au obinut n
domeniul electronicii, att prin interesul deosebit n dezvoltarea
echipamentelor
(telecomunicaii
prin
cablu,
radiocomunicaii,
calculatoare, microprocsoare etc.) ct i prin existena unui numr

ridicat de componente elementare din structura dispozitivelor, aparatelor
i ansamblurilor utilizate.
n Romnia, primele studii de acest fel au fost realizate n anii
1960-70, fiind iniiate i conduse de regretatul profesor Vasile M.
Ctuneanu, la Facultatea Electronic i Telecomunicaii din cadrul
Universitii Politehnica Bucureti.
Cu un decalaj de civa ani, n cadrul Catedrei Telecomenzi
feroviare - n prezent Catedra Telecomenzi i electronic n transporturi
Univeristatea Politehnica Bucureti, au fost iniiate cercetri n
domeniu, finalizate att n procesul didactic studeni, doctoranzi, ct
i n elaborarea unor sisteme cu fiabilitate ridicat - brevete de invenie,
implementri n calea ferat, marina civil etc. Aprofundrile respective
au condus la dezvoltri teoretice i practice, care stau la baza lucrrii de
fa - sub denumirea de fiabilitate funcional n transporturi.
Pe plan mondial, noiunea de fiabilitate s -a impus, ndeosebi, prin
limbile englez - Reliability, francez - Fiabilit, rus - Nadejnosti
german - Zuverlssigkeit etc.
12
n limba romn este standardizat termenul fiabilitate, neologism

mprumutat din limba francez unde, la rndul su, are la origine
cuvntul arhaic fiable, nefolosit astzi, avnd o semnificaie (semantic)
opus cuvntului actual faible: lipsit de rezisten, slab, ubred.
n ncheierea acestui paragraf sunt precizate, n ordine alfabetic,
unele
definiri
generale
necesare
expunerii,
continuare
prin
metodele
introducere, asupra tematicii abordate.

-
Atestarea
estimrii,
fiabilitii:
indicatorii
de
demonstrarea,
fiabilitate
depesc,
cu
teoriei
anumit
probabilitate, un nivel minim admisibil.

- Defectare: pierderea capacitii sistemului de a-i ndeplini,
parial sau total, funciunile prevzute/ ieirea vectorului per formanelor
tehnice din domeniul admisibil prestabilit.
- Durat de via rmas: intervalul de timp scurs de la un moment
arbitrar pn la defectarea sistemului.
- Fiabilitatea hardware/ de echipament: proprietatea unui element,
subsistem sau sistem de a-i ndeplini funciunile prevzute, n condiii
de utilizare precizate, pe o durat de timp determinat/ proprietatea
general de conservare n timp a performanelor sistemelor tehnice.
- Fiabilitatea software: posibilitatea ca un program s funcioneze
fr erori, ntr-o perioad de timp dat, n condiii prestabilite.
- Indicator de fiabilitate: mrime prin care se precizeaz cantitativ
fiabilitatea.
- Mecanism de defectare: proces fizico-chimic la nivel microscopic, al crui efect macroscopic este defectarea elementului, subsistemului sau sistemului.
- Mentenabilitate: capacitatea unui sistem de a fi readus n stare de
funcionare, n condiii determinate i ntr-un interval de timp dat.
13
1 Introducere
- Mentenan: ansamblul aciunilor avnd drept scop recondi ionarea sau reducerea uzurii echipamentelor aflate n exploatare.
- Model global de fiabilitate: model matematic al fiabilitii care
descrie evoluia performanelor tehnice ale unui sistem, indiferent de
structura acestuia.
- Model logic de fiabilitate: model matematic care descrie starea
de bun funcionare a sistemului i strile de bun funcionare ale
elementelor sale.
- Model structural de fiabilitate: model matematic care descrie
relaia dintre fiabilitatea sistemului i cea a elementelor sale.
- Optimizarea fiabilitii: maximizarea sau minimizarea unor
funcii obiectiv ale fiabilitii.
- Redundan fiabilist: metod de cretere a fiabilitii unui
sistem prin utilizarea unui numr mai mare de componente dect cel
strict necesar din punct de vedere funcional.
- Rennoire: intervenie efectuat asupra unui sistem, prin care se
restabilete starea de funcionare a sistemului sau/i se modific nivelul
uzurii sale.
- Rennoire preventiv: rennoire efectuat nainte de defectarea
sistemului, n scopul reducerii uzurii sale.
- Rennoire propriu-zis: rennoire prin care sistemul revine la
starea iniial, eliminndu-se practic complet uzura.
- Uzur: modificare n timp a caracteristicilor de fiabilitate ale
unui element sau sistem.
- Valoare a fiabilitii: mrime previzional sau dedus, cu
caracter probabilistic.
Avnd n vedere aspectele expuse, rezult c evalurile fiabiliste
se bazeaz pe teoria probabilitilor, cercetarea operaional, teoria
14
sistemelor
informatic,
cu
accent
pe
tehnicile
electronice
microelectronice.
n planul fenomenelor fizice, trebuie luat n considerare postulatul
verigii celei mai slabe: un lan nu poate fi mai rezistent dect cea mai
slab veriga sa. Acest postulat transpus n cazul oricrui sistem cu
elemente n serie din punct de vedere fiabilistic conduce, evident, la
formularea: fiabilitatea sistemului neredundant este mai slab dect
fiabilitatea celei mai slabe componente din structura sa.
Deci nu trebuie neglijat faptul c fiabilitatea oricrui sistem
depinde att de caracteristicile sale intrinseci, ct i de cele ale
factorilor exteriori lui.
Cum factorii
care
influeneaz
fiabilitatea
subiectivi
sau
obiectivi, interni sau externi, sunt aleatorii, conceptul i metodele

fiabilitii trebuie s fie probabilistice.
La abordarea analizei fiabilitii unui sistem tehnic oarecare
trebuie s se in seama de etapele de desfurare a analizei, etape ce
sunt precizate prin structura din figura 1.2, unde s-au notat cu:
S
sistemul analizat fiabilistic;
Mf modelul funcional;
MF modelul de fiabilitate;
DF date de fiabilitate;
F S fiabilitatea sistemului analizat.
Sintetiznd, teoria i practica fiabilitii introduce uniti i
metode de evaluare acolo unde nu exista nici un fel de msur; permite
trecerea de la criterii pur calitative la determinri cantitative - evaluri.
Dup faza n care se face analiza (cantitativ), fiabilitatea poate fi:
- previzional, precalculat/ n faza de concepere, proiectare;
- nominal/ elaborare, fabricare, montare;
15
1 Introducere
- de mentenan / ntreinere tehnic, exploatare sau servire.

S
Mf
DF
MF
FS
Fig. 1.2
Parametrul de baz al fiabilitii oricrui sistem, simplu sau
complex, este timpul: nu poate fi analizat nici un aspect funcional n
afara trecerii timpului (calitate variabil n timp, respectiv dinamica
n timp a calitii funcionale).
1.2. Analiza funcional a proceselor de circulaie

i navigaie
1.2.1. Funciune i rspuns
n sens larg, orice sistem tehnic reprezint un instrument creat de
om pentru realizarea anumitor procese. Prin urmare, conceperea i
realizarea sistemelor tehnice este impus de anumite necesiti; ele nu -i
pot justifica apariia i existena dect printr-o anumit utilitate.
ntr-o prim analiz, sistemul tehnic poate fi definit ca un ansamblu de materiale i energii, avnd un grad relativ ridicat de orga nizare, orientat spre un anumit scop, fiind deci caracterizat printr -un
16
pronunat rol funcional. Din acest punct de vedere, se poate face

urmtoarea ierarhizare: element (component) dispozitiv (aparat)
instalaie sistem supersistem.
Pentru realizarea unui sistem tehnic este necesar crearea unui
anumit echipament, a crui cantitate se afl n strns legtur cu
complexitatea funcional.
ntre diferitele pri ale sistemului are loc un anumit schimb util
de energii, numite n general semnale (mrimi fizice purttoare de
informaii: electrice, acustice, optice etc.). Cu ct sistemul este mai
dispersat n spaiu, cu att problema transmiterii de semnale de la un
punct la altul este mai dificil.
Totodat, nu exist n prezent niciun sistem tehnic care, dup ce a
fost realizat, s nu necesite intervenia omului. Chiar i sistemele
complet automatizate necesit operaii de ntreinere tehnic, regl aje
etc., care - cel puin n etapa actual, se realizeaz de ctre operatori
umani.
Din punct de vedere strict funcional, omul operator apare ca o
verig proprie sistemului, iar pregtirea sa profesional trebuie s fie cu
att mai ridicat cu ct sistemul este mai dezvoltat.
(i)
(e)
S
Fig. 1.3
innd seama de aceste consideraii, un astfel de sistem tehnic ,
ntre intrare i i ieire e, poate fi reprezentat prin schema din figura
1.3, de unde rezult c funcionarea sa normal este asigurat dac sunt
ndeplinite trei condiii:
17
1 Introducere
- Transmisia de semnal (S) s se fac corect ; principala

dificultate o constituie perturbaiile (p) care provoac pierderi, pariale
sau totale, de informaie util.
- Componentele (C) s se gseasc n bun stare de funionare
pentru a asigura transferul, prelucrarea i utilizarea corect a semnalelor
utile; principalul impediment, n
acest sens, l prezint defectrile (d), care pot s apar la diferite
elemente componente din structura echipamentului.
- Operatorul uman (O) s manevreze i s ntrein corect sistemul,
n stare de bun funcionare (pilotri, manipulri, revizii, reparaii etc.);
principala cauz ce mpiedic realizarea corect a acestor activiti o
constituie inaptitudinea sau incompetena, manifestate prin erori de
operator (e).
Desigur, cele trei aspecte fundamentale se ntreptrund: astfel
defectarea unei componente poate produce o distorsionare a semnalului
(util), manevrarea necorespunztoare poate provoca o defectare etc. De
toate aceste dependene trebuie s se in seama atunci cnd se face
analiza funcionrii sistemului, sau se realizeaz prognoze asupra
comportrii sale ulterioare.
Pe de alt parte, orice sistem tehnic poate fi privit ca un
ansamblu de funciuni ce trebuie ndeplinite n anumite condi ii i ntrun anumit interval de timp; altfel spus, se poate pune n eviden ceea ce
realizeaz un anumit sistem, nu ceea ce este i prin aceasta, se
accentueaz latura funcional, util.
n cadrul acestei lucrri, prin funciune se nelege proprietatea
unui sistem tehnic de a ndeplini un anumit rol util (sarcin), n condiii
date, prin activitate proprie. Aprecierea modului n care se realizeaz o
anumit funciune n sistem se face prin intermediul unor caracteristici
18
funcionale: trsturi specifice, predominante, care permit evaluarea

unei anumite comportri practice, utile.
Funciunea apare, deci, ca rezultat al proprietilor capabile de a
satisface anumite necesiti. Dup importana pe care funciunile le au
n cadrul sistemelor, acestea pot fi:
- eseniale (principale, fundamentale) care motiveaz nsi
existena sistemului (pentru realizarea crora sistemul a fost creat);
- auxiliare (secundare), care permit o utilizare mai uoar i mai
eficient (acestea sunt, n general, subordonate cel or principale);
- de protecie, care mpiedic evoluia sistemului ntr-o stare cu
consecine grave n procesul respectiv.
n cadrul sistemelor tehnice de transport, care reprezint sisteme
tehnice cu mare rspundere funcional, funciunile de protecie sunt
mult dezvoltate; totodat, aceste sisteme sunt caracterizate printr -un
grad nalt de rigurozitate n ceea ce privete ndeplinirea uneia sau mai
multor funciuni dintre cele prevzute.
Dup numrul de funciuni pe care trebuie s le ndeplineasc,
sistemele pot fi:
monofuncionale (nendeplinirea funciunii unice le face
inutilizabile);
polifuncionale (pentru a deveni inutilizabile, acestea trebuie
s refuze ndeplinirea uneia sau mai multor funciuni).
Dup modul n care sunt realizate, funciunile pot fi:
autonome (nu depind de alte funciuni n sistem);
neautonome (se gsesc n interdependen cu alte funciuni
din sistemul considerat).
Prin urmare, un sistem tehnic poate fi privit ca un ansamblu de
funciuni, difereniate ntre ele, prin intermediul crora se poate aprecia
19
1 Introducere
gradul de utilitate n raport cu scopul pentru care sistemul respectiv a

fost creat.
F1i
F1e
F2i
:
F2e
:
Sistem
Fni
Fne
Fig. 1.4
Aceast
definire,
sub
forma
cea
mai
general,
conduce
la
reprezentarea din figura 1.4, unde cu F s-au notat funciunile sistemului,

att la intrare (i) ct i la ieire (e).
n practic, ndeplinirea fiecrei funciuni se realizeaz cu diferite
abateri, ceea ce determin ca la ieire situaia s fie diferit de cea de la
intrare; cu alte cuvinte, n sistemele reale, apar inevita bil anumite
abateri funcionale:
F1i F1e;
F2i F2e;
...
Fni Fne
Prin urmare, din punct de vedere funcional, sistemul poate fi

apreciat prin intermediul unor funcii de transfer:
K1
F1e
F
F
; K 2 2 e ; ... ; K n ne ,
F1i
F2i
F ni
pentru a cror evaluare este necesar s se exprime cantitativ funciunile

sistemului.
Funciunea, definit ca activitate proprie, specific sistemului, este
caracterizat printr-un grad ridicat de rigurozitate (dup importana sa
n cadrul sistemului), n unele cazuri avnd o importan extrem de
ridicat. n aceast situaie se afl sistemele tehnice cu mare rspundere
funcional, cum sunt cele de reglare a circulaiei i navigaiei, dar i
20
alte sisteme ca, de exemplu, cele de protecie la centrale electrice

nucleare, aplicatii militare etc.
Pentru a analiza dinamica oricrui astfel de sistem, este necesar s
se considere toate strile implicate din punct de vedere funcional.
Aceast considerare conduce la noiunea de rspuns funcional: stare
de sistem, la nivel macroscopic, definit prin mrimi specifice sau
parametri funcionali.
Aceast necesitate conduce la considerarea rspunsului sistemului,
definit prin starea acestuia cnd se efectueaz o anumit comand (se
cere realizarea uneia sau mai multor funciuni). Acest rspuns poate fi
precizat
prin
intermediul
unor
caracteristici
funcionale:
durat,
deplasare, stare a unui element, amplitudinea, frecvena sau faza unui

semnal etc.
Din punct de vedere funcional, pentru toate rspunsurile posibile
ale unui astfel de sistem, se poate face urmtoarea clasificare general:
Rspunsuri corecte (n concordan cu procesul de circulaie /
navigaie):
-
Rspunsul ideal (I) este un rspuns optim, avnd o funcie de
transfer egal cu
-
unitatea.
Rspunsul perfect (P) are o funcie de transfer subunitar,
ns cu valori ce se gsesc n domeniul de eroare specific msurrii sau

controlului n sistem.
- Rspunsul admisibil (A) are, de asemenea, o funcie de
transfer subunitar, dar nu mai mic dect limita admisibil pentru o
funcionare considerat corect.
Rspunsuri
necorecte
(n
neconcordan
cu
procesul
de
circulaie / navigaie):
- Rspunsul eronat (E) are, de asemenea, o funcie de transfer
subunitar, cu valori ce se gsesc sub limita ce corespunde unei
21
1 Introducere
funcionri corecte, fr a crea posibilitatea apariiei unor evenimente

grave n proces.
- Rspunsul fals (F) se deosebete de rspunsul eronat numai
prin faptul c poate crea posibilitatea apariiei unor evenimente grave n
proces.
De exemplu dac, ntr-un sistem de reglare a circulaiei sau
navigaiei, se urmrete
viteza ca parametru de baz, gradul de
siguran poate fi exprimat prin intermediul rspunsului instantaneu i

anume prin valoarea vitezei, dup cum este ilustrat n figura
1.5,
unde s-au notat:

v 0 valoarea nominal (comandat) a vitezei;
v eroarea specific de control al vitezei;
v abaterea admisibil a vitezei.
2v(A)
2v(P)
(E)
(F)
(I)
v0-v
v0-v
v0
v0+v
v0+v
v
(km/h)
Fig. 1.5
Din aceast diagram se observ c:
- Rspunsului ideal (I) i corespunde un punct (plaj nul), iar
valoarea parametrului funcional nici nu poate fi determinat exact,
deoarece nu exist posibilitatea unui control cu eroare nul ( v 0).
- Rspunsului perfect (P) i corespunde plaja specifi c de control
n sistem 2 v , aceast plaj coninnd n mod obligatoriu i rspunsul
ideal (v 0 ).
22
- Rspunsului admisibil (A) i corespunde plaja 2 v care, la rndul

su, include i plaja 2 v , respectiv i punctul v 0 .
- Rspunsurilor necorecte le corespund domeniile E i F:
v < v 0 - v;
v > v 0 + v,
n funcie de posibilitatea sau de imposibilitatea de apariie a unor

evenimente grave.
Este evident faptul c, n practic, se pot ntlni i cazuri
particulare caracterizate prin nesimetrie fa de punctul v 0 , ca de
exemplu, la limit: v 0 v = 0; v 0 v = 0 etc. Aceste cazuri particulare
nu schimb fondul problemei i anume, regimul de funcionare pentru un
anumit parametru poate fi exprimat cu ajutorul unei mrimi scalare,
totdeauna fiind ndeplinit inegalitatea v < v.
n figura 1.6 este redat cazul unui regim de funcionare dup doi
parametri, de exemplu vitez i spaiu. n aceast situaie regimul de
circulaie poate fi exprimat (pentru rspunsuri funcionale) printr -o
suprafa, sau cu ajutorul unui fazor (n coordonate polare).
v (km/h)
2s
v0+v
v0+v
v0
2v
v0-v
v0-v
s0+s
Fig. 1.6
s0+s
s0
s0-s
s0-s
s (km)
23
1 Introducere
Pentru
trei parametri funcionali se obine un corp (paralelipi -
ped dreptunghic) care
reprezint locul geometric al vrfului vectorului
de stare al sistemului. n figura 1.7 este reprezentat un astfel de regim

de circulaie coninnd parametrii vitez, spaiu i timp (pentru
simplificarea desenului nu s-a precizat domeniul perfect P).
v(km/h)
v0+v
))
v0
(A)
2v
v0-v
s0-s
0
t0-t
2s
t0+t
t(h)
s0+s
s(km)
2t
Fig. 1.7
n cazul general se obine un tensor, avnd un numr de

componente egal cu numrul de parametri funcionali ce intervin n
procesul de circulaie.
Tensorul este un vector generalizat, cu un numr oarecare de
componente,
v = (v 1 , v 2 , ..., v m ),
avnd proprietile unei matrice:
t11
t
T 21
t
m1
24
t12
t 22
t m2
t 1m
t2m
t mm
unde t i j sunt componentele tensorului; ntre aceste componente exist

anumite relaii, ns nu orice matrice este tensor.
De asemenea, trebuie reinut faptul c abaterile admisibile ale
parametrilor funcionali ( v, s, t etc.) pot fi oarecare, asimetrice sau
simetrice fa de valorile nominale (v 0 , s 0 , t 0 etc.)
Datorit unor numeroi factori ce acioneaz n sistem, tensorul de
stare sufer deplasri care, n interiorul domeniului perfect (P), nu pot fi
constatate n practic. Funcionarea corect a sistemului este asigurat
dac tensorul de stare nu prsete domeniul (A), ale crui puncte de
frontier sunt determinate de alunecrile maxime admisibile. Aceste
alunecri de parametru - n afara limitelor admisibile, corespund n
practic abaterilor funcionale cu efecte negative n proces.
Din aceast succint analiz se pot preciza urmtoarele proprieti
fundamentale:
- Orice abatere funcional inadmisibil (indiferent de cauz) se
manifest printr-un rspuns necorect, fals sau eronat.
- Calitatea de rspuns fals este incompatibil cu cea de rspuns
eronat; unul i acelai rspuns nu poate fi i fals i eronat.
- Rspunsul eronat conduce la o ncetinire sau chiar la o blocare n
desfurarea procesului de circulaie sau navigaie, pe cnd cel fals la o
accelerare, putndu-se astfel ajunge la situaii periculoase.
- Din punct de vedere funcional, rspunsul optim este cel ideal (n
practic cel perfect), iar rspunsul cel mai dezavantajos este cel fals.
1.2.2. Evaluarea
funcional a parametrilor de
sistem
Din punct de vedere funcional, numrul de rspunsuri ale unui
sistem oricare ar fi ele, este finit indiferent dac parametrul n cauz
25
1 Introducere
este de tip discret (discontinuu) sau de tip analogic (continuu). Pentru

acesta din urm, numrul de rspunsuri este limitat prin cuantificare;
drept interval de cuantificare poate fi luat abaterea admisibil ( ) sau,
i mai riguros, eroarea de control ( ).
Pentru a ilustra aceast proprietate se consider, de exemplu,
sistemul de conducere (pilotare) automat a unui tren de metrou la care,
n faza de circulaie analizat, eroarea specific de control este v =
1km/h, abaterea admisibil v = 5 km/h, iar viteza maxim posibil
v ma x = 100 km/h.
Astfel
dac,
faza
respectiv,
valoarea
vitezei
reglate
(com andate, de referin n sistem) este v 0 = 55 km/h, rezult c sunt

posibile urmtoarele rspunsuri (exprimate dup parametrul vitez real
v, n km/h):
- Ideal: v I = 55 (nu poate fi msurat)
- Perfect: 54 v P 56
- Admisibil: 50 v A 60
- Eronat: v E < 50
- Fals: v F > 60
La eroarea admisibil de vitez considerat (2 v = 10 km/h)
rezult c, n situaia artat, din punct de vedere funcional, sunt
posibile 5 rspunsuri eronate i 4 rspunsuri false.
Trebuie precizat, ns, c i rspunsurile necorecte de acelai tip
(eronate sau false) au importan funcional diferit, dup cum tensorul
de stare se gsete mai aproape sau mai departe de domeniul admisibil
(fig.1.7). Pentru evaluarea gradului de importan funcional, se poate
recurge la introducerea unor coeficieni de asemnare.
26
Astfel, dac un sistem de reglare a circulaiei sau navigaiei are un

numr oarecare N rspunsuri posibile (R 1 , R 2 ,...,R N ), fiecare rspuns
poate fi caracterizat printr-o importan funcional exprimat valoric
dup o distribuie oarecare (n cazul cel mai simplu liniar): I 1 , I 2 , ...,I N .
Se noteaz cu I m a x importana funcional maxim pe care o pot
avea unul sau mai multe dintre cele N rspunsuri posibile. Coeficientul
de asemnare va fi deci exprimat prin raportul dintre importana
funcional a unui anumit rspuns i importana funcional maxim
(exprimate valoric):
a1
I1
I max
a2
I2
I max
; ... ;
aN
IN
,
I max
Coeficienii de asemnare (a 1 , a 2 , ...a N ), ce pot avea valori

cuprinse ntre zero i unitate, exprim cantitativ gradul de asemnare
dintre diferitele rspunsuri de acelai tip (asemnare normat). Cu
ajutorul acestor coeficieni se poate stabili variaia gradului de
importan pentru regimul dinamic al sistemului (legat de variabilitatea
n timp a strilor acestuia). Pentru aceasta, se consider rspunsul corect
instantaneu R k (ce trebuie realizat ntr -un anumit moment n sistem)
dintre cele N rspunsuri posibile (k = 1, 2, ..., N). Se presupune, pentru
exemplificare, c rspunsurile de rang inferior sunt eronate, iar cele de
rang superior sunt false (evident, poate exista i situaia invers, sau o
situaie oarecare). Notnd cu (f) gradul de importan pentru rspunsuri
false (sau, mai scurt coeficientul de rspuns fals), se obin relaiile
evidente:
f 1 = f 2 = ... = f k = 0;
fI = ak+1 ak;
unde
F = N k
fII = ak+2 ak;
...
fF = aN ak ,
reprezint numrul de rspunsuri false posibile n
regimul dinamic dat.

27
1 Introducere
n acelai mod rezult i relaiile corespunztoare pentru rspuns

e k = e k + 1 = ... = e N = 0;
eronat:
eI = ak ak-1 ;
unde
E = k-1
eII = ak ak-2 ; . . . ; eE = ak a1 ,
reprezint numrul de rspunsuri eronate posibile n
regimul dinamic dat.

Prin urmare, n orice moment, dintre toate rspunsurile posibile
unul singur este corect; celelalte N-1 rspunsuri necorecte sunt eronate
sau false:
E+F+1=N
Totodat, coeficienii de rspuns fals (f) respectiv de rspuns
eronat (e), nu trebuie s aib valori negative (pentru o mai bun
concordan cu semnificaia lor fizic):
f i = a i a k 0;
ei = ak ai 0
Cazul cel mai simplu l constituie sistemele cu dou stri (tot

sau nimic), la care
N = 2;
E = 1;
F=0
sau
Revenind la exemplul anterior,
F = 1;
E = 0.
al sistemului de pilotare
(conducere) a utomat la metrou i admind o variaie proporional a

coeficientului de rspuns fals, rezult valorile din tabela 1.1, respectiv
diagrama din figura 1.8.
Tabela 1.1
Tipul de
rspuns
R i (N = 10)
I i (I m a x = 10)
a i = I i /I m a x
fi = ai ak 0
E=k1 =5
1
2
3
4
5
6
7
1
2
3
4
5
6
7
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7
0
e i = a k a i 0 0,5 0,4 0,3 0,2 0,1

28
F=N k=4
8
8
0,8
9
9
0,9
10
10
1,0
0,1
0,2
0,3
0,4
Aceste valori se obin pentru un numr finit de rspunsuri

(distribuie discret) dei parametrul considerat are o variaie continu,
deoarece pasul de cuantificare funcional este, de asemenea, finit (10
km/h):
I 1 = 1; I 2 = 2; . . . ; I 1 0 = I m a x = 10;
a 1 = 0,1; a 2 = 0,2; . . . ; a 1 0 = 1,0.
a
Rk
IV
1,0
III
0,9
II
0,8
0,7
0,6
0,5
0,4
II
0,3
III
0,2
0,1
0
IV
V
v(km/h)
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
Fig. 1.8
Deoarece n regimul dinamic dat v 0 = 55 km/h, rezult urmtorii
coeficieni de rspuns fals:
f 1 = f 2 = ... = f 6 = 0
f I = 0,1;
f I I = 0,2;
f I I I = 0,3;
f I V = 0,4,
respectiv urmtorii coeficieni de rspuns eronat:

e 6 = e 7 = e 8 = e 9 = e 1 0 = 0;
e I I I = a 6 a 3 = 0,3;
e I = a 6 a 5 = 0,1;
e I V = a 6 a 2 = 0,4;
e I I = a 6 a 4 = 0,2;
e V = a 6 a 1 = 0,5.
29
1 Introducere
n general, rspunsurile false trebuie s fie evitate ferm

bineneles, n limitele unor mijloace raionale. Rspunsurile eronate,
dei scad eficiena sistemelor, pot fi acceptate mai uor datorit faptului
c nu conduc la consecine grave.
1.2.3. Transformarea
rspunsului
fals n rspuns
eronat
Pentru realizarea cu maxim eficien a funciunilor de protecie,
n cadrul sistemelor de reglare a circulaiei/navigaiei i - n general, la
sistemele cu mare rspundere funcional, cnd este posibil n mod
raional, rspunsurile false sunt transformate n rspunsuri eronate:
RF
RE
Spre a ilustra acest aspect, care va fi dezvoltat n cadrul lucrrii,

n continuare sunt expuse cteva aplicaii ale acestui procedeu.
A. La semafoarele pentru circulaia rutier se pot produce defectri
care ar conduce la aa numitul conflict de verde rspuns fals,
deoarece apare pericolul de coliziune ntre dou sau mai multe
autovehicule care sosesc n intersecie din direcii diferite.
Structura logic a circuitelor de comand a semafoarelor este
astfel elaborat (prin proiectare i fabricaie), nct unitile luminoase
galben ale tuturor semafoarelor s fie comutate n regim de
semnalizare cu 75 impulsuri / minut (galben clipitor):
V
30
(galben
clipitor)
Informaia transmis acum participanilor la trafic este de reducere

a vitezei i de conformare fa de condiiile prestabilite de prioritate
rspuns eronat, deoarece funciunea de reglare a circulaiei (esenial)
nu se mai realizeaz, ceea ce conduce la ntrzieri n traf ic, dar
eliminndu-se astfel pericolul apariiei conflictului de verde.
B. n traficul feroviar (ci ferate i metrouri), reglarea uzual a
circulaiei se face prin intermediul luminosemnalelor (echivalente, din
punct
de
vedere
funcional,
semafoarelor
rutiere).
Apariia
unor
defectri n circuitele de comand a semnalizrii optice, poate conduce

la rspuns fals stare periculoas (RF). Cum energia cinetic a unui
tren n deplasare este proporional cu masa foarte mare i cu ptratul
vitezei de asemenea foarte mare, pericolul unor coliziuni, deraieri etc.
trebuie evitat n mod riguros, deoarece poate produce o catastrof
(pierderi de multe viei omeneti i, de asemenea, de foarte mari pagube
materiale).
Astfel, n cazul n care indicaia verde vitez normal nu se
poate realiza la un afiaj de luminosemnal, se comut automat pe
indicaia galben vitez redus, iar dac nici aceasta nu se poate
realiza, comutaia se face, tot automat, pe indicaia rou oprire
necondiioant (vitez zero). Astfel transformarea rspunsului fals RF
n rspuns eronat RE se face n dou trepte (redu ndan glisant,
alunectoare):
V
Aceasta are ca efect realizarea unei funciuni de protecie la un

nivel ridicat, iar funciunea esenial - de reglare a circulaiei, se
realizeaz cu eficien redus (indicaie G galben) sau nul (indicaie
R rou).
31
1 Introducere
C. Motoarele de avion sunt protejate printr-un tub circular cu

lichid ignifug: dac temepratura motorului (n zbor) depete o valoare
critic, peste care se poate produce o explozie rspuns fals (RF),
motorul n cauz este inundat cu lichidul ignifug. n acest fel, rspunsul
fals grav (explozie sau incendiu n aer) este transformat n rspuns fals
mai puin grav: zbor, n continuare, cu celelalte motoare pn la cel mai
apropiat aeroport, sau o aterizare forat, pentru avioanele monomotor.
n aceast ultim situaie se recurge tot la un rspuns fals, dar cu
coeficient (f) de valoare mai mic (fig.1.8).
D. Este posibil ca, n anumite situaii, rachetele militare
telecomandate sau cu programe la bord, prin apariia unor defec tri sau
perturbri (de exemplu bruiaj inamic), s nu mai execute zborul corect,
deci s nu ating inta vizat. Deoarece apare pericolul bombardrii unor
obiective din teritoriul propriu (loc aliti, puncte furnizoare de energie
electric, aeroporturi, porturi etc.) rspuns fals, racheta respectiv
intr ntr-un regim de pilotare automat pe o astfel de traiectorie
programat anterior la bord, nct cderea sa s se fac n teritoriul
inamic, ntr-un deert etc. sau, la limit, zbor pn la epuizarea
carburantului, deci pe distana maxim de punctul de lansare
rspuns eronat.
n ncheierea acestui capitol i anticipnd tematica ce va fi
tratat n continuare, este de observat c orice rspuns necorect este un
efect avnd drept cauz o defeciune (perturbaii, defectri, erori) n
funcionarea sistemului. Evitarea rspunsurilor necorecte i deci a
nendeplinirii funciunilor prevzute, se poate face reducnd, pe ct este
posibil, defeciunile care pot fi simple sau combinate. Pentru aceasta
este necesar s existe o bun adaptare funcional ntre cei trei factori
fundamentali ai sistemului: componente semnale operaii umane.
32
Capitolul 2
Uzur i defectare
2.1. Deteriorarea componentelor de echipament
Pe
durata
de
existen
oricrei
componente,
timpul
funcionrii echipamentului care o include, are loc un proces de uzur

datorat, n primul rnd, proceselor fizice i chimice care determin,
inevitabil, o variaie a parametrilor funcionali. Aceste procese au loc i
n timpul cnd echipamentul nu funcioneaz propriu-zis, fiind n regim
de ateptare; deteriorarea este permanent, chiar i n condiii de
depozitare sau conservare, evident, cu intensitate mai mic dect pe
durata funcionrii.
Prin urmare, deteriorarea componentelor se produce inevitabil, n
general, cu viteze de variaie diferite, din momentul ieirii lor din
procesul de fabricaie pn n momentul n care devin inutilizabile; toat
aceast durat de existen, prin analogie cu organismele vii, se numete
durat de via.
Spre a ilustra acest aspect, se presupune c se efectueaz
urmtoarea experien (fig.2.1a): un condensator nou C este supus unui
+
UC
UC
V
Ustr
Td
C
t
_
a)
Fig. 2.1
b)
td
33
2 Uzur i defectare
regim de ncrcare liniar i lent n timp, sub o tensiune electric

continu U C aplicat la bornele sale, i a crei valoare este msurat
instantaneu cu voltmetrul V.
n momentul n care tensiunea U C ajunge la valoarea pragului de
strpungere U s t r a dielectricului, la momentul t d , se produce defectarea
acestuia prin clacare i devine inutilizabil (fig. 2.1b). n aceast
experien, t d reprezint momentul defectrii, U C sarcina aplicat, iar
intervalul T d de timp 0, t d durata de via a condensatorului C.
n
condiii
echipamentelor
componentele
reale
sunt
de
supuse
electrice
utilizare,
unui
componentele
ansamblu
electronice,
ale
de
din
structura
solicitri.
Pentru
echipamentelor
pentru
dirijarea circulaiei i navigaiei, principalele tipuri de solici tri sunt

electrice, termice i mecanice (ocuri, vibra ii etc.). Prin urmare,
solicitarea real este complex i const n aplicarea unor energii, dintre
care cel puin una este util n regimul de funcionare a echipamentului
respectiv.
Dar, n afar de energii, componentele sunt supuse i unor
influene ale materialelor care exist n mediul ambiant: aer, vapori de
ap, substane corozive etc.
Prin ptrunderea acestora n masa componentelor se pot produce
modificri ale unor proprieti fizice utile; ca i n cazul energiilor,
aceste solicitri se manifest printr-un proces de uzur (deteriorare).
Cu alte cuvinte, n condiii reale, componentele echipamentelor
sunt expuse unui regim de uzur, att din partea sarcinii utile ct i din
partea ambianei. Totodat i componentele exercit o influen asupra
mediului ambiant, prin degajri de energii i de materiale (cldur,
vibraii, gaze etc.). n figura 2.2 este ilustrat modul de interac iune
dintre componente C, sarcin (util) i mediul ambiant definit ca
ansamblu de energii e i materiale m.
34
SARCIN
(util)
Ambian
m
Fig.2.2
ntruct energia se conserv, pentru orice component este valabil
relaia:
Wi = Wac + We ,
unde W i reprezint energia de intrare, W a c energia acumulat n masa
componentei, iar W e energia de ieire.
De exemplu un tranzistor, montat ntr-un etaj de amplificare, este
solicitat termic datorit cldurii rezultate n urma disipr ii energiei
electrice aplicate W i ; o parte din energia termic dezvoltat este reinut
n masa tranzistorului, ridicndu-i temperatura (W a c ), iar restul este
degajat n ambian (W e ). Dac energia acumulat W a c depete o
anumit valoare (pe ntru care temperatura este mai mare dect limita
admisibil), se produce defectarea tranzistorului.
Din cele expuse pn acum, inclusiv n cadrul 1.1.2, rezult
urmtoarele concluzii:
- Defectarea unei componente coincide cu momentul n care
aceasta urmeaz o lege complet nou de comportare (din punct
de vedere funcional).
- Defectarea este o consecin a faptului c energia nmagazinat
(n component) depete o anumit valoare critic.
- Punctul la nivelul cruia se manifest defectarea poate fi
apreciat ca fiind rezistena componentei; aceast rezisten
trebuie neleas n sensul unei proprieti de a se opune
defectrii.
35
2 Uzur i defectare
Uneori, n echipamente, defectarea unei componente antreneaz i

defectarea altora din cauza influenelor reciproce; n acest caz se
produce o defectare n avalan, cauza fiind noua repartizare de
energie care se face dup apariia unei defectri.
C1
C2
C3
CN
+
E
_
Fig.2.3
Astfel, dac de exemplu, unui grup de N condensatoare C identice,
conectate n serie (fig.2.3), i se aplic o tensiune continu constant E,
fiecare condensator suport la bornele sale o tensiune de valoare U iar
energia sa acumulat are expresia:
W ac
1
1
CU 2
CE 2
2
2
2N
Se mai presupune, n continuare, c tensiunea aplicat U este

apropiat de valoarea de strpungere; unul dintre condensatoare i
anume cel cu dielectricul mai slab, se va strpunge (claca), determin nd
o nou distribuie a energiilor acumulate ntre celelalte exemplare
rmase valide:
W ' ac
1
1
CU ' 2
CE 2 Wac ; U ' U
2
2
2( N 1 )
Urmeaz o nou strpungere la alt condensator,

" W ' ; U' ' U' ; U' ' ' U' ' ; ...
W ac
ac
36
i aa mai departe pn cnd toate condensatoarele vor ajunge n stare

defect deoarece, evident, la un moment dat tensiunea aplicat U
depete valoarea de strpungere a celui mai rezistent condensator
(ultimul).
Acest exemplu ilustreaz, n afar de efectul defectrii n avalan
(care se produce n sistemele reale), i postulatul verigii celei mai slabe
n fiabilitate (1.1.2): n urma solicit rii aplicate cedeaz ntotdeauna
componenta a crei rezisten (la defectare) este mai mic.
Spre a ilustra mai bine dinamica defectrii n avalan, n
continuare sunt expuse dou exemplificri din practic.
- Exemplul I. n circuitele de alimentare cu energie electric ale
diferitelor etaje din structurile echipamentelor electronice, analogice sau
digitale,
pentru
decuplare
se
utilizeaz
grupuri
simple
rezistor -
condensator (fig. 2.4). n starea valid (de bun func ionare) rezistorul
R, n general de valoare mic, suport la borne o tensiune U R , de
asemenea mic:
U R = RI i .
n component continu, intensitatea curentului de ieire I e este
egal cu a celui de intrare I i deoarece, cu rare excepii, pierderile n
dielectricul condensatorului C sunt neglijabile; acesta suport la borne o
tensiune foarte apropiat de cea de intrare U i .
UR
Ii
Ie
R
Ui
UC
Fig. 2.4
37
2 Uzur i defectare
U C U i >> U R .
Ii = Ie;
Pentru aceasta, n calcule, la proiectarea acestui grup se dimensioneaz puterea disipat nominal a rezistorului R:
2
U
PR R I i2 R ,
R
astfel nct, n starea valid V a grupului RC, puterea electric disipat

pe corpul rezistorului s corespund valorii no minale (de catalog).
Dac se produce clacarea condensatorului C, distribuia tensiunilor
i curenilor se modific susbstanial:
U C 0 ; U R U i ; I e 0; I i
Ui
U2
; P' R i PR ,
R
R
iar rezistorul R se defecteaz prin supranclzire (a fost dimensionat la

valoare nominal).
Ip
Dr
Tr
Ui
Us
Lp
C1
Ue
C2
Ls
Fig. 2.5
-
Exemplul
monoalternan
II.
Dac
(fig.2.5),
n
se
structura
clasic
produce
clacarea
electrolitic de filtrare la ieire C 2 :
unui
redresor
condensatorului
bobina droselul de filtraj Dr
suport, de regul, supracurentul prin C 2 , iar dioda redresoare D se

strpunge; astfel condensatorului C 1 i se aplic tensiunea alternativ U s
furnizat la bornele nfurrii secundare L s a transformatorului Tr.
38
Acum este rndul unei solicitri prea mari pentru transformatorul

Tr, care se defecteaz, de regul, prin ntrerupe rea nfurrii primare
L p (bobinat cu conductor mai subire).
Dac sigurana fuzibil S nu ntrerupe curentul I p , se vor produce
defectri mai departe pe circuit, n amonte spre surs.
Este de observat c, pentru a evita defectrile n avalan , se
introduc intenionat elemente slabe (sigurana S) care, prin defectare,
protejeaz alte componente mai scumpe din sistem.
De asemenea trebuie reinut faptul c sigurana S, care nu
contribuie la realizarea unei funciuni eseniale, ci a uneia de protecie,
are i ea o durat proprie de via, ca oricare alt component de
echipament: este solicitat normal pe durata de bun funcionare, se
deterioreaz n timp i se poate defecta fr suprasolicitare.
Dac se urmrete determinarea cauzei primare care a condus la
defectarea n avalan, n ultimul caz expus, se ajunge la factorul uman;
cel puin o eroare st la originea acestui proces, declanat din cauz c
sigurana de protecie S a avut o rezisten (la defectare) prea ridicat:
valoarea limit de ntrerupere a circuitului a fost mai mare dect cea
corect.
Motivele care au condus la apariia acestei erori (umane) pot fi:
- eroare de calcul la proiectare;
- marcaj greit din fabricaie;
- lipsa ateniei necesare din partea personalului de execuie la
montaj;
- grab nejustificat a personalului de ntreinere tehnic la ultima
nlocuire a siguranei;
- neglijen (profesional) din partea aceluiai personal, care a
provocat defectarea
siguranei prin scurtcircuitare ntre borne;
- n fine, montarea unei sigurane mai puternice ca s nu se mai

ard!
39
2 Uzur i defectare
Aceste aspecte ale erorii umane n sistem ( 1.2.1; fig.1.3), vor fi

dezvoltate n lucrare.
n cazul general, pentru o component oarecare, se demonstreaz i
se verific experimental urmtoarea relaie numit ecuaia fundamental
de deteriorare:
ln r ln r0 - km t e f(w)
unde:
r reprezint rezistena fiabilist instantanee a componentei;
r 0 rezistena sa iniial;
k m o constant ce depinde de concentratia materialelor n
ambian i de natura lor;
t parametrul timp;
e baza lagoritmilor naturali;
f(w) o funcie ce depinde de energiile care intr n procesul de
reacie dintre substanele componentei i ale ambianei.
Dac factorii din mediul ambiant nu variaz (ambian constant),
k m e f ( w ) k const. ,
ecuaia anterioar se poate pune sub forma:
ln r =ln r 0 kt,
de unde rezult
r = r0 e
kt
Deci, n condiii de ambian constant, rezistena descrete

exponenial n timp. Dac, n aceleai condiii, solicitarea aplicata s este
egal cu rezistena componentei, se produce defectarea. Prin urmare,
dac r = s, atunci t = T d i relaia de mai sus se poate scrie:
1
Td (ln r0 ln s )
k
40
Se observ c pentru s = r 0 , rezult c durata de via este nul

(T d = 0). Altfel spus, dac unui element i se aplic o solicit are egal
(sau mai mare) fa de rezistena sa iniial, defectarea se produce n
momentul iniial; durata de via n acest caz este nul. n sfrit,
deoarece k > 0 (chiar i n condiii de depozitare conservare), rezult
T d < ): pot fi realizate, dac este necesar, componente cu durat de
via foarte mare, dar nu infinit.
2.2. Modele de analiz a uzurii i defectrii

Datorit solicitrilor pe care, inevitabil, componentele trebuie s le
suporte pe ntreaga lor durat de via, are loc un proces de deteriorare,
exprimabil prin starea de uzur, iar aceasta la rndul su conduce, mai
devreme sau mai trziu, la defectare:
solicitare
deteriorare
uzur
defectare
Aceast modificare calitativ de stare a componentei (evaluat prin

valorile parametrilor tehnici), care marcheaz sfritul duratei sale de
via, este important deoarece determin, la nivel macroscopic (de
echipament), producerea unor refuzuri func ionale - n cazul sistemelor
neredundante (netolerabile la defectri). Defectarea componentei se
produce ntr-un interval de timp extrem de mic fa de durata sa de via
- i marcheaz trecerea componentei de la starea valid ( V) n starea
nevalid (V ) , compromind astfel, la nivel macroscopic, funcionarea
ntregului subsistem, sistem etc. ( 1.2.1; fig.1.3).
Prin reprezentarea grafic a ecuaiei de durat a vieii, se poate
analiza procesul de defectare pentru diferite modele de va riaie a
solicitrii, respectiv a rezistenei componentelor. Pentru a uura analiza,
41
2 Uzur i defectare
se reprezint timpul (t) la scar liniar; solicit rile s i rezistenele r,

din ordonat, sunt reprezentate la scar natural logaritmic, tot aici
intrnd i factorul constant k.
Fig.2.6
Astfel, n figura 2.6 a) este artat modul n care rezult momentul
defectrii (t d ) pentru solicitare constant ( s = const.). Este de reinut
faptul c n momentul iniial, la nceputul duratei de via T d , care
corespunde cu originea de timp t = 0, valoarea rezistenei componentei
este maxim, deoarece efectul de uzur nc nu ncepe s se manifeste;
ulterior, pe msura trecerii timpului, rezistena r scade, iar
momentul
cnd aceasta devine instantaneu egal cu solicitarea (r = s), se produce

defectarea (t d ), marcnd epuizarea duratei de via T d .
Cnd deteriorarea este independent de intensitatea solicitrii, la
valori diferite (constante) de solicitare, rezult durate de via diferite
(fig. 2.6 b):
s2 > s1 ;
td2 < td1 ;
Td1 > Td2
Dac procesul de deteriorare este influenat de mrimea solicitrii

(fig.2.7), se vor produce dou moduri de variaie a rezistenei ( r 1
respectiv r 2 ):
42
s2 > s1;
r2 < r1;
td2 < td1;
Td1 > Td2
n exprimare calitativ - i n concordan cu procesele fizicochimice de deteriorare, la o solicitare mai mic s 1 corespunde o
rezisten (la defectare) mai mare r 1 , iar la o solicitare mai mare s 2
corespunde o rezisten mai mic r 2 ; de aici i inegalitatea dintre
duratele de via corespunztoare (T d 1 i T d 2 ). Mai trebuie reinut faptul
c la originea de timp (t=0) cele dou rezistene r 1 i r 2 au valori egale:
r 0 1 = r 0 2 = r 0 , deoarece procesul de deterioare (inexistent) nu
s-a
manifestat (nc) prin uzur.
Fig.2.7
De asemenea, din cele expuse pn acum, pentru solicitri
constante se pot trage dou concluzii generale (i importante):
1. Durata de via a unei componente nu este o proprietate
exclusiv a sa; ea trebuie evaluat pentru ansamblul component
sarcin (solicit are util) ambian (fig.2.2).
2. Pentru creterea duratei de via a unei componente exist, prin
urmare, trei posibiliti:
mrirea rezistenei iniiale r 0 prin proiectare i fabricaie;
43
2 Uzur i defectare
utilizarea componentei ntr-un regim de sarcin uor: implementarea prin proiectare de sistem;
reducerea solicitrilor din ambian: implementarea prin proiectare de sistem i ntreinere tehnic - mentenan (ulterioar)
pe durata de utilizare (t > 0).
De cele mai multe ori, n practic, n loc de solici tri constante
(sau aproximativ constante) se ntlnesc solicit ri variabile. Dintre
acestea, mai reprezentative sunt cele cu variaie n salt, ciclic i
neregulat.
n diagrama din figura 2.8 a) este artat modelul unei solicitri cu

variaie n salt, de exemplu efectul unei supratensiuni electrice cauzate
de trsnet; este cazul unei evoluii dinamice de trecere brusc de la un
regim de solicitare redus la un alt regim de solicitare intens, din care
cauz durata de via T d este curmat n momentul defectrii t d .
n figura 2.8 b) este analizat modul n care se determin durata de
via pentru solicitri cu variaie ciclic, de exemplu efectul termic
asupra componentelor din echipamentele fixe, montate n spaiul
exterior, datorit anotimpurilor cu perioada de un an.
44
Momentul defectrii poate fi cel estimat t d e ; este posibil ns ca n

acel moment s existe o diferen, chiar foarte mic, ntre rezisten i
solicitare, astfel c defectarea se va produce n mod cert la momentul t d r
moment de defectare real.
Eroarea absolut care se face n estimarea duratei de via este
= tdr tde .
Dac solicitarea are o variaie neregulat (fig.2.9 a), de asemenea
momentul estimat aldefectrii t d e poate s difere de momentul real al
defectrii t d r , primul fiind determinat de solicitarea maxim probabil
s m a x p , iar ultimul de solicitarea real s r .
Fig.2.9
Atunci cnd nu este posibil de prevzut variaia exact a solicitrii
(fig.2.9 b), se consider valorile de maxim s m a x i de minim s m i n , precum
i variaia probabil n timp s p ale solicitrilor. Rezult intervalele de
timp [0, t d m i n ], [0, t d p ] i [0, t d m a x ], care reprezint duratele de via
minim, probabil, respectiv maxim. Diferena C s = s m a x s m i n poart
denumirea de interval de ncredere pentru solicitare, iar diferena C Td =
t d m a x t d m i n interval de ncredere (confiden) pentru durata de via.
45
2 Uzur i defectare
Dac la determinarea sarcinii utile nu apar, n general, probleme

deosebite, alta este situaia n privina solicitrilor exercitate de ctre
ambian:
evaluarea
discernmnt.
acestor
solicitri
cere
mult
experien
n funcie de destinaia echipamentului,
solicitarea
provenit din mediul ambiant crete n ordinea urmtoare: echipament

staionar pe sol n interior staionar pe sol n exterior nav maritim
- vehicul rutier vehicul feroviar echipament alpin avion proiectil
teleghidat nav cosmic.
n cele analizate pn acum, s-au considerat numai situaiile n
care s-au produs defectri de componente, nelegnd prin aceasta c
abaterile parametrilor fundamentali au depit limitele admisibile n
sistem (din punct de vedere funcional). Exist ns i foarte multe
situaii n care se produc abateri ale parametrilor fundamentali, ntre
anumite limite, fr ca sistemul s fie afectat (s aib alte rspunsuri
dect cele prevzute pentru regimul de funcionare corect (1.2.1). n
aceste situaii se spune c s-a produs o slbire, nelegnd prin aceasta
c, datorit uzurii pariale, se modific performanele sistemului,
rmnnd ns valoric ntre limitele admise la nivel macroscopic. Astfel,
formulat, uzura este un proces dinamic n timp, aprecierea sa fcnduse prin gradul de deteriorare slbire, ca stare de uzur ntr-un anumit
moment. Cnd aceast uzur atinge o valoare critic se produce
defectarea,
datorit
creia
la
nivel
macroscopic
apare
un
refuz
funcional, simplu sau complex. n aceast nlnuire de cauze i efecte,

prima cauz este solicitarea, iar ultimul efect este defectarea. Ca
element intermediar, pe durata de via a unei componente, uzura ca
efect al deteriorrii, dac este brusc i suficient de intens, coincide n
timp cu defectarea; dac este lent, defectarea intervine n momentul n
care uzura depete nivelul maxim admisibil.
46
Pentru exemplificare, se consider cazul cel mai simplu al unei

lmpi (bec) de semnalizare cu filament incandescent n vid (fig.2.10).
Fig.2.10
Fiind alimentat n circuitul de comand cu curentul I, lampa
produce un flux luminos , a crui valoare minim admisibil
(parametru fu ncional) este mi n : sub aceast valoare, distana de
semnalizare scade nepermis de mult.
Momentul defectrii poate s apar n dou moduri distincte:
- prin ntreruperea filamentului f impropriu spus ardere, cnd
curentul I devine nul i fluxul radiat de asemenea = 0; defectarea este
brusc - instantanee (fig.2.10 b) i se produce n momentul t d 1 ;
- prin vaporizarea unor particule metalice de pe filamentul
incandescent f, care se depun (lent n timp) pe suprafaa interioar a
balonului de sticl; acesta devine opac progresiv, iar cnd fluxul
radiat atinge valoarea minim admisibil mi n , are loc defectarea t d 2 .
Rezult, din acest exemplu, c uzura (slbirea) unei componente
poate varia brusc sau lent (punctele 1 i 2; fig.2.10b). Astfel de
fenomene se produc, analog, i n alte componente electrice sau
electronice: condensatoare, rezistoare chimice, diode semiconductoare,
tranzistoare, circuite integrate etc. Defectarea, ns, este totdeauna
brusc i apare instantaneu atunci cnd parametrul func ional depete
47
2 Uzur i defectare
o valoare admisibil la limit, minim sau maxim, indiferent de modul

de variaie a slbirii componentei (lent sau rapid).
n continuare este redat o clasificare general a deteriorrilor,
corelate cu uzura i defectarea.
- Dup cauza producerii:
intern / cauzat de existena unor vicii inerente de fabricaie
ale componentei (impuriti n dielectricu l unui condensator,
strangulare la terminalul unui capt de filament la o lamp cu
incandescen etc.);
extern / datorit solicitrilor aplicate att prin sarcin ct i
din ambian (tensiuni electrice de alimentare, ocuri, vibraii
etc.)
- Dup viteza de producere:
lent (progresiv) / poate fi detectat printr-o examinare
anterioar a valorilor parametrice (reducerea unei rezistene de
izolaie,
scderea
rezistenei
inverse
unei
diode
semiconductoare etc.);
brusc / nu poate fi detectat (prevzut) anterior defectrii
(se produce prin efect de avalan n microstructur i, de
regul, atinge instantaneu punctul de defectare (strpung erea
unui
condensator
sau
unei
diode
semiconductoare,
ntreruperea filamentului unei lmpi cu incandescen etc.).

- Dup gradul de uzur:
parial / modificarea valorilor de parametru funcional nu se
face pn la punctul de variaie inadmisibil (opacizarea
parial a balonului de sticl a unei lmpi cu incandescen,
creterea
permisibil
din
punct
de
vedere
funcional
rezistenei directe a unei diode semiconductoare etc.);

48
total / defectare, depirea valorilorprag admisibile pentru

parametrul funcional considerat (ntreruperea filamentului unei
lmpi
cu
incandescen,
strpungerea
clacarea
unui
condensator, scurtcircuitarea intervalului colector emitor a

unui tranzistor etc.).
- Dup modul de manifestare n timp:
permanente / definitive, stabile (arderea unei sigurane
fuzibile, strpungerea unui tiristor etc.);
intermitente / temporare, dac funcionarea are ntreruperi
aleatoare
(contactul
electric
de
conducie
al
unui
releu,
discontinuitatea accidental a unui contactor electric etc.) .

- Dup numrul lor:
singulare / fr a fi concomitente cu alte deteriorri
(autodescrcarea
unui
acumulator
electric,
strpungerea
jonciunii baz-emitor a unui tranzistor neprovocat de alt

deteriorare etc.);
multiple / concomitente cu alte deteriorri, depe ndente sau
independente
ntre
ele
(defectri
avalan,
defectarea
simultan a dou sau mai multor componente fr legtur

cauzal ntre ele etc.).
- Dup legtura cu alte deteriorri:
primare / independente de alte deteriorri (se produc fr o
interdependen funcional);
secundare / dependente; sunt cauzate de alte deteriorri
(defectri n avalan, topirea unei sigurane fuzibile din cauza
unui scurtcircuit etc.).
- Dup modalitatea n care pot fi detectate:
evidente / prin examinare organoleptic (nclziri excesive,
afumri etc.);
49
2 Uzur i defectare
ascunse / nu pot fi puse n eviden dect prin msurri sau

verificri speciale (clacarea unui condensator, ntreruperea
jonciunii unei diode semiconductoare etc.).
- n raport cu efectul la nivel macroscopic ( 1.2.1) :
prin rspuns fals / stare cu caracter periculos (cont actul
intempestiv dintre conductoarele de alimentare cu energie
electric i conductoarele de comand a unitii verde la un
semafor
rutier;
defectare
datorit
creia
se
msoar
(determin) o vitez mai mic dect cea real la pilotarea

automat la metrou - 1.2.1; fig. 1.5 i 1.8;
prin rspuns eronat / stare fr caracter periculos (contact
intempestiv ntre conductoarele de alimentare i cele ale
unitilor luminoase nepermisive pentru circulaie, de exemplu
rou: defectare datorit creia se msoar - determin o vitez
mai mare dect cea real la pilotarea automat a metroului -
1.2.1; fig. 1.5 i 1.8).
Dup defectare, elementele slbite sunt (n general) recuperabile
prin rennoire (dac costul reparaiei este mai mic dect costul unui
element nou).
Fig.2.11
Prin reparare (fig. 2.11) este nlocuit componenta care determin
atingerea valorii minime admise a rezistenei globale pe sistem r m i n , n
50
momentele t 1 , t 2 , t 3 ... Aceast rezisten global nu revine la valoarea

iniial (sau la cea a reparaiei precedente) deoarece rezistenele
individuale ale celorlalte componente, care nu s-au defectat nc, scad
(i ele) pe msura trecerii timpului.
Pentru acest motiv, componentele slbite trebuie nlocuite dup un
anumit numr de reparaii. Utilizarea lor, n continuare, nu mai este
raional deoarece produc ntreruperi mai dese n funcionare i cresc
cheltuielile de ntreinere tehnic.
Mai trebuie reinut faptul c elementele cu deteriorare lent pot fi
puse n eviden prin msurri efectuate asupra lor (parametrilor
funcionali); defectrile care se produc pe aceast cale pot fi eliminate
prin nlocuirea din timp a elementului slbit (intervalul [t d 1 - t d 2 ],
fig.2.10 b). Celelalte defectri (bru te) nu pot fi detectate nainte de a se
produce, motiv pentru care, n sistemele cu mare rspundere funcional,
unele componente sunt nlocuite dup durata de via estimat sau i mai
repede, chiar dac nu manifest uzuri msurabile importante.
n structura echipamentelor de reglare a circulaiei i navigaiei,
componentele pot fi:
- electrice sau electronice;
- mecanice care, la rndul lor, se mpart n:
cinematice (n micare, cu tendin ferm de dispariie n
echipamentele moderne);
statice / de fixare, asamblare.
Componentele din aceast ultim categorie sunt practic
nedefectabile, deoarece durata lor de via este mult mai mare dect a
celorlalte elemente din sistem (asiuri, plci metalice, bride, uruburi,
piulie, nituri, carcase etc.).
Componentele caracterizate prin uzur - deteriorare semnificativ
n timp, sunt depistate i nlocuite periodic (revizii i reparaii de
echipament).
51
2 Uzur i defectare
Aceste intervenii pot fi fcute n dou moduri:

- fr scoatere din funciune / n momentele t 1 , t 2 , t 3 , t 4 ,...
(fi g.2.11);
- cu scoatere din funciune / n intervalele de timp T 1 [t 1 , t 1 ], T 2 [t 2 ,
t 2 ] ... (fig.2.12) cnd restabilirea, de asemenea, nu se poate face la
parametrii nominali.
Fig.2.12
Un parametru important al fiabilitii, din acest punct de vedere ,
este disponibilitatea echipamentelor: indicator sintetic al eficienei n
utilizare a sistemelor tehnice, care exprim capacitatea lor de a fi n
stare de funcionare la un moment dat (mrime cu caracter probabil ist).
Evaluarea acestei capaciti se face cu ajutorul coeficientului de
disponibilitate (fig.2.12):
T
kD
Ti
i 1
Tt
,
T
n a crui expresie s-au utilizat notaiile:

T intervalul de timp considerat;
T i durata reparaiei de rang i;
52
T t timpul total (cumulat) al reparaiilor efectuate n intervalul de

timp T.
Valoarea
maxim
acestui
coeficient,
egal
cu
unitatea,
corespunde echipamentelor reparabile fr scoaterea din funciune ( T t =

0; fig. 2.11); la echipamentele cu scoatere din funciune (pe timpul
reviziilor i reparaiilor) corespund valori cu att mai mici pentru k D , cu
ct scoaterile din funciune sunt mai dese i duratele acestora sunt mai
mari (fig.2.12).
53
3 Variabilitatea parametric n relaia funcional component - sistem
Capitolul 3
Variabilitatea parametric n relaia
funcional component - sistem
3.1. Abordarea sistemic a funcionalitii

Din cele expuse n cadrul capitolelor anterioare se desprinde
concluzia c din cauza uzurii n timp, nivelul de realizare a diferitelor
funciuni
n cadrul unui sistem depinde, direct sau indirect, de
comportarea (funcional) a componentelor sale.

Scopul principal al teoriei i practicii fiabilitii este ca, prin
calcule corespunztoare, s se demonstreze c sistemu l n cauz are
sau va avea, un nivel minim admisibil, din punct de vedere funcional.
Acest lucru este posibil prin utilizarea unor date statistice din
exploatare sau ncercri i prin aplicarea metodelor teoriei estimrii;
se ajunge astfel la rezultate exprimate probabilistic.
Modelul sistemic, de analiz sau sintez, trebuie s descrie
evoluia performanelor funcionale n timp, pe baza proprietilor
elementelor sale, de asemenea variabile n timp. n acest scop se
utilizeaz, dup caz, modelele de fiabilitate structurale, logice sau
globale ( 1.1.2).
Desfurarea normal a proceselor de circulaie/navigaie, la nivel
macroscopic, se bazeaz pe realizarea unor funciuni specifice, simple
sau complexe, ce trebuie realizate n timp.
54
Fiabilitate funional n electronic
Indiferent de natura aplicaiei, domeniul de funcionare corect

este definit ca fiind locul geometric al valorilor parametrice pentru care
o anumit funciune F x este realizat n condiiile prescrise ( 1.2.1
fig. 1.7). Pentru determinarea acestui domeniu, trebuie preci zai o serie
de parametri funcionali:
, , , , ,
ale cror valori trebuie s corespund rspunsului corect.
Dup funciunea
F x n cauz, aceti parametri pot fi: vitez,
deplasare, nlime, for, putere, durat de realizare a unui program

etc., ca de exemplu:
- viteza de deplasare a unui tren;
- nlimea de zbor a unui avion;
- direcia de deplasare a unei nave sau a unui autovehicul rutier
etc.
Considernd numai rspunsurile ideal i admisibil ( 1.2.1; fig.
1.5), se gsesc seriile de va lori:
- nominale (ideale):
[ 0 , 0 , 0 , , 0 ]
- minime admisibile:
[ , , , , ]
- maxime admisibile: [ , , , , ]
Prin urmare realizarea fiecrei funciuni n sistem este descris de
ecuaiile compuse:
F x = f x ( , , , , ) ;
F y = f y ( , , , , ) ; etc.
variabilele funcionale fiind discontinue sau continue.

La rndul lor, parametrii funcionali sunt dependeni de parametrii
fizici tehnici care se manifest, n mod direct, la nivel microscopic i
care prin natura lor, sunt funcii de timp: mrimi primare optice,
electrice, magnetice, electromagnetice, mecanice, radioactive, acustice
etc.
55
n practica dirijrii circulaiei / navigaiei, cele mai utilizate

mrimi n domeniul echipamentelor sunt de natur electric, obinute
direct sau prin conversie:
rezisten electric R,
inductivitate L,
capacitate C, reactan X, tensiune U, intensitate I, frecven

f,
faz ,
amplificare A,
deviaie de frecven f etc.
Aceti parametri fizici tehnici, n mod uzual, sunt independeni,

iar variaiile lor n timp sunt provocate, n afar de elementele utile din
punct de vedere funcional i de unii ageni (perturbatori) din micro i
macroambian: variaii de temperatur, umiditate, ocuri, vibraii,
cmpuri electromagnetice etc.
Astfel, de exemplu, parametrul funcional
este dependent de
parametrii fizici:
[ p 1 , p 2 , , p n ]
crora, n cadrul domeniului de valori corespunztor unei funciuni F x ,
le corespund seriile de valori:
- nominale (ideale):
[ p 0 1 , p 0 2 , ..., p 0 n ];
- minime admisibile:
[ p 1 , p 2 , , p n ];
- maxime admisibile:
[ p 1 , p 2 , , p n ].
Acest aspect este redat prin poligonul funcional avnd n laturi

(fig.3.1), cu precizrile care urmea z.
- Valorile ideale nominale sunt n relaie de determinare
biunivoc:
0 ( p01, p02 , ..., p0 n )
- Valorile minime sau maxime admisibile pot fi ntr-o relaie

oarecare:
' ( p1' , p 2 ' , ..., p n ' )
" ( p1" , p 2 " , ..., p n " ) .
56
p4
p 4,,
p3
p 4,
p04
p 3,,
p03
,,
p2
p 3,
p 2,,
p02
p n,
p0 n
p n,,
p1,
pn
p01
p1,,
p 2,
p1
Fig. 3.1
Aceast proprietate se explic prin aceea c relaiile funcionale
impun, uneori, variaii inverse de parametru ca, de exemplu, n cazul
unor funciuni de protecie ( 1.2.1):
- n timpul circulaiei unui tren, pericolul de coliziune sau deraier e
crete cu mrimea vitezei sale de deplasare;
- pe durata zborului unui avion, la survolarea unui lan montan,
pericolul de prbuire scade cu mrirea altitudinii, respectiv crete cu
scderea acesteia.
La modul general, legtura dintre parametrii func ionali i cei
fizici este redat prin ecuaiile compuse:
= f ( p 1 , p 2 , , p n )
= f ( p 1 , p 2 , , p n )
....
= f ( p 1 , p 2 , , p n )
Deci dac, prin condiii tehnice, se asigur variaii corecte
admisibile ale parametrilor tehnici:
57
p 1 p 1 p 1 ;
p 2 p 2 p 2 ;
p n p n p n ,
vor rezulta, de asemenea, valori corecte admisibile pentru parametrii

funcionali:
;
Pornind analiza de la nivel macroscopic, vor trebui determinate

succesiv legturile efect-cauz:
F x ( , , , ) ( p 1 , p 2 , , p n )
O astfel de procedur se aplic n scopul asigurrii unui anumit
nivel de fiabilitate la elaborarea unui sistem tehnic nou - sintez. Dac
se pune problema analizei fiabilitii unui sistem existent, procedura
folosit va fi invers, cauz-efect (se pornete de la nivel microscopic):
( p 1 , p 2 , , p n ) ( , , , ) F x
Rezult, n consecin, unele aspecte importante de care trebuie s
se in seam n calcule practice de fiabilitate:
- mai nti se determin valorile nominale ideale
( p 0 , 0 , 0 , , 0 )
i apoi se verific limitele admisibile
(p, p; , ; ; , );
- stabilitatea funcional a sistemului este cu att mai bun cu c t
domeniile de variaie parametric sunt mai largi, n latura fizic tehnic i n cea funcional:
[ p, p ] i [ , ] ;
- cu ct complexitatea sistemului este mai ridicat, cu att numrul
parametrilor tehnici, respectiv funcionali, este mai mare i fiabilitatea
sa sub aspectul stabilitii, este mai redus ntruct domeniile de
58
variaie admisibil se reduc (se ngusteaz); aceasta deoarece valorile

instantanee trebuie s aib o coresponden compatibil, n ceea ce
privete buna funcionare (fig.3.1).
3.2. Modele de variaie parametric

n practic, evoluia valoric a unui parametru fizic-tehnic (p) n
timp nu poate fi determinat cu suficient exactitate deoarece intervin
factori perturbatori, att interni ct i externi, avnd o apariie
aleatoare. n acest mod, la orice valoare a timpului (t) corespund
valorile parametrice:
p 0 nominal (ideal),
p minim admisibil,
p maxim
admisibil (fig.3.2).
p(t)
p0
p
p
0
Fig.3.2
Sondnd, la o anumit valoare de timp, vecintile valorilor p,
respectiv p, se obine o cretere a preciziei de calcul. Pentru aceasta
este necesar s se cunoasc modelul (legea) de variaie parametric.
Astfel, de exemplu, n cazul unei variaii ce corespunde legii
normale (gaussiene) caz ce corespunde majoritii aplicaiilor ntlnite
n practic, se definete o funcie parametric
f(p) , avnd valorile

59
centrate p i p (fig.3.3), ce corespunde unor variaii simetrice. Prin

aceasta se evit erorile de calcul care apar, ndeosebi, la un numr mare
de abateri parametrice funcionale (, , , , ) i la un numr
foarte mare de abateri ale parametrilor fizici-tehnici, toate aceste abateri
fiind aleatoare.
f(p)
p0
Fig.3.3
n cazul sistemelor tehnice cu mare rspundere funcional, aceste
abateri n jurul valorii centrate ( p fig.3.4) sunt mici sau foarte mici.
Fig.3.4
Funcia parametric
f(p) , prin intermediul creia se stabilesc
valorile n ordonat ale curbei de distribuie, se afl n legtur direct

60
cu valorile parametrului (p), care sufer abateri de la centrul de grupare

al distribuiei p i care pot fi exprimate prin funcia densitii de
probabilitate, sau probabilitii pentru care parametrul considerat
( p)
are valori cuprinse ntre p i p + p :

P( p )
1
2
p p 2
2 2
unde reprezint deviaia medie ptratic, sau deviaia standard care,

n cazul distribuiilor continue, are expresia:
2
p p' ) 2 P ( p ) dp ,
iar p este valoarea medie a variabilei aleatoare (sperana matematic):

p'
p P (p ) dp .
Erorile produse prin modul clasic de calcul nu permit evaluri

suficient
de
precise,
imperios
necesare
determinrii
parametrilor
fiabilitii funcionale.
Pentru reducerea acestor erori se poate recurge la ecuaia de
legtur
= f ( p 1 , p 2 , , p n )
care se poate pune sub forma diferenial:
d
f
f
f
dp1 dp 2 ... dp n .
p1
p 2
p n
Considernd variaiile infinit mici, prin divizare, din aceste dou

relaii se obine:
61
f
f
f
d
1
( dp1 dp2 ... dpn )

f ( p1 , p2 ,..., pn ) p1
p2
pn
(1)
Aceast prim expresie (1) permite determinarea deviaiei (erorii)

relative
parametrului
funcional
n funcie
de
variaiile
parametrilor fizici-tehnici.
Lund n considerare abaterile admisibile (strnse) ale acestor
parametri (fig.3.1):
p i = p i - p i ;
p i = p i - p i
ecuaia diferenial primar se poate pune sub forma

p1
p 2 ...
p n
p1
p 2
p n
(2)
ajungndu-se astfel la exprimarea deviaiilor medii ptratice:

2
2

2
p1
p
1
p 2

2
...
p2
p n
2

pn
(3)
Aceste trei relaii (1; 2; 3) pot fi utilizate n calcule, dac sunt

ndeplinite urmtoarele condiii:
- parametrii tehnici (p) sunt reciproc independeni;
- legea de distribuie a valorilor parametrilor considerai este
cea normal - gaussian;
- deviaia valorii parametrilor n cauz de la valoarea sa
nominal nu este o funcie aleatoare n timp.
Deci
rezult
c,
aceste
condiii,
valorile
medii
care
caracterizeaz centrele de grupare ale deviaiilor (fig.3.3) se adun

algebric, iar deviaiile medii ptratice, care caracterizeaz distribuia
abaterilor, se adun ptratic.
62
3.3. Studii de caz

Problema de baz n calculul variaiilor parametrice, la modul
general, se poate formula n felul urmator: fiind date, pentru fiecare
element (component de baz, subsistem etc.), valorile de probabilitate
ca fiecare parametru tehnic (p) s se afle ntre limitele de abatere
admisibile (fig.3.2), s se determine probabilitatea ca sistemul analizat
s fie n stare valid de bun funcionare. n acest scop, pe baza
relaiilor (1; 2; 3) stabilite n subcapitolul anterior, se vor exemplifica
unele cazuri de calcul
ntlnite frecvent la evaluarea parametrilor
Cazul 1. Dac dependena parametrului funcional de parametrii
tehnici (fig.3.1) se exprim prin relaia de nsumare:
pi p1 p2 pn ,
i 1
conform relaiei (2) se obine:

... ...
1 .
p1 p 2
p n
Considernd i relaia (3) rezult:
2 2p 2p ... ... 2p .
1
continuare,
dac
abaterile
admisibile
(relative)
sunt
caracterizate prin valori egale pentru deviaia medie ptratic ,

aplicnd relaia (1) se ajunge la expresia de calcul pentru deviaia
parametrului funcional considerat:
2

2 p2 p2 ... ... p2
1
2
n

63
Cazul 2.
n ipoteza c parametrii tehnici (p) sunt n relaie de
produs fa de parametrul funcional () considerat

n
pi p1 p2 ... ... pn ,
i 1
relaia (3) devine:

2 ( p1 p2 ... ... pn )2 2p ( p1 p2 ... ... pn )2 2p ... ... ( p1 p2 ... ... pn )2 2p
1
Diviznd aceast ultim relaie prin expresia 2 p12 p 22 ... ... p n2 ,

se obine n final relaia de calcul :
2
2
p1 p 2

p1 p 2
2
... ...
pn
p
n
Cazul 3. n situaiile n care abaterile parametrilor funcionali i

tehnici sunt caracterizate printr-o proporie egal (k) fa de deviaia
medie ptratic ():
p1
p2
pn
k ; p1 k
; p2 k
; ... ... ; pn k
,
p1
p2
pn
se obine relaia de calcul

2

2
p21 p22 ... ... pn
,

2
aceeai ca la cazul 1.
Cazul 4.
Dac influena parametrilor tehnici (p) asupra celor
funcionali ( , , , ... , ) este neuniform, se introduc coeficieni de

pondere (k 1 , k 2 , ..., k n ) prin care se exprim msura acestei influene
(n condiiile n care parametrii tehnici sunt reciproc independeni).
n acest caz relaia (2) mprit prin conduce la expresia:
64
p n
p
p 2
k1 1 k 2
... ... k n
.
p1
p2
pn
Trecnd de la deviaiile relative:

p
p1 p2
,
,
, ... ... , n ,
p1
p2
pn
la variaiile medii ptratice relative

, p1 , p 2 ,... ..., pn ,
se obine n final relaia de calcul:

2 ( k1 p1 )2 ( k 2 p2 )2 ... ...( k n pn )2 k12 2p1 k 22 2p2 ... ... k n2 2pn
Cazul 5.
n practic se pot ntlni i situaii caracterizate prin
existena unor influene reciproce ntre parametrii tehnici (p 1 , p 2 , ..., p n ).

Pentru aceasta, n calcule, este necesar s se introduc unele corecii
exprimate sub forma general
2ki / j ( ki pi ) ( k j p j ) ,
n care prin coeficientul k i / j este exprimat ponderat influena dintre
parametrii p i i p j .
Prin urmare, relaia (3) de calcul pentru abaterea medie ptratic, a
parametrului funcional , devine:
2 k12 2p1 k 22 2p2 ... ... k n2 2pn 2ki / j ( ki pi ) ( k j pj )
Alte cazuri. . n ncheierea problematicii cazurilor tratate, mai

trebuie precizate dou situaii care pot s apar n calcule practice de
fiabilitate funcional.
a) Dac
relaia de legtur
ntre
parametrii
funcionali
( , , , ... , ) i cei tehnici ( p 1 , p 2 , , p n ) apare sub form de diferen
65
sau raport (ct), calculele se efectueaz prin analogie cu cazurile nr.1

(diferen), respectiv nr.2 (raport).
b) Atunci cnd survin relaii mai complicate, ce nu pot fi tratate
prin soluiile expuse, se aplic integral relaiile generale (2; 3) pentru
calculul oricrui parametru funcional ( , , , ... , ) .
66
Capitolul 4
Indicatorii statistici i indicatorii
probabilistici ai fiabilitii
echipamentelor. Durata de via
4.1. Aspecte statistice

Analiza deteriorrii pe baza proprietilor i proceselor fizice i
chimice ale componentelor este extrem de la laborioas, iar evaluarea
fiabilitaii pe aceast cale comport un volum de ncercri experimentale
i de calcul excesiv de mare. Pentru acest motiv se recurge la o tratare
utiliznd metodele statisticii matematice si teoriei probabilitilor.
Astfel
aprut,
pn
prezent
s-a
generalizat,
conceptul
probabilistic al fiabilitii. n cadrul acestui concept se consider

defectrile ca fiind evenimente a cror apariie se determin cantitativ,
fra s intereseze cauzele singulare ale producerii lor. Disprnd
legtura dintre procesele fizice si chimice (cauz) i deteriorare (efect),
dispare i caracterul determinist al defectrilor. Caracterul aleatoriu
rezultat, prin aceasta, este justificat i de numrul ridicat al elementelor
de acelai tip ce exist n electronic, domeniu n care s-au iniiat i sau realizat cele mai avansate studii de fiabilitate.
Pentru definirea indicatorilor generali de fiabilitate, se presupune
c se efectueaz urmtoarea ncercare: unui lot n numr N, suficient de
mare, de condensatoare identice, li se aplic o tensiune E, n condiii
bine precizate de solicitare ale ambianei (fig. 4.1a).
67
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilitii echipamentelor. Durata de via
Dac se nregistreaz numrul de defectri produse n unitatea de

timp t (or, zi, lun, an etc.), se poate trasa histog rama frecvenei
statistice de repartiie a defectrilor, a crei expresie este:
f * (t)
unde
n( t )
t
n( t )
N t
(1)
este numrul de componente care s-au defectat n unitatea
de timp iar N este numrul total de componente supuse la ncercare.
C1
a)
CN
C2
f *(t)
b)
4,0
3,0
2,0
1,0
t
0
n0
0
n1
t1
n1
n2
n2
t2
n3
n3
c)
t3
Fig.4.1
Reprezentarea grafic a acestei funcii statistice (ce are dimensiunea unei frecvene) este redat prin linii continue in figura 4.1 b),
68
unde ordonata poate fi marcat, de exemplu, n procente sau promii, iar

abscisa n uniti de timp convenabil alese.
Echivalentul statistic al probabilitii de defectare, care se mai
numete i proporia defectrilor, se determin prin nsumarea valorilor
frecvenei de repartiie a defectrilor ntr-un anumit interval de timp
[0, t],
t
F * ( t ) f * ( t ) t
n( t ) n
N
N
(2)
unde s-a notat cu n numrul de componente care s-au defectat n

intervalul de timp [0, t] considerat (fig.4.1 c); se observ c acest
parametru este adimensional.
Rata (intensitatea) statistic de defectare reprezint o alt funcie
i are dimensiunea t - 1 (ca i frecvena de repartiie a defectrilor, cu
care se afl n strns dependen). Spre deosebire de funcia f*(t) ,
intensitatea de defectare se definete prin raportul dintre numrul de
elemente defectate n unitatea de timp i numrul de elemente rmase n
stare de funcionare (valide), la nceputul intervalului de timp examinat
(fig.4.1c),
z* (t )
n( t )
( N n )t
(3)
Echivalentul statistic al probabilitii de funcionare (funciei de

fiabilitate) se obine cu ajutorul raportului dintre frecvena de repartiie
a defectrilor i rata de defectare:
R* ( t )
f * (t ) N n
n
1 1 F * (t )
z* (t )
N
N
Prin analogie cu F*(t),
(4)
acest parametru exprim proporia
nedefectrilor i, deasemenea, nu are dimensiuni fizice.

69
Se observ c, n orice moment, mulimea de N elemente conine

dou submulimi: submulimea elementelor defectate, exprimat statistic
prin parametrul F*(t) i submulimea elementelor n stare de
funcionare, exprimat prin parametrul R*(t) . Prin urmare, defectarea si
buna funcionare reprezint dou evenimente contrarii, formnd o grup
complet de evenimente, care sunt independente ntre ele (defectare a
unui obiect nu influeneaz buna funcionare a celorlalte). Rezult c
parametrii R*(t) si F*(t) sunt mrimi complementare,
R*(t) + F*(t) = 1.
Media statistic a timpului de funcionare se obine cu ajutorul
funciei f*(t ):
m*
ti
i 1
f * (t i ) (t i - t i-1 ) [ore]
(5)
t i t i - 1 = t = const. i reprezint suma produselor dintre toate
unde
valorile timpului de apariie a defectrilor i frecvena de defectare,

corespunztoare acestor valori.
n afar de numr de ore (uniti de timp ) toi aceti indicatori pot
fi exprimai i prin numr de acionri, cicluri de funcionare, kilometri
parcuri etc. (mrimi care sunt n relaie direct cu timpul).
4.2. Indicatorii probabilistici

Dac numrul de elemente supuse la ncercare ( 4. 1 fig.4.1a)
este extrem de mare, iar intervalul de nregistrare statistic este extrem
de mic:
N ;
t 0 ,
atunci n relaiile stabilite anterior se poate face trecerea de la mrimile

statistice la mrimile probabilistice echivalente, obinndu-se astfel
expresiile indicatorilor generali de fiabilitate.
70
Densitatea de probabilitate a timpului de funcionare (frecvena

de repartiie a defectrilor) are expresia:
f (t )
1 dn
N dt
(1)
Reprezentarea sa grafic este redat n figura 4.1b) curba trasat

prin linie continu i reprezint repartiia continu a defectrilor n
timp. Se reine faptul c
aria nchis de curba f(t) i axa timpului
(pentru 0 t ), este egal cu unitatea :
f ( t )dt
1 dn
1
dt N 1
N 0 dt
N
Aceast proprietate se explic prin faptul c durata de via fiind finit

( 2.1 ), dup o durat de timp extrem de mare toate elementele se vor
defecta datorit deteriorrii (n timp, n N ) .
Probabilistic, acest indicator se definete ca fiind limita raportului
dintre probabilitatea de defectare n intervalul
[t, t+t] i mrimea
intervalului cnd t 0 :
f ( t ) lim
t 0
P ( t T t t)
.
t
Funcia de repartiie a timpului de funcionare (probabilitatea

de defectare) are expresia:
t
F ( t ) f ( t ) dt ,
0
(2)
fiind reprezentat grafic prin suprafaa [0, t 1 ] din figura 4.2.

Evident, acest indicator este exprimat printr-o funcie cresctoare
n timp, valoarea maxim posibil fiind egal cu unitatea [ 0 F ( t ) 1 ] .
71
Deoarece derivata acestuia n raport cu timpul este frecvena de

repartiie a defectrilor,
dF ( t )
f ( t ),
dt
rezult c
f(t)
reprezint densitatea de probabilitate a timpului de
funcionare.
f (t)
F(t)
0
R(t)
t1
Fig.4.2
Exprimarea probabilistic a funciei de repartiie a timpului de
funcionare se asociaz cu probabilitatea ca un element s se defecteze
n intervalul [0, t] :
F (t ) P(T t ) ,
sau ntr-un interval oarecare de timp [t 1 , t 2 ] :

t
F ( t ) 2 F ( t 2 ) F ( t1 ) P ( t1 T t 2 ) .
t1
Acest indicator mai poart denumirea i de funcie a nonfiabilitii.
Rata (intensitatea) de defectare , ca funcie continu, are expresia

z(t )
72
1 dn
,
N n dt
(3)
fiind definit probabilistic ca limita raportului dintre probabilitatea de

defectare n intervalul [t, t+t] , condiionat de buna funcionare n
intervalul [0, t] i mrimea intervalului t, cnd t 0 :
P ( t T t t | T t )
.
t
t 0
z ( t ) lim
Ca indicator mediu ntr-un interval oarecare [t 1 , t 2 ], acesta se

definete ca raportul dintre probabilitatea de defectare n acel interval,
condiionat de buna funcionare n intervalul [0, t 1 ] i mrimea
intervalului (t 2 - t 1 ) :
t
P( t1 T t 2 | T t1 )
z( t ) 2
.
t1
t 2 t1
Funcia de fiabilitate reprezint cel mai important indicator:

t
R ( t ) 1 F ( t ) 1 f ( t ) dt f ( t ) dt
deoarece
(4)
f ( t ) dt 1 .
Indicatorul R(t) poate fi reprezentat grafic prin suprafaa [t 1 , ]

f(t)
(fig.4.2), nchis de curba
ntre valorile t 1 i din abscis.
Valoarea sa este maxim (egal cu unitatea) pentru
t = 0 i scade n
raport cu timpul, tinznd spre zero:

[ 0 R( t )1 ] .
Prin urmare, funcia de fiabilitate se definete ca reprezentnd

probabilitatea ca un produs s funcioneze fr defectare n intervalul
[0, t], n condiii determinate:
R( t ) P(T t ) .
73
Aceast funcie are urmtoarele proprieti:

R(0) = 1, deoarece T >0 (eveniment sigur).
R(t) 0, dac
t , deoarece T > reprezint un eveniment
imposibil.
Media timpului de funcionare este dat de integrala improprie,
m
(5)
t f ( t ) dt
nlocuind funcia f(t) prin parametrul R(t) i integrnd prin pri,

se obin succesiv:
m t
0
dF ( t )
dt t dR ( t ) t R( t )
0
dt
0
deoarece
R( t ) dt R( t ) dt ,
0
lim t R (t) 0 .
Acest lucru se explic prin faptul c durata de via fiind finit (

2.1), toate elementele se defecteaz ntr-o durat de asemenea finit;
deci R(t) = 0, nainte ca t s devin infinit (n timp n N).
Spre a se preciza condiiile de definire a acestui indi cator, care
reprezint momentul de ordinul 1 al variabilei
aleatoare timp de
funcionare, n literatura de specialitate se ntlnesc urmtoarele trei

notaii:
- MTTF (valoarea medie a timpului de funcionare pn la
defectare n cazul
produselor nereparabile);
- MTFF (valoarea medie a timpului de funcionare pn la prima

defectare -
n cazul
produselor reparabile);
MTBF (valoarea medie a timpului de funcionare ntre dou
defectri succesive dac repararea poate fi asimilat cu nlocuirea).

n continuare se precizeaz i ali indicatori de fiabilitate, utilizai
mai puin n studiul fiabilitii funcionale n transporturi .
74
Dispersia timpului de funcionare reprezint momentul centrat de

ordinul 2 al timpului de funcionare:
D
(tm)
f ( t ) dt
[ ore 2 ]
Abaterea medie ptratic a timpului de funcionare este dat de

expresia,

Cuantila timpului de funcionare
tF
reprezint timpul n care
un produs funcioneaz cu o anumit probabilitate (1 F):

P (T t F ) = F
n
general,
la determinri
practice,
nu
sunt
cunoscui
toi
indicatorii de fiabilitate. Spre a reduce volumul de calcul, se recurge la

utilizarea unor relaii de legtur ntre aceti indicatori, relaii ce sunt
redate n tabelul de mai jos.
Frecvena de
1 repartiie
a defectrilor
f ( t )
2 Probabilitatea
de defectare
F ( t )1 R( t )1
3 Rata (intensitatea)
de defectare
z( t )
4 Funcia de
fiabilitate
R( t )1 F ( t )
Media timpului
5 de funcionare
m t f ( t ) dt [ 1 F ( t )] dt R ( t ) dt
dF ( t )
dR ( t )
z ( t ) R ( t ) z ( t ) [ 1 F ( t )]
dt
dt
f(t)
z( t )
dF ( t )
f(t )
1
1 dR ( t ) f ( t )
1 F ( t ) dt
R ( t ) dt
R( t ) 1 F ( t )
f(t)
z( t )
75
4.3. Modelarea matematic a duratei de via

Dac se determin experimental indicatorul z(t) pentru un numr
suficient de mare de elemente de acelai tip, pe toat durata lor de via,
se obine curba tipic din figura 4.3, avnd trei zone distincte cu privire
la proprietile fiabiliste.
z(t)
I
II
III
t
t1
Fig.4.3
t2
t3
Zona I este numit perioada iniial a duratei de via (T d ; 2.1

fig.2.1). n intervalul de timp
[0, t 1 ] are loc un proces de defectare,
imediat dup fabricare (inclusiv con trolul tehnic de calitate).

Valoarea relativ ridicat a intensitii de defectare se explic prin
faptul c la aplicarea sarcinii, elementele cu rezisten iniial scazut
se defecteaz ( 2.1). Aceste defecri iniiale sunt determinate,
ndeosebi, de greelile de fabricaie i au drept cauze principale
utilizarea unor
materii prime (semifabricate) necorespunztoare, sau
nclcarea regulilor tehnologice. Astfel, defeciunile ascunse scap

controlului final de uzin , dar nu intrzie s se manifeste ntr-un timp
relativ scurt, de regul sub forma unor deteriorri brute i totale din
cauze interne ( 2.2 ).
n cazul echipamentelor profesionale i n special la cele cu mare
rspundere funcional se aplic un rodaj, numit antrenament
artificial, care include mai multe faze: eliminarea elementelor cu
76
rezisten iniial redus, verificri pe subansamble, verificri n

condiii reale dup montaj etc. In acest rstimp, cnd nu se conteaz pe
aportul sistemului tehnic n desfaurarea procesului respecti v, este
instruit personalul care urmeaz s manevreze i s ntrein ulterior
echipamentele respective.
La echipamentele de tip neprofesional (de larg consum), perioada
iniial corespunde (de regul) perioadei de garanie, cnd reparaiile se
execut gratuit, castul lor fiind estimat anterior i inclus, bineneles, n
preul de vnzare.
Modelul matematic ce coresunde acestei prime etape iniial, a
duratei de via, este legea normal (Gauss), defectrile avnd o
distribuie normal trunchiat pe ramura descendent
f(t)
z(t)
a)
(fig.4.4 a).
R(t)
b)
c)
m0
Fig.4.4
Corespunztor acestei legi de repartiie, indicatorii de fiabilitate
sunt funcii de parametrii m i , avnd expresiile precizate n
continuare, conform relaiilor de definire ( 4.2).
- Densitatea de probabilitate a timpului de funcionare:
f ( t )
1
o 2
(t - m o
2 O2
- Funcia de repartiie a timpului de funcionare:

77
F ( t ) f ( t ) dt
o
( t m0 ) 2
2 02
o 2 o
dt .
- Rata (intensitatea) de defectare:
( t m0 ) 2
2 02
z( t )
( t m0 )
2 02
dt
- Funcia de fiabilitate:
R ( t ) f ( t ) dt
t
1
o 2
( t m0 )
2 02
dt
- Media timpului de funcionare:
m t f ( t ) dt mo
o
In figura 4.4 sunt reprezentai indicatorii f(t) , z(t) i R(t) pentru

parametrii m i de valoare constant (m 0 ; 0 ).
Zona II se numete perioad de baz (de utilizare, de maturitate fig.4.3) i corespunde intervalului normal de exploatare fiind, de regul,
comparabil cu durata de via. In acest interval de timp [t 1 , t 2 ], marea
majoritate a defectrilor sunt brute (in stantanee) i se datoresc unor
cauze externe (modificri brute ale condiiilor de sarcin sau de
ambian). Ca i n perioada precedent , defectrile au un caracter
ntmpltor, ns sunt mai rare, iar intensitatea lor este practic
constant; pentru acest motiv se aplic legea de repartiie exponenial.
Astfel, dac o component sau un echipament a u funcionat pn la
un anumit moment t, probabilitatea ca el s funcioneze n continuare
78
este aceeai ca i cum ar fi fost pus n funciune n momentul t (du p

rodaj). Rezult c dac acesta se afl n funciune n momentul t, nu are
nici o importan vrsta lui, adic valoarea timpului de func ionare
anterioar.
Repartiia
exponenial
corespunde
modelelor
de
defectare
complexe, cnd intensitatea global de defectare (n microstructur sau

n
macrostructur) este
concordan
acestei
constant.
repartiii,
Din
practic
ndeosebi
rezult
cazul
bun
produselor
electronice i al unor utilaje tehnologice complexe (cum sunt, de

exemplu, cele utilizate pentru reglarea circulaiei, respectiv navigaiei) .
Prin urmare n intervalul de timp [t 1 , t 2 ], distribuia defectrilor
este uniform, fiind caracterizat printr-o rat (intensitate) de defectare
constant: z(t) = = const.
innd seama de relaiile,
f ( t )
rezult :
d
d
F ( t ) R( t ) ;
dt
dt
R( t )
f(t )
,
f(t )
1 d
R( t )
R( t )
R ( t ) dt
Integrnd aceast ecuaie ntre limitele 0 si t, se obine:

t
ln R ( t ) dt ,
sau R ( t ) e
dt
0
Deoarece intensitatea defectrilor este constant, rezult :

e t pentru t 0
R( t )
1
pentru t 0
f ( t )
d t e t pentru t 0
e
dt
0
pentru t 0
79
1 e t pentru t 0
F ( t )
pentru t 0
0
m e t dt
0
n figura 4.5 sunt redate reprezentrile grafice ale intensitii de

defectare (a), funciei de fiabilitate respectiv funciei de nonfiabilitate
(b) i densitii de probabilitate a timpulu i de funcionare (c).
z(t)
1,0
1/m
f(t)
R(t)
F(t)
0,5
= const.
t
1-e
e- t
e- t
t
a)
- t
b)
t
c)
Fig.4.5
Zona III numit perioad de uzur (de imbtrnire): intensitatea
defectrilor crete datorit faptului c n structura elementelor apar
schimbri fizico-chimice importante, care conduc la variaii continue ale
unor parametri importani din punct de vedere funcional (intervalul [t 2 ,
t 3 ], fig.4.3). Defectrile care apar acum provin, mai ales, din deteriorri
lente (progresive - 2.2) i corespun d unei distribuii n timp
dup
legea normal-trunchiat, ramura ascendent (fig.4.4a).

ntruct aceste defectri
pot fi prevzute anterior, la sistemele
tehnice profesionale se aplic un program riguros de revizii (ntreinere

tehnic), avnd drept scop eliminarea i nlocuirea elementelor care
prezint semne de slbire. Dac aceste msuri cu caracter profilactic se
iau pe toat perioada de baz-II, se obine prelungirea duratei de via a
sistemului prin reparaii (2.2; fig 2.11 i 2.12).
De asemenea,n perioada de baz sunt nlocuite i elementele care
ating durata de via estimat (sau o durat i mai mic n cazul
80
sistemelor tehnice cu mare rspundere funcional), chiar dac nu

prezint semne evidente de uzur. Altfel spus, unele echipamente de tip
profesional, cu o ntreinere tehnic mentenan de calitate se bucur
de tineree fr batrnee (fig.4.6), parcurgnd succesiv etapele de
baz II II II II etc.
z (t)
II
II
II
II
t3
t2
t1
Fig. 4.6
Totui durata de via este limitat, chiar i n aceste condiii , din
dou motive principale:
rennoirea parial repetat
conduce la o scdere general a
fiabilitii pe sistem, uzura fiind progresiv i cumulativ;

apariia unor noi echipamente moderne cu performane tehnice i
economice
superioare
raport
cu
costul
lor,
impune
implementarea acestora, elaborate recent, prin nlocuirea celor

de generaie tehnologic anterioar.
4.4. Date primare de fiabilitate

4.4.1. Consideraii generale
Indiferent de categoria fiabilitii (previzional, nominal sau de
mentenan - 1.1.1), calculele efectuate pentru evaluare trebuie s
nceap cu stabilirea datelor primare, date care conin informaia de
baz cu privire la comportarea diferitelor componente de echipament,
81
care intr n structurile fiabiliste respective. Deoarece ntre procesul de

uzur si momentul defectrii nu se poate stabili o relaie determinist
(1.1.2) datele primare se obin pe cale statistic, urmnd a fi utilizate
n calcule probabiliste.
Pe
de
alt
parte,
timpul
funcionrii,
componentele
de
echipament sunt supuse unor multitudini de factori care, n domeniul

transporturilor, au limite de variaie parametric extrem de largi
(problematic tratat pe larg n capitolul 3) ; prin aceasta, pe lng
informaia de provenien statistic, este necesar ca specialistul de
proces
pe baza experienei sale inginereti, s
contribuie cu
competen la completarea acestei informaii primare spre a se obine

date cu valori ct mai apropiate de cele reale. n unele situaii acest
aport tehnic poate cpta i un caracter euristic util.
O
alt
dificultate,
caracteristic
proceselor
de
circulaie
navigaie, o constituie faptul c regimul de solicitare al echipamentelor

deci i al componentelor, se desfoar n mod continuu dar mai
ales, n mod discontinuu : echipamentele de bord ale vehiculelor
(rutiere, feroviare, naval e, aeriene, spaiale) sunt supuse, pe durata
deplasrii lor, unor solicitri extrem de variate, n funcie de etapa de
circulaie / navigaie.
Spre a lua n considerare acest aspect, n calcule, se introduce un
factor temporal numit timp relativ de funcionare T r :
Tr
T fe
T
[ 0 ,1 ]
unde cu T f e se noteaz durata de funcionare efectiv a echipamentului

n cauz, iar cu T durata total pentru care se efectueaz calculele de
fiabilitate. Limitele valorice ale acestui factor adime nsional sunt zero
82
(de exemplu, n timpul unor depozitri, reparaii capitale etc.) sau egale
cu unitatea atunci cnd funcionarea este continu permanent, n tot
intervalul de timp T considerat n calcule.
Totodat echipamentele de dirijare a circulaiei / navigaiei fac
parte din categoria cu mare rspundere funcional ; aceasta impune
tratarea fiabilitii lor (din punct de vedere funcional) pe durata
normal de via (4.3). Prin urmare indicatorul caracteristic pentru
calcule este :
z(t)= =const .,
iar repartiia timpului de funcionare corespunde legii exponenial
negativ (fig. 4.5).
Valorile nominale ale parametrului de calcul 0 , pentru fiecare tip
de component a echipamentului (rezistor, diod, tranzistor, circuit
integrat etc.), se obi n ndeosebi prin :
- ncercri de fiabilitate (normale sau accelerate) ;
- date
statistice
privind
comportarea
exploatare
(pentru
componentele respective) ;
- echivalri valorice de parametru
componente
cu
date
prin similitudine fizic ntre
fiabiliste
cunoscute
(de
generaie
tehnologic mai veche sau mai des ntlnite n practic) i

componente mai puin cunoscute pentru care, n literatura de
specialitate, nu se gsesc date suficiente.
4.4.2. Solicitri n microambian

Ansamblul structurat de componente care formeaz un bloc
funcional (aparat, instalaie etc.) este totdeauna amplasat ntr -un corp
de protecie (carcas, pichet, dulap metalic etc.). Realizarea acestuia, la
proiectare si fabricaie, este astfel fcut nct s asigure un anumit
83
regim fizic de funcionare ; prin aceasta sunt obinute anumite limite de

solicitare intern asupra componentelor coninute.
n
cazul
echipamentelor
electrice
electronice
solicitrile
principale sunt de natur electric i se gsesc n microambiana proprie

sub form de cureni, tensiuni si puteri electrice, inclusiv disipaie de
cldur.
Solicitrile de acest tip au, n general, un caracter util deoarece
sunt inerente proceselor fizice n cauz, constituind latura lor intrinsec.
Pentru a se ine seam de uzura introdus prin aceste solicitri se
definete, la nivelul componentei n cauz, factorul de solicitare
electric n microambian k s (adimensional) :
S
ks r ;
So
S r fiind solicitarea ncrcarea real, iar S 0 solicitarea ncrcarea

nominal (precizat n catalogul de produs).
n funcie de valorile acestui coeficient se definesc trei regimuri de
solicitare :
k s < 1 : regim descrcat ;
k s = 1 : regim nominal ;
k s > 1 : regim ncrcat.
Pentru echipamentele de tip profesional i mai ales pentru cele
cu mare rspundere funcional, regimul de solicitare trebuie s fie
descrcat (k s < 1), la valori cu att mai mici cu ct funciunile n care
sunt implicate (componentele respective) sunt mai important e.
Analiznd modurile concrete de solicitare electric, pentru fiecare
component, se va stabili expresia coeficientului k s avndu-se n vedere
solicitarea care produce uzura maxim i care, n consecint conduce
84
mai
repede
la
momentul
defectrii
(2.2
fig.
2.6).
Pentru
exemplificare, n tabela 4.1 sunt redate aceste expresii pentru unele

componente ntlnite curent n echipamentele de dirijare a circulaiei /
navigaiei.
Tipul componentei
Rezistor
Condensator
Diod redresoare
Diod
electroluminiscent
Diod Zenner
Tab. 4.1
ks = Sr / S0
Pr / P0
Ur / U0
Ir dir / I0 dir
Ur inv / U0 inv
Tranzistor
Bec cu incandescen
Conector simplu
Transformator
Ir / I0
Ir /
Irc /
Urc /
Prc /
Pr /
Ir /
Pr /
I0
Ioc
Uoc
Poc
P0
I0
P0
Notaiile folosite sunt :

S r , S 0 solicitarea real, respectiv nominal ;
P r puterea electric real aplicat ;
P 0 puterea electric nominal (de catalog) ;
U r tensiunea electric real aplicat ;
U 0 tensiunea electric nominal ;
Ir
dir,
Ur
I0
i nv,
dir
U0
curentul mediu direct real, respectiv direct nominal ;

inv
tensiunea invers real, aplicat, respectiv
nominal ;
I r , I 0 curentul real aplicat, respectiv nominal ;
I r c , I o c curentul de colector real aplicat, respectiv nominal ;
U r c , U o c tensiunea real aplicat colector emitor, respectiv
nominal ;
P r c , P o c puterea electric real disipat, respectiv nominal.
85
Atunci cnd se determin valoarea factorului k s este necesar s se

considere modul de solicitare cel mai defavorabil pentru component :
n curent, n tensiune sau n putere. De asemenea, pentru oricare alt tip
de component, care nu se afl n tabela 4.1, valoarea factorului de
solicitare electric n microambian se va stabili n aceeai modalitate
i anume, pentru parametrul cel mai defavorabil (din punct de vedere
fiabilist).
Dup determinarea valorii factorului k s se trece la stabilirea valorii
unui factor de calcul pentru microambian :
= f(k s ),
factor care este cu att mai apropiat valoric de k s cu ct acesta din urm
se apropie mai mult de unitate (solicitri electrice mai mari).
n tabela 4.2, spre exemplificare, este redat aceast dependen
pentru tranzistoare i care este, n general, caracteristic d ispozitivelor
semiconductoare.
k s =I r c / I o c
0,125
0,250
0,375
0,500
0,675
Tab. 4.2
0,750 0,800
= f(k s )
0,100
0,120
0,160
0,240
0,360
0,615
0,775
Mai trebuie precizat c la stabilirea acestei dependene intervine i

competena euristic inginereasc ; zon interioar mai cald sau mai
rece, umiditate mai ridicat sau mai sczut etc.
n toate situaiile practice ntlnite este valabil relaia de
dependen :
ks.
86
n final, pentru determinarea valorii de calcul a intensitii (ratei)

defectrilor, pentru solicitri (reale) n microambian e , se suprapun
cele dou efecte ale regimului de solicitare, electric i temporal :
e = 0 T r e [defectri/h]
unde 0 este valoarea nominal (de catalog, n cazurile extrem de rare
cnd este precizat), iar T r e reprezint timpul relativ de funcionare
pentru solicitri electrice n microambian.
Din motive obiective sau subiective, n cataloagele de productor
nu sunt precizate (pe lng alte valori parametrice) valorile par ametrului
0 ; aceast lips este justificat, n primul rnd, de faptul c evoluia
tehnologiei de fabricaie este extrem de rapid, iar ncercrile de
fiabilitate respective necesit durate relativ mari i costuri care nu sunt
neglijabile.
Pentru calcule curente de fiabilitate, parametrul 0 se stabilete
utiliznd intervalul de confiden (ncredere), expus n subcapitolul 2.2
(fig. 2.9b). n acest mod se stabilesc limite inferioar sau superioar,
respectiv valori mini me sau maxime, ntre care se afl valorile
respective.
O metod practic cu bune rezultate, pentru obinerea valorilor 0 ,
este aceea a comparaiei (din punct de vedere fiabilist ) a oricrei
componente
cu
rezistoarele
chimice.
Deoarece,
echipamentele
electronice, aceste rezistoare au cea mai larg rspndire informaia

despre comportarea lor este mai uor de obinut. Aplicnd metoda
coeficienilor de comparaie (k i ) se exprim intensitile de defectare
nominale o i ale diferitelor componente n raport cu intensitatea
nominal o R a rezistoarelor :
ki = 0i / 0R,
i fiind indice de rang.
87
Pentru rezistoarele de tip profesional valoarea recomandat este :

0 R = 0,0310 - 6 [buc./h],
aceast valoare fiind ncadrat n plaja de valori dintre cea minim i
cea maxim.
n tabela 4.3 sunt redate limitele domeniilor de valori pentru
coeficientul de comparaie k i , ca i pentru intensitatea (rata de
defectare) nominal :
o i = k i 0 R [10 - 6 h - 1 ].
Spre a uura cutarea de date, denumirile componentelor cele
mai des utilizate n cadrul echipamentelor de telecomenzi i electronic
n transporturi, sunt precizate n ordine alfabetic, iar indicele de rang i
are valori cuprinse ntre 1 i 54 inclusiv.
Pentru conexiuni clasice cu conductoare metalice, monofilare sau
liate, se consider c intensitatea de defectare este practic nul ;
influena lor fiabilist este inclus prin capete la suduri cu fludor,
conectori etc.
Nr.
crt.
Denumirile componentelor
Acumulatori electrici de capacitate
mic
max.
Tab. 4.3
o i [x 10 - 6 h - 1 ]
min. max.
2,10
5,20
0,063
0,156
min.
ki
Ampermetre magnetoelectrice
4,00
20,00
0,120
0,600
Amplificatori magnetici
6,30
10,80
0,189
0,324
14,70 20,50
0,441
0,615
Ansamble mecanice cinematice

simple
Bobine de nivel mic
1,10
1,50
0,033
0,045
Circuite imprimate (1 dm 2 )
1,20
2,40
0,036
0,072
Circuite integrate de complexitate

medie
Circuite integrate simple
8,20
12,10
0,246
0,363
2,50
3,30
0,075
0,099
8
88
Comutatori
5,20
9,40
0,156
0,282
10
Condensatori ceramici
0,33
2,70
0,001
0,081
11
Condensatori cu hrtie
0,33
3,20
0,001
0,096
12
Condensatori cu 4 borne
0,20
2,05
0,006
0,062
13
Condensatori electrolitici
0,58
5,33
0,018
0,160
14
Condensatori semireglabili (trim eri)
0,52
4,80
0,016
0,144
15
0,117
0,263
16
Condensatori variabili cu dielectric 3,90 8,75

aer
Conectori de putere
10,70 15,30
0,321
0,459
17
Conectori multipli
5,20
9,40
0,156
0,282
18
Conectori simpli de nivel mic
3,80
7,40
0,114
0,222
19
Conexiuni prin wrapare
0,02
0,04
0,001
0,002
20
Contactori termobimetal
3,66
8,50
0,110
0,255
21
Contactori uzuali
3,33
8,62
0,100
0,259
22
Cuple electrice de putere
10,70 15,30
0,321
0,459
23
Diode de nivel mic
1,50
3,10
0,045
0,093
24
Diode de putere
11,70 15,40
0,351
0,462
25
Diode Zenner
6,48
11,20
0,195
0,336
26
Electromotoare de mic putere
17,22 22,00
0,517
0,660
27
1,20
6,20
0,036
0,186
28
Lmpi cu incandescen pentru

semnalizare
Microcomutatori
3,00
12,80
0,090
0,384
29
Poteniometri bobinai reglabili
12,80 23,50
0,384
0,705
30
Poteniometri cu pelicul de carbon
7,20
12,00
0,216
0,360
31
Relee miniatur
1,80
8,33
0,054
0,250
32
Relee Reed
1,23
2,42
0,037
0,073
33
Relee speciale
0,23
0,40
0,007
0,012
34
Relee termice
4,00
23,60
0,120
0,708
35
Relee uzuale
3,30
5,50
0,099
0,165
36
Rezistori bobinai fici
0,66
2,61
0,020
0,079
89
37
Rezistori bobinai reglabili
12,80 23,50
0,384
0,705
38
Rezistori cu 4 borne
0,15
1,95
0,005
0,059
39
0,50
1,50
0,015
0,045
40
Rezistori cu pelicul de carbon

(chimici)
Rezistori metalici
0,30
1,33
0,009
0,040
41
Selsine
3,00
17,80
0,090
0,534
42
Servomotoare de mic putere
3,33
33,30
0,100
0,999
43
Sigurane fuzibile
1,05
4,90
0,032
0,147
44
Socluri simple
3,80
7,40
0,114
0,222
45
Suduri cu fludor
0,20
0,30
0,006
0,009
46
Tahometri
8,33
17,10
0,250
0,513
47
Termistori
5,80
12,62
0,174
0,379
48
Tiristori
2,30
9,75
0,069
0,293
49
Transformatori de impulsuri
6,30
10,80
0,189
0,324
50
Transformatori de nivel mic
1,10
1,50
0,033
0,045
51
Tranzistori de nivel mic
1,50
3,10
0,045
0,093
52
Tranzistori de putere
11,70 15,40
0,351
0,462
53
Tuburi electronice speciale
18,30 26,60
0,549
0,798
54
Voltmetre electromagnetice
4,00
0,120
0,600
20,00
n vederea stabilirii valorii indicatorului o i pentru circuite

integrate, cu structuri orict de dezvoltate, se recomand urmtoarea
metod:
a) se analizeaz schema electric detaliat a circuitului integrat n
cauz (din catalog);
b) se face o echivalare cantitativ n structuri elementare de circuit
basculant simplu sau poart logic, bazate pe 2 tranzistoare cu
componentele aferente;
90
c) se multiplic intensitatea (rata) de defectare a unui astfel de

circuit elementar cu numarul N de circuite elementareconinute
(echivalente):
0 CI N 0 i , unde
0 i = (0,075 ~ 0,099)10 - 6 h - 1 ,
valori ce se gsesc la nr. crt. 8 din tabela 4.3.
n fapt, prin aceast metod, datele obinute vor conduce la o
fiabilitate mai sczut fa de cea real; pentru calcule curente este
suficient deoarece, astfel, se verific faptul c nivelul de fiabilitate
obinut este superior unui anumit grad necesar minim obligatoriu
(atestarea fiabilitii, 1.1.2).
O alt metod, mai puin laborioas dar i cu rezultate avnd erori
mai mari, al cror sens nu se poate cunoate, pleac de la faptul c
circuitele integrate moderne, ndeosebi cele de tipul LSI (Large Scale
Integration) pot fi considerate ca avnd o intensitate (rat) a defectrii
inferioar cu trei ordine de mrime fa de aceeai structur de
echipament care este realizat cu componente discrete (CD):
0CI 10 3 0CD ;
valorile indicatorului 0 C D se obin prin calcul pentru schema de

fiabilitate care ar fi realizat n mod clasic numai cu componente
discrete.
Mai este necesar s se rein faptul c dac, n structura circuitului
integrat respectiv, exist redundan (cap. 5), ace asta va fi redus prin
calcul fiabilist la o structur echivalent neredundant (pentru care
intensitile de defectare, pe durata normal de via, se nsumeaz).
91
4.4.3. Solicitri n ambian

Aceste solicitri sunt extrem de dure i - n transporturi manifest la scar global
se
( 1.1.1 fig. 1.1). Pentru evaluarea lor s-
au efectuat i se fac, n continuare, studii dedicate diferitelor ramuri de

transport n funcie de tipul de ambian n cadrul creia se deplaseaz
vehiculele, respectiv navele.
Metoda unitar, care cuprinde practic toate situaiile reprezentative
de calcul, pleac de la o valoare de referin pentru ambian, egal cu
unitatea, i care reprezint ambiana existent n ncperi amenajate,
unde
desfoar
activitatea
operatori
umani;
majoritatea
echipamentelor funcioneaz n astfel de condiii, motiv pentru care

informaia necesar stabilirii datelor de fiabilitate este mai uor de
obinut, iar erorile sunt minime. Se poate observa c acest procedeu este
similar celui utilizat pentru microambian, acolo rezistorul fiind
element de referin (4.4.2).
Pentru calcule fiabiliste, considernd solicitrile care provin din
ambian, se introduce un coeficient de calcul a crui valoare este
determinat de raportul dintre intensitatea de solicitare concret (real)
a a ambianei i cea de referin (n ncperi amenajate) 1 :
j = aj / 1,
j fiind variabila de rang.
Valorile parametrului de calcul j , n funcie de tipul ambianei a j ,
sunt redate n tabela 4.4, valori care exprim solicitarea relativ la
fiecare tip de ambian n raport cu solicitarea de referin a 1 .
Tab. 4.4
92
Ambian - a j
a1
a2
a3
a4
a5
Coeficient de calcul - j
16
28
36
50
a6
a7
a8
140 280 700
Ambian a 1 : echipament interior n ncperi amenajate unde

temperatura, umiditatea i ceilali factori climatici sunt specifici
operatorilor umani ; aceste condiii exist i la bordul unui vehicul
/ nav n cabin / habitaclu de conducere pe durata de staionare.
Ambian a 2 : echipament exterior la sol montat n dulapuri sau
cofrete, amplasate n lungul arterelor rutiere sau feroviare, pe
aeroporturi etc. n acest caz solicitarea se manifest i periodic
anual temperatur i umiditate, variaiile corespunznd unui
model sinusoidal ( 2.2, fig. 2.8b) : primvar, var, toamn,
iarn. Este evident faptul c, n cadrul acestui model sinusoidal,
sunt excluse abaterile climatice intempestive care, de altfel, nu au
o importan statistic (de exemplu pe un interval de 100 ani).
Ambian a 3 : echipament maritim amplasat pe nave. Solicitarea
este complex astfel c pe lng factorii de la tipul precedent (a 2 )
mai acioneaz i coroziunile (cea salin), ocuri, vibraii, poziii
nclinate etc.
Ambian
a4 :
echipament
la
bordul
vehiculelor
rutiere.
Solicitrile mai importante, n afara celor termice i hidrologice,

sunt datorate ocurilor i vibraiilor, rulrii pe teren accidentat,
virajelor strnse, accelerrilor sau frnrilor brute, coroziunilor
etc.
Ambian a 5 : echipamente la bordul vehiculelor feroviare, mai
ales pe vehicule motor : locomotive, automotoare, drezine
motor. Fa de unele solicitri specifice ambianelor precedente
(a 3 , a 4 )
care se menin sau se amplific, pe cile ferate cu
traciune electric mai intervin i solicitri electrice n salt ( 2.2,

fig. 2.8a).
93
Ambian a 6 : echipamente la bordul avioanelor. Factorii de

solicitare
aspresc
ambiental
mult,
iar
(prezeni
pericolul
ambianele
electric
crete
precedente) se
prin
descrcri
atmosferice care pot afecta buna funcionare a echipamentului n

timpul zborului.
Ambian a 7 : echipament la bordul rachetelor telecomandate. n
mod evident solicitrile depesc, n acest caz, pe toate cele
existente la bordul avioanelor.
Ambian a 8 : echipament la bordul rachetelor puternice moderne ;
solicitrile sunt cele mai intense dintre toate tipurile de ambian
enumerate.
Spre a ilustra, pentru ara noastr, condiiile de solicitare termic
i de umiditate, n tabela 4.5 sunt reproduse limitele statistice
corespunztoare celor 8 tipuri de ambian.
n acelai timp trebuie nvederat faptul c delimitrile valorice nu
sunt absolute pentru parametrii caracteristici unor anumite solicitri din
ambian sau din microambian. Astfel de exemplu, ntre transportul
feroviar de suprafa (cale ferat propriu -zis) i cel feroviar subteran
(metrou) exist i unele deosebiri eseniale : n tunelul subteran
solicitrile ambientale sunt, n general, mult reduse, unele dintre ele
chiar n totalitate. n primul rnd metroul dispune de un t eritoriu propriu
de organizare a procesului de transport, iar factorii perturbatori meteo,
practic, nu exist : cea, ninsori abundente, zpad, ploi toreniale etc.
Totodat, la metrou, vehiculele sunt practic uniforme, iar reeaua
feroviar este mult mai simpl.
Aceste particulariti se traduc prin valori statistice mici cu privire
la accidentele de circulaie produse, metroul fiind cel mai sigur mijloc
de transport.
94
Tabela 4.5
Ambian a j
Temperatur
ambiant ( o C)
Umiditate
relativ (%)
0
-20 -30 -30 -20 -40
-45
-50
+25 +50 +50 +80 +70 +100 +110 +190
10 15 20 15 15
5
5
0
40 85 100 100 100 90
70
75
Dispunnd de valorile factorului pentru solicitri n ambian se

trece la calculul intensitii (ratei) de defectare ce corespunde tipului de
ambian n cauz :
aj = j 1 = j0,
deoarece n condiiile nominale (normale) de funcionare, intensitatea de
defectare are valoarea prescris de productor :
1 = 0.
Dar,
ntr-o
anumit
ambian,
echipamentele
pot
funciona
continuu permanent sau discontinuu : vehicule n staii sau pe parcurs,

regim de interaciune sol bord etc. Introducnd timpul relativ de
funcionare (T r - 4.4.1) se obine pentru ambian :
a = 0 Tra,
T r a fiind timpul relativ de funcionare cu solicitri specifice de
ambian, iar 0 valoarea intensitii (ratei) de defectare nominale (
4.4.2, tab. 4.3).
4.4.4. Solicitri combinate

n general, pe timpul funcionrii echipamentului, componentele
sale suport att solicitri n microambian interioare ct i n
ambian exterioare. Prin suprapunerea celor dou efecte se obine
efectul solicitrii totale, att electric ( e ) ct i ambiental ( a ) :
95
= e + a = 0 T r e + 0 T r a = 0 ( T r e + T r a ).
n transporturi cazul general corespunde, prin natura procesului,
situaiei n care echipamentul trece prin etape diferite de solicitare,
electric dar i de ambian, cu ponderi corespunztoare de la o etap la
alta ; funcionarea i deci solicitarea poate fi intermitent periodic
sau neperiodic :
1 = 0 ( 1 Tre1 + 1 Tra1 )
2 = 0 ( 2 Tre2 + 2 Tra2 )
..................................
n = 0 ( n Tren + n Tran )
Rezult c ntr-un anumit interval de timp (n valoare maxim egal
cu durata de via - 4.3), pentru valoarea intensitii (ratei) totale de
defectare se obine :
t
k 0
k 1
( k Trek k Trak ) 0
k 1
( Tre Tra )k ,
k 1
unde k reprezint variabila de rang. n acest mod se ine seam , n

calcul, de ntreg fenomenul de solicitare asupra componentelor de
echipament ( 2.1 fig. 2.2 i 2.2 fig. 2.11 i 2.12), iar datele
primare luate n calcul vor fi cele reale.
Procednd astfel se pot corecta unele aproximri grosiere n
calcule de fiabilitate clasic, considerndu-se un singur mod de uzur
(defectare)
pe
sistem,
indiferent
de
gradul
de
solicitare
(n
microambian i n ambian), iar funcionarea ca fiind permanent

fr ntrerupere.
De asemenea,
spre
deosebire de fiabilitatea funcional,
fiabilitatea clasic nu se face nicio deosebire ntre rspunsurile false i

cele eronate, ambele fiind caracterizate la fel de necorecte fr
discriminare.
96
Capitolul 5
Structuri / sisteme de fiabilitate
5.1. Schema structural pentru sisteme

neredundante
Dac un sistem tehnic conine, n structura sa, numai elementele
strict necesare pentru o bun funcionare, acest sistem este numit
neredundant (din punct de vedere fiabilist ).
Un astfel de sistem se gsete n stare de bun funcionare pn la
prima apariie a uneia sau mai multor defectri, categoric simultane,
cnd sistemul nu mai poate ndeplini una sau mai multe dintre
funciunile prevzute.
Prin urmare, pentru durata de funcionare nu intereseaz efectul de
defectare n avalan ( 2.1), care influeneaz rennoirea ( 1.1.2).
n
consecin
apariia
defectrilor
reprezint
evenimente
independente i compatibile; primul element care se defecteaz nu este

influenat de defectarea celorlalte, iar defectarea acestuia nu exclude
defectarea simultan sau ulterioar a altora ( 2.2).
Pe de alt parte, transferul corect al mrimii (sau mrimilor)
fizice, importante din punct de vedere funcional, este condiionat de
funcionarea tuturor elementelor componente, dac n sistem nu exist
elemente de rezerv (sistem neredundant).
Notnd cu V starea valid a sistemului i cu c starea valid a
componentei respective, rezult relaia logic:
97
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
V c1 c 2 ... c j ... c s
n care c j este starea valid a componentei (elementului) de rang j, iar s

reprezint numrul total de componente (elemente) ale sistemului. Prin
urmare, funcia de fiabilitate corespunztoare va fi:
R(t) = R 1 (t) R 2 (t) R j (t) R s (t),
prin R 1 , R 2 , ... , R s notndu-se funciile de fiabilitate ( 4.2) ale elemen telor de rang 1, 2 etc.
a)
(i)
b)
(e)
1
Fig.5.1
Din punct de vedere fiabilist, acestei situaii i corespunde schema
structural (model structural - 1.1.2) de tip serie (f ig. 5.1a), la care
corespunde graful de fiabilitate redat n figura 5.1b. Astfel se nelege
c elementele sistemului sunt conectate ntre ele n serie din punct de
vedere funcional asigurnd validitatea V ntregului sistem prin starea
de funcionare a fiecrui element, realizndu-se astfel transferul necesar
de flux funcional, simbolizat prin cele dou sgei, la intrare i i la
ieire e (fig. 1.4 - 1.2.1); aceasta indiferent de structura schemei
electrice, cinematice etc.
Notnd cu RS funcia de fiabilitate pentru structuri de tip serie (S)
se poate scrie relaia general:
s
Rs (t) R j (t),
j 1
iar pentru s elemente identice:

98
R s (t) = R s (t)
Din aceste expresii se observ c:
funcia de fiabilitate R s (t) are o valoare cu att mai mic cu ct
numrul de componente s este mai mare;
indicatorul R s (t) are ntotdeauna o valoare mai mic dect
oricare indicator parial (R 1 , R 2 etc.);
indicatorul R s (t) este cu att mai mare cu ct sunt mai mari
valorile indicatorilor pariali (R 1 , R 2 etc.).
Pentru funcia de repartiie a timpului de funcionare rezult
expresia (pentru simplificarea scrierii,
nu se mai
precizeaz
indicatorii R i F sunt funcii de timp, subnelegndu-se acest lucru):

Fs 1 Rs 1
Rj
j 1
(1 F j ),
j 1
iar pentru elemente identice

F s' 1 (1 F) s
Dac valorile pariale ale indicatorului F sunt suficient de mici,

prin dezvoltarea termenului F S i neglijnd termenii de ordin superior,
rezult
Fs
Fj
j 1
respectiv Fs' sF pentru elemente identice

(F 1 = F 2 = ... = F j = ... = F s = F).
n perioada de baz, cnd se aplic legea exponenial negativ de
repartiie ( = const. - 4.3), expresia funciei de fiabilitate devine:
Rs (t)
e
j 1
j t
jt
e j 1
e S t
99
respectiv pentru elemente identice,

R' S ( t ) e s t e S t
Prin urmare, n acest caz, sistemul care corespunde unei structuri

serie de fiabilitate se comport n timp ca un singur element caracterizat
printr-o intensitate de defectare, de asemenea constant i care este
egal cu suma intensitilor de defectare pariale:
S = 1 + 2 +...+ s ;
S s
Pentru media timpului de funcionare rezult:
m RS (t) dt e S t dt
0
1
s
j 1
iar dac elementele sunt identice:

m' 1/s 1/'S .
Acest indicator este meninut, pe ct posibil, la o valoare ridicat

i constant n sistemele profesionale, prin msuri profilactice care se
iau n cadrul programului de ntreinere tehnic.
Dar, indiferent de tipul reparaiei (dac are un caracter profilactic
sau de intervenie la deranjament), aceasta introduce o discontinuitate n
variaia exponenial a indicatorului R S (t) , situaie ilustrat n figura
5.2. Aceast discontinuitate apare deoarece n momentele t 1 , t 2 etc.
sistemul reintr n funcionare cu o valoare apropiat de valoarea
iniial
R(0) = 1. Pentru acest motiv, funcia R S (t) variaz continuu
(i exponenial) numai n intervalele de timp dintre dou reparaii

succesive ( 2.2; fig. 2.11); nivelul minim admis R m i n al fiabilitii
globale poate fi cu att mai sczut cu ct rspunderea funcional este
mai redus n cadrul sistemului.
100

RS(t
)
1,0
Rmin
0
t1
t2
t3
Fig. 5.2
Dac durata de reparare este comparabil cu media timpului de
funcionare, variaia indicatorului R S (t) este de asemenea exponenial,
cu ntreruperile T 1 , T 2 etc. (fig. 2.12 - 2.2).
n ncheiere, cu privire la structurile fiabiliste de tip serie, trebuie
reinut clar faptul c fluxul funcional este ntrerupt la apariia primei
defectri:
trecerea sistemului din starea de bun funcionare valid
(V) n stare defect ( V ) este efectul primei defectri; defectrile

ulterioare, indiferent de modul n care se produc, nu mai pot influena
funcionalitatea sistemului, acesta rmnnd n continuare n aceeai
stare nevalid V .
n cazul sistemelor complexe polifuncionale ( 1.2.1), va exista
cte o schem de tip serie pentru fiecare funciune n parte (fig. 1.4 -
1.2.1).
Mai este de precizat faptul c stabilirea schemei fiabiliste trebuie
s se fac la nivelul de sistem la care se definete funciunea n cauz.
De exemplu, la nivelul unei simple diode, schema serie va conine, n
analiz general, trei elemente n serie: terminal I jonciune pn (np)
terminal II. Dar sunt implicate (funcio nal) i sudurile cu fludor (sau
conexiunile prin wrapare, borne cu urub etc.) ale celor dou terminale
n circuitul aferent, astfel c schema serie se dezvolt la 5 elemente:
sudur I terminal I jonciune pn (np) terminal II sudur II.
101
Aceast
schem
se
poate
realiza,
analog,
la
oricare
alt
component de echipament pasiv sau activ:

de tip uniport (dipol): rezistori, condensatori, bobine etc.;
de tip diport (cuadripol): tiristori, transformatori, filtre, circuite
integrate etc.
Dac este necesar analiza se va face la nivel de macrosistem: de
exemplu, un amplificator va avea ca elemente, n schema structural
serie de fiabilitate, circuitul de alimentare, etajele de semnal la nivel
mic, nivel mediu, nivel mare de putere etc.
La un sistem complex, elementele serie vor reprezenta ele nsele
sisteme mai simple subsisteme. n cazul unui sistem de calcul
monofuncional, la nivel macroscopic, aceste elemente vor fi: unitatea
central de procesare memoria unitatea de intrare unitatea de ieire
magistralele de adrese, de date, de control i bineneles blocul de
electroalimentare.
n fine, dac ne referim la structura neredundant a unui sistem
spaial de navigaie, schema serie va conine satelii artificiali, centre de
urmrire i control la sol, staii de transmitere a datelor la satelii,
centre de calcul, utilizatori.
5.2. Schema structural pentru sisteme

redundante
Un sistem tehnic caracterizat prin redundan fiabilist ( 1.1.2)
conine n structura sa de echipament i ele mente care nu contribuie, n
mod direct, la realizarea funciunilor sistemului.
Din punct de vedere strict funcional, aceste elemente ar putea
lipsi; totui componentele redundante au un caracter util (din punct de
vedere funcional), iar existena lor r eprezint principala difereniere
fa de sistemele neredundante.
102
Pentru a ilustra electric aceast proprietate fiabilist, n figura 5.3a

este redat un grup de dou condensatoare, conectate n serie, avnd rolul
de a separa galvanic ramurile unui circuit electric oarecare I i II,
transfernd numai semnalul I ~ (variabil n timp) i blocnd componenta
continu (de frecven nul).
Dac condensatorii C 1 i C 2 au tensiuni de strpungere superioare
celei dintre ramurile separate, atunci clacarea unui singur condensator
nu apare ca
defectare.
Aceeai
proprietate
o are i grupul de
amplificatoare n impulsuri de amplitudine constant A 1 i A 2 (fig. 5.3b),

unde semnalul de ieire dispare numai dac sunt defecte ambele
amplificatoare.
a)
b)
I
C1
C2
A1
Ui
II
2
c)
j
k
Ue
d
k
A2
1
(i)
(e)
d)
Fig. 5.3
Aceast proprietate, n ceea ce priete fiabilitatea, este proprie istemelor
ce au o schem structural (model) de tip derivaie, avnd reprezentarea
din figura 5.3c, iar graful corespunztor n figura 5.3d.
103
Semnificaia fiabilist este: pentru ca ntreg ansamblul s nu funcioneze

este necesar s se defecteze toate cele d componente (elemente):
V c1 c 2 ... c j ... c d
Prin bare se precizeaz starea de defectare (nevalid) a sistemului

( V ), respectiv strile de defectare ale componentelor elementare, ntrun numr oarecare d.
ntruct evenimentele respective (defectrile) sunt independente i
compatibile ( 5.1), funcia de repartiie a timpului de funcionare are
expresia:
d
FD F1 F2 ...F j ...Fd F j ;
j 1
'
FD
Fd
unde F 1 , F 2 etc. reprezint probabilitile de defectare ce corespund

componentelor c 1 , c 2 , etc., iar expresia FD' este funcia de nonfiabilitate
pentru sisteme redundante cu elemente identice:
F 1 = F 2 = ... = F j = ... F d = F
Pentru funcia de fiabilitate a schemei derivaie rezult:
d
R D 1 FD 1 (1 R j )
j 1
sau
pentru elemente identice.
R D = 1- (1 -R) d
Analiznd aceste expresii se pot trage urmtoarele concluzii:

funcia de fiabilitate are o valoare cu att mai mare cu ct
numrul de componente d este mai mare;
indicatorul R D are ntotdeauna o valoare mai mare dect oricare
valoare R j parial;
indicatorul R D este cu att mai mare cu ct sunt mai mari
valorile indicatorilor R j ;
104
indicatorul R D este oricum mai mare dect indicatorul R S , pentru

acelai numr de elemente indentice (d = s).
Ca i structurile serie ( 5.1) structurile de tip derivaie reprezint
scheme simple (fundamentale, de baz). Spre deosebire de schemele
serie, la cele de tip derivaie se aplic criteriul ultimei defectri: starea
pe sistem V , apare atunci cnd se defecteaz ultima component
elementar (din cele d existente).
n fine se mai observ c structurile derivaie nu mai sunt
caracterizate, ca cele serie, printr-o variaie pur exponenial (pe durata
de baz) a funciei R D (t) ; aceast variaie rezult din nsumarea
algebric a unor funcii exponeniale, numrul lor fiind cu att mai mare
cu ct structura derivaie este mai dezvoltat.
Cu ajutorul celor dou structuri simple (serie, derivaie) se pot
realiza diferite structuri complexe.
5.3. Scheme structurale decompozabile

Aceste structuri corespund sistemelor tehnice complexe i au
proprietatea c sunt reductibile (decompozabile) la structuri simple de
tip serie ( 5.1), respectiv derivaie ( 5.2).
La
analiza
calculul
parametrilor
de
fiabilitate,
aceast
posibilitate ofer avantajul unor calcule mai reduse ca i a unor

interpretri uoare directe, putndu-se ajunge, prin intermediul
structurilor simple, la proprietile de fiabilitate ale unui singur element
echivalent.
Invers, plecnd de la elemente de baz i trecnd prin scheme serie
respectiv
derivaie,
la
sintez
se
pot
face
dezvoltri
succesive,
ajungndu-se la structuri complexe.

105
5.3.1. Structuri serie derivaie (SD)

Unei astfel de structuri i corespund grupuri conectate n serie S
(1, 2, ... i, ... s), iar aceste grupuri sunt constituite din componente
elementare conectate n derivaie D (1, 2, ... j, ...d), i respectiv j fiind
variabilele de rang.
n desenul expus (fig. 5.4a) este redat structura de fiabilitate, iar
alturat graful corespunztor (fig.5.4 b).
1
2
(D)
j
d
(S)
a)
(i)
1
2
(e)
j
d
b)
Fig.5.4
Expresia funciei de fiabilitate (R S D ) se obine relativ simplu, dac
se utilizeaz relaiile stabilite anterior pentru funciile de fiabilitate
ale structurilor serie (R S - 5.1) i derivaie ( R D - 5.2):
s
s
d
RSD RS (R D ) R Di 1 (1 R j
i 1
i 1
j 1
106
Dac sistemul tehnic n cauz este realizat cu componente

elementare identice:
R i = R j = R,
expresia se simplific:
R S D = [1-(1 -R) d ] s
Proprietile de fiabilitate ale acestei structuri sunt mai uor de

interpetat din graful corespunztor (fig. 5.4b). Fiabilitatea sa este cu
att mai bun cu ct crete numrul componentelor conectate n
derivaie (d) i cu att mai slab cu ct este mai mare numrul
grupurilor conectate n serie (s).
Se mai observ c structurile simple serie (S) i derivaie ( D)
reprezint cazuri particulare ale acestui tip de structur complex.
Astfel, dac se consider valoarea s =1 se gsete structura derivaie
D ( 5.2), iar valoarea indicatorului R S D este maxim. Pentru valoarea d
=1 se obine structura serie S ( 5.1), valoarea R S D fiind minim.
5.3.2. Structuri derivaie serie (DS)

Specific acestui tip de structur este faptul c se compune din
lanuri n derivaie (D), ntr -un numr oarecare d, iar fiecare lan are
conectate n serie cte s componente de baz (fig. 5.5a).
Analog cazului precedent ( 5.3.1), expresia indicatorului R D S se
deduce considernd mai nti structura de sistem derivaie i, n
continuare, cele ale elementelor nseriate:
d
d
s
R DS R D (RS ) 1 (1 RSi ) 1 1 R j
i 1
i 1
j 1
i
iar pentru elemente identice:

R D S = 1 (1 -R s ) d
107
Proprietile fiabiliste ale acestei structuri sunt complementare

fa de cele ale schemei serie-derivaie (SD), proprieti ce sunt relativ
uor de observat din graful corespunztor (fig. 5.5b):
funcia R D S atinge valoarea maxim pentru valoarea s =1, cnd
corespunde structurii simple derivaie (D);
R D S ia valoarea minim pentru d =1, caz n care se reduce la
structura simpl serie (S).
1
2
(D
)
i
d
(S)
a)
2
(i)
j
s
(e)
d
b)
Fig. 5.5
Un exemplu de structur derivaie serie aplicat la realizarea
unui circuit integrat special pentru prelucrarea semnalelor digitale, n
utilizri la zboruri spaiale, este redat n figura 5.6.
Dup cum se observ, lanul S serie conine un numr (mare) de
etaje: 1, 2, ... s-1, s i din aceast cauz nu se poate atinge valoarea
ridicat necesar a fiabilitii de sistem. Spre a se ajunge la valorile
108
necesare ale indicatorilor, sunt puse n derivaie 4 lanuri identice;

funcionnd n regim de impulsuri cu amplitudine constant, semnalul de
intrare U i este aplicat celor patru intrri conectate n paralel, iar la cele
patru ieiri, de asemenea conectate n paralel, se obine semnalul
procesat U e .
(S)
1
S-1
2
a)
3
4
Ui
Ue
(i)
1
2
(e)
b)
3
4
Fig. 5.6
Cele patru lanuri sunt identice i astfel realizate (n straturi
diferite cuprinznd, n fapt, patru circuite integrate identice montate n
aceeai capsul), nct orice defectare aprut la oricare etaj, din oricare
strat-lan, conduce la dispariia semnalului de ieire (din
lanul
respectiv). Este evident faptul c dispariia semnalului (valid) U e se

produce numai dac apare cte un defect (oriunde) n fiecare lan ceea
ce este foarte puin probabil.
ntr-adevr, notnd cu F funcia de nonfiabilitate (probabilitatea de
defectare, 5.1) a unui lan i cu d = 4, rezult graful din figura 5.6b,
iar elementele fiind identice rezult ( 5.2):
109

4
'
FDS
Fi F 4
i 1
Presupunnd c F = 10 - 2 (valoare uor de atins la a stfel de circuite

integrate), se obine n final:
'
= (10
FDS
-2 4
) = 10
- 8
ceea ce se interpreteaz c la un astfel de circuit integrat se poate

produce o defectare (total), n intervalul de timp considerat, ntr -un lot
de 100 de milioane buci.
Aceast problematic (a redundanei) i a echipamentelor cu
fiabilitate extrem de ridicat, va fi reluat i dezvoltat ulterior n
lucrare.
5.3.3. Structuri neuniforme

n aplicaii curente apare frecvent necesitatea utilizrii unor
structuri dezvoltate inegal n diferite zone ale lor, astfel nct nu
corespund celor uniforme serie-derivaie (SD), respectiv derivaie -serie
(DS), dar pot fi aduse la acestea prin transformri succesive.
Un astfel de exemplu este redat n figura 5.7a) elementele 1 i 2 au
n derivaie elementele 6 respectiv 7; elementul 4 are n paralel
elementul 9, iar elementul 8 este dublat de elementul 12.
Pentru a obine o structur uniform se pleac de la graful
corespunztor (fig. 5.7b) i se parcurg succesiv eta pele de calcul:
se determin funcia de fiabilitate pentru structurile redundante
ale elementelor 1-6 i 2-7 ( 5.2);
se obin astfel elementele echivalente 1-2 (fig.5.7c);
urmeaz rezolvarea structurii redundante pentru elementele 4 -9,
conducnd la elementul
5.7c);
110
echivalent 4 (reprezentat n figura

1
8
6
10
11
9
12
13
14
a)
3
2
(i)
10
(i)
11
2
1
12
13
4
5
(e)
12
10
c)
(e)
14
b)
11
13
14
Fig. 5.7
n acelai mod se trateaz elementele 8 i 12, ajungnd la

elementul 12;
n final se obine structura uniform derivaie-serie (DS)
reprezentat n desenul din figura 5.7c), care este tratat
conform celor expuse anterior ( 5.3.2).
Pentru a nu complica inutil notarea diferitelor elemente de sistem,
n expunerea etapelor de descompunere s-au notat cu indice prim
elementele echivalente rezultate; acestea nu trebuie s f ie confundate cu
elemente identice pentru care s-a utilizat aceeai notare; n situaia
111
existenei unor elemente identice se va proceda ca atare, aplicndu-se

relaiile particulare stabilite anterior ( 5.2; 5.3.2).
5.4. Scheme structurale nedecompozabile

n majoritatea cazurilor ntlnite n practic, analiza respectiv
sinteza n cadrul studiilor de fiabilitate pot fi efectuate prin intermediul
celor patru scheme expuse n paragrafele precedente. Astfel se ajunge,
prin analiz, la un element echivalent (din punct de vedere fiabilist), ai
crui indicatori au valorile structurii de la care se pleac, orict de
dezvoltat ar fi aceasta (analiz). Invers, se pleac de la un element
echivalent i se dezvolt sistemul, cu structuri orict de complexe
(sin tez).
Exist ns i cazuri, mai puin ntlnite n aplicaii, care nu pot fi
tratate pe baza relaiilor stabilite anterior ( S, D, SD, DS ); aceasta
deoarece structurile respective nu sunt reductibile prin descompunere,
sau invers, nu pot fi dezvoltate de la simplu la complex, datorit
proprietilor
fiabiliste
ale
sistemelor
cauz.
Aceste
scheme
structurale pot fi de tip stea, triunghi sau punte.
5.4.1. Structuri tip stea i structuri tip triunghi

n aceste cazuri, rezolvrile curente se bazeaz pe utilizarea unei
metode aproximative, elaborat prin folosirea unor teoreme de
echivalen. n acest mod se pot efectua, dup cum este necesar,
transfigurrile stea-triunghi i triunghi-stea
(fig.5.8),
pstrndu -se
identitile punctelor notate cu literele , i .

Notnd
cu
probabilitile
de
defectare
(funciile
de
nonfiabilitate) ale elementelor respective, n ipoteza c valorile acestor

112
probabiliti sunt mult mai mici ca unitatea (n practic F < 0,2), rezult
relaiile de calcul utilizabile pentru echipamente cu mare rspundere
funcional:
F1
F2
F12
F31
F23
F3
Fig.5.8
- pentru transfigurarea triunghi-stea ( ):
F1 F12 F31;
F2 F23 F12;
F3 F31 F23
- pentru transfigurarea stea-triunghi ( ):

F12 F1 F2 /F3 ;
F23 F2 F3 /F1 ;
F31 F3 F1 /F2
Astfel funcia de nonfiabilitate din structura tip stea este practic

egal cu produsul funciilor de nonfiabilitate din laturile adiacente din
structura tip triunghi (considernd aceleai noduri , , ).
Pentru eroare minim este de preferat transfigurarea triunghi-stea,
care conduce la erori de ordinul F 3 ( F<<1); transfigurarea invers stea triunghi este caracterizat prin erori de ordinul F 2 (termeni de la al cror
rang se ncepe neglijarea).
Aceast metod de aproximare permite obinerea unei precizii
suficiente ntotdeauna condiionat prin relaia:
Faprox > Fexact ;
[F(t) < 0,2]

113
Atunci cnd este necesar o analiz exact, sau dac eroarea

propus prin echivalena stea-triunghi este inadmisibil, se folosete
metoda probabilitii totale (Bayesian), care este ns mult mai
laborioas pentru astfel de calcule.
5.4.2. Structuri tip punte

i aceste structuri, prin transfigurare, pot fi aduse la forme
decompozabile.
F1
F2
a)
F5
F3
(i)
F4
2
(e)
b)
3
Fig. 5.9
n desenul din figura 5.9 a) este redat structura tip punte, avnd
diagonala ntre nodurile - . Modul de interconectare ale celor 5
elemente se poate reda mai uor prin graful aferent (fig.5.9b). Din cauza
elementului avnd funcia de nonfiabilitate F 5 , care se gsete ntre
nodurile - , acest tip de structur nu este decompozabil.
Pentru a se elimina acest impediment, se pot aplica transfigurrile
stea-triunghi sau triunghi-stea.
114
Prin transfigurare de tip triunghi-stea se poate pleca de la
oricare dintre cele dou triunghiuri componente: (, , ) sau (,

, ). Opernd dup prima variant, graful din figura 5.9b) se
transform
ajungnd
la
form
decompozabil
(fig.5.10 .a),
respectiv la structura de fiabilitate redat n figura 5.10.b).

a)
1.5
(i)
1.3
3.5
F1F5
F1F3
(e)
F2
b)
F3F5
F4
Fig. 5.10
Aplicnd transfigurarea
stea triunghi, rezult graful
corespunztor (fig. 5.11 a) i schema de fiabilitate avnd structura

redat n figura 5.11b). Se observ c tratarea prin aceast a doua
variant este mai complicat, motiv pentru care este de preferat cea
anterioar (transf igurarea triunghi stea).
1 2 / 5
(i)
1 5 / 2
a)
(e)
F1F2 / F5
F3
F4
2 5 /1
F1F5 / F2
Fig. 5.11
F2 F5 / F1
b)
115
Orice alt structur nedecompozabil, orict de dezvoltat, poate fi

adus la o form decompozabil. n figura 5.12a) este reprezentat o
astfel
de
schem
complex
nedecompozabil,
avnd
graful
corespunztor (fig.5.12b) .
F1
a)
F2
F3
F4
(i)
b)
F6
(e)
F3F8
F2
F1F7
F1F4
F5
F8
F7
F3F6
c)
F4F7
(i)
F6F8
17
d)
F5
3 8
14
36
5
47
(e)
68
Fig. 5.12
Rezolvarea acestei probleme se face prin etapele expuse n

continuare.
116
Triunghiul ( , , ) de la intrare ( i) se transfigureaz n

structura stea ( , , ).
Triunghiul ( , , ) de la ieire ( e) se transfigureaz n st ea ( ,
, ).
Rezult graful echivalent din figura 5.12d).
Conform acestui graf se obine structura decompozabil de
fiabilitate (5.12c ).
Tratarea acestei scheme, n continuare, se face n conformitate
cu calculul structurilor neuniforme ( 5.3.3).
n
final,
dac
este
necesar,
structura
uniform
(i
decompozabil) se aduce la forma cea mai simpl, necesar n

studii fiabiliste de analiz sau sintez, respectiv n calcule
uzuale.
117
6 Analiza modului de defectare
Capitolul 6
Analiza modului de defectare
6.1. Dedublarea elementelor

Din cele tratate pn acum, cu foarte rare excepii, rezult c o
component de echipament care se defecteaz trece din starea valid V
n starea nevalid V ; acest mod de analiz corespunde, cu suficient
precizie,
tratrii
fiabilitii
echipamentelor
de
larg
consum
(neprofesionale), ca re nu sunt caracterizate prin rspuns fals ( 1.2.1).

La echipamente profesionale, ndeosebi la cele cu mare rspundere
funcional,
calitatea
rspunsului rezultat
urma
apariiei
unei
defectri, depinde de: natura componentei defectate, poziia sa n

schem, modul n care aceasta se defecteaz, faza funcional (st are
valid) n care se afl n momentul respectiv ca i de simultaneitatea
defectrii altor componente n raport cu cea considerat .
Din practica circuitelor electrice i electronice este cunoscut faptul
c elementele componente se comport diferit atunci cnd se defecteaz;
pentru fiecare dintre ele se poate observa, n general, un anumit mod
dominant de defectare. n cazul echipamentelor utilizate pentru reglarea
circulaiei/navigaiei, n marea majoritate a cazurilor nt lnite, modul de
defectare
este
rezultatul
variaiei
parametrului
fundamental
al
componentei n cauz: rezisten, capacitate, inductivitate (inductan ),

reactan, impendan, factor de amplificare etc.
118
n cazul general, la un element oarecare (rezistor, bobin, conden sator, diod, tranzistor, circuit integrat, contact de releu etc.) se adm ite
o anumit abatere maxim p a parametrului fundamental, n limitele
creia buna funcionare a ansamblului nu este afectat. Dac ns
parametrul fundamental satisface relaiile:
0 p < p 0 - p;
p0 + p < p
este declarat starea de defectare - fig.6.1, unde cu p 0 s-a notat valoarea

nominal a parametrului fundamental p.
Prima relaie corespunde defectrii prin scdere [-], iar cea de a
doua defectrii prin cretere [+]. Deoarece fenomenele fizice care au loc
sunt total diferite i efectele se exclud ntre ele, cele dou moduri de
defectare sunt incompatibile (pentru acelai element i pentru acelai
parametru).
p
(+)
p + p
p0
p - p
0
(-)
td -
td+
Fig.6.1
innd seama de sensul fizic, n orice moment numrul total de
defectri (cap.4) este egal cu suma defectrilor prin cretere [+] i / sau
prin scdere [-]:
n( t ) n ( t ) n ( t ) ; n( t ) n ( t ) n ( t )
119
Raportat la numrul total N de elemente, pentru intensitatea

statistic de defectare vor rezulta dou expresii:
z* ( t )
corespunznd
n ( t )
n ( t )
; z* ( t )
,
( N n )t
( N n )t
mrimilor
numite
rata
(instensitatea)
statistic
defectrilor prin cretere, respectiv rata (intensitatea) statistic a

defectrilor prin scdere. Legtura dintre aceste dou intensiti i
intensitatea defectrilor n general este redat prin relaia evident:
z* ( t ) z* ( t ) z* ( t )
n( t )
( N n )t
Procednd ca n cazul general ( 4.2), se trece la mrimile

probabilistice corespunztoare:
z( t ) , z ( t ) , z ( t ) .
Pentru studiul fiabilitii sistemelor cu mare r spundere funcional (inclusi v cele pentru dirijarea circulaiei/naviga iei) este de
asemenea important, n primul rnd, analiza modului de defectare pe
durata normal de via ( 4.3), c nd
z(t) = = const.
Rezult n continuarea celor expuse, prin echivalen i n
concordan cu semnificaia fenomenului fizic, o dedublare a intensitii
de defectare n funcie de modul de defectare:
const.
n scopul efecturii unor calcule teoretice sau practice de
fiabilitate, au fost realizate studii statistice prin care s -au stabilit
valorile relative ale ratei (intensit ii) d efectrilor prin cretere / ,
respectiv prin scdere / . Aceste valori relative, pentru marea
120
majoritate a tipurilor de componente ale echipamentelor electrice i

electronice sunt precizate n tabela 6.1 (ordine alfab etic).
Tab.6.1
Nr.c
Denumirea componentei
rt.
+ /
Acumulator (electric)
0,64
0,36
Amplificator magnetic - n impulsuri
0,31
0,69
0,48
0,52
Ansamblu cinematic simplu (ac ionat

electric)
Bec cu incandescen pentru semnalizri
0,98
0,02
Bobin la nivel mic de semnal
0,84
0,16
Circuit imprimat
0,72
0,28
Circuit integrat simplu
0,30
0,70
0,89
0,11
Comutator complex la nivel mic de

semnal
Condensator fix ceramic
0,70
0,30
10
Condensator electrolitic
0,33
0,67
11
Condensator fix cu hrtie
0,41
0,59
12
Condensator cu 4 borne
0,01
0,99
13
Condensator variabil
0,75
0,25
14
0,79
0,21
15
Conector complex la nivel mic de

semnal
Conector simplu la nivel mic de semnal
0,58
0,42
16
Conexiune prin wrapare
1,00
0,00
17
Contactor de putere medie
0,30
0,70
18
Contactor termobimetal
0,80
0,20
19
Cupl electric - de putere
0,60
0,40
20
Diod semiconductoare de putere medie
0,28
0,72
21
Diod semiconductoare la nivel mic de

semnal
0,19
0,81
121
22
Diod Zenner
0,30
0,70
23
0,39
0,61
24
Instrument electric fix de msurare
0,82
0,18
25
Microcomutator
0,95
0,05
26
Poteniometru bobinat
0,90
0,10
27
Poteniometru cu pelicul de carbon
0,83
0,17
28
Releu miniatur
0,60
0,40
29
Releu tip Reed
0,55
0,45
30
Releu special cu contacte argint/grafit
0,90
0,10
31
Releu termic
0,85
0,15
32
Releu uzual
0,84
0,16
33
Rezistor cu 4 borne
0,01
0,99
34
Rezistor fix bobinat
0,60
0,40
35
Rezistor fix cu pelicul de carbon
0,94
0,06
36
Rezistor fix metalic
0,90
0,10
37
Rezistor variabil bobinat
0,95
0,05
38
Selsin
0,98
0,02
39
Servomotor electric
0,32
0,68
40
Siguran fuzibil
1,00
0,00
41
Soclu pentru dispozitiv electronic
0,58
0,42
42
Sudur cu fludor
1,00
0,00
43
Tahometru fix
0,40
0,60
44
Termistor
0,95
0,05
45
Tiristor de putere medie
0,72
0,28
46
Tiristor la nivel mic de semnal
0,50
0,50
47
Transformator de electroalimentare
putere medie
Transformator de impulsuri putere
medie
0,40
0,60
0,31
0,69
48
122
49
Transformator la nivel mic de semnal
0,54
0,46
50
Tranzistor de putere medie
0,28
0,72
51
Tranzistor la nivel mic de semnal
0,19
0,81
52
Tub electronic special cu vid
0,64
0,36
n legtur cu diferenele, relativ mari, de valori ale rapoartelor

/ i / , se impun unele precizri; la stabilirea valorilor de calcul
este necesar mult discernmnt, specialistul n fiabilitate avnd nevoie

de o bun cunoatere a proprietilor fizice ( i tehnologice) ale
componentelor.
Valorile medii precizate n tabel trebuie adaptate n funcie de
parametrul funcional considerat, ca de exemplu:
la acumulatoare electrice (i n general la surse autonome de
energie pentru electroalimentare): tensiunea la borne U b , rezistena
intern R i , capacitatea energetic C(Ah);
n cazul componentelor pasive de tip uniport (dipol): rezisten a,
inductana, capacitatea, impedana etc.;
la componentele pasive de tip diport (cuadripol), n afar de
rezisten, inductan, capacitate i impedan, mai pot prezenta interes
n aplicaii: rezistena sau impendana de intrare/ieire, impedan a
caracteristic etc.;
componentele
active
de
tip
diport
(cuadripol),
pe
lng
parametrii enumerai mai pot fi considerai, prin natura aplicaiei

(func ionale), sub aspectele: factor de amplificare, distorsiuni, defazaj
etc.;
n cazul componentelor de tip multipol, pasive sau active,
parametrii care intereseaz trebuie evaluai ntre toate intr rile i
ieirile de care depinde ndeplinirea funciunii n cauz ;
123
dac se ntlnesc unele componente care nu sunt cuprinse n

tabela 6.1, innd seama de comportamentul lor funcional, complexitate
i proprieti fundamentale, se vor adopta valori de calcul ( / i
/ ) prin ana logie cu acele componente al cror comportament la
defectare este cel mai apropiat.

Din cele analizate pn acum rezult c o component (element)
oarecare, la orice valoare a timpului, se poate gsi ntr-una dintre
urmtoarele trei stri distincte (din punct de vedere fiabilistic):
starea valid V, caracterizat prin indicatorul R(t) ;
starea de defectare (nevalid) prin scdere V , caracterizat prin
indicatorul F - (t);
starea de defectare (nevalid) prin cre tere V , caracterizat prin
indicatorul F + (t) .
Cum cele trei stri formeaz o grup complet de evenimente,
rezult c este valabil relaia general:
R( t ) F ( t ) F ( t ) 1 ,
din care rezult imediat:

R( t ) R ( t ) R ( t ) 1 ;
R ( t ) F ( t ) 1;
F ( t ) F ( t ) F ( t ) ;
R ( t ) F ( t ) 1.
Notaiile utilizate au urmtoarele semnificaii:

R + ( t ), R ( t ) funciile de fiabilitate pentru defectare prin
cretere, respectiv prin
F + ( t ), F ( t )
scdere;
funciile de repartiie a timpului de funcionare
pentru defectare prin cretere, respectiv prin scdere.

Cea mai simpl reprezentare i cea mai direct interpretare, din
punct de vedere fiabilist, le ofer relaia
F( t ) = F + ( t ) + F ( t ) ,
124
din care rezult c o component (element) oarecare s e comport, prin

dedublare, ca dou componente (elemente), unul defectndu -se numai
prin scdere, iar cellalt numai prin cretere (fig.6.2).
F(t)
(+, -)
F+(t)
F-(t)
Fig.6.2
Prin urmare, un asemenea element este echivalent cu dou

elemente, semnul
avnd semnificaia c funcia de repartiie a
timpului de funcionare, pentru elementul respectiv, se obine nsumnd

cele dou funcii de repartiie F + ( t ) i F ( t ) .
6.2. Comportarea elementelor dedublate n

perioada normal
de via
Date fiind proprietile rezultate prin efectul de dedublare, rezult

c i indicatorii generali ai fiabilitii (defini i anterior - 4.2) se
dedubleaz n funcie de modul de defectare.
Astfel pentru defectare prin cretere parametric [+] se obin
expresiile matematice generale, respectiv cele corespunztoare duratei
normale de funcionare ( 4.3).
Frecvena de repartiie a defectrilor:
f( t )
1 dn
;
N dt
f ( t ) e t
Probabilitatea de defectare (funcia de nonfiabilitate):

t
F ( t ) f ( t )dt ;
0
F ( t ) 1 e t
125
Rata (intensitatea) de defectare:

z ( t )
1 dn
;
N n dt
z ( t ) const .
Funcia de fiabilitate (probabilitatea de bun func ionare):
R ( t ) f ( t ) dt 1 F ( t ); R ( t ) e t
t
Media timpului de funcionare
m R ( t )dt ; m
0
const .
cu cele trei variante specifice ( 4.2):

MTTF + ;
MTFF + ;
MTBF +
n acelai mod rezult relaiile de calcul pentru defectri prin

scdere de parametru [-].
Frecvena de apariie a defectrilor:
f( t )
1 dn
;
N dt
f ( t ) e t
Funcia de nonfiabilitate:
t
F ( t ) f ( t )dt ;
0
F ( t ) 1 e t
Intensitatea defectrilor:
1 dn
;
N n dt
z ( t )
z ( t ) const .
Funcia de fiabilitate:
R ( t ) f ( t )dt 1 F ( t ); R ( t ) e t
t
126
Media timpului de funcionare:
m R ( t )dt ;
0
const .
cu variantele specifice i acestui mod de defectare:

MTTF_ ; MTFF_ ; MTBF_ .
Aceast dedublare, considerat pentru zona de baz a duratei de
via normal a componentelor, este utilizat la analiza i sinteza
fiabilitii sistemelor de dirijare a circulaiei/naviga iei, permind o
interpretare direct a proprietilor funcionale.
Astfel,
dac
se
deriveaz
raport
cu
timpul
expresiile
indicatorilor de fiabilitate i se transform succesiv aceste expresii, se

obine (pentru simplificarea formal a relaiilor, acolo unde parametrul
timp este evident, acesta nu se mai scrie):
R 1
n(t)
;
N
dn
dR
N
;
dt
dt
dn
dR
dR
dR
N
dt
(t) dt dt dt
N n
N n
R
R R 1
Se dedubleaz corespunztor modului de defectare:

dR
R R
dt
dR
R R
dt
i se consider sistemul omogen ataat:

dR
R R 0
dt
dR
R R 0
dt
127
Determinnd valorile proprii i vectorii proprii, i gsind soluia

particular ce corespunde condiiilor impuse, rezult n final:
R ( t ) 1
( 1 e t ) ;
R ( t ) 1
( 1 e t ) .
De asemenea, se gsesc mrimile complementare:

F ( t ) 1
( 1 e t ) ;
F ( t ) 1
( 1 e t ) ;
fiind, de asemenea, valabile i n acest caz variaiile stabilite anterior:
R( t ) R- ( t ) R ( t ) - 1 e
F( t ) F- ( t ) F ( t ) 1 - e t ;
R ( t ) F ( t ) 1 ;
R ( t ) F ( t ) 1 .
n figura 6.3 sunt redate variaiile acestor mrimi n funcie de

timp, n ipotezele:
; 0
R, F
1,0
F(t)
1-_/
R-(t)
F+(t)
1-+/
R+(t)
F-(t)
R(t)
Fig.6.3
Se pune astfel n eviden, mai bine, faptul c n timp ce indicatorii defectrii n general R(t) i F(t) variaz, ca n teoria clasic, ntre
limitele 0 i 1, indicatorii celor dou moduri de defectare, au varia ii
128
limitate jos ( R i
R ), respectiv limitate sus ( F i F ), ns toate
valorile posibile ndeplinesc condiia de mrime probabilistic i

verific relaiile fundamentale. Aceste variaii limitate se explic prin
faptul
un
anumit
mod
de
defectare
nu
poate
afecta
toate
componentele sistemului, n afar de cazul particular n care defectarea

complementar nu este posibil ( = 0 sau = 0).
De
asemenea,
se
remarc
faptul
variaiile
indicatorilor
R ( t ) , R ( t ) , F ( t ) i F ( t ) n funcie de timp, pe toat durata de baz,
sunt exponeniale ca i cele ale indicatorilor

R ( t ) i F ( t ) ceea ce corespunde unei solicitri constante ( 2.2).
Totodat, pentru orice valoare a timpului n afar de zero, pentru
un anumit element (component ) , care se poate defecta at t prin
cretere ct i prin scdere, sunt valabile inegalit ile:
R ( t ) > R ( t );
R ( t ) > R ( t )
Aceasta revine la a spune c dac un anumit mod de defectare nu

are importan funcional n sistem, defectrile dup modul respectiv
pot s nu fie considerate; pe aceast cale se poate obine o cretere
substanial a fiabilitii n raport cu un anumit tip de rspuns (de
exemplu fals), respectiv n raport cu anumite funciuni esen iale sau de
protecie ( 1.2.1).
129
7 Protecii fiabiliste prin modul de defectare
Capitolul 7
Protecii fiabiliste
prin modul de defectare
7.1. Protecia simpl

Din cuprinsul capitolului precedent, unde s-a analizat modul de
defectare
proprietile
fiabiliste
remarcabile
ale
dedublrii
elementelor, se desprinde ferm ideea folosirii eficiente a acestor

proprieti n vederea obinerii unei creteri substaniale a fiabilitii de
sistem / subsistem.
Astfel, dac un element (component) trebuie neutralizat fa de un
anumit mod de defectare, se poate alege o structur corespunz toare,
serie sau derivaie, prin care s se ating scopul propus; n practic
aceasta se numete protecie simpl (fa de un singur mod de defectare,
prin cretere sau prin scdere de parametru), iar elementele din structura
respectiv sunt, de regul, identice.
Aprofundnd acest aspect, se vor ntlni unele situaii specifice
care, n practic, impun rezolvri stringent necesare, mai ales n cazurile
de producere a unor rspunsuri false ( 1.2.1).
n acest sens pot fi date ca exemplu contactele de releu, care se pot
defecta prin variaia inadmisibil a rezistenei (de contact):
a. dac releul este comandat astfel nct un anumit contact sau
grupuri de contacte s fie stabilite, defectarea n aceast stare
nu se poate produce dect prin cretere de parametru [+];
130
b. dac acelai releu primete comand pentru contact sau

grupuri de contacte ntrerupte, defectarea nu poate surveni dect
prin scdere de parametru [-];
Acest comportament fiabilist, oarecum curios, se poate ntlni i la
alte componente,
cum sunt ansamblurile cinematice cu comand
electric, la care defectarea se poate produce prin:

a. dispariia sarcinii (mecanice), cnd mecanismul merge numai
n gol, iar rezistena (sau impendana) de intrare cr ete /
defectare prin cretere [+];
b. blocarea mecanismului (gripare mecanic ), iar la intrarea
electric, n acest caz, se produce o scdere a rezistenei (sau
impedanei) / defectare prin scdere [-].
Astfel de proprieti, n funcie de starea pe care elementele o au
n momentul defectrii sunt caracteristice i altor elemente ntlnite n
echipamentele electrice i electronice, utilizate n regim de comutaie:
diode, tranzistori, tiristori, transformatori, condensatori, rezistori, filtre
electrice etc.
7.1.1. Elemente defectabile exclusiv prin cretere

parametric
Dac n relaia general
R(t) + F (t) + F + (t) = 1 ,
stabilit anterior ( 6.1), se anuleaz funcia de nonfiabilitate pentru
defectri prin scdere de parametru:
F (t) = 0;
R(t) + F + (t) = 1;
rezult imediat c sunt valabile relaiile:

131
F(t) = F + (t);
z (t) = 0;
+ = ;
= 0;
R(t) = R + (t);
z + (t) = z(t) 0;
m + = m;
= 1/ =
Semnificaia fizic a procesului de defectare conduce la concluzia

c acele componente care satisfac relaiile de mai sus nu se pot defecta
dect prin creteri de parametru, ca de exemplu: mrirea rezistenei de
trecere (conducie) la conexiuni prin wrapare, suduri cu fludor,
sigurane fuzibile, fie de conductori convenionali sau trase imprimate
de conexiune, contacte de reglete cu urub sau clete etc.
Evidenierea acestui caz particular de fiabilitate se poate observa
i n figura 6.2 (6.1), dac F (t) = 0 . De asemenea, n reprezentrile
grafice din figura 6.3 ( 6.2), fcnd = 0 i + = , dispar valorile
semnificative intermediare din ordonate:
1 1 ;
1 0
Avnd la baz aceast proprietate, au fost elaborate i se folosesc

n practic unele relee de siguran pentru sisteme de dirijare n traficul
feroviar. La aceste relee armtura mobil, care este comandat electric
prin bobine cu excitaie magnetic, antreneaz mecanic contactele
(mobile) care sunt utilizate pentru comutaie n circuite logice, cu
funciuni de protecie (1.2.1).
Pentru a se evita defectrile prin scdere de parametru (sudura
metal metal a pastilelor de contact), ceea ce n sistem ar provoca
apariia de rspunsuri false, perechile de contacte se construiesc cu o
pastil din argint, respectiv cealalt din grafit; aceste materiale n
contact mecanic i electric nu permit sudura ntre ele, prin urmare este
evitat defectarea (perechilor de contacte) prin scdere de parametru,
132
rmnnd numai posibilitatea defectrii prin cretere parametric (a

rezistenei de contact), defectare ce poate duce la rspuns eronat,
eliminndu-se practic total rspunsul fals ( 1.2.3).
Aceste relee (speciale de siguran) au o funcionare n regim de
comutaie bazat pe efect gravitaional terestru, care este considerat
absolut sigur (dispariia gravitii terestre este imposibil).
7.1.2. Elemente defectabile dominant prin cretere

parametric
O alt categorie de elemente (componente) se caracterizeaz prin
aceea c au un mod dominant (statistic majoritar) de defectare prin
cretere, fr ca cellalt mod complementar prin scdere s fie nul (
6.2 fig.6.3):
0 ;
R + (t) < R (t);
F + (t) > F (t);
R + (t) + F + (t) = 1 ;
R (t) + F (t) = 1 .
Acestui tip de componente, numeroase n practic, i corespund

rapoartele + / > 0,5 respectiv _ / < 0,5 (tabela 6.1): acumulatoare
electrice, becuri cu incandescen, trase de circuit imprimat, conden satori ceramici, conectori, contactori termobimetal, microcomutatori,
poteniometri, relee, rezistori, termistori, tiristori, tuburi electronice
speciale etc.
O aplicaie practic a acestei proprieti ( + > ) este folosit la
elaborarea unui tip de diod redresoare (cu indicativ ul de catalog
RA220), destinat i electroalimentrii la bordul unor autovehicule
rutiere.
133
n figura 7.1 este redat, simplificat, schema de principiu care

Ia
D
Ac
Uca
Ucc
Fig. 7.1
cuprinde:
U c a tensiunea curentului alternativ primit de la generatorul de
bord (alternator);
Ac bateria de acumulatoare funcionnd n regim tampon;
U c c tensiunea curentului continuu obinut ca efect al redresrii
curentului alternativ de ctre dioda D;
I a curentul electric continuu debitat pentru alimentarea circuitelor aparatelor electrice i electronice la bord.
Dioda D este astfel elaborat, n structura sa intern, nct
defectarea sa se produce, cu o mare probabilitate, prin ntrerupere (ntre
bornele sale) i nu prin scurtcircuitare. Astfel este evitat alimentarea
bateriei de acumulatoare Ac n curent alternativ / rspuns fals
(periculos), lsnd loc unui rspuns eronat ( 1.2.3), prin aceea c
ncrcarea acumulatoarelor nu se mai realizeaz.
Aceast proprietate ( + > ) poate fi accentuat prin utilizarea
unor structuri de fiabilitate n elaborri corespunztoare. Dac, de
exemplu, dou componente de acelai fel (becuri, bobine, rezistori etc.)
se afl conectate electric n paralel (fig.7.2), prin dedublare se obin
dou grupuri echivalente, ce corespund relaiilor de fiabilitate:
F F F F1 F 2 F1 F 2 F1 F 2 .
134

[+]
F1
F1+
F2
F2+
[]
F1
F2
Fig. 7.2
Dac cele dou elemente (componente) sunt identice:
F ' F' F' F2 F 2 F
Din punct de vedere fenomenologic, un astfel de grup va asigura

ndeplinirea funciunii prevzute, n condiiile defectrii prin cretere
parametric a oricrei dintre cele dou componente. Pe de alt parte,
dac de defecteaz prin scdere parametric, oricare component, grupul
n cauz nceteaz a mai fi n stare valid.
Generaliznd aceast proprietate la un grup compus din n
elemente, conectate n derivaie (D) , se obine dedubalrea din figura 7.3,
caracterizat prin relaiile ( 5.1 5.2):
F1
F1+
F2
F2+
Fn
Fn+
F1 F2 Fn
Fig. 7.3
F F F
F Fi ;
i 1
F 1 1 Fi ,
i 1
iar dac elementele sunt identice:

F ' F' F' ;
F' Fn ;
F' 1 1 F
n
135
i circuitele care conin elemente de tip diport (cuadripol) sau

multiport (multipol), pot fi protejate n raport cu acest mod de defectare,
dac prezint dou borne n circuitul analizat: tranzisto ri, tiristori,
filtre, circuite integrate etc. Un exemplu este redat n figura 7.4: a) cu
doi tranzistori; b) cu doi tiristori. n circuitele de ieire, funciunea
ndeplinit (acionare, alimentare, comutaie etc.) se realizeaz i n
condiiile defectrii prin cretere a rezistenei de ieire pentru oricare
tranzistor sau tiristor (T 1 , T 2 ).
T1
T2
a)
T1
Fig. 7.4
T2
b)
Prin urmare se poate remarca existena urmtoarelor reguli i

proprieti ale structurilor respective.
Defectarea predominant prin cretere de parametru ( + > _ )
necesit, pentru protecie, structuri fiabiliste derivaie, elementele
electrice respective [+] fiind conectate n paralel.
Structurile fiabiliste corespunztoare [+] reprezint cazuri
particulare ale celor generale redundante ( 5.2): d = 2 (fig.7.2); d = n
(fig.7.3).
Sporul de fiabilitate prin protecie fa de cretere parametric
este cu att mai mare cu ct inegalitatea + > _ este mai pronunat
(deoarece = + + _ ; 6.1).
Creterea parametric pn la valoarea de defectare se poate face
lent sau brusc (2.2); val oarea extrem pe care o poate lua parametrul n
cauz este infinit ceea ce, n plan fizic, corespunde cu ntreruperea
136
elementului la defectare parial, respectiv a ntregului grup la defectare

total.
i acest mod de aplicare se numete protecie simpl (fiabilist)
deoarece este avantajos fa de un singur mod de defectare [+].
O aplicaie eficient a proteciei simple prin cretere de parametru
este aceea a structurilor redundante la realizarea conexiunilor dintre
componente. Cu toate c nu reprezint componente (piese) propriu -zise,
conexiunile (clasice sau imprimate) ca i sudurile cu fludor, nu pot fi
neglijate n calcule riguroase de fiabilitate, cum sunt i trebuie s fie
cele efectuate pentru echipamente de tip profesional.
Cablajul dublu impri mat constituie un mijloc eficient, att din
punct de vedere tehnic ct i economic, pentru a se obine o bun
protecie n raport cu defectarea prin cretere ( + ).
Modul de realizare este artat n desenul din figura 7.5a), n care
s-au notat:
C 1 , C 2 componente propriu-zise (piese);
t terminale;
c conexiuni prin trase imprimate;
s suduri cu fludor.
Trasele imprimate se deterioreaz, mai ales, prin corodri
chimic, prin ruperi (ocuri i vibraii) mecanic, ca i prin contracii i
dilataii termic. Toi cei trei factori (chimic, mecanic, termic) solicit
intens
echipamentele
de
reglare
circulaiei
navigaiei,
cu
preponderen pe cele montate la bord (nave i vehicule).

La sudurile cu fludor, de asemenea datorit acelorai solicitri i
n plus, din cauza unui efect de cristalizare (lent n timp) n masa
metalic, rezistena electric crete progresiv pn se ajunge la limita de
defectare.
137
C2
C1
t
a)
c
s
s
(i
c
c
b)
c)
Fig. 7.5
Variaia parametric pozitiv este, de regul, rapid la trasele

imprimate, ajungnd brusc la ntrerupere. Sudurile cu fludor au, n
general, o variaie lent sau rapid, cu contact electric intermitent,
provocnd o funcionare / defectare cu ntreruperi i reveniri, deci
slbiri sau intensificri pentru curenii electrici care le parcurg.
Structura de fiabilitate (fig.7.5b) pentru legtura electric dintre
cele dou terminale t ale componentelor C 1 i C 2 , ca i graful
corespunztor (fig.7.5c), conduc la schema de fiabilitate derivaie
serie (DS - 5.3.2; fig.5.6), pentru c are: s = 3; d = 2. Se mai observ c
trasele imprimate, respectiv sudurile, sunt identice ntre ele pe ambele
fee ale plcii suport.
138
Notnd funciile de fiabilitate ale legturii electrice dintre cele

dou componente C 1 i C 2 , cu R (partea plantat / fa ) i cu R (partea
neplantat / spate), rezult:
R = R = R1 = Rs Rc Rs = Rc Rs2,
iar pentru conexiunea dubl (fa i spate):
R 2 = R + R - R R = R 1 (2 R 1 )
Deoarece paranteza (2 R 1 ) are valoare supraunitar, R 1 fiind o
probabilitate, rezult c R 2 > R 1 .
Pentru a evalua eficiena fiabilist a acestei structuri, se recurge la
determinarea valoric a raportului R 2 / R 1 , numit factor de eficien
fiabilist i fiind notat cu f :
f
R2
2 R1 1
R1
Conectarea multipl este un alt procedeu care, aplicat, permite

ameliorarea fiabilitii n raport cu creterea parametric. n general
comutatoarele, conectoarele, de tot felul, cuplele electrice, contactele de
releu etc., prin uzur mecanic dar i prin corodare chimic, i mresc
rezistena electric de trecere i astfel se produc defectri prin cretere
parametric.
n figura 7.6a) este redat cuplajul mobil electric cu ajutorul unei
perechi de fie (banan electric i buc / pin, lam sau picioru i
contact metalic elastic etc.). n acest desen s-au notat:
k suprafeele de contact electric metal metal;
s suduri cu fludor;
c conexiuni pentru legare n paralel a celor dou fie.
139
Dac se noteaz cu R i R funciile de fiabilitate ale fielor

(sperioar
respectiv
inferioar) ,
conformitate
cu
structura
de
fiabilitate (fig.7.6b) i graful corespunztor (fig.7.6c) se obine succesiv

( 5.3.3):
R = Rk R2s ;
R = Rk Rs2 Rc2,
R 2 = R + R - R R = R k R s 2 (1+ R c 2 - R k R s 2 R c 2 ) =
= R + R R c 2 - R 2 R c 2 )
f = R 2 / R = 1+ R c 2 - R R c 2 = 1+ R c 2 ( 1- R ) > 1 .
ss
k
s
s
s
b)
c
s
(i)
a)
(e)
c
s
c)
Fig. 7.6
Tot o aplicaie eficient a acestui mod de protecie simpl (prin
cretere
parametric) este
terminale duble.
140
realizarea
de
componente
speciale
cu
n echipamentele utilizate la reglarea circulaiei/navigaiei, un

numr relativ mare de defectri se produc datorit ruperii terminalelor la
unele componente de tip uniport cum sunt, de exemplu, condensatorii i
rezistorii. Aceste ruperi se produc la exteriorul componentelor, sau la
interior, cnd au loc desprinderi ale captului de terminal fa de
materialul rezistiv sau capacitiv.
Toate aceste defectri apar din cauza ocurilor i vibraiilor (cu
intensiti mari la bord, dar i la sol) i au ca efect creterea brusc a
rezistenei electrice de cuplaj galvanic pn la infinit - ntrerupere (cu
intermiten sau permanent).
Rezistorul cu terminale duble, numit i rezistorul cu 4 borne,
difer de rezistorul uzual cu 2 borne (R 2 fig.7.7a) prin aceea c pe
acelai corp rezistiv, realizat n tehnologie uzual se monteaz cte dou
perechi de terminale (b 1 b 4
b 2 b 3 ), obinndu -se astfel o
component cu 4 terminale (R 4 fig.7.7c).

b1
t
j
b)
(i)
(R2)
a)
(e)
(b1)
(b2)
(b2)
j
(R4)
b3
c)
d)
b4
b1
(i)
(b1, b4)
b2
Rezistoarele,
(e)
(b2, b3)
Fig. 7.7
n general,
nu se
defecteaz
prin scdere de
parametru (6. 1 tab.6.1), iar defectarea prin cretere este redus

141
substanial probabilist prin aceast dublare a bornelor (poz.3 3

tab.6.1); rezult deci o proprietate fiabilist remarcabil a acestui tip de
component.
Aceast proprietate se poate pune n eviden, calitativ, prin
grafurile reprezentate n figura 7.7b) pentru rezistorul uzual i n figura
7.7d) pentru rezistorul cu protecie n raport cu creterea parametric.
Cantitativ, aceast protecie se poate determina cu ajutorul
expresiilor funciei de fiabilitate. n acest scop s-au notat cu:
b bornele componentelor;
j jonciunile interne dintre terminalele t i corpul rezistiv R.
ntruct fiecare jonciune j este cuplat la cte un terminal t, se
noteaz cu R t j funcia de fiabilitate a dubletului terminal jonciune, cu
schem a fiabilitii de tip serie neredundant (5.1):
Rtj = Rt Rj
n aceste condiii, pentru rezistorul uzual cu dou terminale ( R2),
expresia funciei de fiabilitate (fig.7.7b) este
R2 R R Rtj2 ,
R R reprezentnd funcia de fiabilitate a elementului rezistiv propriu -zis

R, acelai (identic) pentru ambele tipuri de component.
La rezistorul cu terminale duble (fig.7.7d),
considernd structura
neuniform a acestuia ( 5.3.3), rezult:

R 4 = R R (R t j + R t j R t j 2 ) 2 = R 2 (2 R t j ) 2 > R 2
Prin urmare eficiena fiabilist va fi dat de relaia
f = R 4 / R 2 = (2 - R t j ) 2 > 1
142
care nu depinde de elementul comun R (caracterizat prin funcia de

fiabilitate R R ).
Lund cteva valori semnificative pentru funcia de fiabilitate a
dubletului terminal jonciune R t j , rezult valorile corespunztoare ale
eficienei fiabiliste f (tab.7.1).
Rtj
0,9
0,7
0,3
1,21
1,69
2,89
Se
observ
termenului R t j :
Tab. 7.1
0,1
3,61
c eficiena fiabilist crete neliniar cu scderea
procedeul 4 borne este mai eficient pentru elemente
cu fiabilitate slab, cum este cazul, n primul rnd, al rezistorilor.

Condensatorul cu terminale duble este realizat, de asemenea, n
tehnologia 4 borne i anume - condensatorul cu armturi plane
(fig.7.8b), respectiv condensatorul cu armturi n spiral - corp cilindric
(fig.7.8c). La extremitile fiecrei armturi se afl cte o pereche de
jonciuni cu terminalele respective: b 1 b 3 i b 2 b 4 .
a)
b)
b1
b1
b2
C2
b4
t
b3
j
j
j
b2
C4
b1
c)
b3
b2
b4
Fig. 7.8
143
Structura de fiabilitate i graful aferent sunt la fel cu cele ale

rezistorului cu 4 borne (fig.7.7), cu singura deosebire c n locul
corpului rezistiv R apare corpul capacitiv C.
Acesta,
majoritar,
se
defecteaz
prin
scdere
de
parametru
(scderea rezistenei de izolare a dielectricului ), iar la limit apare

strpungerea
(clacarea).
excepie
constituie
condensatoarele
electrolitice care, n timp, sufer reacii chimice i pierderi de electrolit;

n practic se spune c se usuc. Pentru acest motiv aceste
condensatoare, pe lng defectri prin scdere, au i o cot relativ
important a defectrilor prin cretere (n corpul capacitiv propriu -zis).
Cu aceste precizri, relaiile fiabiliste ce caracterizeaz aceast
component sunt:
Rtj = Rt Rj ;
R2 = RC Rtj2 ;
R 4 = R 2 (2 -R t j ) 2 > R 2 ;
f = R 4 / R 2 = ( 2- R t j ) 2 > 1
Notaiile utilizate sunt aceleai ca n grafurile rezistorului cu 2
borne, respectiv cu 4 borne, iar R C este funcia de fiabilitate a corpului
capacitiv propriu-zis C.
Exceptnd pe acestea din urm, celelalte concluzii calitative i
cantitative sunt valabile ca n cazul rezistorului cu 4 borne.
O aplicaie n care sunt folosite componente cu terminale duble
este ilustrat, simplificat, cu ajutorul schemei din figura 7.9a). La
ieirea amplificatorului operaional A se gsete, cuplat la mas, grupul
rezistor condensator care susine o constant de timp = R 4 C 4 ,
imperios necesar pentru procesarea semnalului aplicat la intrarea ( i) i
furnizat la ieirea (e).
144
Cele patru conexiuni ale condensatorului (C 4 4 borne) asigur o

protecie
eficient
fa
de
defectri
prin
cretere
parametric
(ntrerupere), att la jonciuni ct i la terminale (notate cu x), dac se

produc urmtoarele defectri singulare sau duble:
- defectare singular n oricare dintre cele patru ramuri (b):
b1 b2 b3 b4;
- defectare dubl simultan pe ramurile:
b 1 b 4 sau b 1 b 3 sau b 2 b 3 sau b 2 b 4 .
(e)
(i)
b5
(i)
b6
b1
(R4)
b1
(C4)
a)
b3
(e)
(R2)
b2
(C2)
b4
b2
b)
b3
Fig. 7.9
Prin urmare, numai defectrile duble
b1 b2
sau
b3 b4 ,
triple b 1 b 2 b 3 sau b 1 b 2 b 4 , sau cuadrupl b 1 b 2 b 3 b 4

pot afecta buna funcionare a grupului = R 4 C 4 .
Alta este situaia n ramurile superioare, unde buna funcionare
este afectat de defectrile singulare b 5 b 6 , respectiv dubl b 5 b 6 .
Aceste defectri nu pot provoca dect rspuns eronat n sistem (1.2),
deoarece dispariia semnalului la ieire (e) anuleaz producerea unui
rspuns fals (1.2.3).
Dac n locul grupului R 4 C 4 s-ar gsi grupul R 2 C 2 = = R 4 C 4 , cu
aceeai valoare a constantei de timp (fig.7.9b), distribuia i efectele
defectrilor ar fi cu totul diferite. n acest caz, constanta de timp se
145
anuleaz ( = 0 / rspuns fals) pentru orice defectri (prin cretere),

singulare sau multiple: b 1 b 2 b 3 ; b 1 b 2
sau b 1 b 3 sau b 2
b 3 ; b 1 b 2 b 3 ; semnalul nu dispare oricum la ieire (rspuns fals).

Acest mod de analiz a defectrilor (singulare sau multiple) ca i
influena lor asupra rspunsurilor la nivel macroscopic pe sistem (rol
funcional) va fi dezvoltat n unele capitole ulterioare.
7.1.3. Elemente defectabile dominant prin scdere

parametric
Acest mod de defectare, complementar fa de cel care se produce
prin cretere parametric, are o frecven de apariie ceva mai redus n
cadrul echipamentelor electrice i electronice.
n acest fel, dominant, se defecteaz o serie de componente
(tab.6.1) , ca de exemplu: condensatorii electrolitici, condensatorul i
rezistorul cu 4 borne (7.1.2), contactorii de pute re medie, diodele
semiconductoare, tranzistorii etc.
Efectul lor nu este neglijabil deoarece afecteaz, n primul rnd,
rezistena de izolaie la elemente de montaj: fire n cablu, trase de cablaj
imprimat, socluri (relee, circuite integrate, tuburi electr onice speciale),
borne de reglete, fie de conector multiplu etc.
Tuturor acestor defectri le sunt caracteristice relaiile generale de
fiabilitate:
0 ;
R_ (t) < R + (t);

R_(t) + F_(t) = 1;
0 .5 ;
146
F_ (t) > F + (t);

R + (t) + F + (t) = 1
0 .5
Un exemplu tipic, n acest sens, poate fi dat prin grupul de dou

condensatoare conectate n serie (5.2; fig. 5.3a), la care separarea
galvanic ntre bornele extreme dispare numai dac se strpung ambele
condensatoare (la limit), sau scad ambele rezistene de izolaie n
dielectric sub limita total admisibil (protecie simpl).
n schimb, alunecarea parametric n sens pozitiv (la limit
ntrerupere), face neutilizabil ntregul grup.
[]
F1
F2
[+]
F1
F1+
F2+
caz,
rezult
F2
Fig. 7.10
Aplicnd
metoda
dedublrii,
acest
schema
echivalent din figura 7.10 : primul grup se defecteaz numai prin

scdere [], iar cel de al doilea numai prin cretere [+], relaiile de
calcul fiind:
F = F_ F + = F 1 _ F 2 _ F 1 + + F 2 + - F 1 + F 2 +
Dac cele dou componente sunt identice, aceast relaie devine
mai simpl:
F F F F2 F 2 F
(S)
F1 F2 Fn
[]
[+]
F1
F2
F1+ F2+ Fn+
Fn
Fig. 7.11
147
Prin generalizare se obine efectul de dedublare din figura 7.11,

pentru un numr oarecare n elemente conectate n serie (S), rezultnd
expresiile de calcul ( 5.1 i 5.2):
n
F Fi ;
i 1
F 1 1 Fi
i 1
Pentru componente identice, aceste relaii devin:

F' Fn ;
F' 1 1 F n
F ' F' F' Fn 1 1 F n
Ca i pn acum, aici i n continuare, la scrierea relaiilor este

omis parametrul timp, spre a se obine expresii formale mai simple i,
prin urmare, mai uor de interpretat.
a)
T1
T1
T2
T2
Fig. 7.12
b)
Pentru componente de tip diport sau multiport, acest mod de

protecie simpl se aplic, de regul, n circuitul de ieire unde
funciunile de execuie impun unele rigori specifice. n figura 7.12 este
redat maniera de realizare a acestei protecii simple, fa de defe ctri
148
prin scdere parametric []: a) circuit cu tra nzistoare; b) circuit cu

tiristoare.
7.2.
Protecia dubl
Acest tip de protecie, att prin cretere [+] ct i prin scdere []

de parametru, este mai puin utilizat deoarece are un cost, volum i
greutate de valori relativ ridicate. Totui, n unele situaii, reprezint
singura cale de a obine performane fiabiliste superioare pentru unele
circuite de execuie sau de validare a bunei funcionri la nivel
macroscopic de sistem.
n schemele de conectare electric din figura 7.13 este redat modul
de protecie pentru patru tipuri de componente reprezentative, structurile
de fiabilitate fr dedublare fiind serie-derivaie (SD; fig. 5.4 ; 5.3.1),
respectiv derivaie serie (DS; fig. 5.5 ; 5.3.2).
Este uor de observat c cele 8 grupuri de componente (s tructuri
SD i DS), i pstreaz proprietile fundamentale pentru defectri,
dependente de modul n care acestea se produc [+], [], singulare dar i
unele multiple.
a) Grupul de condensatori C 1 . . .C 4 reprezint o rezolvare total
a problematicii analizate anterior pentru doi condensatori
nseriai ( 5.2; fig.5.3). Dintre cele dou variante, este de
preferat varianta DS pentru tipurile de condensatori precizai la
poziiile 10 i 11 n tabela 6.1).
b) La fel, prin cei patru rezistori sunt rezolvate proble mele de
fiabilitate ale proteciei simple, ndeosebi pentru varianta SD,
deoarece acest tip de component se defecteaz dominant prin
cretere parametric (t ab 6.1 poz. 34 . . .37).
149
a)
C1
C3
C1
C2
C2
C4
C3
C4
R1
R3
R1
R2
R2
R4
R3
R4
b)
c)
d)
D1
D3
D1
D2
D2
D4
D3
D4
K1
K3
K1
K2
K2
K4
K3
K4
Structuri SD
Structuri DS
Fig. 7.13
c) Pentru diode este de preferat varianta DS deoarece, pentru

acestea, defectarea dominant este prin scdere de paramet ru (la
limit strpungere: tab. 6.1 poz. 20. . . 22).
d) O problematic mai larg o ridic diferitele contacte electrice,
care intr n construcia unor componente cu utilizri multiple:
150
relee uzuale sau speciale, butoane de comand, chei de control,

comutatori, conectori mobili cu fie etc. n funcie de valoarea
rapoartelor + / i
/ (tab. 6 .1 poz.8; 14; 15; 18; 25; 28
. . .32), se alege o variant sau alta (SD, DS), astfel nct

funcia de fiabilitate s aib valoarea cea mai mare.
Pentru calculul indicatorilor de fiabilitate este necesar s se
deduc relaiile corespunztoare structurilor SD i DS i aplicnd
metoda dedublrii.
n figura 7.14 sunt redate structurile echivalente serie derivaie
(SD), pentru care se deduc urmtoarele relaii de calcul ( 5.3.1):
F = (F 1 + F 2 F 1 F 2 ) (F 3 + F 4 F 3 F 4 )
F + = F 1 + F 2 + + F 3 + F 4 + F 1 + F 2 + F 3 + F 4 +
(SD)
[+]
[]
F1
F3
F1+
F3+
F1
F2
F2
F4
F2+
F4+
F3
F4
Fig. 7.14
Deoarece, n general, elementele sunt identice,
F 2 F F2 2 F F2 2 F F2
rezult c:
F + = 2F + 2 F + 4 = F + 2 (2 F + 2 )
'
FSD
F' F' 2 F F2
2 F2 2 F2 .
Procednd n acelai fel, se obin structurile echivalente derivaie

serie (DS) i relaiile de calcul corespunztoare (fig. 7.15):
151

(DS)
[+]
[]
F1
F2
F1+
F2+
F1
F3
F3
F4
F3+
F4+
F2
F4
Fig. 7.15
F = F 1 F 2 + F 3 F 4 F 1 F 2 F 3 F 4
F + = (F 1 + + F 2 + F 1 + F 2 + ) (F 3 + + F 4 + F 3 + F 4 + )
iar pentru elemente (componente) identice:
F' F2 ( 2 F2 );
F' 2 F F2 ;
'
FDS
F' F' F2 2 F2 2 F F2
2 .
n cazul general, cnd numrul de elemente (componente) este

oarecare, se obin structuri serie sau derivaie care, la rndul lor ,
formeaz structuri de tipul SD sau de tipul DS. De asemenea, dup
situaie, pot s apar cu necesitate structuri neuniforme, pentru tratarea
crora sunt valabile aspectele expuse anterior ( 5.3.3) continuate cu
cele referitor la dedublare.
*
n ncheierea problematicii de protecie fiabilist prin modul de
defectare, se impun unele precizri cu caracter de generalitate.
-Protecia simpl, dup un singur mod de defectare [+ , ]
reprezint cazuri particulare, structurile de fiabilitate reducndu -se la
cele de tip serie (S) pentru defectri prin scdere de parametru,
respectiv la cele de tip derivaie (D) pentru defectri prin cretere
parametric.
152
- Elementele conectate electric n serie se reprezint n schemele

de dedublare) n derivaie pentru modul de defect are prin scdere [] i
n serie pentru modul de defectare prin cretere [+].
- Elementele conectate electric n derivaie se reprezint (n
schemele dedublate) n serie pentru m odul de defectare prin scdere []
i n derivaie pentru modul de defectare prin cretere [+].
- Rezult c, pentru a se obine o eficien fiabilist, este nec esar
ca elementele care se defecteaz dominant prin cretere de parametru [+]
s fie conectate electric n derivaie,
+ / > 0,5 ,
iar cele care se defecteaz dominant prin scdere de parametru [] s fie
conectate electric n serie .
/ > 0,5.
Protecia simpl este numit (n unele lucrri de specialitate) i
redundan simpl; aceast a doua denumire conduce, uneori, la
confuzie atunci cnd nu se precizeaz modul de defectare. De aceea, n
aceast
lucrare,
vom
pstra
denumirea
de
protecie
simpl,
iar
problematica redundanei va fi tratat n profunzime, ntr-un capitol

consacrat exclusiv.
Protecia dubl mai este numit i redundan n cuadratur, de
asemenea impropriu att n sens semantic, ct i prin confuzia care se
poate produce cu privire la proprietile de redundan.
n toate structurile de protecie, simpl sau dubl, se remarc unele
proprieti de dualitate complementaritate, att n schemele structurale
de fiabilitate ct i n relaiile de calcul respective. Acest aspe ct poate fi
ilustrat i prin urmtoarea schem sinoptic general (fig. 7.16) :
153
Schem fiabilist
de tip derivaie
pentru defectare
prin scdere
parametric [-]
Schem fiabilist
de tip serie pentru
defectare prin
scdere
parametric [-]
Conectare
electric n
serie
Conectare
electric n
paralel
Fig. 7.16
154
Schem fiabilist
de tip serie pentru
defectare prin
cretere
parametric [+]
Schem fiabilist
de tip derivaie
pentru defectare
prin cretere
parametric [+]
Capitolul 8
Redundana fiabilist.
Tolerana la defectri
8.1. Ordinul defectrii

Atunci cnd se analizeaz efectele apariiei defectrilor , n cadrul
unui sistem, se constat trecerea acestuia din starea valid - V n starea
nevalid - V ( criteriul primei defectri, 2.2). Producerea defectrilor,
cu efect negativ pentru fiabilitatea sistemului n cauz, poate avea loc
printr-o distribuie oarecare. Pentru a determina aceast distribuie se
introduce noiunea de ordin al defectrii.
- Defectri de ordinul I, caracterizate prin faptul c este suficient
s se defecteze o singur component, oarecare, pentru ca ntregul
sistem s fie afectat; defectrile de acest fel sunt singulare.
- Defectri de ordinul II, cnd ntregul sistem este afectat numai
dac se produc dou defectri, simultane sau consecutive.
- Defectri de ordinul III, ordinul IV, ... , ordinul M, caracterizate
prin aceea c produc efecte negative dac apare n grup defe ctarea a 3,
4, ..., M componente, avnd acelai efect negativ asupra sistemului i
anume, trecerea acestuia din starea V n starea V (d efectri de asemenea
simultane).
n urma unei astfel de analize, rezult o structur general de
fiabilitate redat n figura 8.1, unde cu i, j, k, ..., r s-au notat variabilele
155
8 Redundana fiabilist / tolerana la defectri
de rang asociate fiecrui ordin al defectrii (I, II, III, ..., M). Dac
rezult i structuri neuniforme, acestea vor fi tratate ca atare (5.3.3).
(i)
IIIk
IIj
Ii
Mr
Mr
:
:
IIIk
IIj
(e)
IIIk
Mr
Fig. 8.1
Mai trebuie precizat faptul c la stabilirea ordinului defectrii,
pentru sisteme cu mare rspundere funcional - i, mai ales, n cazul
funciunilor de protecie (1.2.1), este necesar a se cunoate, teoretic i
practic, aspectele tehnologice proprii sistemului analizat. Calitatea de
ordin al defectrii rezult, n esen, ca efect al unor proprieti
funcionale de sistem, dintre care cele mai importante sunt expuse n
continuare.
Unele dintre componentele sistemului sunt prevzute ca fiind
rezerve funcionale ale altora; de exemplu n dubletul II j , unul dintre
elemente poate fi rezerva celuilalt, motiv pentru care, n multe
cazuri, cele dou componente sunt identice.
Alte elemente apar ca efect al modului de defectare (6.1).
Astfel,
dac
anumit
component
afecteaz
funcionali tatea
sistemului numai la defectare prin cretere de parametru [+],

defectarea sa prin scdere parametric [-] nu se poate produce.
n fine, o serie de defectri multiple se manifest n sistem
datorit interdependenei funcionale; acest aspect este n tlnit
frecvent la sistemele polifuncionale (1.2.1) .
La stabilirea apartenenei componentelor la ordinul defectrii este
necesar ca unul i acelai element s apar o singur dat i anume la
156
ordinul inferior; orice apariie ulterioar, ntr-o combinaie de ordin

superior, va fi eliminat (pe baza criteriului primei defectri - 5.1).
Dup stabilirea structurii fiabiliste, n funcie de ordinul defectrii
(fig.8.1), se trece la calculul indicatorilor de fiabilitate.
I) Defectrile singulare au proprietile sistemelor neredundante
(5.1). Dac se noteaz cu numrul total al elementelor ce aparin
acestui ordin, rezult relaiile de calcul:
i 1
i 1
R I R Iix ( 1 FIix )
n aceste relaii R I reprezint funcia de fiabilitate, iar F I funcia

de nonfiabilitate, pentru ordinul I al defectrilor. Prin semnul x este
precizat faptul c defectrile considerate n cadrul analizei pot fi:
generale (indiferent de modul de defectare, att prin cretere ct i prin
scdere parametric), dominant sau exclusiv prin cretere parametric ,
dominant sau exclusiv prin scdere parametric (7.1).
Fiind mrimi probabilistice n relaie de produs, ndeosebi la
sisteme complexe, funcia de fiabilitate este afectat (valoric) de aceste
defectri singulare, care reprezint singurul ordin posibil la sisteme
neredundante. De asemenea se reamintete faptul c parametrul timp t se
subnelege dar nu se mai scrie, ca i n continuare, spre a nu complica
inutil forma expresiilor.
II) Defectrile n dublet, caracteristice sistemelor redundante
(5.2) a par prin efect de redundan general sau n funcie de modul de
defectare ca, de exemplu, n situaia a dou componente n relaie de
protecie simpl (7.1). Dac numrul unor astfel de grupuri de cte
dou componente (fig.8.1) este , rezult expresiile:
157
RII
j 1
j 1
j 1
RIIj [ 1 ( 1 R1x ) ( 1 R2x )] j ( 1 F1x F2x ) j
j 1
( 1 FIIj )
III) Defectrile multiple n triplet, la aceeai distribuie a valorilor

de fiabilitate ca n cazul dubleilor, au o fiabilitate mai bun dect n
ordinul inferior: R I I I > R I I
k1
k1
k1
k1
RIII RIIIk[1(1 R1x )(1 R2x )(1 R3x )]k (1 F1xF2xF3x )k (1 FIIIk)
unde este numrul total de triplei cuprins n ordinul III.

n acelai fel se determin relaiile de calcul pentru ordinul IV,
ordinul V etc.
IV) Notnd cu numrul grupurilor corespunztor ordinului
general M, se obin relaiile de calcul:
r1
r1
r1
r1
x
x
RM RMr[1(1R1x )(1R2x )(1R3x ) ...(1RM
)]r (1F1xF2xF3x...FM
)r (1FMr)
Teoretic, acest ordin general notat cu M poate fi foarte mare, mai

ales la sistemele complexe multifuncionale; practic, ns, analiza se
oprete la acel ordin pentru care valorile funciei de nonfiabilitate F M
sunt neglijabile. Acest aspect rezult din expresia general
FM 1 R M 1 ( 1 FMr ) 0 ,
r 1
dac M >> 1 i termenii F1x , F2x , F3x , , FMx au valori reduse, ceea ce este
valabil n cazul echipamentelor de tip profesional.
Pe de alt parte se observ c funcia de fiabilitate crete cu
mrirea ordinului defectrii (n aceleai condiii):
RM = 1 FM 1
158
Aceasta conduce la stabilirea urmtoarelor inegaliti:

R M > R M - 1 > R M - 2 > ... > R I I I > R I I > R I
respectiv
F M < F M - 1 < F M - 2 < ... < F I I I < F I I < F I
M()
(i)
I()
II()
(e)
III()
a)
(i)
(e)
II
III
b)
Fig. 8.2
Explicaia fizic, de fenomen, rezid n faptul c defectarea

simultan a mai multor componente este cu att mai puin probabil , cu
ct numrul acestora M este mai mare (coinci dena evenimentelor
aleatoare). Aceast proprietate se pune i mai bine n eviden prin
graful corespunztor, redat n figura 8.2a). Tot de aici se observ c
fiecare grup, determinat prin defectare multipl (II, III, ..., M) i evaluat
prin relaiile de calcul determinate anterior:
RI,
FI,
RII,
FII,
RIII,
F I I I , ...,
RM,
FM,
se afl ntr-o structur fiabilist de tip serie (fig.8.2b).

Rezult c, pe ntregul sistem, funciilor de fiabilitate R i de
nonfiabilitate F le corespund expresiile de calcul (5.1):
R R I R II R III ... RM
F 1
( 1 Fv )
v 1
Rv ;
v 1
159
unde v reprezint variabila de rang asociat tuturor celor M ordine de

defectare considerate n calcul. Bilanul (final) arat c analiza pe
sistem cuprinde componente cu defectri singulare i (2 + 3 + ...
+M ) componente cu defectri multiple. Toate aceste defectri multiple
(de ordin II, III, ..., M) nu sunt defectri n avalan (2.1), deoarece
acestea din urm se produc secvenial i nu simultan (n timp).
De asemenea, din graful redat n figura 8.2a) rezult c, pentru
ameliorarea fiabilitii, este necesar s fie reduse la minimum grupurile
de componente corespunztoare ordinelor inferioare ( , , ...); aceasta,
bineneles, n limitele unor costuri raionale, deoarece aceste reduceri
sunt urmate de creteri numerice ale unor grupuri cu ordin de defectare
superior ( , , , , ..., ) care, inevitabil, conin multe elemente n
structurile lor.
Tot pe aceast cale, a eliminrii din structurile fiabiliste de sistem
a
ordinelor
inferioare
ale
defectrilor,
se
obine
cretere
substanial a disponibilitii echipamentelor (2.2), proprietate ce va fi

aprofundat n continuare.
8.2. Redundana de echipament

Dac la un sistem tehnic neredundant, avnd o structur serie, au
fost epuizate toate posibilitile raionale de cretere a fiabilitii
(elemente rezistente, regim descrcat de solicit are procedeu numit
uneori redundan simpl), ameliorarea acesteia se poate face (aparent
paradoxal) prin mrirea numrului de elem ente componente, adic prin
introducerea unor elemente n plus fa de necesitile strict funcionale
(redu ndan multipl). Altfel spus, pe aceast cale, se poate obine un
ansamblu mai sigur cu ajutorul unor elemente mai puin sigure. Pentru
160
aceasta se prevd n sistem elemente (subansambluri) de rezerv, care

pot s compenseze din punct de vedere funcional defectrile produse la
elementele de baz.
n concordan cu definiia din paragraful 1.1.2, n acest subcapitol
se vor expune
procedeele de realizare a redundanei,
cu unele
exemplificri din practica sistemelor de reglare a circulaiei/navigaiei.

A Redundana individual (rezervare pe elemente) const n
folosirea unor componente sau subansambluri de rezerv, de regul
identice cu cele de baz. Schema general de fiabilitate corespunde
structurii sistemelor redundante (5.2 fig.5.3c), avnd un numr
oarecare (d-1) elemente de rezerv.
a)
b)
R1
Cm
Cm
R2
R1
c)
b1
f1
b2
R2
f2
bc
EA
RE
Red
Ac
(e)
d)
(i)
e)
Red
RE
(e)
Ac
Fig. 8.3
n desenele din figura 8.3 sunt redate, simplificat, unele aplicaii
ale acestui procedeu.
a) Unitile luminoase ale semafoarelor electrice utilizate n
dirijarea circulaiei rutiere nc mai au, ca surse de lumin, becuri cu
incandescen. Deoarece defectrile acestor componente sunt brute
(2.2 fig.2.10), prin ntreruperea fila mentului, exist semafoare cu 4
uniti luminoase: verde, galben i dou rou (R). Acestea din urm au o
161
funcionare simultan n paralel, fiind comandate prin acelai element

de comutaie Cm (fig.8.3a). n acest fel este evitat dispariia indicaiei
cele mai restrictive rou, prin defectarea oricrei lmpi (ordinul II al
defectrii - 8.1).
Relaia de calcul a funciei de fiabilitate R R pentru ca afiajul rou
s se produc,
RR = R1 + R2 R1R2,
se simplific deoarece cele dou entiti luminoase (i lmpi) sunt
identice:
R 1 = R 2 = R;
R'R = R(2 -R) > R ,
unde R reprezint funcia de fiabilitate a unei uniti luminoase.

Astfel dac, pentru un anumit interval de timp, se ia R(t) = 0,7
funcia de fiabilitate pentru indicaia rou va avea valoarea R R = 0,91 cu o eficien fiabilist
f
R'R R( 2 R )
1,3
R
R
b) n figura 8.3b) este, de asemenea, redat un exemplu practic de

redundan individual i ordin II al defectrii. La pasajele de nivel cu
calea ferat (intersecie arter rutier/cale feroviar la acelai nivel),
semnalizarea
interseciei
de
circulaie
rutier
se
efectueaz
prin
intermediul a dou uniti luminoase rou R 1 i R 2 acionate n

contratimp (push pull) prin comutatorul Cm care, la rndul su, este
comandat n impulsuri de form dreptunghiular (75 impulsuri/minut).
Fa de exemplul precedent, aceast aplicaie difer numai prin faptul c
interdicia de circulaie rutier se face prin indicaie de rou - clipitor,
pentru a se obine o atenionare mai eficient a operatorilor umani conductori de vehicule rutiere (grad de pericol mai mare). n domeniul
162
strict al echipamentului, relaiile de calcul i eficiena fiabilist sunt

aceleai ca n cazul precedent.
c) Pentru dirijarea navigaiei, n domeniul naval, uneori sunt
utilizate surse de lumin cu lentile cilindrice, i focare filiforme. Spre a
se obine o bun fiabilitate, n anumite aplicaii, se folosesc lmpi cu
incandescen, avnd dublu filament filiform n acelai balon de sticl.
Schema simplificat este redat n figura 8.3c), unde cu f 1 i f 2 sunt
notate cele dou filamente
(identice), cu b 1 i b 2 bornele capetelor
separate ale filamentelor, iar cu bc borna lor comun.

Fiind alimentate sub tensiune electric constant, curentul de
excitaie I, pentru starea valid, se mparte egal ntre filamentele f 1 i f 2 ;
dac se ntrerupe unul (oricare) dintre cele dou filamente, unitatea
luminoas va continua s funcioneze cu ajutorul filamentului rmas n
stare valid V. i n acest caz relaiile de calcul i concluziile de natur
fiabilist sunt aceleai ca n exemplele precedente.
d) Tot pe proprietile redundanei individuale se bazeaz i
sistemele de electroalimentare a unor dispozitive sau instalaii utiliza te
pentru reglarea circulaiei sau navigaiei. Un astfel de exemplu este
redat n figura 8.3d), cu notaiile:
EA sistem de electroalimentare;
RE reeaua electric de alimentare n curent alternativ (de regul
n cablu subteran sau subacvatic);
Red redresor pentru obinerea unui curent electric continuu;
Ac baterie de acumulatori cu o capacitate electric suficient
pentru a asigura electroalimentarea (la ieirea e) pe o durat prestabilit
(de exemplu 24 ore).
Deoarece bateria de acumulatori Ac funcioneaz n regim tampon
(este cuplat permanent n paralel la bornele de ieire ale redresorului
163
Red), aceasta asigur alimentarea la ieire ( e) pentru intervalul de timp

prevzut, n condiii de ntrerupere a reelei RE sau de defectare a
redresorului Red.
Pe baza grafului aferent (fig.8.3e), se pot scrie relaiile funciei de
fiabilitate a electroalimentrii EA (structuri neuniforme - 5.3.3):
REA = RRE RRed + RAc RRE RRed RAc
Deoarece bateria de acumulatori Ac are fiabilitatea cea mai bun
(fa de reeaua electric RE, respectiv fa de redresorul Red), iar
funciile de fiabilitate fiind mrimi probabilistice, rezult c sunt
valabile inegalitile:
REA > RAc > RRE RRed
care exprim, calitativ, sporul de fiabilitate prin acest pro cedeu de
electroalimentare fa de cele dou modaliti mai simple: numai reea
electric RE cu redresor Red sau numai baterie de acumulatori Ac.
B Redundana general (rezervare pe sistem) este caracterizat
prin existena unuia sau mai multor sisteme/susbsisteme de rezerv,
fiecare dintre ele avnd, de asemenea, o structur serie ca i sistemul de
baz (5.3.2 fig.5.6). n cazul general vor exista ( d-1) sisteme de
rezerv.
Ca exemplu de rezervare pe sistem, poate fi dat radiofarul de
direcie pentru aterizare dup instrumente ILS (Instruments Landing
System); la captul opus al pistei de aterizare i n prelungirea axei
longitudinale a acesteia sunt montate dou astfel de radiofaruri
(identice), unul fiind cel de baz, iar cellalt rezerva sa.
n practic pot fi ntlnite i situaii pentru care structura de
fiabilitate este neuniform, ceea ce nu schimb fondul problemei.
164
C Redundana combinat (rezervare mixt) const n utilizarea,

n cadrul aceluiai sistem, att a redundanei individuale ct i a
redundanei generale. n acest caz sche ma de fiabilitate are alura celei
din figura 5.7 5.3.3.
D Redundana permanent (rezervare activ) se realizeaz prin
conectarea unitilor de rezerv la cele de baz pe tot intervalul de
funcionare, toate elementele (de baz i de rezerv) avnd acelai regim
de lucru (exemplele din figura 5.3 - 5.2). Prin faptul c elementele de
rezerv funcioneaz concomitent cu cele de baz i n acele ai condiii
de solicitare, redundana permanent se mai numete i rezervare cald
sau rezervare prin conectare permanent. Acest procedeu de rezervare
este simplu i economic, ns prezint dezavantajul c la defectarea unui
element (subansablu, sistem etc.) se produc variaii de rezisten
electric, reactan sau impedan, ceea ce conduce la modificarea
regimurilor de solicitare ale celorlalte elemente i creeaz (n anumite
cazuri) condiiile declanrii unei defectri n avalan (2.1).
O astfel de rezervare activ este aplicat i n cazul sistemului de
electroalimentare (fig.8.3d), unde bateria de acumulatoare
Ac este
conectat n permanen la ieirea redresorului Red (regim tampon). Se

observ c apariia unei defectri prin scdere de parametru [-] n
circuitul de ieire din redresorul Red, sau n bateria de acumulatoare Ac,
poate provoca un proces de defectare n avalan.
E Redundana succesiv (rezervare pasiv) const n conectarea
unitilor de rezerv n locul delor de baz numai dup defectarea
acestora; se mai numete i redundan prin nlocuire, rezervare rece sau
rezervare prin conectare temporar.
n figura 8.4a) este artat o astfel
de situaie: sistemul de baz S 1 urmeaz a fi nlocuit, n momentul

defectrii, de ctre elementul S 2 (de rezerv).
165

(i)
(e)
(i)
S1
(e)
1
a)
S2
b)
2
(i)
(e)
c)
Fig. 8.4
Aceast nlocuire se face cu ajutorul elementului - care se numete
element (dispozitiv) de supraveghere i comutare. Deoarece n operaia
de trecere de la elementul (sistemul) de baz la elementul (sistemul) de
rezerv intervine (intr n funciune) elementul (sistemu l) , este
evident c fiabilitatea global va depinde i de fiabilitatea acestuia.
Presupunnd c acest element, n starea sa normal, are o influen
neglijabil asupra funcionrii elementului de baz S 1 (ceea ce n
practic, uneori, se ntmpl), schema structural de calcul fiabilist
corespunde celei din figura 8.4b), elementul fiind considerat att prin
circuitul de comutare de la intrare i ct i prin circuitul de ieire e .
n aceste condiii, considernd graful din figura 8.4c ), pentru
funcia de fiabilitate rezult expresia:
R = R 1 + R R 2 R 1 R R 2
Trebuie amintit faptul c probabilitile R 1 , R 2 i R sunt funcii de
timp, iar solicitarea elementelor respective variaz, de la unul la altul,
pe msura trecerii timpului (2.2).
Pentru orice valoare a timpului, cu excepia t = 0 i t = , funcia
R ndeplinete condiiile (1) i (2) :
166
R > R1;
(1)
R < R1 + R2 R1R2 = RD;
(2)
deci aplicnd o redundan succesiv, n practic se obine oricum o

cretere a fiabilitii (e vident numai dac R 0). Deoarece R < 1,
rezult c fiabilitatea obinut prin redundan succesiv este oricum
mai mic dect aceea care se obine prin redundan permanent D,
utiliznd acelei elemente, de baz S 1 i de rezerv S 2 .
Prin urmare, n orice moment, indicatorul R satisface inegalitatea
R 1 < R < R D ; pentru fiabilitate global ridicat, este necesar ca
elementul s aib caracteristici de nalt fiabilitate.
n comparaie cu redundana permanent, cea succesiv ofer
urmtoarele avantaje:
n momentele de defectare nu se produc variaii ale parametrilor
de circuit (rezist en electric, reactan, impedan).
Elementele de rezerv au o vitez de deteriorare sczut
deoarece, n ateptare, sunt solicitate numai de factorii din ambian.
Acelai element poate fi utilizat pentru a rezerva mai multe
elemente de baz din sistem.
n schimb, acest tip de redundan, necesit dispozitive de
supraveghere i comutare ce reduc eficiena redundanei, ridic costul
sistemelor i perturb funcionarea normal a acestora pe durata de
comutare (n anumite cazuri).
Un exemplu de aplicare a redundanei succesive este ilustrat n
figura 8.5a), prin utilizarea separat a bornelor de intrare la becul de
semnalizare cu dublu filament (fig.8.3c).
n regim normal, pn n momentul producerii defectrii, este
activat filamentul de baz f b prin amplificatorul de baz A b ; la apariia
defectrii
(filament,
soclu,
amplificator
Ab
etc.)
circuitele
de
167
supraveghere i comutaie la intrare ( i ) comand, p rin amplificatorul de

rezerv A r , activarea filamentului de rezerv f r . Datorit bornei separate
b r nu mai este necesar o comutare de ieire e (fig.8.4a).
F Redundana automat este n acelai timp i succesiv, avnd
particularitatea c depistarea i nlocuirea unitii defecte se face
automat cu ajutorul unor dispozitive speciale.
a)
bb
Ab
(i)
br
Lb
Ab
b)
bc
fr
Ar
(i)
fb
Ar
Csc
Lb
Lr
(e)
(i)
(e)
Csc
Ar
()
Fig. 8.5
Lr
c)
Acest procedeu este larg rspndit n structurile de echipament ale

sistemelor de circulaie i navigaie. Spre exemplu, n structura unui
sistem electronic de balizare luminoas automat a enalelor navigabile
(fig. 8.5b) sunt coninute urm toarele subansambluri, avnd notaiile:
A b , A r amplificator de baz, respectiv de rezerv;
L b , L r lmpi cu incandescen, de baz respectiv de rezerv;
C s c circuit de supraveghere i comutaie ( i ).
Dac trebuie activat lampa de baz L b , iar aceasta este defect,
prin circuitul C s c este activat amplificatorul A r care comand lampa de
rezerv L r .
168
Graful de fiabilitate fiind cel din desenul 8.5c), rezult expresia

funciei de fiabilitate pe sistem:
R = R Lb + R C s c R A r R Lr R Lb R C s c R A r R Lr > R Lb ,
diferena dintre termenii al doilea i al treilea fiind pozitiv.
G Redundaa manual este, de asemenea, succesiv i se
deosebete de cea automat prin faptul c depistarea i nlocuirea
unitii defecte este executat de ctre operatori umani. n cazul cel mai
simplu operatorul de serviciu manevreaz un comutator simplu sau
complex (fig.8.4a, b), cu ajutorul c ruia izoleaz (funcional) sist emul
de baz S 1 i introduce n funciune sistemul de rezerv S 2 (valid).
H Redundana programat (temporizat) se realizeaz prin
trecerea pe unitatea de rezerv dup un anumit timp de funcionare,
dinainte stabilit pentru unitatea de baz. Acest tip de redundan, cu
utilizri mai reduse n practic, este folosit acolo unde nu sunt condiii
de aplicare pentru redundana automat (F) sau manual ( G).
I Redundana majoritar (selectiv) repr ezint un caz particular
al redundanei permanente. Schema general corespunde celei din figura
8.6a), existnd un numr total L = 2n-1 elemente, de regul identice, i
un subsistem (dispozitiv) de decizie SSD (voter).
Funcionarea sistemului, n ansamblu, este considerat ca fiind
corect dac se obine acelai tip de rspuns (1.2.1) la majoritatea
ieirilor elementelor (1, 2 , ..., l, ..., L); rezult c, spre a nu exista
incertitudine, L trebuie s fie impar: starea de funcionare nu este
afectat dac, din cele 2n-1 canale, funcioneaz cel puin n canale (n
fiind un numr ntreg). n literatura de specialitate aceast structur de
redundan, cu numeroase i importante aplicaii, este ntlnit sub
abrevierea NMR (N - Modular Redundancy).
169
Dac, teoretic, numrul total de elemente L poate fi orict de mare,

n cadrul sistemelor cu mare rspundere funcional acest numr
depete rareori cifra 4, deoarece la valori mari subsistemul de decizie
SSD trebuie dezvoltat corespunztor, ceea ce conduce la o fiabilitate
redus a acestuia (5.1). Acest aspect va fi dez voltat i aprofundat
ulterior n lucrare. Pentru moment trebuie reinut faptul c, n final,
fiabilitatea ntregului sistem depinde decisiv de aceste structuri de
decizie, aspect extrem de important dac se pune problema apariiei
unor rspunsuri false (1 .2.3).
ntruct studiul acestor structuri se va face n alte capitole, n
diagrama grafurilor aferente (fig. 8.6b), zona subsistemului de decizie
SSD este redat prin arce cu linii ntrerupte.
a)
b)
(i)
S
S
D
l
L
c)
: (SSD)
:
:
(SSD)
1
(i)
(e)
(e)
2
3
Fig. 8.6
n implementri uzuale, cea mai larg rspndire o are varianta 2
din 3: L=3, n=2. Aceast variant, denumit i TMR Triple Modular
Redundancy, are structura de graf
redat n figura 8.6 c), iar analiza
strilor de subsistem valid (V ), respectiv nevalid ( V ), se poate efectua

(sintetic) i prin intermediul celor expuse n tabela 8.1.
170
Tab. 8.1
Parcurgnd toate strile posibile,
Subsisteme
Valide (V)
1 2 3 SSD
1 2 SSD
1 3 SSD
2 3 SSD
Nevalide
(V )
3
2
1
din
punct
de
vedere
fiabilist,
se
observ c buna funcionare de sistem

este asigurat (V)
chiar dac se
defecteaz unul (oarecare) dintre cele

trei subsisteme (1; 2; 3). n aceast
categorie nu intr subsistemul SSD,
deoarece acesta are rolul de a decide, logic, dac semnalul obinut la

ieire (e) este rezultatul unei funcionri corecte la nivel mac roscopic
(din punct de vedere f uncional).
J Redundana cu multiplicitate reprezint, n fapt, o extindere a
redundanei majoritare (I) ; funcionarea sistemului este asigurat dac
dintre cele L canale (fig. 8.6 b) funcioneaz un anumit numr k < L .
Numrul k se numete ordin de multiplicitate (pondere) i care, evident,
are valoarea minim egal cu 2.
K Redundana glisant (alunectoare ) poate fi n acelai timp i
individual (A), general ( B), succesiv ( E), respectiv automat ( F).
Diferena esenial fa de alte tipuri de redundan const n aceea
c, n acest caz, este admis funcionarea sistemului, dup producere a
uneia sau mai multor defectri ( 1.1.2), cu performane tehnico
economice inferioare celor caracteristice funcionrii normale. n acest
fel sistemul va continua s funcioneze cu o capacitate redus de
operare: numr mai mic de funciuni ndeplinite, durate mai mari de
execuie etc.
Acest tip de redundan este convenabil a fi utilizat n anumite
aplicaii, deoarece nu necesit dezvoltri importante de echipament: cost
redus, fiabilitate bun, volum i greutate minime, mentenan uoar etc.
171
De asemenea, datorit acestor caracteristici, utilizarea sa este

eficient n anumite situaii, extrem de importante n domeniul
tranporturilor, cnd sistemul se blocheaz sau se deconecteaz automat,
oprind procesul. Acest procedeu, cunoscut n literatura de specialitate
sub denumirea fail safe, permite realizarea funciunilor de protecie
prin evitarea producerii unor rspunsuri false i, eventual, transformarea
acestora n rspunsuri eronate ( 1.2.3).
Un exemplu clasic, n acest sens, l constituie utilizarea releelor
gravitaionale ( 7.1.1) n sistemele de dirijare a traficului feroviar
(trenuri i metrouri), unde procesul de circulaie se desfoar pe baza
unor coduri de vitez.
Deplasarea trenurilor, crora le este caracteristic o cantitate mare
de energie cinetic ( mv 2 / 2 ), se face dup indicaiile color afiate la
luminosemnale:
V verde: liber cu viteza stabilit, luminosemnalul urmtor este
pe indicaia liber;
G galben: liber cu viteza stabilit, pregtete oprirea deoarece
luminosemnalul urmtor
ordon oprirea;
R rou: oprire fr a depi luminosemnalul (oprire necondi ionat).

Prin
urmare
dac,
urma
apariiei
unor
defectri,
un
luminosemnal ar afia, prin glisare, succesiunea de indicaii:

RG V,
rspunsul n sistem ar fi fals (periculos). De aceea, structurile de
comand ale acestor luminosemnale (elemente de ieire din instalaia de
reglare a circulaiei) sunt astfel proiectate i realizate nct, la
producerea uneia sau mai multor defectri, s fie posibil numai glisarea
V G R,
ceea ce conduce la rspuns eronat (fr pericol - 1.2.3).
172
n figura 8.7, prin intermediul unei diagrame de spaiu, este redat

modul de glisare a indicaiilor (strilor funcionale) la un anumit
luminosemnal care este prevazut cu 4 uniti luminoase: verde V,
galben G, rou de baza R b i rou de rezerv R r .
V
iV
v=1
WV=1
v=1/0
iG
g=1
WG=1
G
g=1/0
iRb
Rb
rRb=1
WRb=1
rRb=1/0
Rr
rRr=1
WRr=1
LSn
LSn-1
rRr=1/0
Rb
iRb
rRb=1
WRb=1
rRb=1/0
Rr
rRr=1
WRr=1
LSn-1
LSn-2
Fig. 8.7
rRr=1/0
S-au mai notat cu:

i V , i G , i R b - intrri de comand ale unitilor luminoase, prin care
acestea sunt activate n regim de funcionare normal (n stare valid) ;
v, g, r R b , r R r - variabile logice (booleene) asociate strilor uniti lor luminoase (1 stare activ, unitate aprins; 0 stare pasiv, unitate
stins).
W V , W G , W R b , W R r - funciile logice de comand ale unitilor
luminoase;
173
LS n , LS n - 1 , LS n - 2 - luminosemnale amplasate la anumite distane

ntre ele, numerotate cresctor n sensul de deplasare a trenurilor (n
lungul liniei).
Dac la luminosemnalul LS n este comandat, de exemplu, activarea
unitii V, iar apariia defectrii mpiedic existena acestei stri
(unitatea trebuie s fie aprins dar nu este posibil, v = 1/0), se produce
un afiaj prin glisare cu o treapt la unitatea G, care devine activ n
locul celei verde V: g = 1; W G = 1.
Dac nici unitatea G nu rspunde corect, indiferent dac semnalul
de comand provine de la intrarea normal (i G ) sau din circuitul unitii
V (v =1/0), se produce o alt glisare la unitatea R b , care va intra n
funciune: r R b =1 ; W R b =1.
n situaia n care nici aceasta
(R b ) nu se activeaz, dei acest
lucru ar trebui s se produc (r R b =1/0), se alunec la unitatea
R r care
intr n funciune, cu acelai coninut informaional rou ca i la

unitatea de baz; aceast unitate este rezerva propriu-zis a celei de
baz , motiv pentru care nu are o intrare proprie i.
n
sfrit,
dac
nici
aceast
ultim
unitate
(R r )
de
la
luminosemnalul LS n , care ar trebui s fie aprins, dar nu este posibil

(r R b =1/0), informaia se transfer, cu acelai coninut in formaional
(rou), la luminosemnalul precedent LS n - 1 ; aici se reiau, dup caz,
etapele de glisare R b R r , iar apoi, dac este necesar, se produce un
alt transfer la LS n - 2 etc. (fig. 8.7).
Dinamica acestor glisri, obligatorii
n situaia de defectare, este artat n figura 8.8 unde, n ordonat, s-a

notat cu Af afiajul color executat la luminosemnale, prin unitile V,
G, R b , R r .
Dac la momentul t 1 unitatea V se defecteaz (pct.1.1), se produce
glisarea n punctul 1.2, activnd unitatea G (t t 1 ); dac, ipotetic,
aceast unitate i celelalte dou (R b , R r ) ar fi defecte, n punctul 1.4 se
174
produce transferul la unitatea R b de la luminosemnalul precedent (LS n - 1 ),

luminosemnalul propriu
(LS n )
rmnnd fr afiaj (complet stins
pct. 1.5).
La fel se produc glisri dac defectarea, produs instantaneu, apare
la nivelul G n momentul t 2 (pct. 2.2 2.3 2.4 2.5), la nivelul R b n
t 3 (pct. 3.3 3.4 3.5), sau la nivelul R r n momentul
momentul
t4
(pct. 4.4 4.5).

Indiferent
de
evoluia
anterioar,
transferul
de
informaie
restrictiv (rou oprire necondiionat) de la un luminosemnal la altul

(n sensul invers celui de circulaie), se produce la nivelul R r (eveniment
marcat cu sgeat trasat cu linie dubl ntrerupt fig. 8.7 i 8.8).
Trebuie reinut i faptul c, n condiii ceva mai puin dure a unei
circulaii feroviare, se renun la nivelul R r (reducere de echipament),
astfel c transferul ntre luminosemnale se face la nivelul
R b (dispar
pct. 1.4 2.4 3.4 4.4 din diagrama de timp fig. 8.8). Aceast
redundan glisant (redus) este aplicat la metrouri i la unele ci
ferate.
Af
V
Rb
1.1
1.2
2.2
1.3
2.3
3.3
Rb
Rr
Rb
1.4
2.4
1.5
2.5
t1
Rb
3.4
4.4
3.5
t2
Rb
4.5
t3
t4
Fig. 8.8
175
Pe de alt parte epuizarea fiabil itii prin glisare reprezint

evenimente rare; n practic este puin probabil ca un luminosemnal s
ajung
n stare
complet
stins,
aceasta i datorit
activitii de
mentenan profilactic ( 2.2 fig.2.11 i 2.12 ).

Din cauza consecinelor unor rspunsuri false n sistem, chiar i
aceast probabilitate minim este, practic, redus la zero printr-o
redundan glisant total:
LS n (V G R b R r )
LS n - 1 ( R b R r )
LS n - 2 ( R b R r )
LS n - 3 ( R b R r ) etc.
8.3. Tolerana la defectri

Prin aceast proprietate, la nivel de macrosistem, este asigurat
ndeplinirea parial sau total a programului funcional prevzut ,
inclusiv n prezena unor defectri.
Sistemele n cauz i pot menine starea valid, fr intervenie
din
exterior.
Defectrile
care
apar
la
orice
nivel
(component,
subansamblu etc.), nu produc efecte negative, din punct de vedere

funcional, dar reduc rezerva de fiabilitate a sistemului.
Implementarea
toleranei
la
defectri
se
bazeaz,
deci,
pe
redundan ( 8.2) i este mai

uor de realizat dac apariiile defectrilor reprezint evenimente
independente i compatibile.
8.3.1. Sisteme autotestabile

Funciunile de autotestare n cadrul sistemelor tehnice sunt
necesare, ca o prim treapt, pentru a se obine tolerana la defectri. n
176
acest scop se urmrete punerea n eviden a producerii defectrilor,

inclusiv a celor mascate care nu se manifest la nivel macroscopic.
Dup
cerine,
autotestarea
poate
fi
urmat
de
identificarea
elementului sau subansamblului defect n cauz, identificare n urma

cruia se obine informaie necesar pentru reconfigurarea sistemului
(de exemplu, pentru aplicarea redundanei glisante fig. 8.7; 8.2) sau
pentru activitatea de mentenan deoarece, n marea majoritate a
aplicaiilor, defectele aprute trebuie nlturate spre a se restabili
nivelul de fiabilitate normal (impus).
n situaiile cele mai simple, autotestarea se realizeaz prin
indicarea strii de defectare fr a fi necesar blocarea procesului (spre
exemplu la desfurarea, n continuare, a circulaiei sau navigaiei).
SS1
SS2
UB1
UB2
M1
M2
v1
SSV
v2
UA1
P1
UA2
(ev)
P2
(i)
(e)
Fig. 8.9
Un astfel de caz poate fi ntlnit la sisteme de prelucrare automat
a informaiei, bazat pe procedeul redundanei permanente (fig. 8.9 ).
Subsistemele SS 1 i SS 2 sunt identice i opereaz n paralel (on line),
att pentru semnalele primite la intrare (i), ct i pentru cele furnizate la
ieire (e). Celelalte notaii au semnificaiile:
177
P
M
1,2
1,2
procesoare;
U A 1 , 2 , U B 1 , 2 uniti de calcul;
memorii.
Semnalele pentru verificare v 1 i v 2 , provenite din subsistemele

SS 1 respectiv SS 2 , sunt aplicate subsistemului de verificare SSV care, n
cele mai multe situaii practice, ndeplinete funia de comparator logic;
la ieirea de verificare (e v ) se obine, n permanen, informaia cu
privire la starea valid a sistemului sau la starea de defectare a unui
subsitem (oricare), ca i identitatea acestuia.
Dac n cadrul unui sistem exist i funciuni de protecie, care
impun blocarea procesului la apariia defectrilor singulare sau multiple
( 8.1.), se recurge la utilizarea unor dublei funcionali; o astfel de
structur este redat n figura 8.10 a), din care se observ c cele dou
module funcionale identice, f 1 i f 2 proceseaz semnalele primite
la intrarea comun (i).
a)
Mf1
(e)
(i)
Mf2
b)
(i)
(ev)
(ev)
1
Fig. 8.10
La ieirea (e) se obin semnalele procesate prin subsistemul f 1 ,
necesare unor funciuni eseniale ( 1.2.1), iar la ieirea de verificare
(e v ) se obin semnalele de autote stare prin comparare ntre semnalele de
ieire ale celor dou module funcionale, n comparatorul C; n cazul
178
apariiei unei necoincidene, semnalele de verificare (e v ) sunt utilizate

ca semnale de comand pentru blocarea procesului (stop) i, n acest fel ,
se obine producerea de rspunsuri eronate n locul unora false ( 1.2.3).
Prin
urmare rspunsul pe sistem, pentru funciunea de protecie,
este corect dac sunt n stare valid toate cele trei subsisteme: f 1 ,
f 2 , C. Aceast condiionare logic corespunde grafului din figura
8.10b), respectiv relaiei de calcul pentru funcia de fiabilitate n raport
cu rspunsul fals R v (t):
R v (t) = R 1 (t) R 2 (t) R C (t).
Deoarece modulele funcionale f 1 i f 2 sunt identice, funciile
lor de fiabilitate vor fi, de asemenea, identice:
R 1 (t) = R 2 (t) = R(t),
iar expresia de mai sus devine:
R v (t) = R 2 (t) R C (t).
Rezult c pentru funcia de fiabilitate fa de rspuns fals sunt
valabile inegalitile:
R v (t) < R(t);
R v (t) < R C (t)
Pentru acest motiv, n general, semnalul la ieire (e v ) se anuleaz

n caz de necoinciden, n urma comparrii, avnd ca ef ect blocarea
procesului i deci evitarea unui rspuns fals n sistem.
Mai este de observat faptul c aceast structur nu permite
identificarea subsistemului defect (f 1 sau
f 2 ), ceea ce, n anumite
aplicaii, poate fi un dezavantaj important.

O cretere a fiabilitii, att pentru funciuni eseniale ct i pentru
funciuni de protecie, se obine dac se folosesc trei module funcionale
179
(f 1 , f 2 , f 3 fig. 8.11), cu trei ci de verificare (TMR redundan

modular tripl;
I - 8.2).
n acest caz sunt utilizate un subsistem de procesare a datelor SSD

i trei comparatoare C 1 ,
2, 3
: ieirile de verificare (e v 1 ,
2 , 3 ),
prin semna -
lele furnizate, permit identificarea automat a modulului funcional

defect.
f1
(i)
S
S
D
f2
(e)
Date
f3
C1
C2
C3
Fig. 8.11
ev1
ev2
Stop
ev3
De asemenea, prin aplicarea procedeului de redundan majoritar

tripl (fig.8.6.c - 8.2), n varianta 2 din 3, blocarea procesului la
apariia unor defectri se produce numai dac ordinul defectrii este II
sau III ( 8.1):
e v1 e v 2 ;
e v1 e v3 ;
v2
ev3 ;
e v1 e v2 e v3 .
Prin aceasta se obine o bun disponibilitate pentru funcionarea

sistemului ( 2.2), iar mentenana est e mult uurat: intervenia pentru
restabilire nu este strict necesar imediat dup producerea defectrii, iar
180
nlocuirea modulului defect se face ntr-un interval mic de timp

deoarece identitatea acestuia este cunoscut.
n cazul sistemelor complexe, categorie din care fac parte i cele
de dirijare a traficului n transporturi (rutiere, feroviare, navale, aeriene,
spaiale - 1.1.1; fig. 1.1), problema autotestrii este de asemenea
complex, rezolvarea sa optimal necesitnd o analiz riguroas a
caracteristicilor tehnico economice de sistem, ca i a specificului
funciunilor n cauz. n prim analiz, strategia de elaborare a
secvenelor de testare se poate face plecnd de la nivelul microscopic /
subsistem sau de la nivelul macroscopic / sistem.
A - Strategia start small presupune nceperea testrii la cel mai
mic modul din sistem astfel nct, secvenial, la fiecare pas de testare s
se realizeze verificarea altui modul (fig. 8.12).
START
S-a
identificat un
defect
Test A
Da
STOP
(B.1)
Nu
Test N
S-a
identificat un
defect
Nu
Da
STOP
(A.1)
S-a
identificat un
defect
Nu
Da
STOP
(N.1)
Test B
STOP
Sistemul nu are
defecte
Fig. 8.12
181
n cadrul acestei strategii se opereaz verificarea modulelor de jos,

la nivel orizontal (A.1 B.1 . . . N.1), dup care se trece la nivelul
orizontal
superior
etc.
Aceast
strategie
prezint
avantajul
unei
localizri (i identificri) relativ rapide a defectrilor. Dezavantajul

const n aceea c apar unele dificulti n ordonarea circuitelor
rezultate pentru optimizarea testrii, ndeosebi la sisteme cu structuri de
fiabilitate neuniforme (5.3.3).
A.2
A.3
(A.1)
Test A.2
Test A.1
S-a
identificat
un defect
Da
Nu
S-a
identificat
un defect
Test A.1.2
S-a
identificat
un defect
Test A.1.1
Test A.3
Da
STOP Sistemul
este defect
Nu
Da
A.3
Nu
A.2
STOP Sistemul
este defect
Fig. 8.13
B - Strategia start big este caracterizat prin faptul c procedura

de testare se desfoar invers fa de start small : testarea ncepe cu
o poriune mare din sistem; n cazul n care aceasta are o bun
funcionare, se testeaz o alt unitate mare etc.
182
Dac se detecteaz o defectare, secvenele de test se ramific spre

a diagnostica decupajele din ce n ce mai mici, pn la gsirea unui
defect (fig. 8.13). Dup testri secveniale, pe vertical n primul modul
mare (A.1 A.2 A.3 etc.), se trece din nou, la nivel macroscopic
pentru verificri n urmtorul modul B, C etc.
Avantajul aplicrii acestui tip de strategie este acela c, n scopul
realizrii unei mentenane preventive, se obin variantele optime.
Dezavantajul principal const n aceea c generarea testrii este
complicat i nu se poate aplica defectrilor multiple ( 8.1).
n concluzie, la adoptarea strategiei de testare trebuie s se in
seama de particularitile tehnice,
funcionale i economice ale
sistmului analizat.
8.3.2. Sisteme reconfigurabile

Posibilitatea
de reconfigurare a unui sistem, atunci cnd apar
defectri, are la baz unele structuri redundante de tip dinamic. Dup

msura n care este realizat, reconfigurarea poate fi:
- total, cnd
se obine refacerea n ntregime a structurilor
hardware i software, pe care sistemul le-a avut naintea

apariiei defectrilor;
- parial, dac sistemul revine la o funcionare corect pe
ansamblu, dar avnd o capacitate redus de operare.
n cazul reconfigurrii pariale, unele module de echipament
defecte nu sunt nlocuite; consecina este c programul funcional nu se
poate realiza n ntregime: unele programe i/sau date se pierd astfel c
unele funciuni, pentru a fi ndeplinite, necesit durate mai mari dect
cele admisibile.
Aceast proprietate, de reconfigurare, este mai uor de realizat la
sistemele care au o organizare modular, corespunznd structurilor de
183
fiabilitate uniforme ( 5.3). Pentru a putea fi realizat,
orice
reconfigurare trebuie s fie precedat de autotestare ( 8.3.1).

Utilizarea reconfigurrii reprezint singura soluie n situaia n
care nu este posibil intervenia
operatorului uman pentru efectuarea
restabilirii ( reparrii ), cum este cazul

echipamentelor de pe vehicule care se deplaseaz fr conducere uman:
pilotri automate n circulaia rutier sau feroviar, respectiv n
navigaia naval, aerian, spaial.
A - Sistemele reconfigurabile rigide au, n general, structuri
invariabile la nivel de subsistem: subsistemele de baz funcioneaz n
regim on line, iar cele de rezerv n regim off line. Cnd unul sau
mai multe subsisteme dintre cele de baz se defecteaz, intervine o
nlocuire automat cu uniti de rezerv (redundan automat succesiv
8.2).
Datorit procedeelor de implementare aceste sisteme mai sunt
numite, n literatura de specialitate, sisteme reconfigurabile n regim de
comutaie, n ateptare (standby redundancy), autoreparabile etc.
Trecerea de la subsistemele de baz la cele de rezerv se face cu
ajutorul unui subsistem de comutaie corespunztor, co mandat de
subsistemul de supraveghere.
n desenul din figura 8.14 este redat structura unui astfel de
sistem, structur ce provine din sistemul reconfigurabil descris anterior
n figura 8.9, fa de care s-au operat unele simplificri i modificri
necesare.
Astfel subsistemele SS 1
SS 2
sunt notate SS b (baz) i
(rezerv), iar semnalele de verificare (pentru autotestare) v
SS r
v2
devin semnal de comand (Cd) respectiv de control (Ct) pentru

reconfigurare.
184
Reconfigurarea este comandat i controlat prin subsistemul

auxiliar SS a u x care, la rndul su, este compus din dou pri:
SS vc subsistemul de verificare i comand a comutrii;
SS c
subsisteme de comutaie, comandat prin semnalul de
comutare S c (figurat prin sgeat dubl cu lin ii ntrerupte).

(SSb)
(SSr)
(SSaux)
on - line
off - line
(Cd)
SSvc
(Ct)
UA1
UA2
P1
P2
Sc
(i)
(e)
SSc
Fig. 8.14
n momentul n care se defecteaz subsistemul de baz SS b
se
modific n mod adecvat semnalul de comand (Cd), modificare

procesat de subansamblul SS vc care genereaz, n consecin, semnalul
de comutare S c . n urma comutrii este izolat subsistemul de baz SS b
i se activeaz subsistemul de rezerv SS r , care astfel intr n regim de
funcionare on line.
Tot pe baza unor reconfigurri rigide funcioneaz
i sistemele
automate de reglare a circulaiei feroviare cu redundan glisant (K

185
8.2). Din unele motive ce in de specificul cii ferate, nu este posibil

reconfigurarea cu subsisteme de rezerv identice cu cele de baz: volum
mai mare, practic imposibil de montat pe poduri metalice, tunele, n
staii pe spaiul dintre linii etc., dar i de cost. De aceea sunt de preferat
reconfigurri n structuri existente, cu grad funcional mai redus,
caracterizat prin rspuns eronat, ns practic imposibil de a se produce
rspuns fals.
Relund o exemplificare anterioar ( 8.2; fig. 8.7 8.8), fr a
repeta aspectul funcional va fi analizat, n continuare, modul de
reconfigurare rigid (fig. 8.15).
IV
(+)
RV(L)
(-)
IG
Sv
RV(k)
(R)
RG(L)
Sg
Fig. 8.15
Pentru o expunere adecvat, selectiv, schema electric este
simplificat la minimum necesar, avnd notaiile:
V unitate luminoas verde, parcurs de curentul I V , fiind aprins
n stare normal;
R V (L) bobin de excitaie a releului de supraveghere pentru
unitatea V (n stare normal
are armtura atras, deoarece I V 0);
R V (k) contacte ale releului R V ; acestea sunt deschise n stare

normal (I G = 0);
186
G unitate luminoas galben ;

S v semnal de comutare a luminosemnalului de pe unitatea V pe
unitatea G;
R G (L) bobina de excitaie a releului de supraveghere pentru
unitatea G;
S g semnal de comutare a luminosemnalului de pe unitatea G pe
unitatea R (rou).
n stare normal, circulaia fiind permis cu viteza stabilit,
curentul de alimentare I V , care parcurge filamentul lmpii respective,
determin starea activ de semnalizare, stare precizat prin cele 4 raze
asociate cercului aferent. Tot curentul I V , care parcurge nfurarea de
excitaie a releului
R V (L) , produce un cmp magnetic de atragere a
armturii gravitaionale ( 7.1.1). La rndul su, aceasta ac ioneaz

asupra contactelor propriului releu R V (k),
meninndu-le n stare
deschis (I G = 0), iar unitatea G este stins.

Dac, dintr-o cauz oarecare, curentul I V se anuleaz sau scade sub
limita admisibil (determinat de valoarea de revenire pentru releul R V
), starea valid nceteaz (apare defectarea) i releul R V se dezexcit
gravitaional, aprinzndu-se unitatea G n locul celei V (I V = 0; I G 0).
Aceasta are, ca efect, excitarea releului R G , de care depinde semnalul
de comutare S g la unitatea (R) etc. Identificnd aceste elemente cu cele
din structura general (fig. 8.14) se constat c releele de supraveghere
reprezint subsistemul auxiliar SS a u x :
- nfurrile de excitaie (L) au rolul de verificare i comutare
(SS vc ), cmpul magne tic fiind forma sub care se produce semnalul S c ;
- contactele acestor relee execut comutaia propriu-zis (SS c ),
efectul fiind glisarea pe unitatea luminoas inferioar.
Fiabilitatea glisrii depinde de fiabilitatea releelor respective, care
au nfurri de excitaie i contacte. Dac se noteaz cu:
187
R L (t) funcia de fiabilitate a subansamblului bobin armtur

magnetic mobil;
R k (t) funcia de fiabilitate a sistemului de contacte ale releelor,
rezult c funcia de fiabilitate pentru glisare (pe o treapt) are expresia:
R(t) = R L (t) R k (t).
Valoarea acestui indicator de fiabilitate este extrem de ridicat
(tinde ctre unitate ), motiv pentru care, n mod uzual, fiabilitatea unui
astfel de releu (gravitaional, cu contacte argint grafit ) se exprim
prin funcia de nonfiabilitate (pe durata de 1 or n regim de funcionare
normal):
F (t ) 1 R (t ) 10 13.
Revenind
la
situaia
general
(fig.
8.14) ,
supravegherea
funcionrii unui subsistem de baz, dup modul de defectare (prin

cretere sau prin scdere parametric - 6.1), se poate face:
- prin formarea semnalului de comutare (S c ) n intensitate,
corespunznd modului de defectare dominant prin scdere
parametric (SS v - ; fig. 8.16a);
- prin formarea semnalului de comutare (S c fig. 8.14) n
tensiune, corespunznd modului de defectare dominant prin
cretere parametric (SS v + ; fig. 8.16b).
Pentru simplificarea notaiilor i deci i a relaiilor de calcul, mai
departe, se noteaz prin:
b, r elementul de baz, respectiv de rezerv;
v
- elementul de verificare (testare);
- elementul de comutare.
Graful de fiabilitate (fig. 8.16c) este acelai pentru ambele

variante (fig. 8.16a, b); conform acestui graf, funcia de fiabilitate a
structurii auxiliare SS a u x (fig. 8.14) are expresia:
188
Raux = Rv Rc ,
i deci funcia de fiabilitate, pentru ntregul sistem, este:
Rsist Rb Rr Raux Rb Rr Raux .
SSb
SSv-
SSb
SSv+
a)
SSc
b)
SSr
SSc
(i)
b
v
c)
SSr
(e)
Fig. 8.16
Dac se ine seama de faptul c, n general, elementele de baz i
cele de rezerv sunt identice,
Rb = Rr = R ,
expresia de calcul devine:
R [ 1 Raux ( 1 R )] R.
Rsist
Din aceast expresie se pot pune n eviden dou valori limit:

Raux = 0 :
Rsist = R = Rb ,
caz n care valoarea funciei de fiabilitate pe sistem este minim;

Raux = 1 :
R s i s t = R(2 - R) > R b ;
funcia de fiabilitate pe sistem are valoarea maxim i corespunde

redundanei permanente (D - 8.2).
189
Cu privire la eficiena fiabilist a acestui tip de reconfigurare

rigid, se obine:
R sist
1 R aux ( 1 R ),
R
de unde se vede c, pentru o bun eficien, este necesar ca

echipamentul auxiliar s fie (el nsui) fiabil, motiv pentru care la
implementarea acestuia se aplic procedee i tehnologii speciale.
Pentru aceasta, n cazul unor sisteme de complexitate redus, este
eliminat echipamentul auxiliar, astfel c glisarea se realizeaz prin
nsui modul de defectare i prin structura schemei n cauz.
La unele autovehicule rutiere, ntregul echipament de bord este
alimentat electric de la un alternator trifazat care ncarc permanent
(cnd motorul este pornit), o baterie de acumulatori prin intermediul
unui redresor trifazat n punte.
Xa
Ya
Za
Xa
Ya
Ya
D1
D2
D1
D2
D3
D4
D3
D4
Xa
D3
D5
(+)
D6
RS
(+)
()
a)
Schema
electric,
RS
Fig. 8.17
cu
()
(+)
b)
simplificrile
reprodus n figura 8.17a) cu notaiile:

190
D2
RS
()
c)
necesare
expunerii,
este
X a , Y a , Z a conexiuni la cele trei nfurri de faz ale alternatorului;

D 1 , . . . , D 6 diode redresoare;
R S rezistena echivalent a circuitului de sarcin (regulator de
tensiune, baterie de
acumulatori, sigurane fuzibile de protecie etc.).
n regim de funcionare normal
(stare valid), fiecare diod
conduce cte o alternan pe faz; rezult c, n orice moment, conduc

(simultan) dou diode: cea cu potenialul anodului cel mai pozitiv i cea
cu potenialul catodului cel mai negativ. Prin urmare, se obin pe R S , n
curent continuu, impulsuri periodice cu un unghi de trecere
6
3
(radiani ) .
Toate cele 6 diode au modul de defectare dominant prin cretere de

parametru (la limit ntrerupere ntre anod i catod 7.1.2; fig. 7.1).
Astfel, defectarea unei singure diode (oricare) determin dispariia
unui singur impuls de curent redresat, din cele 6 existente ntr-o
perioad a curentului alternativ trifazic (2 ); rezult c defectrile de
ordin I (8.1) conduc la o prim reconfigurare a sistemului de redresare
cu numai 5 diode, iar efectul asupra electroalimentrii, la nivel de
sistem, este practic neglijabil deoarece regulatorul de tensiune (inclus n
R S ) va determina pstrarea unei tensiuni practic constante l a bornele
bateriei de acumulatori (uzual 12V).
Dac ns se produce o defectare de ordin II, de exemplu la oricare
dintre perechile de diode D 1 D 2 , D 3 D 4 , D 5 D 6 , se produce o alt
reconfigurare rigid, mai profund dect cea analizat anterior. Acest
aspect este redat n figura 8.17b), pentru situaia n care s-ar defecta
(simultan) diodele D 5 i D 6 . Structura care rezult este aceea a unui
redresor monofazat dubl alternan cu punte clasic de 4 diode.
191
Efectul negativ asupra circuitului de sarcin R S este compensat, ca

i n cazul precedent, de ctre regulatorul de tensiune care, acum, va
funciona ntr-un regim de reglare mai adnc.
n fine, dac s-ar produce defectarea simultan a 4 diode (de
exemplu, D 1 D 4 D 5 D 6 ), ceea ce corespunde ordinului IV al defectrii,
se realizeaz o redresare monofazat monoalternan, iar structura
reconfigurat este foarte simpl (fig. 8.17c). n acest caz regulatorul de
tensiune va avea o funcionare n regim ncrcat, la fel i diodele rmase
valide (D 2 i D 3 ).
Solicitarea intens asupra acestora va conduce, ntr-un interval
relativ mic de timp, la defectare (tot prin ntrerupere ntre anod i
catod). Acum apare pericolul defectrii n avalan ( 2.1), motiv pentru
care toate cele 6 diode sunt supradimensionate, fa de o funcionare
normal (valid), prin stabilirea unui curent nominal redresat de 30A /
diod.
Analiza expus cuprinde numai unele exemplificri pentru ordinele
de defectare I, II, IV; procednd n aceeai modalitate de analiz , se va
constata existena i a altor ordine de defectare: III, V, VI.
B - Sistemele reconfigurabile flexibile, au caracteristic faptul
esenial c, n structura lor, conin dou sau mai multe subsisteme
(module) identice (cu aceleai funciuni), o parte dintre ele fiind active,
iar o alt parte n ateptare (pasive). La apariia defectrilor, prin
reconfigurare, se realizeaz o nou distribuire funcional ntre cele
dou categorii de echipament, astfel nct funcionarea la nivel de
sistem s nu fie afectat n niciun fel. n literatura de specialitate
acestea se mai ntlnesc i sub denumirile: sisteme cu reorganizare, cu
autoreparare, cu toleran la defectri.
n vederea analizei unei astfel de structuri, se pleac de la sistemul
pentru prelucrare automat a informaiei redat n figura 8.9, pentru care
192
se pstreaz subsistemele avnd funciune de verificare (autotestare),

dar se prevd i alte subsisteme auxiliare. Astfel se ajunge la structura
din figura 8.18, n care s-au utilizat urmtoarele notaii:
SSc int
UB1
UB2
Sc int
M1
M2
SSV
v1
v2
UA1
UA2
Sc ext
P1
P2
SSc ext
(e)
(i)
SS1
SSaux
SS2
Fig. 8.18
SS 1 , SS 2 subsisteme funcionale identice n regim on line sau
off line;
P
1,2
procesoare;
U A 1 , 2 , U B 1 , 2 uniti de calcul;
M
1,2
memorii;
SS a u x subsistem auxiliar ;
SS c
int
subsistem de comutaie interior ;
SS c
ext
subsistem de comutaie exterior ;
SSV
subsistem de verificare (supraveghere, autotestare) ;
v1,
semnale de verificare ;
Sc
int
semnal de comutare n interiorul sistemului ;
Sc
ext
semnal de comutare n exteriorul sistemului ;

193
Dup cum se poate observa,
n starea normal
(valid) a
sistemului, opereaz subsistemul SS 1 cu subansamblurile P 1 U A 1
M 1 U B 1 . Dac apar defectri n aceste subansambluri (oricare), n

funcie de localizarea defectrilor (prin intermediul sem nalelor v 1 i v 2
), se comand comutarea automat n:
exterior, prin SS c
ext
ntre subsistemele SS 1 i SS 2 ;
interior, prin SS c
int
i deci configuraiile posibile pot fi :
U A 1 cu M
UB1
U A 1 cu M
UB2
U A 2 cu M
UB2
U A 2 cu M
UB1
Toate aceste combinaii
de funcionare posibil, care la unele
sisteme mai dezvoltate cresc numeric n mod corespunztor, confer

calitatea de flexibilitate cu privire la structura nou obinut , ceea ce
reprezint un avantaj esenial al acestor sisteme n raport cu cele
reconfigurabile rigide.
*
Datorit unei dezvoltri cronologice n domeniul fiabilitii,
problematica redundanei (de echipament) se ntreptrunde cu cea a
sistemelor tolerante la defectri, astfel c uneori chi ar i terminologia
folosit nu coincide n totalitate. Pentru aceasta se impun unele
precizri, fr a introduce aspecte noi fa de cele tratate anterior.
Prin definirea ordinului defectrii ( 8.1) se introduce o procedur
riguroas,
cantitativ
calitativ,
de
analiz
fiabilitii
sistemelor redundante sau tolerante la defectri.

Tolerana la defectri are un pronunat caracter de sistem (din
punct de vedere fiabilistic), ceea ce cu privire la redundan nu
194
este
totdeauna
valabil.
Spre
exemplu,
component
(de
echipament) supradimensionat contribuie la creterea redundanei

sistemului dar nu-i confer acestuia calitatea de toleran la
defectri.
Structurile cu redundan static au dezavantajele c defectrile
sunt mascate, iar apariia acestora antreneaz probleme de fan
out i fan in.
La structurile digitale cu redundan dinamic, defectrile pot
provoca desincronizri ntre subsisteme (module).
Unele dezavantaje, dintre cele enumerate mai sus, pot fi evitate
prin utilizarea de structuri hibride (mixte, statice sau dinamice);
un exemplu, n acest sens, sunt sistemele cu logic majoritar.
n raport cu existena rspunsului fals, redundana poate fi
neprotectiv (de exemplu, la sistemele de procesare a datelor fr
protecie) sau protectiv ( cnd rezultatul operrii este validat sau
nevalidat stop).
De asemenea, redundana poate fi de tip cablat respectiv de tip
programat (prin codare). n cazul structurilor simple, sistemele cu
logic de tip cablat sunt mai eficiente (mai fiabile, la un cos t mai
mic) dec t cele cu logic programat.
Din cauza existenei unor aspecte contradictorii, nu exist soluii
universal valabile pentru implementarea redundanei, respectiv a
toleranei
la
defectri.
fiecare
situaie
trebuie
analizate
condiiile specifice existente, urmrind o eficien maxim la un

cost acceptabil; aceste implementri cost.
195
9 Unele tehnici specifice de realizare a funciilor de protecie
Capitolul 9
Unele tehnici specifice de
realizare a funciunilor
de protecie
n urma celor tratate n capitolele anterioare se desprinde ideea c,

n general, exist 5 ci principale de cretere a fiabilitii sistemelor:
a) utilizarea unor componente cu rezisten proprie mare la
defectri (fiabile);
b) asigurarea unui regim de solicitri redus (descrcat);
c) adoptarea de structuri cu complexitate redus (scheme simple);
d) folosirea redundanei, inclusiv creterea ordinului defectrii;
e) aplicarea unor strategii de mentenan corespunztoare.
Desigur toate aceste ci vor fi utilizate i n activitile de implementare
a sistemelor cu mare rspundere funcional; dar, n majoritatea
cazurilor, acest lucru nu este suficient spre a atinge nivelul necesar de
fiabilitate funcional, nivel impus de cerinele severe riguroase ale
proceselor n cauz.
Pentru acest motiv, n astfel de situaii, sunt aplicate unele metode
i procedee specifice care permit asigurarea unei fiabiliti funcionale
ridicate, la un cost acceptabil. Modul de rezolvare, concluziile i
avantajele
obinute
prin
adoptarea
acestor
exemplificri, sunt expuse n continuare.

196
tehnici,
ca
unele
9.1. Separarea galvanic

Acest procedeu, de izolare electric ntre diferitele struct uri de
subsistem, este larg utilizat mai ales n cazul sistemelor dispersate la sol
i la distan, interconectate prin linii electrice n cablu pentru
transmiterea informaiei de proces (telecomand, telecontrol, telemetrie
etc.): transport prin conducte, circulaie rutier, circulaie feroviar,
navigaie portuar etc. Pe lng faptul c se evit ncrcarea liniei de
transmisiune cu ali cureni electrici (perturbatori) dect cei care
corespund semnalelor utile, prin separare galvanic se evit ca n
circuitele de execuie, foarte importante din punct de vedere funcional,
s ajung mrimi duntoare pentru proces, care pot conduce la rspuns
eronat sau i mai ru, la rspuns fals ( 1.2).
Acest lucru este relativ uor de realizat dac semnalele (utile) sunt
sub form de impulsuri (variabile n amplitudine, faz, frecven, durat
etc.), iar perturbaiile nu au caracteristici compatibile (din punct de
vedere funcional). Datorit acestui fapt, se obine un transfer corect al
semnalelor i se blocheaz trecerea perturbaiilor dintre care, mai
importante, sunt:
componentele curentului de alimentare n curent continuu sau n
curent alternativ de joas frecven;
curenii telurici, deosebit de duntori n cazul echipamentelor
amplasate la sol sau n subteran, conectate prin cabluri electrice
subterane sau subacvatice;
alte semnale electrice provenite din sistemul propriu sau din
sisteme nvecinate, care pot avea efecte duntoare.
Principala metod de separare galvanic, utilizat larg n practic,
este redat n figura 9.1.a), avnd notaiile:
197
Cd circuite cu semnale de comand;

SG elemente (componente) de separare galvanic;
Ex circuite/subansamble de execuie.
a)
S
G
(Cd)
(Ex)
C1
b)
(Cd)
(Ex)
C2
c)
(Ex)
(Cd)
Tr
R
d)
(Cd)
Ii
SG
+Ea
Ie
FT
(Ex)
Fig. 9.1
Un separator, de orice tip ar fi, trebuie s transfe re semnalele

(utile) cu atenuare minim i s blocheze, n mare sau n foarte mare
msur, trecerea tuturor curenilor perturbatori. Pe de alt parte acesta
influeneaz direct fiabilitatea sistemului, n ansamblul su; de aceea
este necesar ca proprietile sale fiabiliste s fie, pe ct posibil, de
valoare ridicat, deziderat care este atins, n primul rnd, prin structuri
simple ( 5.1).
Cteva astfel de structuri, cu numeroase aplicaii n practic, sunt
redate n continuare.
198
Separarea capacitiv se aplic ntotdeauna pe ambele fire ale

circuitului, prin cei doi condensatori
C 1 i C 2 (fig. 9.1b). n
anumite cazuri, cnd circuitele de comand (Cd) sau circuitele de

execuie (Ex) au caracter inductiv, valorile de capacitate se
calculeaz la rezonan, dac aceasta este necesar (de exemplu, la
circuite cu caracteristici n frecven de tip band ngust).
Utilizarea condensatorilor este avantajoas deoarece necesit cost
i volum reduse dar, cu rare excepii, nu satisface condiiile de transfer
maxim de putere pentru semnale cu
Separarea
inductiv
(fig.
spectru larg de frecven.

9.1c)
impune
utilizarea
unui
transformator Tr, astfel dimensionat nct s asigure adaptarea

ntre circuitul de comand (Cd) i cel de execuie (Ex). De
asemenea are caracteristici bune pentru un spectru relativ larg de
frecven, dar prezint dezavantajele unui cost, volum i greutate
mai mari.
Separarea optic se obine cu ajutorul optocuplorilor (fig. 9.1d).
Semnalul de comand I i excit
dioda electroluminiscent D
(intrare ) care la rndul su comand, de regul n impulsuri,

fototranzistorul FT. Separarea galvanic (SG) se realizeaz n
spaiul interior al capsulei, iar semnalul de ieire I e are o
amplitudine bun datorit amplificrii, fiind protejat fa de
perturbaii de orice natur: electrice, magnetice, optice, acustice,
electromagnetice, radioactive etc. Prezint avantajele de cost,
greutate i volum minime, regimul de funcionare fiind n
impulsuri. Nu poate fi utilizat n circuite de execuie cu regim de
putere necesitnd, n acest caz, o amplificare suplimentar.
199
O aplicaie simpl a separrii inductive este ilustrat n figura 9.2a

unde elementul de execuie Ex este cuplat n circuitul de ieire al unui
tranzistor amplificator T. Notaiile folosite sunt:
I C d curentul de comand n jonciunea baz emitor a
tranzistorului T;
I E x curentul de acionare a elementului de execuie Ex;
E a tensiunea (continu) de alimentare;
Tr transformator de separare galvanic;
D diod redresoare;
C condensator de netezire a pulsaiilor curentului redresat
(filtraj).
Tr
a)
+Ea
ICd
D
C
(-Ea)
IEx
Ex
IEx
T
b)
ICd
Ex
+Ea
+
-Ea
Fig. 9.2
Dup cum se poate uor observa din schema reprodus (cu unele
simplificri) n figura 9.2b ), n urma defectrii tranzistorului T prin
strpungere n spaiul colector-emitor (mod do minant de defectare (
6.1; tab. 6.1; poz. 50), elementul de execuie este acionat intempestiv
prin curentul I E x , care apare i se menine indiferent de variaiile
curentului de comand I C d .
200
Spre a se evita aceast situaie, care poate conduce la rspun s fals,

elementul de execuie este separat galvanic de circuitul de alimentare
(E a ) prin transformatorul Tr (fig. 9.2a). Deoarece tranzistorul T este
excitat n impulsuri avnd o form oarecare (uneori n curent alternativ
sinusoidal), n secundarul transf ormatorului Tr se obine o tensiune
indus care, redresat i filtrat, determin acionarea elementului de
execuie prin I E x .
a)
L1
(i)
C1
C2
Li
Lc
L1
b)
L2
C1
(e)
Le
C2
L2
Li
(i)
Le
Lsi
Tri
c)
Lpc
Lc
Lpe
Tre
(e)
Tre
[Np]
d)
ri
A
0
(e)
(i)
V
f (Hz)
rc
re
Fig. 9.3
n aceast structur, se observ c defectarea tranzistorului, n
orice modalitate, conduce la dispariia (sau diminuarea) curentului I E x ;
201
acelai efect, de protecie n proces, se produce i n cazul defectrii

altor componente: dioda D, condensatorul C, nfurrile transformato rului Tr, conexiuni, suduri etc.
Pe lng separare galvanic, prin utilizarea transformatorului Tr,
se obine i o adaptare pentru transfer maxim de putere, adaptare mai
dificil de realizat n structura din figura 9.2b).
n alte situaii este necesar o separare galvanic multipl, cnd
schema n cauz sufer modificri mai profunde. Un astfel de exemplu l
reprezint filtrul pasiv clasic, de tip trece band, cu schema din figura
9.3a), avnd notaiile:
L i , e bobine de intrare respectiv de ieire;
L c bobin de cuplaj ntre celulele rezonante ale filtrului, acordate
n frecven prin grupurile L 1 C 1 i L 2 C 2 .
O separare galvanic tripl se obine dac n locul bobinelor L i
L c L e se introduc transformatoare (fig. 9.3b):
Tr i transformator de intrare cu nfurarea primar L i i
secundar L s i ;
Tr c transformator de cuplaj avnd nfurrile primar L p c i
secundar L c ;
Tr e transformator de ieire la care L p e este nfurarea primar,
L e fiind cea secundar.
Pentru ca, n urma acestei reconfigurri, caracteristicile de transfer
ale filtrului s nu se modifice este necesar ca cele trei transformatoare
s aib raportul de transformare 1/1, respectiv:
Lsi = Li ;
Lpc = Lc ; Lpe = Le.
n structura primar ( fig. 9.3a ), defectarea prin ntrerupere a

bobinelor transversale L i L c L e ( 6.1 tab. 6.1; poz. 5) n u conduce
la dispariia semnalului la ieire (e), iar selectarea acestuia este
202
compromis;
acum,
structura
reconfigurat
(fig.
9.3b),
orice
ntrerupere la oricare component, inclusiv conexiuni i suduri, conduce

la dispariia semnalului de ieire / rspuns eronat ( 1.2.1).
De asemenea defectrile prin scurtcircuitare la oricare dintre cele 6
nfurri de transformator (L i L s i L p c L c L p e L e ) determin
anularea semnalului de ieire. n final, scurtcircuitarea condensatorilor
C 1 sau C 2 , respectiv a bobinelor L 1 sau L 2 , conduce la o slbire
puternic
semnalului
de
ieire.
Acest
aspect
este
ilustrat
caracteristica atenuare-frecven a filtrului pentru cele dou stri (fig.

9.3c):
V stare valid, fr defectri, pentru care atenuarea este
minim n mijlocul benzii de
trecere (B) i crete substanial n afara
acestei benzi ( A ); cu A s-a notat valoarea admisibil a atenurii

pentru aceast stare ( 1.2).
V stare nevalid, provocat de defectare prin scdere parametr ic
(la limit scurcircuitare ( 6.1).

Dup cum se poate observa, defectrile provoac o cretere a
atenurii peste valoarea admisibil, pentru un regim de funcionare ce
corespunde unui rspuns corect; aceast atenuare ridicat, att n banda
de trecere ct i n benzile de oprire, determin slbirea semnalului de
ieire (la limit anularea sa) i, prin aceasta, se evit apariia unui
rspuns fals ( 1.2.3).
Revenind la funciunea vizat, aceea de separare galvanic ntre
intrare (i) i ieire ( e), se noteaz cu F r i ,
F r c i F r e
funciile de
nonfiabilitate ale cror valori sunt egale cu probabilitile de defectare

prin
scdere
parametric
[-]
ale
transformatoarelor
respective
(strpungere ntre circuitele primare i cele secundare). Graf ul de

fiabilitate (fig. 9.3d) corespunde unei structuri redundante ( 5.2 fig.
5.3d), respectiv defectrilor de ordin III ( 8.1 fig. 8.1) i, n
203
consecin, funcia de nonfiabilitate pentru separare gal vanic tripl

(S G3) are expresiile:
F SG 3 F III
j 1
F j F ri F rc F re
Dac, fa de strpungere, cele trei transformatoare sunt identice,

F r i = F r c = F r e = F Tr ,
expresia funciei de nonfiabilitate devine
'
3
FSG
3 FTr .
Presupunnd c F T r are, pentru un anumit interval de timp,

valoarea de 10 - 2 , rezult:
3 ( 10 2 )3 10 6 .
FSG
Deci funcia de fiabilitate, pentru funciunea de separare galvanic

tripl, are valoarea:
'
3 1 FSG
RSG
3 0 ,999999 ,
n acelai interval de timp.

Deci trebuie reinut faptul c, n raport cu o anumit funciune, n
structura de fiabilitate sunt cuprinse numai elementele de care depinde
ndeplinirea funciunii n cauz; datorit acestui fapt, valoarea funciei
de fiabilitate (pentru funciunea respectiv) poate s ajung la valori
mari sau foarte mari. Acest aspect va fi reluat ulterior i aprofundat,
constituind diferena esenial ntre teoria clasic a fiabilitii (n care
sistemele analizate sunt tratate ca fiind monofuncionale) i teoria
204
Pe de alt parte mai trebuie observat faptul c separarea galvanic

reduce, ntr-o anumit msur, fiabilitatea la nivel de subsistem. De
exemplu, n cazul filtrului cu tripl separare (fig. 9.3), scderea
fiabilitii generale se poate evalua determinnd eficiena fiabilist f ,
ca raport al celor dou funcii de nonfiabilitate:
F a - pentru varianta primar, fr separare galvanic (fig. 9.3a);
F b - pentru varianta reconfigurat (fig. 9.3b),
f
Fb
Fri Frc Fre
Fa
deoarece F a = 1 sau R a = 0.
Pe ansamblu, din cauza introducerii unor componente suplimentare
(L s i , L p c , L p e ), fiabilitatea general la nivel de sistem scade; aceast
scdere
este
trebuie
fie
compensat
printr-o
cretere
corespunztoare datorit faptului c, prin separare galvani F a c, se

asigur i o protecie a componentelor echipamentului din aval: dispar,
sau sunt drastic atenuai, curenii de amplitudine ridicat (mai ales n
tensiune) care pot provoca defectarea acelor componente.
9.2. Scurtcircuitarea elementelor / subansamblelor

de execuie
Spre deosebire de izolarea galvanic, n alte situaii se aplic un
procedeu complementar: scurtcircuitarea prii de execuie n stare
pasiv care, prin activare inoportun, poate duce la rspuns fals. Astfel
de soluii se aplic la nivel de component sau, mai des, la nivel de
subsistem.
Procedeul folosit este ilustrat n desenul din figura 9.4a ) cu
notaiile:
Ex element sau subansamblu de execuie;
205
Cd contact al circuitului de comand (releu, tast, comutato r,

cheie etc.);
Pr contact din circuitul (subansamblu l) de protecie;
E a tensiune continu de alimentare cu energie electric.
Comanda execuiei nu se poate face dect prin contactul Cd, dar
mai nainte este necesar, absolut obligatorie, deschiderea contactului
Pr. La anularea comenzii (revenire) cele dou faze (secve niale) se vor
desfura invers.
Notnd cu simbolul () starea activ (acionat) i cu ( ) starea
pasiv
(revenit) a
elementelor
de
comutaie
Cd
P r,
fazele
secveniale, notate I i II, se vor desfura, n timp, conform strilor

precizate n tabela 9.1. Aceast funcionare secvenial se obine prin:
temporizri corespunztoare n circuitele de comand sau/i
protecie;
poziii succesive (obligatorii) ale comutatoarelor de comand
etc.
Starea elementului
Ex
Tab. 9.1
Starea
contactelor
Cd
Pr
- faz I
- faz II
- faz I
- faz II
Pasiv
Comand pentru acionare:
Comand pentru revenire:
206
n figura 9.4b) este exemplificat modul de aplicare a acestui

procedeu la comanda unei uniti luminoase pentru afiaj verde (V) la
luminosemnale circulaie trenuri / metrouri, respectiv la semafoare
luminoase circulaie rutier.
a)
(+)
Cd
Ex
Pr
Ea
()
b)
Pr
(+)
Cd
Ex
()
RV
Ea
(+)
Ea
V
RV1
c)
()
Ex
+Ac
PA1
L2
PA2
L1
-Ac
(IT)
-Ac
Fig. 9.4
Fa de desenul precedent aici mai apar, n plus, notaiile:
RV releu de execuie pentru aprinderea unitii verde (V);
RV 1 contact de execuie al afiajului verde (V).
Producerea untrii bobinei de excitaie a releului RV se face prin
contactul Pr, exterior subansamblului de execuie Ex (marcat prin
conturul cu linii ntrerupte).
207
Un alt exemplu, n acest sens, este expus n figura 9.4c. Schema

(simplificat) a circuitelor electrice de pornire aprindere (PA) a
motorului unui autovehicul rutier conine:
L 1 nfurarea de joas tensiune a bobinei de inducie (ali mentat
n impulsuri de curent continuu);
L 2 nfurarea de nalt tensiune (IT) pentru producerea scn teilor la bujii;
Ac tensiunea continu de alimentare, furnizat de bateria de
acumulatori ( 8.3.2 fig. 8.17);
PA 1 contact de comand pornire aprindere;
PA 2 contact de protecie pornire aprindere;
n stare de repaus motor oprit, prin poziia cheii de contact,
alimentarea
bobinei
L1
(primar) este
ntrerupt
(PA 1 );
apariia
intempestiv a tensiunii +Ac la borna superioar a bobinei L 1 (prin

defectri n sistemul electric de bord) este mpiedicat datorit
contactului PA 2 (nchis la mas Ac).
n momentul pornirii motorului, prin rotirea cheii de contact, n
faza I, mai nti se deschide PA 2 , iar n faza urmtoare II se stabilete
PA 1 (simultan cu acionarea electromotorului demaror). La oprirea
motorului succesiunea de comutare este invers: rotind cheia de contact
n sens invers, spre poziia de repaus, nti se ntrerupe PA 1 i apoi se
stabilete PA 2 , aducnd astfel subansamblul de execuie Ex n stare
protejat.
9.3. Protecii n frecven

Un alt exemplu de protecie funcional fa de rspuns fals e ste
prevenirea efectelor unor defectri, de regul pariale, care pot provoca
abateri de frecven ale semnalelor utile, abateri ce pot avea un
208
caracter periculos pentru aplicaia de proces. Astfel de situaii pot fi

ntlnite la echipamente care funcioneaz pe baza unor coduri de
frecven
(reglarea
circulaiei
trenurilor
metrourilor,
controlul
automat al vitezei trenurilor etc.).

Aceast problem este expus, la modul general, n figura 9.5a),
unde s-au notat cu:
f 0 frecvena nominal a semnalului discret;
f abaterea admisibil a frecvenei pentru o funcionare corect,
fr defectri;
B E banda de frecven n care se poate produce apariia unor
rspunsuri eronate;
B F banda de frecven n interiorul creia pot s apar unul sau
mai multe rspunsuri false.
Rezult c orice abatere n frecven:
f F f 0 f ;
f E f 0 f
poate provoca un rspuns necorect (din punct de vedere funcional),

fiind necesar evitarea n foarte mare msur a acelor abateri care pot
provoca rspunsuri false.
Apariia intempestiv a unor componente de semnal, n practic,
este mai probabil n banda superioar de frecvene din cauza
distorsiunilor neliniare (n circuite cu componente active). Aceste
distorsiuni se produc atunci cnd unii parametri de circuit, datorit
defectrilor pariale sau totale ale unor componente (att active ct i
pasive), conduc la un regim de funcionare neliniar.
Astfel, de exemplu n cazul cel mai simplu, dac un semnal ( f 0 )
care are o form de und sinusoidal este deformat, n circuitul
respectiv vor aprea componente, tot sinusoidale, n raport armonic:
209
2 f0 ; 3 f0 ; ...., ; nf0
n fiind un numr ntreg pentru care amplitudinea devine neglijabil. Din

acest motiv, la sistemele respective, rspunsurile eronate se plaseaz n
banda superioar (B E ), iar cele false n banda inferioar (B F ).
a)
BF
BE
f
f0-f
b)
f0
f0+f
10
15
22
29
36
210
160
110
70
30
fm (Hz)
v (km/h)
STOP
c)
II
STOP
I
( Cm )
L
CM
C1
C2
Cn-1
Cn
Fig. 9.5
Un exemplu, n acest sens, este codul de frecven utilizat n
cadrul unui sistem de control automat continuu al vitezei trenurilor (fig.
9.5b). Valorile corespondente dintre semnalul modulator de frec ven f m
i treptele de vitez-limit, pe care le poate avea trenul, sunt astfel
stabilite nct la frecvene mai mari s corespund viteze mai mici.
n acest mod, dac la distorsionarea neliniar a semnalului f m = 10
Hz se produce apariia componentelor armonice cu frecvenele de 20 /
210
30 / 40 Hz, n circuitele de execuie se va regla automat viteza pn la

treptele corespondente: 110 / 70 / 30 km/h n loc de 210 km/h (rspuns
eronat n loc de rspuns fals - 1.2.3). De asemenea pentru alte
componente cu frecvene situate n afara benzii de lucru (10 ~ 36 Hz),
intervine sistemul de frnare automat STOP.
n figura 9.5c) este artat modul de realizare tehnologic a acestui
procedeu, n structura unui echipament al sistemului de control automat
discontinuu al vitezei trenului, aplicat i la metrou. Interaciunea sol bord se realizeaz prin intermediul unui cuplaj magnetic ntre circuite
rezonante, avnd bobine cu miez magnetic deschis, codul utilizat fiind
de frecven. n schema, mult simplificat, apar notaiile:
L bobin cu miez magnetic din ferit tip cilindru (deschis);
C condensatori de acord la rezonan a bobinei L (cu conectare
fix de grup n paralel);
CM cmp magnetic de interaciune sol bord;
(Cm) subsistem de comutare, cu transmisie de la luminosemnalul
curent de afiaj pentru regimul de circulaie;
I, II grupuri de condensatori care aduc bobina L la acord prin
conectare de grup.
Aici, nainte de a aborda problema proteciei prin abatere de
frecven, sunt necesare urmtoarele precizri (succint):
sistemul de comutaie (Cm) este realizat cu relee gravitaionale
i contacte argint grafit;
comutaia de grup se face astfel nct frecvena de rezonan s
basculeze de la 1 kHz la 2 kHz i invers:
f 01
1
1 kHz;
2 L(CI CII )
f 02
1
2 kHz;
2 LC II
211
frecvena de 1 kHz este comandat de la luminosemnalul curent

de circulaie (prin Cm) i corespunde informaiei de afiaj galben
(G 8.2; fig. 8.7 8.8), cu aceeai semnificaie privind regimul
de circulaie;
frecvena de 2 kHz, comandat de asemenea prin Cm, corespunde
informaiei de afiaj rou (R) i reprezint mesajul de oprire
necondiionat (STOP).
n aceast aplicaie protecia fa de rspuns fals este dubl: la
nivel de component (un condensator) i la nivel de subsisteme ( grup de
condensatori).
Acest aspect, la nivel de component (inclusiv
terminalele,
sudurile i conexiunile sale 6.1; tab. 6.1.: poz. 16 i 42), se pune n

eviden prin expresia relaiei de rezonan n circuitul echivalent,
pentru frecvena de 1 kHz (G).
Toate condensatoarele sunt n stare valid:
f 01
1
n
2 L Ci
1
2 LCt
1 kHz ;
Ct
Ci .
i 1
i 1
Dac se defecteaz un condensator (prin cretere parametric ,

ntrerupere):

f 01
1
2 L( Ct C1 )
f 01 .
La cel de al doilea condensator defectat (dup primul):

f 02
1
2 L( Ct C1 C 2 )
f 02 .
f 01
Continund raionamentul pn cnd, ipotetic, prin reducerea capacitii

de grup (n salturi) se ajunge la valoarea C I I (corespunztoare frecvenei
212
de rezonan de 2 kHz), informaia de
proces, la nivel de sistem, va
corespunde afiajului rou (R n loc de G), rspunsul n cauz fiind

eronat.
Acelai efect se produce, dar numai n salt unic, dac se defecteaz
(tot prin ntrerupere) sistemul de comutaie (Cm ); este, deci, deconectat
ntreg grupul de condensatori C I , rmnnd activ numai condensatorii
din grupul C I I :
f 02
1
2 kHz .
2 LC II
Se mai observ c grupul de condensatori C I I este activ indiferent

de starea sistemului de comutaie (C m); fiind conectat n permanen,
probabilitatea ca s se realizeze, n circuit, frecvena de rezonan la 2
kHz (R) este mai mare dect la 1 kHz (G) i prin aceasta rezult
eficiena procedeului.
De asemenea se mai poate uor observa c, n aceast aplic aie,
prin
abatere
de
frecven
sunt
folosite
proprietile
sistemelor
reconfigurabile ( 8.3.2).
9.4. Protecii prin electroalimentare

Deoarece, n echipamente, tensiunea de electroalimentare este
comun tuturor etajelor, sau marii majoriti a acestora, este posibil ca
producerea anumitor defectri s aib drept consecin penetrarea
intempestiv a acestei tensiuni n puncte sau zone interzise; unele pot
determina producerea unor rspunsuri false ( 1.2).
Spre a se evita aceast situaie sunt aplicate unele procedee prin
care sunt eliminate, parial sau total, efectele nepermise ale acestor
tipuri de penetrri.
213

(+)
a)
Ic
()
Ea
Ib
+
C1
D2
D1
()
Ue
C2
(+)
b)
Ib
0
Ic
0
Ue
0
Ueo
Tpr
Fig. 9.6
Un astfel de procedeu se bazeaz pe inversarea polaritii tensiunii

de electroalimentare (general, comun); n acest fel circuitelor sau
etajelor protejate li se aplic o alimentare cu polaritate inversat.
Structura unui circuit inversor de polaritate, cu funcionare n
regim de impulsuri, este redat n figura 9.6a), avnd notaiile
urmtoare:
Ea tensiunea de alimentare (pozitiv fa de masa montajului);
I b , c curenii de baz respectiv de colector ai tranzistorului T;
R rezistor n emitor;
D 1 - diod de ncrcare a condensatorului C 1 ;
214
D 2 diod de descrcare a condensatorului C 1 pe condensatorul C 2 ;

U e tensiunea de ieire (negativ fa de masa montajului).
n diagramele de semnal (fig. 9.6b) se obse rv c la fiecare impuls
(I b ) primit n jonciunea baz
emitor a tranzistorului T, care
funcioneaz
comutaie,
regim
de
se
obine
ncrcarea
condensatorului C 1 prin dioda D 1 . n pauzele dintre impulsuri C 1 se

descarc pe condensatorul C 2 prin dioda D 2 care, acum, se deschide.
ncrcarea progresiv a condensatorului de la ieire C 2 este un
efect de pompare electronic: la fiecare perioad (a semnalului de
intrare I b ) C 1 se ncarc i cedeaz o parte din cantitatea de electroni
(acumulat) condensatorul ui C 2 , care astfel integreaz impulsurile
primite i furnizeaz tensiunea de alimentare U e cu polaritate inversat
(n raport cu E a ):
U C1 U C 2 U e ,
deoarece condensatorul C 1
torul C 2
are o capacitate mai mic dect condensa-
(C 1 < C 2 ).
Totodat, n funcie de raportul capacitilor C 2 /C 1 se obine i un

efect de protecie fa de eventuale impulsuri perturbatoare, impulsuri
care se pot propaga pe circuitul de intrare odat cu semnalul I b ; acestea
nefiind periodice sunt singulare, nu pot influena efectul de pompare
electronic astfel nct s se ating pragul de tensiune inversat U e o
Acest prag reprezint tensiunea minim de alimentare a etajului
(subsistemului) care trebuie s fie protejat. Cu ct raportul C 2 /C 1 este
mai mare cu att durata de protecie T p r este mai lung (fig. 9.6b), i
deci gradul de protecie mai ridicat.
n acelai timp sursa tensiunii U e , fiind local - proprie unui
anumit etaj sau subsistem, practic este imposibil ca aceasta s
alimenteze intempestiv alte uniti care, n mod normal, sunt conectate
215
la sursa general de tensiune; la rndul su
tensiunea inversat este
incompatibil cu cea general (+E a ).

Totui este de observat c aplicarea unui astfel de procedeu este
mai
puin
eficient
la
puteri
mari
(de
alimentar e)
din
cauza
randamentului redus, problem care nu se pune pentru puteri mici sau

foarte mici.
Tot o bun protecie, prin electroalimentare, la puteri mai mari
ndeosebi pentru circuite de execuie, se obine prin creterea valoric a
tensiunii furnizate utiliznd un invertor ridictor de tensiune (fig. 9.7).
Lp
a)
Tr
Ic
+ Ea
Ls
Ib
(+)
C
Ue
PR
()
Ib
b)
Ue
Ueo
TEx
Fig. 9.7
n acest desen sunt folosite notaiile:

T tranzistor amplificator n putere;
I b , I c curenii n baz, respectiv n colector;
R rezistor n emitor (pentru limitarea curentului prin tranzistor);
Tr transformator ridictor n tensiune, avnd nfurrile primar
L p i secundar L s i ;
216
PR punte redresoare;
C condensator de filtraj al tensiunii redresate.
Dup cum se vede din diagramele redate n figura 9.7b),
impulsurile de la intrare (I b ) sunt amplificate n putere (I c ) i ridicate n
tensiune (L s ). Astfel se obine o tensiune alternativ n secundarul
transformatorului Tr, a crui expresie este:
U s nU U p ,
unde n U este raportul de transformare n tensiune. La ieire rezult

tensiunea continu de valoare ridicat U e :
U e k r U s k r nU U p kU p E a ,
unde k r reprezint factorul de redresare, iar k factorul total de

transformare, att pentru redresare ct i pentru ridicare n tensiune,
factor care este supraunitar:
k k r nU 1 .
Acest procedeu de protecie se bazeaz pe faptul c penetrarea

tensiunii joase E a n circuitele de execuie care, pentru a aciona,
necesit o tensiune ridicat; E a nu are niciun efect funcional (la nivel
macroscopic). Gradul de protecie obinut se exprim prin raportul
U e /E a ; n practic valoarea minim a acestuia, pentru o protecie
ridicat, trebuie s fie egal cu cel puin 10 uniti exprimate n modul:
U e 10 E a .
Prin urmare durata de execuie T E x (fig. 9.7b) ncepe cnd

tensiunea de ieire U e depete valoarea de prag U e o i se termin cnd
scade sub acest prag.
217
Dac n procesul de aplicaie este necesar o protecie i mai

ridicat (dect se obine prin aplicarea oricrui procedeu expus) se poate
utiliza un procedeu combinat.
Astfel dac, de exemplu, n structura cu protecie prin tensiune
ridicat (fig. 9.7a) se conecteaz borna pozitiv ( +) la masa general a
echipamentului, se obine i o protecie prin inversarea polaritii (+E a
i -U e ; fig. 9.6).
Totodat n aceast structur, cu tensiune ridicat, prin utilizarea
transformatorului Tr , se obine i o protecie prin separare galvanic (
9.1 fig. 9.1c).
218
Capitolul 10
Sisteme cu nalt fiabilitate
funcional
10.1. Generaliti
n concordan cu cele expuse pn la acest capitol rezult c
exist, aproape ntotdeauna, mai multe soluii teoretice i practice care
pot conduce la o cretere a fiabilitii funcionale. Stabilirea unei soluii
optime, n raport cu cerinele aplicaiei de proces, este cu att mai greu
de realizat cu ct sistemul n cauz este mai dezvoltat, iar nivelul
necesar de fiabilitate este mai ridicat; n domeniul transporturilor
sistemele sunt, n general, polifuncionale, deci cu structuri complexe,
iar fiabiltatea necesar este caracterizat prin valori ridicate ale
indicatorilor si, caracteristic tuturor sistemelor cu mare rspundere
funcional.
Asigurarea unui nivel nalt al fiabilitii funcionale nu poate fi
obinut, n mod raional, dect prin structuri speciale-dedicate care s
corespund att unor cerine funcionale deosebite ct i condiiilor
restrictive
impuse
echipamentelor,
ndeosebi
celor
de
la
bordul
vehiculelor i navelor: greutate i volum minime, consum redus de

energie electric, disponibilitate maxim, mentenan facil, cost sczut
etc.
Din cauza acestor cerine, dificil de ndeplinit n practic, se
prefer atingerea unor performane fiabiliste nalte pe ntru anumite
219
10 Sisteme cu nalt fiabilitate funcional
funciuni, cum sunt de exemplu cele de protecie (1.2) i asigurarea

altora la nivele uzuale, dac sunt permise n cadrul procesului de
circulaie sau navigaie. Procednd astfel sunt evitate structurile
stufoase de sistem, adoptate uneori n mod justificat din considerente
de dezvoltare cronologic sau pe baz de rutin empiric. Altfel spus,
sunt de preferat aceste soluii care asigur o fiabilitate general ridicat,
specific echipamentelor de tip profesional, dar i o nalt fiabilitate
pentru acele funciuni care trebuie s fie realizate la nivele fiabiliste,
uneori, extrem de ridicate.
Spre a putea aborda aceast problematic, n continuare, va fi
expus analiza efectelor defectrii unui circuit logic uzual, cu nivel
redus al fiabilitii, utilizat n aplicaii curente, fr cerine deosebite
(fig.10.1).
i1
i2
D2
in
+Ec
D1
Dn
R3
T
R1
R2
Ep
Fig. 10.1
Pentru acest circuit, de uz curent, realizat n varianta DTL (Diod Tranzistor-Logic) de tipul SAU / NU NICI, sunt utilizate notaiile :
i, e - intrri, respectiv ieire (unic);
D - diode pentru cuplaj la intrare (permit numai transferul impul surilor de polaritate
pozitiv si separ ntre ele circuitele surs de
semnal) ;
R 1 - rezistor de cuplaj i amortizare a impulsurilor la intrare ;
220
R 2 - rezistor de polarizare a bazei cu tensiunea negativ - E p (pen tru evitarea deschiderii intempestive a tranzistorului prin impulsuri
perturbatoare de amplitudine minor provenite de la intrri );
T tranzistor amplificator cu funcionare n regim de comutaie ;
R 3 - rezistor de colector ;
+E c tensiune de alimentare (pozitiv fa de mas).
Din punct de vedere logic, tranzistorul T are dou stri semni ficative :
stare blocat () n regim de ateptare sau n pauza dintre
impulsurile de intrare (perio dice):
I c 0; U e Ec ,
cnd variabila logic de ieire are valoarea
e=1;
stare de conducie la saturaie () pe duratele impulsurilor de

intrare (pozitive) :
I c 0; U e 0; e 0.
Indiferent de modul de realizare tehnologic, cu co mponente

discrete sau n variante de circuit integrat, funcia logic proprie are
aceeai expresie :
e i1 i 2 . . . i n
iar
rezolvarea
sa
corect
depinde
de
strile
valide
ale
tuturor
componentelor de echipament (inclusiv jonciuni, terminale, conex iuni

etc.)
Spre a evidenia acest aspect, se va analiza efectul defectrii
tranzitorului T n spaiul colector-emitor i influena acestei defectri n
circuitul de ieire (e ). Defectarea se poate produce n dou modalit i:
( 6.1) :
221
- prin cretere parametic [+] , la limit ntrerupere (R c e );

- prin scdere parametic [], la limit scurcircuitare (R c e 0).
n funcie de starea fizic instantanee a tranzistorului T, rezult 4
situaii semnificative (din punct de vedere logi c), situaii ce sunt
exprimate n tabela 10.1.
Tab.10.1
Stare T
Iniial
Mod
Stare
fizic
Valoare
logic
Stare
fizic
Valoare
logic
II
III
IV
defectare
(+)
()
Final
n cazul I starea instantanee de dinaintea defectrii este, sub

semnal activ la intrare, de conducie () ceea ce corespunde la ie ire
valorii logice e = 0. n momentul defectrii ( 2.2) compor tarea
tranzistorului corespunde strii blocate, ceea ce are ca efect schimbarea
valorii variabilei logice la ieire (e) din valoarea 0 n 1.
Dac ns tranzistorul T se gsete instantaneu n starea blocat II
(e = 1), iar defectarea [+] survine n acest moment, efectul defectrii va
fi nul; eroarea va aprea n timpul urmtorului impuls (pozitiv) aplicat
la intrare, eroare ce se va menine pn la nlocuirea tranzistorului T
defectat.
n continuare, analiznd etapele defectrii prin scdere parametric
[] se gasete c, n cazul III, defectarea este mascat (ca i n cazul II),
eroarea meninndu-se, de asemenea, pn n momentul depanrii.
222
Continund analiza cu ultima situaie semnificativ IV, rezult c

se modific (total) valoarea logic a variabilei de ieire; acest efect, ca
i n cazul I, este pus n eviden cu marcare prin fond gri.
n urma acestei analize rezult c dac unul din cazurile I sau IV
determin, de exemplu, rspuns eronat n situaiile complementare (II,
III) se ajunge, prin defectare, la rspuns fals ( 1.2.1).
Prin modificarea (necorect)
a valorii logice la ieire este
modificat - radical coninutul informaional de proces, ceea ce nu este

permis la sisteme cu mare rspundere funcional.
Procednd la fel i pentru defectrile care pot surveni la orice alt
component, din structura acestui circuit logic (inclusiv conexiuni cu
fludor, trase de circuit imprimat etc.), se determin r spunsurile
corespunztoare i deci valorile logice la ieire. De exemplu, dac se
defecteaz prin ntrerupere rezistorul R 1 (6.1- tab6.1, poz. 35),
rspunsul
circuitului
logic
este
necorect
corespunde
situaiei
semnificative II; oricare alt defectare determin evoluia logic n una

dintre cele 4 stri redate n tabela 10.1.
Din aceast cauz, astfel de circuite logice uzuale nu sunt permise
n utilizri pentru procese caracterizate prin stri ca re pot conduce la un
rspuns fals (consecine grave); n astfel de aplicaii sunt utilizate
structuri logice cu nalta fiabilitate funcional, n elaborri speciale,
protejate fa de rspuns fals ( n caz de defectare).
*
Obinerea acestor structuri se bazeaz pe analiza modului de
defectare (cap.7), prin aplicarea redund anei fiabiliste (cap.8), a unor
tehnici de realizare a funciunilor de protecie (cap.9), fiind valabile i
toate celelalte considerente expuse n capitole anterioare.
223
10.2. Analiza i evaluarea rspunsului fals

Pentru a se stabili ct de ridicat trebuie s fie fiabilitatea
funcional, ntr-o anumit aplicaie, este necesar s se plece de la
evaluarea fiabilitii n raport cu rspunsurile false posibile ( 1.2.2).
Cuantificarea coeficientului de rspuns fals se poate efectua prin
stabilirea corelaiei dintre domeniul echipament (componente fizice) i
domeniul funcional (rspunsuri false); n fapt este o extindere la nivel
macroscopic, de sistem, plecnd de la nivelul microscopic.
Ilustrarea modalitii de determinare este fcut n diagrama 10.2
cu notaiile :
C componentele de echipament care, prin defectare, pot conduce
la rspunsuri false ;
RF rspunsurile false care se pot produce prin defectri ;
f coeficientul de rspuns fals determinat.
0
0.2
0.4
0.6
RF1 RF2 RF3 RF4 RF5 RF6
C1
C2
C3
C4
C5
0.8
.....
.
C6
1.0
RFn-1 RFn
C7
.....
.
Cn-1
Cn
Fig. 10.2
Astfel n funcie de caracteristicile sistemului analizat, exist un
numr oarecare n de componente, totdeauna mai mic dect numrul total
al componentelor sistemului.
224
Analiznd efectul defectrii fiecrei componente ( C 1 , . . ., C n ) se

stabilesc rspunsurile false posibile (RF 1 , . . . , RF N ). Acestea, la rndul
lor, sunt caracterizate, fiecare n parte, printr-o anumit valoare normal
a coeficientului de rspuns fals (n domeniul de valori 0 . . .1).
Rezult c rspunsurile false RF sunt selective fa de defectrile
componentelor C, defectri care se pot produce prin cretere parametric
[+] sau prin scdere parametric [-] ; n practic se pot intlni, mai rar,
i situaii de apariie a unor rspunsuri false indiferent de modul de
defectare, att prin cretere ct si prin scdere de parametru [+ ; -].
Dac se asociaz fiecrui rspuns fals RF, n parte, probabilitatea
sa de producere:
R1
P1
R2
P2
R3
P3
. . . RN
. . . PN
se poate obine valoarea funciei de nonfiabilitate pentru rspunsul fals

la nivel de sistem:
N
Pi fi
FRF ( t ) i 1
fi
i 1
unde f i reprezint frecvena de repartiie a rspunsurilor false (densitatea

de prababilitate a timpului de funcionare - 4.2), definit acum n
domeniul funcional.
Limitele valorice ale funciei de nonfiabilitate la rspunsul fals are
valorile teoretice (ideale) :
FRF 0 :
sistem total sigur, fr pericol funcional;
FRF 1 :
sistem total nesigur, total periculos.
Este evident c, n practic, valoarea egal cu zero nu poate fi

atins ( 2.2) dar, dup cerine, se urmre te obinerea unor valori ct
mai mici, prin mijloace raionale, pentru indicatorul F R F . Totodat,
225
pierznd proprietatea de selectivitate (coresponden direct component

- rspuns fals), acest mod de evaluare conduce i la o apreciere de ordin
calitativ, apreciere care este necesar atunci cnd se compar fiabilist
dou sau mai multe sisteme avnd aceleai funciuni.
n vederea obinerii proteciei necesare fa de rspuns fals
sistemul n cauz va conine, n structura echipamentului su, dou
subsisteme distincte sau implicite. Aceasta caracteristic, de importan
major pentru sistemele cu nalt fiabilitate funcional, n procese de
circulaie / navigaie, este artat n figura 10.3 unde s-au folosit
notaiile :
i, d intrare respectiv ieire pentru semnalele necesare rea lizrii
funciunilor eseniale
SSE subsistem pentru procesarea semnalelor sub forma datelor
necesare procesului de aplicaie, avnd variabila logic notat cu d ;
SSP subsistem de protecie prin care se verific procesarea corect a semnalelor de date d;
e v ieire pentru semnalele rezultate prin verificare.
(i)
SSE
SSP
date - d
( ev )
STOP - s
Fig. 10.3
n situaia n care procesarea corect este compromis prin apariia
unei defectri (simple sau multiple - 8.1), la ieirea de verificare e v
226
apare o variaie a semnalului logic s prin care se blocheaz procesul,

parial sau total, n funcie de condiiile funcionale impuse.
Un exemplu care ilustreaz aplicarea fiabilist a acestui procedeu
l constituie circuitul final de afiare, la bordul avianelor, a regimului de
aterizare: corect sau necorect. Structura de baz a acestui circuit, din
sistemul de aterizare instrumental (Instruments Landing System-ILS )
este redat n figura 10.4a), cu notaiile:
(R1)
I1
(C1)
U1
I
(C2)
UAv
Av
U2
I2
a)
II
(R2)
b)
Fig. 10.4
C 1 , C 2 circuite finale, din echipamentul de bord, care furnizeaz
curenii I 1 i I 2 pe baza semnalelor radio emise de la sol ;
I instrument indicator, de tip magneto-electric, montat
diagonala de ieire a unei puni cu dou brae active (C 1 i C 2 ) ;

R 1 , R 2 rezistoare identice constituind cele dou brae pasive ale
punii ;
Av dispozitivul de avertizare asupra regimului de zbor n timpul
aterizrii.
Avertizorul Av este un transductor electro-optic de tip binar :
acionat-activ, respectiv revenit-pasiv. n
fapt este un electromagnet,
acionat n curent continuu, pe armtura sa mobil fiind fixat un sector

alb-rosu n dungi cu fante n dreptul unui vizor, care este montat lng
instrumentul I.
227
Funcionarea ansamblului instrument I - avertizor Av se bazeaz

pe dou stri.
Stare activ : avionul se afl pe traiectoria corect, puntea
electric este n echilibru, iar instrumentul I afieaz valoarea zero

marcat n centrul scalei :
I I I1 I 2 0 ;
U1 U 2 U ;
U Av U 1 U 2 2U .
Deoarece valoarea 2U a tensiunii aplicate la bornele avertizorului

Av este mai mare dect valoarea de prag pentru acionare, electro magnetul i atrage armtura i n vizor se afieaz culoarea alb; poziia
de aterizare a avionului este corect deoarece abaterea de traiectorie
este nul (fig.10.4 b):
I I f ( ) 0.
Stare pasiv: dac se produce o abatere dincolo de limitele
admisibile, diferena dintre curenii I 1 i I 2 apare ntr-un sens sau

n altul, n funcie de dezechilibrul punii :
I I I1 I 2 0 ;
U1 U 2 ;
U Av U 1 U 2 2U ,
iar armtura mobil a electromagnetului revine; acum n vizor se

afieaz culoarea rou (stare periculoas): avionul este redre sat i
aterizarea se reia sau se realizeaz dup alte proceduri dect cea
prevzut pentru sistemul ILS.
Din diagrama 10.4b) se observ c acum excursia de semnal I I se
face pe dreapta caracteristic
II f ( ) 0,
cu o variaie corespunznd polaritii i amplitudinii curentului n

funcie de sensul i mrimea abaterii a zborului. Revenind la structura
228
general din figura 10.3, se poate pune n eviden faptul c subsistemul

SSE corespunde instrumentului I (i tuturor circuitelor conexe, inclusiv
radiofarurilor de la sol), iar
subsistemul de protecie SSP este
reprezentat de avertizorul Av mpreun cu rezistoarele R 1 i R 2 ;

structura extrem de simpl ( 5.1) ca i elaborarea tehnologic special
a acestor elemente (rezisten ridicat la defectare - 2.2), con fer
ntregului sistem o fiabilitate funcional foarte ridicat.
Pentru obinerea acestui efect, de protecie, este necesar s se
cunoasc modul de procesare a semnalelor de date n subansamblul
funcional SSE (fig.10.3). n acest scop structura unui astfel de sistem
se dezvolt corespunzator celor N semnale primite de la subsistemul de
procesare a datelor SSE (fig.10.5) :
d semnale de date care aduc informaia necesar asupra modului
de procesare ;
I1
d2
I2
dN
x1
x2
SSP
....
....
d1
IN
s
STOP
xN
Fig. 10.5
I circuite de intrare ;
x, y variabile logice asociate intrrilor respectiv ieirii n i din
subsistemul de protecie SSP ;
s semnal de supraveghere i protecie (STOP);
E circuit de ieire.
229
n aceast structur, prin adaptarea corespunztoare a semnalelor,

se realizeaz o tratare a informaiei de protecie dup o funcie logic de
lucru :
y W x 1 , x 2 , . . . , x N ,
astfel nct pentru s = 0 s fie asigurat starea de protecie STOP

(siguran).
d1
d2
....
dm
v1
v2
....
vn
SSP
STOP - s
Fig. 10.6
La sistemele complexe, multifuncionale, este necesar o procesare
separat - distinct pentru fiecare variabil logic n parte; n acest scop
se recurge la o tratare prealabil a semnalelor de verificare pentru
condiiile de protecie. Astfel, subsistemul de protecie SSP este
prevzut cu dou serii de intrri, avnd structura din figura 10.6, unde
mai apar semnalele de verificare i protecie v 1 , v 2 , . . . ,v n , semnale
care se obin n urma unor procesri anterioare, selective, dup cerinele
impuse pentru protecia necesar.
10.3. Structuri sistemice i tehnologii aplicate

pentru realizarea fiabilitii funcionale ridicate
Din cele tratate anterior se desprinde ideea c, n decursul
dezvoltrii fiabilitii echipamentelor, au fost uti lizate o multitudine de
metode i procedee n scopul ameliorrii parametrilor fiabiliti. Dac
230
aceste ameliorri vizeaz n mod direct unele funciuni de protecie,

datorit efectului de redundan (aplicat sub diferite forme), structurile
generale de sistem se dezvolt n mod corespunztor.
Prin aceste dezvoltri, teoretic, se pot atinge nivele extrem de
ridicate pentru funciunile de protecie; dac nu se au n vedere efectele
creterii probabilitii de apariie a rspunsurilor eronate ( 1.2),
sistemul n cauz, pe ansamblul su, va pierde din disponibilitate
2.2). Al tfel spus, de exemplu n procese de circulaie / navigaie, se

poate ajunge la sisteme extrem de protejate dar cu o fiabilitate nepermis
de scazut pentru funciuni eseniale ( 1.2.1): procesul este frecvent
blocat, prin transformarea rspunsurilor false n rspunsuri eronate (
1.2.3).
n etapa actual de dezvoltare i aplicare pe scar larg a
tehnologie
microelectronice
ca
de
trecere
la
tehnologia
nanoelectronic, costul echipamentelor pe unitate funcional scade

foarte mult, astfel c utilizarea redundanei reprezint o cale dominant
pentru obinerea unei fiabiliti funcionale ridicate, n funcie de
cerinele aplicaiei de proces. O cretere substanial se produce dac
sunt utilizate i subsisteme de protecie cu o fiabilitate proprie extrem
de ridicat.
O abordare i o tratare sistemic a acestei problematici se face, n
continuare, pe trei direcii dominante: logicile majoritar, dinamic,
respectiv de tip cablat.
10.3.1. Logica majoritar

Unele aplicaii ale acestei metode au fost expuse, sub alte aspecte,
n capitolele anterioare. n acest paragraf vor fi tratate sistemic, la
modul general, toate variantele bazate pe o astfel de logic, inclusiv
231
evaluarea eficienei fiabiliste corespunzatoare gradului de fiabilitate

funcional ce se poate obine.
A - Sistemele cu redundan simpl n structur modular de tip
dublet au schema general din figura 10.7a), fiind folosite notaiile:
Mf 1 , Mf 2 module funcionale identice, care primesc aceleai
semnale - identice, la intrrile separate i 1 i i 2 ;
P L poart logic avnd dou intrri la care primete semnalele de
verificare v 1 i v 2
i1
a)
v1
Mf2
v1
PL
Mf1
i2
(i)
b)
s
v2
SAU
s = v1+v2
v2
c)
v1
d)
(e)
v1
v2
v2
1 / 2
(i)
v1 2 / 2
v2
SI
s = v1v2
(e)
e)
Fig. 10.7
n aceast schem, ca i n cele ce vor urma, se subnelege c
semnalele de date (d), procesate n modulele funcionale Mf 1 i Mf 2 ,
sunt transferate la subsistemele corespunztoare implicate n realizarea
funciunilor eseniale, dac sunt ndeplinite condiiile de protecie,
condiii care sunt validate sau invalidate prin semnalul logic s.
Cu toate c aceast variant nu corespunde logicii majoritare
propriu-zise ( 8.2), dar are numeroase aplicaii n practic, din motive
de dezvoltare sistemic, este inclus n acest paragraf. Caracterizarea de
232
redundan simpl corespunde faptului c, strict funcional, este

suficient un singur modul Mf; evident, din acest punct de vedere, oricare
dintre ele este redundant (baz i rezerv).
Varianta 1/2 ( unul din doi ) are structura logic tip SAU ( v
U v 2 ), din figura 10.7b), i tabel a de adevr 10.2, de unde au fost

excluse combinaiile logice extreme 0 - 0 i 1-1 deoarece nu corespund
cazului analizat.
v1
v2
Tab.10.2
s
continua, n cazul producerii unor defec-
tri, dac este afectat numai unul din cele
Prin urmare procesul
protejat poate
dou module funcionale Mf 1 sau Mf 2 ;

aceast proprietate este pus n eviden prin graful corespunztor
(fig.10.7c). Combinaional, n acest caz, se obin dou stri tolerante la
defectri :
C 21 2 ;
C mn
m!
( m n )! n!
iar unele ilustrri practice au fost fcute n cadrul capitolului 8, prin

desenele 8.1, 8.2a), 8.3, 8.14 .
Varianta 2/2 (doi din doi) corespunde unui comparator logic de
tipul I (v 1 v 2 ), avnd schema logic din figura 10.7d) i tabela de
adevr 10.3.
v1
v2
Tab.10.3
Spre
s
1
acum
deosebire
protecia
de
este
varianta
mult
precedent,
mai
ridicat
deoarece, pentru a nu interveni starea STOP

este necesar ca ambele module s funcioneze corect - fr defectri.
Aceasta corespunde combinaional relaiei : C 22 1,
233
graful fiabilist corespunztor fiind redat n figura 10.7e). Unele ilustrri

ale aplicrii acestei variante au fost fcute anterior ( 8.3.1, fig.8.10).
B - Sistemele cu redundan dubl au structura general modular n triplet (fig. 10.8a), n care un modul funcional (oricare) este d e
baz, iar celelalte dou sunt de rezerv (activ).
Varianta 1/3 este caracterizat prin performane fiabiliste
minime, la aceast categorie (triplet). Relaia ntre variabilele logice de
verificare este de forma :
v1 v2 v3 ,
iar numarul de combinaii este : C 31 3.
i1
i2
i3
Mf1
Mf2
Mf3
a)
v1
v2
b)
v1
v2
v3
PL
v3
SAU
s = v1+v2+v3
v1
(e)
v2
(i)
1 / 3
v3
c)
Fig. 10.8
Tab.10.4
s
Tabelei de adevr 10.4 i cores-
v1
v2
v3
punde schema logic din figura 10.8b),
respectiv graful din figura 10.8c).
Proprietile acestei variante corespund

structurii III k al ordinului defectrii
(8.1; fig 8.1), graful corespunztor fiind III ( ) din figura 8.2a).
234
Varianta 2/3, din punct de vedere fiabilist, are performane

medii (fig.10.9a) :
v1 v2 ; v2 v3 ; v1 v3 .
v1
a)
SI1
v2
SI2
v3
v1'
'
v2
v'3
(i)
SAU
v1
v2
v2
v3
v1
v3
b)
(e)
2 / 3
SI3
d)
c)
v1
v2
v3
SI
(i)
s = v1 v2 v3
v1
Fig. 10.9
v2
(e)
v3
3 / 3
n tabela de adevr 10.5, ce corespunde acestor relaii, se vede c

numrul de combinaii este: C32 3.
Acestor relaii le corespunde graful din figura 10.9b).
v1
v2
v3
Tab.10.5
s
caracterizeaz
fiabilitate funcional la categoria cu
redundan dubl. Variabila logic de
Varianta 3/3 (fig.10.9c) se

prin
cea
mai
ridicat
protecie s depinde de produsul logic ale

celor trei variabile de verificare (v 1 ,v 2 ,v 3 ), care se gasesc n relaia de
coinciden tripl, iar din punct de vedere combinaional rezultatul se
reduce la o singur stare :
v1 v2 v3 ;
s v1 v2 v3 ;
C33 1.
235
Procesarea logic necesar se realizeaz n dou trepte i anume

nti compararea a cte dou semnale - logic I, iar apoi nsumarea
celor trei semnale intermediare - logic SAU :
v1 v1 v 2 ;
v 2 v 2 v 3 ;
v 3 v1 v 3 ;
s v1 v2 v3 .
Structura porii logice de procesare este redat n fiugura 10.9c) cu

graful corespunztor din figura 10.9d).
C - Sistemele cu redundan tripl corespund unor structuri modulare in cuadruplet (fig.10.10). Dintre cele 4 module funcionale Mf
identice unul este de baz (oricare), iar celel alte trei sunt de rezerv
(redundan permanent 8.2).
i1
Mf1
i2
Mf2
i3
Mf3
v1
v2
v3
v4
v1
v2
v3
PL
(i)
a)
v2
(e)
v3
Mf4
v4
Fig. 10.10
s = v1+v2+v3+v4
v1
v4
i4
SAU
Fig. 10.11
b)
1 / 4
Varianta 1/4 asigur cea mai slab protecie (fig 10.11a) :

v1 v2 v3 v4 ;
s v1 v2 v3 v4 .
Relaiile de definire corespund tabelei de adevr 10.6, iar graful

corespunztor este redat in figura 10.11b). Cele patru stri de protecie
corespund combinrilor :
236
C 41 4.
Tab.10.6
s
astfel
de
situaie
este
v1
v2
v3
v4
ilustrat
complex pentru procesarea date-
lor, circuit realizat pe baza a
patru structuri identice ( 5.3.2-
prin
circuitul
integrat
fig.5.6).
Varianta 2/4este caracterizat printr-o protecie mai bun in
raport cu cea precedent. n concordan cu tabela de adevr 10.7

expresia funciei logice de lucru corespunde celor ase stri :
v1 v 2 v1 v 3 v1 v 4 v 2 v 3 v 2 v 4 v 3 v 4 ;
s v 1 v 2 v 1 v 3 v 1 v 4 v 2 v 3 v 2 v 4 v 3 v 4 v 1 v 2 v 3 v 4 v 5 v 6 ,
sau relaiei combinatorii :
C 42 6.
v1
v2
v3
v4
Tab. 10.7
s
1
0
0
1
1
0
1
1
0
0
0
1
0
1
1
1
0
0
0
0
1
0
1
1
1
1
1
1
1
1
n figura 10.12 a) este reprodus graful caracterist ic acestui nivel

de fiabilitate; structura schemei logice este format dintr-o prim
treapt cu pori de tip I, respectiv dintr-o a doua treapt de tip SAU
(fig.10 .12b).
Atunci cnd cerinele aplicaiei o cer, sau permit, se poate recurge
la o subvariant 2/4 mai selectiv, cum este cazul structurii logice din
237
figura 10.13a), obinut prin reducerea treptei logice I la numai dau

uniti (n loc de ase). Graful corespunztor este redat n figura
10.13b), iar expresia funciei logice la ieire devine :
s v1 v6 v1v2 v3v4
Este de observat faptul c, pe aceast cale, se obin dou avantaje

importante :
- schema logic se simplific (dispar porile logice I 2 , I 3 , I 4 , I 5 );
-gradul de protecie obinut este mai ridicat, deoarece sunt pstrate
numai dou combinaii (duble) n loc de ase.
SI1
v1
SI2
v2
SI3
SI4
v3
SI5
v4
SI6
v1
v2
v3
v4
SI1
SI6
a)
v6'
b)
v'2
(i)
v'3
SAU
v'4
v'5
v6'
SAU
v1
v2
v1
v3
v1
v2
v4
v3
v2
v4
v3
v4
(e)
Fig. 10.12
v1'
a)
238
v1'
(i)
v1
( v1' )
v4
v3
( v6' )
Fig. 10.13
v2
b)
(e)
Varianta 3/4are la baz tabela de adevr 10.8, cnd se obin

patru stri combinatorii :
C 43 4.
Conform acestei tabele de adevr, expresia funciei logice de

protecie este :
s v1 v 2 v 3 v 2 v 3 v 4 v1 v 3 v 4 v1 v 2 v 4 ,
avnd variabile logice intermediare:

v 1 v 1 v 2 v 3 ;
v1
SI1
v2
SI2
v3
SI3
v4
SI4
v 2 v 2 v 3 v 4 ;
v1'
v 3 v 1 v 3 v 4 ;
a)
b)
v2
(i)
v'2
SAU
v'3
v 4 v 1 v 2 v 4 .
v1
v3
v2
v3
v4
v1
v3
v4
v1
v'4
v2
(e)
v4
Fig. 10.14
v1
v2
v3
Tab. 10.8
v4
s
conine trepte logice I respectiv
SAU (fig.10.14a), iar graful este
cel din figura 10.14b).
Structura schemei logice va
i n acest caz, pentru unele

alpicaii, n strict concordan cu
cerinele de protecie, se poate utiliza schema logic mai simpl din

figura 10.15, pentru care este valabil relaia general:
s v1' v '4 v1 v 2 v 3 v 2 v 3 v 4 ;
239

v1
SI1
v2
v1'
SAU
v3
v4
v'4
SI2
Fig. 10.15
i graful corespunztor se simplific, rmnnd valabile numai primele
dou ramuri din cel redat n figura 10.14b).
Totodat
trebuie
remarcat
aceast
structur
logic
simplificat, ofer o protecie mai bun n raport cu cea din care

provine, oricare ar fi cele dou ramuri utilizate (din cele patru).
Varianta 4/4 este cea mai restrictiv, asigurnd o protecie
maxim fa de celelalte variante din categoria sa (fig 10.16a) :
s v1 v 2 v 3 v 4
v1
v2
v3
v4
C 44 1 .
SI
a)
(i)
(e)
v1
v2
v3
b)
v4
Fig. 10.16
Aceast performan se pune mai bine n eviden prin graful din
figura 10.16b).
D - Sisteme neomogene
Ca i n cazul general al sistemelor cu scheme de fiabilitate
neuniforme ( 5.3.3) i sistemele de protec ie pot avea i structuri fr
240
omogenitate; situaii de acest fel se ntlnesc, mai ales, n procesrile

care au loc la prelucrrile i/sau ale transmisiunilor din cadrul
sistemelor teleinformatice, de telemetrie, telecomand sau telecontrol.
Pentru astfel de aplicaii sunt folosite dou tipuri de semnal
determinist - fr coninut informaional n proces:
-semnale standard de sincronizare, de tact etc;
-semnale speciale de protecie fa de perturbaii care , de regul,
moduleaz suplimentar semnalul purttor la emisie, iar la recepie se
verific aceast modulaie suplimentar.
Dac primul tip de semnal este des ntlnit n practic, cel de al doilea
are o arie mai restrns de aplicare fiind, aproape exclusiv, utilizat n
protecii fa de perturbaii.
Un exemplu, n acest sens, este modulaia de lumin aplicat n
scopul eliminrii perturbaiilor optice n procesele de identificare
automat a autovehiculelor rutiere (fig. 10.17).
Ae
t
0
Ar
To
ti
tp
Fig. 10.17
Semnalul emis A e , care este o radiaie luminoas, se obine printro modulaie cu deplasare de amplitudine - MDA aplicat curentului care
alimenteaz sursa de lumin:
t i - durata impulsului luminos;
t p - pauza dintre dou impulsuri consecutive;
T o - perioada de repetiie a impulsurilor elementare;
241
A r - semnalul recepionat care conine informaia de identitate a

vehiculului.
Semnalul optic obinut prin identificarea autovehiculului, la
recepie, este convertit n semnal electric avnd aceleai caracteristici
deterministe ca i n cel emis:
ti t p
To
;
2
t i t p To
1
fo
f 0 fiind frecvena de repetiie a impulsurilor elementare.

nainte de decodare (pentru a obine informaia de identitate)
semnalul recepionat (de natur electric) este trecut printr -un filtru
trece-band avnd frecvena central f 0 : n acest fel sunt eliminate
perturbaiile care, practic, nu pot s apar n impulsuri, opti ce sau
electrice, cu frecvena f 0 .
v1
SI1
v1'
a)
b)
(i)
v2
SI2
v3
SI3
v0
v'2
SAU
v1'
v0
(e)
v'2
v'3
v'3
Fig. 10.18
Asociind acestui semnal de verificare notaia v 0 , n schema logic

din figura 10.18 a) este exemplificat modul de injectare a acestuia la
prima treapt de procesare logic de tip I; n fapt se realizeaz o
verificare de protecie la nivelul fiecrei pori logice. Deoarece aceast
verificare se face simultan-sincron, la toate cele trei pori logice,
semnalul v 0 apare o singur dat n relaia de coinciden:
242
s v 1 v 2 v 3 v 0 v 1 v 0 v 2 v 0 v 3 v 0 v 1 v 2 v 3 .
Aceast proprietate este ilustrat prin graful 10.18 b), iar aplicaia
respectiv corespunde, prin extindere, logicii majoritare 1/3 - cenzurat
(fig. 10.8). Aceast modalitate de protecie se ntlnete la procesri
sincrone prin impulsuri de tact - sincronizri.
n situaii de realizare a unor protecii speciale - particulare, cum
este cazul modulaiei de lumin (fig. 10.17), semnalul de verificare este
injectat la treapta a doua de procesare (fig. 10.19a):
s v v 0 v 0 v 1 v 2 v 3 ;
rezult c funcia logic de lucru are aceeai expresie, dar semnalul de

protecie v 0 nchide graful corespunztor (fig. 10.19b) .
v1
b)
SAU
v2
a)
s
SI
v3
(i)
(e)
v1
v2
v0
v0
v3
Fig. 10.19
*
n ncheiere la cele expuse cu privire la proprietile structurilor
fiabiliste omogene de protecie, bazate pe logica majoritar, se poate
observa c modelul matematic general poate s conin sumatoare
M
logice, s v i ;
i 1
comparatoare logice,
s vj ;
j 1
sau, n cazul general, pe ambele:
M N
i 1
i 1 j 1
s v i v j .
243
Din motive de cost, att iniial prin investiii ct i ulterior prin

mentenan, aplicaiile inginereti , pn n prezent, se opresc la valorile
maxime M=6 i N=4. Desigur odat cu scderea costurilor tehnologice,
de fabricare a echipamentului, va fi raional utilizarea unor circuite
bazate pe logica majoritar cu structuri omogene mai dezvoltate, numai
atunci cnd cerinele de protecie vor impune aceasta.
10.3.2. Logica dinamic

Principiul fundamental pe care se bazeaz realizarea sistemelor de
acest fel const in utilizarea unor semnale i circuite logice, astfel
elaborate nct s se obin controlul integritii sistemului protejat.
Regimul de funcionare este n impulsuri-comutaie, iar protecia
se realizeaz, dup condiiile impuse, fa de defectrile prin cretere
parametric [+], prin scdere parametric [-] sau prin ambele moduri (
6.1). n practic se ntlnesc i rezolvri tehnice cnd se utilizeaz,
pentru realizarea funciunilor de protecie, att unele semnale proprii de
date (fig. 10.5; 10.2) c t i altele care sunt special generate n acest
scop (fig. 10.6; 10.2). Dar indiferent de categoria semnalelor aplicate
la intrare, condiia logic a semnalului s la ieire este ca dispariia sa
fizic, indiferent de cauz, s conduc la starea STOP; n literatura de
specialitate aceast condiie este cunoscut sub denumirea procedeul
semnalului
permanent
pentru
strile
funcionale
permisive
ale
procesului protejat.
Prin eliminarea detalierilor din structurile generale, ale unor astfel
de sisteme, se obin reprezentrile generale din figura 10.20:
a) sistemul cu semnale proprii de date, fr semnale auxiliare
elaborate pentru protecie;
b) sisteme cu semnale auxiliare-speciale pentru protecie.
244
Ca i n cazul celor expuse anterior, notaiile utilizate n acest

desen sunt:
SSP - subsisteme de protecie;
d - semnale de date;
v - semnale de verificare;
s - semnale de supraveghere i protecie.
d
SSP
s
STOP
a)
d
v
SSP
b)
s
STOP
Fig. 10.20
Avnd la baz logica dinamic, au fost elaborate unele circuite cu
structuri TFL (tranzistor -ferit-logic), n cazul crora sunt utilizat e dou
tipuri de semnale standard (fig. 10.21a):
UA
tp
ti
t
0
Ti
a)
T1
T2
UA
UB
b)
UB
t
0
Fig. 10.21
T i - perioada de repetiie a impulsurilor;
t i , t p - durata impulsului, respectiv pauzei dintre dou impulsuri
consecutive.
245
Indiferent de tipul de semnal standard, U A sau U B , parametrii lor

fundamentali sunt identici:
Ti 0 ,21,0 ms ;
ti 3 5 s ;
fi
1
1 5 kHz ;
Ti
t p ti .
Singura diferen esenial const n faptul c polaritatea lor

instantanee fiind invers, defazajul dintre ele este:
A B rad 180 o.
Generarea unor astfel de forme de und se realizeaz relativ simplu
prin folosirea unui circuit basculant astabil-multivibrator (fig. 10.21b),
realizat printr-o schem cu dou tranzistoare; cele dou semnale, U A i
U B , se obin din colectori dup care se axeaz n raport cu axa timpului
(pierderea componentei continue).
Pe de alt parte aceste semnale, prin procesare n circuite pasive bobine cu circuit magnetic nchis construit pe ferit de form toroidal,
sufer
unele
atenuri
care
trebuie
compensate
prin
amplificri
corespunztoare. Aceasta se realizeaz cu ajutorul unui tranzistor

amplificator, n regim de comutaie, cu montaj emitor comun.
Schema acestui etaj este simpl, aproape identic cu cea din figura
10.1 (nu mai sunt necesare diodele D, aplicarea semnalelor U A i U B
fiind fcut pe baza tranzistorului prin rezistorul R 1 ); semnalul, astfel
amplificat, este transferat din colector pe nfurarea de comand a unei
ferite de comutaie, nfurare care nlocuiete rezistorul R 3 . Datorit
faptului c tranzistorul amplificator debiteaz pe un circuit inductiv cu
separare galvanic ( 9.1; fig. 9.2a), se obine o protecie eficient fa
de defectarea tranzistorului, att prin cretere [+] ct i prin scdere [-]
de parametru.
246
n acest fel circuitul de sarcin al tranzistorului este o nfurare

de intrare - comand L i 1 sau L i 2 (fig. 10.22a), semnalul logic U e fiind
obinut la bornele nfurrii de ieire L e , evident, tot n impulsuri.
Pentru a uura expunerea, n acest desen ca i n cele ce vor urma,
nfurrile bobinate pe miezul de ferit sunt reprezentate printr -o
singur spir, sensul de solenaie fiind precizat prin borna polarizat
care este marcat cu un punct.
Din punct de vedere electric aceast structur corespunde unui
transformator de impulsuri cu mai multe nfurri primare i cu mai
multe nfurri secundare (dac fan-out impune acest lucru).
Pentru a analiza modul de funcionare a acestui dispozitiv logic cu
nalt fiabilitate funcional, este necesar cercetarea caracteristicii B =
f(H) care este redat n figura 10.22 b), avnd notaiile:
B - inducia magnetic;
H - intensitatea cmpului magnetic produs prin aplicarea impulsurilor I i 1 i I i 2 ;
a)
Li1
b)
Ii1
Le
Q+
+Bs
Ue
-Hc
+Hc
Ii2
Li2
Q-
-Bs
Fig. 10.22
B S - valoarea induciei magnetice la saturaie, care este pract ic

egal cu valoarea induciei remanente;
H c -valoarea intensitii cmpului magnetic coercitiv necesar pro ducerii basculrii feritei;
247
Q + - punct de maxim care se atinge la cele mai mari valori prin

variaii parametrice
pozitive;
Q - punct de maxim care se atinge la cele mai mari valori prin

variaii parametrice negative.
Pentru cele dou stri pasive - stabile ale miezului de ferit
corespund punctele +B S sau B S , n funcie de sensul de variaie anterioar a cmpului magnetic (+H c sau H c ).
La o parcurgere complet a unui ciclu histerezis se revine la
aceeai stare pasiv (+B S sau B S ), iar la parcurgerea a cte unui
semiciclu complet se produce o basculare ntre cele dou stri pasive stabile; la valorile maxime ale amplitudinii impulsurilor de intrare (I i 1
sau I i 2 ) se ating punctele extreme de basculare Q + respective Q , cnd
semnalul la ieire U e are amplitudinea cea mai mare, deoarece variaia
induciei magnetice este maxim i egal cu 2B S .
Pe
de
alt
parte
impulsurile
de
comand
provenite
de
la
tranzistorul amplificator (n regim de comutaie) au aceeai polaritate;

pentru a se produce parcurgerea unui ciclu histerezis complet es te
necesar aplicarea semnalelor U A i U B la nfurri cu solenaie
invers. Pentru aceasta sunt prevzute dou nfurri (L i 1 i L i 2 ) cu
sensuri de solenaie inversate (fig. 10.22a).
n fine mai trebuie precizat c, atunci cnd este necesar, unul din
cele dou semnale (I i 1 , I i 2 ) aplicate celor dou nfurri de intrare cu
sens de solenaie inversat (L i 1 , L i 2 ) poate fi utilizat ca semnal de tact sincronizare n sistem; ns indiferent de atribuirea semnificaiei logice,
dispariia oricrui semnal (U A sau U B ), indiferent de cauz, conduce la
dispariia semnalului logic la ieire (U e ). Efectul, la nivel macroscopic
de sistem este, n aceast situaie, producerea unui rspuns eronat n
locul unuia fals (STOP; fig. 10.20).
248
Din motive de eficien la producerea acestor dispozitive, toate

nfurrile, de intrare i de ieire, oricare ar fi numrul lor, se
bobineaz n acelasi sens; schimbarea sensului de solenaie, atunci cnd
este necesar, se face prin inversarea celor dou borne ale bobinei n
cauz, deci prin schimbarea bornei polarizate la realizarea montajului de
sistem.
A - Circuitul logic tip I
n acest caz sunt suficiente trei nfurri bobinate pe miezul
toroidal din ferit i anume dou de intrare i una de ieire (fig.10.22a).
Asociind semnalele logice cu variabilele logice :
U A I i1 x1 ;
U B I i2 x2 ;
Ue y
i corelnd cu ciclul complet histerezis (fig.10.22b), rezult tab ela de

adevr 10.9, respectiv funcia logic de lucru :
y x1 x 2 .
x1
Tab. 10.9
x2
y
infurrii de ieire L e (stabilirea bornei polarizate
se face dup cerine). Aceast structur este cea mai
simpl (2 intrri /1 ieire 2i /1e) i st la b aza altor
Calitatea semnalului de ieire, U A sau U B , este

funcie
de
modul
de
conectare
bornelor
structuri logice mai mult sau mai puin dezvoltate.

n acest mod se obine parcurgerea complet - succesiv a ciclului
histerezis ntre punctele Q + i Q , starea remanent pasiv stabil
(+B S sau B S ) instalndu -se atunci cnd H = 0, n urma excitrii
magnetice produse de ultimul impuls de comand.
Dac dispare unul din cele dou semnale oricare, n funcie de
semnalul rmas activ, excursia punctului de funcionare pe caracteristica
249
B = f(H) se face repetat, la fiecare impuls sosit, ntre punctele +B S i Q +

pentru I i 1 , respective ntre punctele B S si Q pentru I i 2 ; deoarece n
aceste situaii variaia de inducie este practic nul (B 0), semnalul la
ieire este, de asemenea, nul :
U e k B 0 ,
unde k este o constant de proporionalitate.

B - Circuitul logic tip SAU
Spre a se obine structura corespunztoare sunt necesare trei
infurri de intrare i o nfurare de ieire (3i/1e). Aceast structur
este redat n figura 10.23a), ia r valorile variabilelor logice apar n
tabela 10.10.
Li1

a)
Li2
b)
Ii1
Ii2
x1
Le
SAU
Ue
SI
x2
x3
Ii3

Li3
Fig. 10.23
x1
x2
Tab.10.10
x3
y
caracteristica B = f(H) ,
intrri necesare variabilelor logice propriu-zise
x 1 i x 2 , este necesar o a treia intrare la care se
aplic
Pentru a realiza baleiajul ciclic integral pe
permanen
pe lnga cele dou
semnalul
complementar determinist ( x3 1 ) :
250
standard
U A I i1 x 1 ;
U A I i2 x 2 ;
U B I i3 x 3 1 ;
Ue y ,
U B I i1 x1 ;
U B I i2 x 2 ;
U A I i3 x 3 1 ;
Ue y ,
sau:
n aceste condiii pentru semnalul de ieire y
rezult funcia
logic de lucru :
y x 3 x x 3 x1 x 2 x1 x 3 x 2 x 3 x1 x 2 ,
deoarece x 3 = 1.
Se observ c, n acest caz, este necesar o dezvoltare de la

circuitul logic de tip I (fig.10.22a) la structura dubl SAU / I
(fig.10.23b); aceast redund an de echipament este justificat de
cerinele severe impuse pentru realizarea unui nalt grad de fiabilitate
funcional.
Totodat trebuie reinut faptul c utilizarea semnalului suplimentar
I i 3 , asociat variabilei logice deterministe x 3 , este caracteristic i altor
procedee ca, de exemplu, n cazul logicii majoritare ( 10.3.1; semnalul
v 0 - fig.10.18 i fig.10.19).
C - Circuitul logic tip NU
Dac se analizeaz rspunsul unui circuit de negare, n variant
uzual (tab.10.11), se observ c :
Tab.10.11
- semnalul de ieire U e = 0 (dispare) att pentru starea
x
y
1
valid, prin efect de negare, ct i n situaia apariiei
unor defectri ;
- nu este posibil ca n lipsa semnalului la intrare (x = 0)
s se obin semnal la ieire (fr o protecie special).

251
Controlul suplimentar conduce, obligatoriu, la dezvoltri multiple,

fiind necesare dou ieiri. O astfel de structur este redat n figura
10.24, cu notaiile:
U A , U B semnale standard complementare defazate cu 180 o (fig.
10.21a) ;
I-I , II-I circuite logice de tip I (fig.10.22a) ;
U e 1 , U e 2 semnale obinute la cele dou ieiri n urma procesrii
de negare logic a semnalului de intrare U i aleatoriu (de tip U A ) ;
T tranzistor comutator pentru protecie prin electroalimentare
(9.4, fig.9.6) ;
UB
Ui
(UA)
U
e1
I - SI
()
D1
a)
+Ea
R2
b)
y1 = x
NU
y2 = x
0
D2
EA
UA
(+)
I I - SI
UB
R1
Ea
U
e2
Fig. 10.24
D 1 , D 2 diode pentru separare n polaritate a alimentrii circuite lor logice I- I, II- I ;
+E a , E a tensiunile sursei duble de alimentare cu polariti dife rite fa de zero (masa montajului) ;
R 1 , R 2 rezistoare de limitare a curenilor de alimentare pentru
circuitele logice de tip I;
252
EA structur de electroalimentare comandat prin semnalul logic

de intrare U i .
Pentru a analiza rspunsul logic al acestui circuit complex este
necesar s se cunoasc, n prealabil, modul n care se realizeaz
alimentarea controlat prin intermediul structurii EA (care este redat cu
unele simplificri i ncadrat prin linii ntrerupte ).
stare pasiv n ateptare fr semnal U i la intrare : tranzistorul
T este polarizat n jonciunea baz-emitor i corespunde strii de
blocare, stare precizat prin semnul ; ca atare sursa de polaritate E a
este inactiv, iar sursa +E a (cu zero la mas) alimenteaz circuitul II -I
prin rezistorul R 2 i dioda D 2 - i n consecin, acesta furnizeaz un
semnal logic de ieire (U e 2 0), fiind excitat la cele dou intrri cu
semnalele deterministe U A i U B .
stare activ, cnd la intrare apare semnalul aleatoriu U i (de tip
U A ) : etajul precedent celui basc ulant T subneles simplificat n schem
printr-o linie curb ntrerupt, care funcioneaz n regim de pompare
electronic ( 9.4, fig.9.6a), provoac intrarea n conducie la saturaie
() a tranzistorului T care, astfel, ntrerupe alimentarea circuitului III (de la +E A ) i stabilete alimentarea circuitului I -I, prin rezistorul
R 1 i dioda D 1 (de la - E A ). Nefiind alimen tat circuitul II-I, cu toate c
are aplicate la intrare ambele semnale, U i -aleatoriu de tip U A i U B
determinist, nu furnizeaz semnal la ieire (U e 2 = 0). n schim b circuitul
I-I, avnd la intrare aplicate ambele semnale U A i U B ca i alimentare
de la surs E A (cu zero la mas), va furniza la ieire semnalul logic:
U e 1 0.
Rezult c la ieirea circuitului I-I se repet semnalul logic de la
intrare (y 1 = x), iar la ieirea circuitului II -I se obine valoarea negat a
celui de la intrare (y 2 = x ), situaie redat prin structura logic din figura
10.24b).
253
La nivelul de macrosistem se observ c cele dou circuite logice

de tip I au o funcionare n contratimp, proprietate pus n eviden
prin analiza funcionrii dinamice redat sintetic n tabela 10.12 unde
general
Stare
sunt folosite urmatoarele simboluri grafice :

Intrare
Ui
pasiv
()
activ
Tab.10.12
Ieire
Starea elementelor
D1
D2
I-I
II-I
Ue1
Ue2
y1
y2
()
- lipsa semnalului (amplitudine nul) ;
- prezena semnalului la amplitudine nominal ;
- stare blocat (T, D 1 , D 2 ), respectiv stare pasiv (I -I, II-I);
- stare de conducie (T, D 1 , D 2 ), r espectiv stare activ (I -I,

II- I).
Fiabilitatea funcional ridicat caracterizeaz i aceast structur
NU, la fel ca i precedentele de tip I, respectiv SAU. Astfel, la apariia
oricrei defectri, nu se produce la ieire furnizarea simultan a perechilor de valori logice
y 1 = x; y 2 = x , fiind excluse perechile (x, x) i
( x , x ), care nu verific funcional produsul
y1 y 2 x x 0 , indiferent de
starea valid sau de avarie a structurii logice.

Aceast ridicat redundan de echipament, util din punct de
vedere funcional, se obine cu preul unei structuri complexe i deci a
254
unui cost ridicat. Dac la nivel macroscopic, de sistem, varianta

constructiv comport o intrare i dou ieiri (1i /2e), la nivel micro scopic apar 5 intrri i 2 ieiri (5i / 2e), fiind necesare 6 tranzistoare, 2
miezuri de ferit, 2 diode ca i alte componente pasive aferente.
De asemenea trebuie remarcat c i acest circuit, n logic
dinamic, ndeplinete condiia de lucru n regim de semnal permanent.
D - Circuite logice compuse
Prin
integrarea
circuitelor
fundamentale
I-SAU-NU,
tratate
anterior, se obin unele structuri compuse, avnd o arhitectur care s

corespund cerinelor n procesul de aplicaie vizat.
x1
SAU
x2
y1 = x
NU
y2 = x
Fig. 10.25
Un astfel de exemplu, cu implicaii n structurile logice ale
sistemelor de dirijare a circulaiei / navigaiei, este circuitul logic de tip
NICI (SAU / NU), care se obine prin ansamblarea unuia sau mai multor
circuite tip SAU cu un circuit tip NU (fig.10.25). Tabela de adevr
10.13 corespunde cu relaiile logice :
x x1 x 2 ;
y1 x x1 x 2 ;
y 2 x x1 x 2 .
x1
x2
Tab. 10.13
y1
y2
o complexitate cu mult mai mare (9 tran -
zistoare, 4 ferite cu bobine aferente i mai
multe componente pasive) dect circuitul NICI
uzual - fr fiabilitate funcional ridicat
Aceast structur, n variant 2i / 2e, are
255
(fig.10.1: un tranzistor, dou diode, trei rezistoare).

xr
xr
xm
x1
SL
xm
SAU
a)
UB
x 2
UB
xIT
IT
b)
Fig. 10.26
SI
O alt structur compus este cea a memorrii binare care, de

asemenea,
este
protejat
printr-un
efect
de
redundan
util
echipamentului corespunztor. Funcionarea ei se bazeaz pe fenomenul

de reacie pozitiv, care permite meninerea dinamic a informaiei
memorate. Schema general a acestei celule de memorie - binar este
redat n figura 10.26a), u tilizndu-se notaiile urmtoare :
x m variabil logic asociat mrimii care trebuie memorat
(semnalul de intrare ) ;
SL structura logic de procesare a mrimii memorate ;
x r variabil logic asociat mrimii de reacie pozitiv ;
y variabil logic asociat mrimii de ieire memorate (semnal
obinut la ieirea celulei
Spre
deosebire
de
de memorare).
memoriile
uzuale-statice,
la
care
controleaz apariia defectrilor sau acest lucru se controleaz
nu
se
prin
intermediul unor semnale exterioare, la aceste memorii dinamice

controlul se efectueaz prin semnalul de reacie x r .
n figura 10.26b) este desfurat - simplificat structura compus a
celulei binare de memorie, unde mai apar notaiile :
U B semnal standard de tip B - determinist (fig.10.21) ;
x1 , x2 mrimi logice intermediare ;
256
x IT variabil logic asociat subansamblului de electroalimentare

IT (inv ersarea
polaritii i temporizare).
Circuitul logic tip SAU are trei intrri i dou ieiri (3i / 2e), fiind
realizat pe un miez toroidal din ferit de comutaie pe care sunt bobinate
5 nfurri (fig.10.23) :
1 la prima intrare L i 1 , cu variabila logic x m , se aplic semnalul
standard de tip U A - aleatoriu numai atunci cnd celula de memorie
trebuie s fie activat, adic s treac din starea pasiv (y = 0) n starea
activ (y = 1) ;
2 la cea de a doua intrare L i 2 , se aplic semnalul x r provenit din
bucla de reacie, semnal standard de tip U A - aleatoriu n funcie de
starea celulei de memorie; acest semnal trebuie, n mod obligatoriu, s
fie n faz cu semnalul de intrare avnd variabila logic n x m ;
3 la intrarea a treia (L i 3 ) este aplicat n permanen semnalul
standard
de
tip
UB -
determinist
(fig.10.21a) ,
pentru
realiza
parcurgerea ntregului ciclu histerezis n miezul de ferit (fig.10.22b) ;

n aceeai situaie se afl i cea de a doua intrare la circuitul de tip I,
valoarea logic a variabilei corespunztoare fiind n permanen egal
cu unitatea ;
4 la prima ieire (L e 1 ) cu variabila logic ( x1 ), se obine un
semnal care ajunge la prima nfurare de intrare n circuitul I ;
5 la cea de a doua ieire ( x2 ) este furnizat un semnal de
impulsuri care comand subansamblul IT; astfel se obine o protecie
prin separare galvanic ( 9.1 ; fig.9.1c) fa de prima intrare ( x1 ) n
circuitul I.
De asemenea este asigurat o protecie eficient cu ajutorul
etajului IT ;
257
acesta furnizeaz o tensiune (continu) de alime ntare cu

polaritate inversat pentru etajul I (negativ fa de mas a montajului,
n locul celei pozitive fa de mas - 9.4; fig.9.6a) ;
de asemenea momentul furnizrii acestei tensiuni inversate, la
valoare nominal, este ntrziat fa de primul impuls de comand
aplicat la intrarea etajului ( x2 ); prin aceasta se asigur un interval de
protecie T p r fa de perturbaii ( 9.4; fig. 9.6b).
Etajul IT, fiind comandat cu semnal logic intermediar x2 , are
caracterul funcional al unui etaj logic (binar): furnizeaz o tensiune
inversat cu amplitudine mai mare de pragul de amorsare a oscilaiilor
ntreinute, prin bucle de reacie (x I T = 1) sau sub acest prag (x IT = 0).
Rezult c funcia logic de lucru la nivel de sistem - macroscopic,
conform schemei din figura 10.26b), are expresia :
y x 1 x IT x m x r x IT ,
deoarece cele dou semnale standard U B , aplicate n mod permanent, au

valoare logic constant i egal cu unitatea (sunt deterministe).
n aceste condiii, analiznd funcionarea logic la modul concret,
se ajunge la o defalcare temporal n 5 etape care sunt redate n tabela
10.14.
- Montajul este alimentat normal de la sursa general, tensiunea
inversat este nul, nu exist semnal n bucla de reacie.
- Sosesc primele impulsuri ale semnalului de memorat, dar nc
nu se atinge valoarea de anulare a autooscilaiilor (U e o - fig.9.6b; 9.4).
- Se atinge amplitudinea de amorsare U e o a tensiunii inversate de
alimentare, avnd loc autoexcitarea celulei de memorie binar; din acest
moment poate s dispar semnalul primit de la intrarea x m (de memorat),
ncheindu-se regimul tranzitoriu la setare.
258
Etapa funcional
xm
xIT
Tab. 10.14
xr
y
stare pasiv, n ateptare (t = 0)
imediat dup sosirea semnalului de

memorat (0 < t < T p r )
n momentul amorsrii (t = T p r )
dup amorsare, fr semnal de intrare
n momentul anulrii (resetare)
- Este anulat semnalul de memorat la intrare, iar celula de

momorie trece n regim staionar - permanent, funcionnd ca un
genarator de impulsuri: la ieirea circuitului I se obine semnal de tip
U A sau U B dup sensul de solenaie ales la conectarea celor dou borne
ale nfurrii de ieire - n condiia sinfazrii cu semnalul de la intrarea
general (x m ).
- Este comandat, din exterior, tergerea memoriei - resetare,
prin ntreruperea circuitului de reacie (x r ) sau a celui de alimentare cu
tensiune inversat ( x 2 sau x I T ).
Se poate observa relativ uor c apariia oricrei defectri n
fiecare subansamblu al memoriei dinamice, inclusiv la conexiuni ntre
componente, conduce la dispariia semnalului de ieire (y), producnd
transformarea unui rspuns fals posibil n rspuns eronat (RF RE;
1.2.3).
Unele circuite logice compuse se pot obine i prin completarea
anumitor echipamente cu structuri dinamice de verif icare, cu ajutorul
crora se obine continuarea funcionrii corecte a sistemului chiar i
atunci cnd se produc defectri care, fr aceste completri, ar
determina blocarea procesului de circulaie / navigaie. Aceste perfecionri, care conduc la creterea i mai accentuat a fiabilit ii funcionale,
259
sunt posibile datorit introducerii unei redundane de echipament, care

poate deveni util - n anunmie condiii, realiznd astfel o cretere a
gradului de toleran la defectri.
Spre a expune acest procedeu se poate pleca de la structur a
general a unui sistem, cu mare rspundere funcio nal, protejat fa de
rspuns fals ( 10.2; fig.10.3).
La producerea unor defectri n subsistemul de procesare a
semnalelor de aplicaie - SSE, intervine subsistemul de protecie - SSP
care genereaz semnalul s - STOP i, n consecin, blocheaz procesul.
n anumite faze de desfurare a procesului, aceast blocare poate avea
urmri grave; spre a se putea continua evoluia de faz n proces, se
recurge la procedeul numit al defectrii contradictorii.
n acest scop, echipamentul din subsistemul de protecie SSP se
completeaz cu dou subansamble comandate prin acelai semnal s, dar
care au structuri n elaborare special astfel nct o categorie de
defectri s conduc la starea logic 0, iar o alt cat egorie la starea
logic 1, indiferent de valoarea variabilei logice s, considerat variabil
de intrare.
Aceast structur, care nu trebuie confundat cu cea a circuitului
logic de tip NU (fig.10.24), este re dat la modul general n figura 10.27
(SSE)
0/
SSP
sa/b
/1
Fig. 10.27
avnd, n completare, notaiile:
260
sa
sb
0/ - circuit logic dinamic care, la producerea unor anumite

defectri, introduce starea logic zero ;
/1 -
circuit logic dinamic care, la producerea unor anumite
defectri, introduce starea logic unu.

La cele dou ieiri se obine dubletul de semnale s a i s b ntre care
exist coinciden logic (1/1 sau 0/0) n situaiile :
sistemul se afl n stare normal de funcionare, fr defectri,
stare valid (V);
sistemul se gasete n stare defect (V) pentru care circuitul
logic dinamic 0/ are valoarea logic zero;

sistemul se afl n stare de defecatare V pentru care circuitul
dinamic /1 are valoarea logic egal cu unitatea .

Analiza funcionrii acestei structuri logice este expus n tabela
10.15, unde cu V este notat starea valid, fr defectri, iar cu
starea nevalid, de dup apariia unor defectri.

Stri
sa
sb
sa/b
1/1
0/0
0/1
0/0
1/1
0/1
0/
0/1
/1
0/1
V
0/
V
/1
Tab.10.15
Contradicii
Considernd toate strile logice semnificative, rezult 4 contra dicii care sunt marcate n ultima coloan. Numai n aceaste situaii
261
contradictorii, fr coinciden logic, procesul va fi blocat-STOP; n

toate celelalte cazuri procesul controlat poate fi iniiat sau poate
continua deoarece corespund strii valide (V) sau nu se modific
informaia logic de proces n starea de defectare V . Altfel spus,
procesul se poate desfura, fr pericol, chiar i n starea de defectare a
echipamentului, dac nu este modificat coninutul informaional.
O alt protecie utilizat n logica dinamic se obine prin
introducerea pe circuitele de alimentare, n curent continuu, la fiecare
unitate de baz (I, SAU) a unei celule de protecie cu rezistor
condensator (fig.10.28 a) :
E a , I a tensiunea respectiv curentul de alimentare de la sursa
general ;
R p r , C p r celul rezistor - condensator pentru protecie (i
decuplare) n circuitul de
alimentare ;
R rezistor pentru amortizarea impulsurilor de curent ;

L i nfurare de intrare (comand) montat pe inelul de ferit (F) ;
I c curentul de colector al tranzistorului amplificator T (care
funcioneaz n regim de comutaie).
Dup cum se observ, din punct de vedere strict funcional, grupul
R p r C p r nu ar fi necesar; dar, pe lng efectul de decuplare fa de alte
etaje logice (care funcioneaz, de asemenea, n impulsuri), prin acest
grup se obine i o bun protecie fa de creterea accidental a
frecvenei impulsurilor standard (de lucru).
Pentru analiza acestui mod de protecie trebuie pus n eviden
faptul c, la funcionare normal, pe durata unei perioade T i de repetiie
a impulsurilor (I c ) se consum dou faze (fig.10.28b) :
faza de ncrcare a condensatorului C p r prin rezistorul R p r , cnd
tranzistorul T este blocat; aceast ncrcare se produce n timpul pauzei
dintre dou impulsuri consecutive t p , cu o constant de timp :
262
inc R pr C pr ;
faza de descrcare a condensatorului C p r , pe durata impulsului t i ,
prin componentele nseriate R - L i - T, avnd constanta de timp:
desc C pr R Z Li RT ,
unde cu Z L i se noteaz modulul impedanei nfurrii excitate L i
Rpr
+Ea
a)
Ia
Ic
UC
Cpr
Li
(F)
Ic
Ti
Ti
b)
t
tp
UC
ti
Ea
Eo
desc
nc
UC
Ea
Eo
0
Fig. 10.28
iar cu R T rezistena de trecere a tranzistorului T n stare de saturaie.
263
Acest efect periodic de ncrcare-descrcare este descris grafic

prin diagrama
U C f t ,
unde U C reprezint variaia, de asemenea periodic, a tensiunii la

bornele condensatorului C p r iar E 0 valoarea de prag pentru care se obine
bascularea n ciclul histerezis al miezului diferit (fig.10.22b).
Duratele inegale de ncrcare - descrcare corespund celor dou
constante de timp n c i d e s c care, de asemenea, nu sunt egale. Astfel, la
proiectarea echipamentului, este obligatoriu s se respecte relaiile :
inc desc ;
R R pr ;
R Z Li RT .
Altfel spus, condensatorul C p r se descarc rapid pe timpul impulsului standard i se ncarc lent pn la sosirea impulsului urmtor.
Dac se produce o cretere nepermis de mare a frecvenei de
apariie a impulsurilor, care comand deschiderea tranzistorului T,
tensiunea U C la bornele condensatorului de protecie scade, relativ
repede, sub valoarea de prag E 0 ; aceast reducere de tensiune are ca
efect nerealizarea ciclului histerezis in miezul de ferit i, n consecin,
dispariia semnalului la ieirea structurii logice protejate (rspuns
eronat; 1.2.3).
Aceast modalitate de protecie este analizat n diagrama U C f t
din cadrul figurii 10.28b), unde se presupune, pentru exemplificare, c
frecvena impulsurilor s-a dublat, dublare marcat prin impulsurile
intercalate ce sunt desenate cu linie ntrerupt n diagrama I c f t :
Ti
Ti
;
2
f i 2 f i ,
duratele i amplitudinile impulsurilor fiind aceleai.

264
Spre a se obine eficien maxim, n dinamica de protecie,

trebuie s se
dimensioneze cele dou constante de timp ( n c i d e s c )
astfel nct variaia exponenial a tensiunii U C s aib limitele

E0 U C E a .
n acelai timp trebuie remarcat faptul c acest procedeu de

protecie n frecven ( 9.3) asigur i o protecie prin electro alimentare ( 9.4). Difere na esenial const n aceea c semnalul logic
- nsui asigur protecia necesar, prin variaia nepermis a frecvenei
sale (cauz); efectul este reducerea tensiunii de alimentare, reducere
care este controlat prin numrul de impulsuri standard: dac se
urmrete o protecie mai bun se va reduce valoarea constantei de timp
d e s c ; n acest fel tensiunea U C' va scdea mai repede (dup un numr
mai mic de impulsuri standard), atingnd valoarea de prag U 0 printr-un
regim tranzistoriu de durat mai mic.
10.3.3. Logica de tip cablat

Acest tip de logic cu implementri eficiente de aproape un secol
se menine i azi, n anumite aplicaii, datorit faptului c ofer o
fiabilitate ridicat la ndeplinirea unor funciuni relativ simple.
Cea mai larg rspndire se gsete n structurile de verificare validare a semnalelor de protecie - STOP (fig.10.3), unde trebuie s fie
asigurat un nivel extrem de ridicat al fiabilitii funcionale.
Obinerea unitilor de echipament cu logic de tip cablat se
bazeaz, n general, pe procedee de redundan static, procedee
devenite clasice (chiar i n cauz ul unor aplicaii moderne).
n
cadrul
capitolelor
anterioare
au
fost
expuse
numeroase
exemplificri asupra metodelor i procedeelor folosite n scopul obine 265
rii unui grad mare de fiabilitate funcional; s-a putut observa c o

caracteristic principal a unui astfel de echipamente este simplitatea
schemelor utilizate i - pe aceast cale, realizarea unei fiabiliti
ridicate ( 5.1). Aceast proprietate combinat cu cea de reconfigurare
( 8.3.2; fig.8.15 si 8.16), ca i asigurarea unor protecii prin modul de
defectare, au permis obinerea unor structuri cu larg rspndire n
dirijarea traficului feroviar ( 8.2; fig.8.7 i 8.8).
Realizarea acestora conform cu cerinele riguroase de proces se
obine, n general, prin circuite electrice de comutaie cu contacte argint
- grafit sau metal - metal: relee, comutatoare, chei, taste, contactoare,
butoane etc.
Proprietatea funcional de baz, n realizarea unor funciuni de
protecie, este aceea de a avea fizic o stare stabil - pasiv la care, dac
se ajunge, rspunsul fals este evitat n favoarea celui eronat (dac n alt
mod nu se poate realiza o funcionare corect); aceast proprietate este
caracteristic, aproape n totalitate, i altor dis pozitive logice de tip
cablat, bazate pe o stare stabil (monostabile).
Desenul mult simplificat, al structurii de construcie, pentru un
releu gravitaional folosit n echipamentele de automatizare n circulaia
feroviar (ci ferate i metrouri) este red at n figura 10.29 cu notaiile:
b L bornele bobinei de excitaie L ;
U i , I i tensiunea respectiv intensitatea curentului de comand la
intrarea releului ;
AF armtura magnetic fix ;
AM armtura magnetic mobil ;
AA ax de articulaie pentru armtura mobil care se poate
deplasa unghiular ntr-un
plan vertical ;
G fora gravitaional de aciune asupra armturii mobile

(vertical) ;
266
S d cele dou sensuri de deplasare ale armturii mobile: n sus sub

aciunea forei electromagnetice, respectiv n jos sub aciunea forei de
gravitaie (G) ;
bL
bL
Ui
Ii
AF
k
L
bf1
Sd
AA
bm
bf2
AM
Fig. 10.29
k grup de contacte pentru comutaie (triplet) ;
b f 1 born pentru conectare la contact ul fix superior (contact
simplu) ;
b f 2 born pentru conectare la contactul fix inferior (contact
simplu) ;
b m born pentru conectare la contactul mobil (dublu) care este
fixat pe o lam elastic (metal); acionarea sa se face de ctre armtura
mobil AM printr-un cuplaj cinematic electroizolant (reprezentat n
desen prin linie ntrerupt).
n contextul realizrii unor structuri logice de nalt fiabilitate
funcional
sunt
expuse,
continuare,
caracteristicil e
eseniale
corespunztoare celor dou stri de comutaie, bazate pe existena unui

triplet de contacte, formnd dou contacte inverse: unul stabilit - nchis,
cellalt ntrerupt-deschis.
Starea dezexcitat (de revenire, stabil, pasiv) :
267
- curentul de comand la intrare I i este nul sau sub pragul de

revenire ;
- armtura mobil AM este czut ( ntrefierul este maxim) ;
- contactele mobil (b m ) i inferior (b f 2 ) sunt stabilite: rezistena
electric de trecere este practic nul ;
- contactele mobil (b m ) i superior (b f 1 ) sunt desfcute: rezistena
electric de trecere este, teoretic, infinit.
Starea excitat (de ac ionare, activ, nestabil) :
- curentul de comand la intrare I i are valoarea necesar acionrii armturii ;
- armtura mobil AM este atras (ntrefierul este minim) ;
- contactele mobil (b m ) i cel superior (b f 1 ) sunt stabilite, cu
rezisten de trecere practic nul ;
- contactele mobil (b m ) i cel inferior (b f 2 ) sunt desfcute, cu
rezisten electric de trecere, teoretic, infinit .
Modul de basculare de la o stare la alta este diferit n funcie de
sensul de trecere (ac ionat / revenit sau revenit / acionat) dup o
caracteristic histerezis (10.3.2; fig.10.22b). Deosebirea esenial
const n faptul c, bobina L fiind alimentat n curent continuu cu o
singur polaritate, punctul +B S corespunde strii de acionare / excitat,
iar punctul B S = 0, care se gsete n originea axelor de coordonate
(teoretic) , corespunde strii de revenire / dezexcitat.
Totodat se impune o protecie deosebit pentru evitarea strii de
acionare activ, dac aceasta se instaleaz n mod intempestiv: cnd I i
= 0 i armtura mobil se afl n poziie superioar, contactele b m - b f 1
fiind stabilite; aceast protecie se obine pe dou ci:
- contactul mobil (b m ) este fabricat dintr -un aliaj de argint, iar cel
fix-superior (b f 1 ) din grafit; argintul cu grafitul nu se pot suda (datorit
268
unor supracureni accidentali), astfel c armtura mobil nu poate

rmne n poziia de sus prin efect de sudur (contact permanent);
- tot un efect de contact electric intempestiv, ntre contactele b m b f 1 , poate s se produc dac cuplul rezistent n axul de articulaie AA
(fa de lagrul su) este egal sau mai mare dect cuplul dat de greutatea
G a armturii mobile AM. Evitarea acestei cauze care, de asemenea,
poate conduce la rspuns fals se face printr-o mentenan ( 4.3; fig.4.6)
riguros programat i executat (n condiii de laborator specializat).
Mai trebuie adugat faptul c acest tip de releu trebuie s fie
montat (n echipament) ntr -o poziie vertical, astfel ca armtura fix
AF s fie n poziie orizontal: axul bobinei de excitaie L ca i cel al
miezului magnetic din carcasa acestuia s coincid ntr-un plan
orizontal; acest aspect, de ordin constructiv, a determinat ca utilizrile
practice s se fac n echipamente fixe la sol, situaie favorabil
existent n transportul feroviar.
Pentru alte domenii de transport (aerian, naval, rutier, spaial) au
fost elaborate astfel de dispozitive, adaptate la condiiile specifice, dar
avnd aceeai caracteristic fundamental: fizic, au o stare stabil pasiv care nu poate conduce la un rspuns fals, rezultnd ntr-o astfel
de situaie un rspuns eronat. Principiul constructiv de baz este acelai
ca la releul gravitaional, cu deosebire c efectul gravitaiei (G) este
nlocuit prin efectul unuia sau mai multor resoarte (arcuri). De tip
gravitaional sau cu resoarte, toate aceste dispozitive sunt echivalente,
la nivel macroscopic, cu circuitul electronic basculant monostabil.
n continuare vor fi expuse unele circuite n logic de tip cablat
(realizate cu astfel de dispozitive), n variante fundament ale sau
derivate (compuse), ca i anumite aplicaii tehnologice mai rspn dite n
transporturi.
269
A - Circuitul logic repetor
DA
este folosit, mai ales, pentru
injectarea unor semnale de protecie n echipamente de procesare a

informaiei la un nivel ridicat de fiabilitate funcional.
Structura sa electric se bazeaz pe utilizarea unui singur releu
gravitaional (fig.10.29) fr a se utiliza contactul fix inferior (b f 2 ).
n figura 10.30 este redat structura electric i logic, unde s-au
mai notat cu :
R bobina de comand a releului parcurs de curentul la intrare I i ;
x variabila logic de intrare asociat tensiunii U i i curentului I i ;
r contactul mobil al releului R conectat electric la borna b m
(fig.10.29) ;
r 1 contactul fizic superior conectat electric la borna b f 1 ;
y variabil logic de ieire prin care se repet valoarea logic a
celui de la intrare (x).
bL
Ii
Ui
R
k
bL
r
r1
y=x
Fig. 10.30
n tabela 10.16 sunt precizate valorile celor dou variabile logice x
i y pentru o funcionare normal - fr defectri, cnd se obin dubleii
x /y de valori 0/0 i 1/1 fiind excluse,
pentru starea valid, perechile de valori 0/1 i 1/0.
Se mai precizeaz c, aa cum s-au reprezentat i n capitolele
anterioare, starea pasiv-stabil este indicat prin sageat vertical ( ),
270
respectiv starea activ-nestabil prin sgeat orizontal () ; acest mod

de reprezentare grafic va fi meninut i n continuare.
Tab.10.16
x
y
Cu ajutorul acestui repetor logic, care are o intrare
i o ieire (1i / 1e), se mai pot realiza i urmtoarele
operaii :
1 transformarea unei mrimi electrice cu variaie
continu, aplicat la intrare (x), n mrime electric avnd variaie saltdiscontinu (funcie tip treapt cresctoare sau descresctoare - y) ;
2 corectarea distorsiunilor n forma de und a unor impulsuri
dreptunghiulare ;
3 separare galvanic ntre circuitul de intrare (x) i circuitul de
ieire (y) ;
4 amplificare n putere, intensitate sau tensiune dac n circuitul
de ieire este necesar aceast operaie ; n general semnalul de
comand - intrare (x) are o putere mai mic decat cea a semnalului
comandat n circuitul de execuie - ieire (y).
Tot o funcie de repetor logic de tipul (1i / 1e), cu proprieti
tehnice asemntoare, ndeplinete i
optocuplorul ( 9.1; fig. 9.1d):
condiia logic este ca intensitile curenilor I i (x) i I e (y) s aib

variaii n acelai sens (de cretere sau descretere).
O aplicare extrem de larg a acestor posibiliti n protecia
circulaiei feroviare este la circuitul de cale: traductor parametric pentru
controlul strii de liber sau de ocupat a unor poriuni de linie ferat, cu
lungime de la civa metri pn la 3 km (Japonia). Inventat i brevet at n
anul 1908, primul circuit de cale a fost imple mentat n Statele Unite ale
Americii n anul 1921. De atunci i pn azi acest traductor a suferit
numeroase perfecionri, n pas cu dezvoltrile tehnologice, dar prin271
cipiul de funcionare al circuitului la ieire a rmas acelai i anume de circuit logic repetor (monostabil ) cu releu gravitaional.
Ii
Ui
(linie)
(EA)
RC
rc1
rc
Ie
(Ech.)
a)
Ui
Ie
Uact
U
Urev
0
b)
Ie
Ieo
linie liber
linie ocupat
linie liber
0
trev
tact
Fig. 10.31
n desenul din figura 10.31a) este re produs circuitul de cuplaj
funcional dintre linia ferat i echipament (Ech) care proceseaz
semnalul electric provenit din cale i comand reglarea (manual sau
automat) a circulaiei feroviare. Aici mai apar urmatoarele notaii :
RC releu de cale comandat prin curentul I i ;
r c contactul mobil al releului de cale (argint) ;
r c 1 contactul fix al releului de cale (grafit) ;
(EA) surs de alimentare cu energie electric (de regul, cu o
tensiune mai mare dect tensiunea maxim a semnalului de intrare U i );
I e curentul de ieire din repetorul logic prin contactul k;
(Ech) echipament de reglare a circulaiei feroviare.
272
Echipamentul (Ech) aparine unei instalaii din structura creia pot

s fac parte :
- centralizare electrodinamic (CED) ;
- centralizare electronic (CE) ;
- bloc de linie automat (BLA) ;
- automatizare triaje (AT) ;
- pasaje la nivel cu calea ferat (SAT, BAT) etc .
Circuitul de cale, care este un traductor binar [0,1], funcioneaz
pe baza unui semnal electric aplicat la intrarea poriunii de linie
controlat, semnal care este injectat n permanen (determinist). Dup
propagare prin circuitul electric, format din cele dou ine ale cii,
acesta devine aleatoriu, coninnd informaie de dou feluri :
util, cu privire la starea de ocupare sau de liber a liniei, datorit
efectului de untare electric de ctre perechile de roi i osiile
dintre ele ;
neutil, perturbatoare din multiple cauze: ploaie, ninsoare, nghe, topirea zpezii, descrcri electrice accidentale etc.
Rolul funcional al releului de cale RC este acela de a discrimina
ntre cele dou variaii de amplitudine
i de a repet a logic, la ieire,
numai semnalul util. Aceast procesare este explicat prin diagramele

amplitudine - timp din figura 10.31b), unde sunt considerate cele dou
stri - rspunsuri funcionale; cu U r e v s-a notat valoarea tensiunii de
revenire (cdere), iar cu U a c valoarea celei de acionare (atragere) a
releului RC.
Starea activ, normal - linie liber :
- nu exist unt pe linie (S = );
- semnalul U i la intrare are amplitudine ridicat, suficient pentru
aceast stare :
273
U i U rev ; x 1 ;
- releul de cale RC este acionat () ;

- contactele r c i r c 1 sunt stabilite ;
- curentul de ieire are amplitudinea nominal (I e o ) pentru starea
activ a repetorului
y = x = 1.
Starea pasiv, untat - linie ocupat:
- exist untul pe linie ( S 0) ;
- semnalulul U i la intrare se afl la o amplitudine sczut:
U i U rev ; x 0 ;
- releul de cale RC este revenit ()
- contactele r c i r c 1 sunt defcute ;

- curentul de ieire este anulat :
I e 0 ;
y x 0 .
Din prima diagram (b) care reprezint relaia
U i f ( S , p ), se vd
fluctuaiile cauzate de factorii perturbatori din linie (p) i variaiile de

amplitudine provocate de efectul de untare (S). Din diagrama I e = f(t )
se observ c la ieire semnalul I e este constant i egal cu I e o , care
corespunde valorii de prag U r e v pn n momentul revenirii releului de
cale (t r e v ). De asemenea, semnalul I e este nul ntre momentele t r e v i t a c
(momentul acionrii releului) care ncadreaz durata de ocupare a liniei
de ctre tren.
Variiile relativ rapide prin pragurile de tensiune U r e v i U a c
depind de viteza de deplasare a trenului i de lungimea sa (numrul de
osii): aceste variaii sunt descresctoare la ocuparea (progresiv) a
liniei, respectiv cresctoare la eliberarea (tot progresiv) a liniei.
Diferena de amplitudine (fig.10.31b)
U U act U rev
274
se explic prin caracteristica histerezis a releului de cale RC caracteristic necesar pentru a asigura o stabilitate funcional pe duratele
de trecere linie liber / linie ocupat i linie ocupat / linie liber.
Se mai remarc faptul c cele dou rspunsuri necorecte se pot
produce dac :
x=1;
x=0;
y=0;
(eronat, RE)
y=1;
(fals, RF),
adic stri care logic se exprim prin dubleii 1/0 i 0/1 ceea ce, dup
cum s-a artat, este foarte improbabil.
La fel ca n cazul avertizorului de alarm din sistemul de aterizare
dup instrumente - ILS, aici releul de cale RC verific i starea valid a
tuturor elementelor de sistem (emitor, linie - inclusiv continuitatea
electric a inelor, receptor): orice defectare aprut determin reve nirea releului RC (rspuns eronat).
B - Circuitul logic inversor NU care se mai numete i de negare
este, constructiv i funcional, varianta complementar a repetorului
logic avnd, de asemenea, o intrare i o ieire (1i / 1e).
bL
Ii
Ui
R
k
bL
r
r2
y=x
Fig. 10.32
Aa cum se vede n structura sa, reprodus n fig.10.32, este conectat la
ieire contactul fix r 2 ; n tabela de adevr 10.17, pentru funcionare
275
normal, corect, sunt redate cele dou stri specifice, conform

expresiei y x .
Tab.10.17
x
y
Caracteristic este faptul c nu admite ntre
intrare i ieire (i/e), dubleii de valori 1/1 i 0/0.
Tot un circuit logic inversor se poate obine cu

ajutorul optocuplorului ( 9.1; fig.9.1d), dac se ia ca
mrime de ieire semnalul de tensiune U e , ntre colectorul i emitorul

fototranzistorului FT, mrime ce are o variaie invers fa de mrimea
de intrare I i :
U e E a RI e .
Cele dou stri extreme, de regim permanent, ale fototranzistoarelor FT definesc valorile logice de negare (x,y) ; n tabela 10.18
sunt redate valorile de stare ale mrimilor de circuit, unde s -a mai notat
cu fluxul luminos generat de dioda electroluminiscent D.
Tab 10.18
Ieire (e)
Intrare (i)
x
Ii
FT
Ie
Ue
Ea
C - Circuitul logic de comutare DA / NU

Acest circuit, numit i de distribuire sau de repartizare, se
realizeaz n logic de tip cablat, cu o intrare i dou ieiri (1i / 2e).
Reprezint, n fond, o combinaie dintre un circuit repetor (DA) i un
circuit de negare (NU ), fiind utilizat n scopul ram ificrii informaiei n
form logic de la intrarea unic (x) la cele doua ieiri (y 1 , y 2 ).
276
Schemele electrice i logice sunt redate n figura 10.33 a) pentru

varianta cu triplet de contacte (releu gravitaional), respectiv pentru
varianta fr contacte electrice (fig.10.33b) ce corespunde avertizorului
ILS ( 10.2 ; fig.10.4).
a)
k
r
r1
b)
y2 = x
r2
IAv
y1= x
y1= x
y2 = x
Fig. 10.33
n vederea simplificrii expunerii, aici i n continuare, nu se mai
reprezint circuitul de intrare (x), subnelegnd exist ena acestuia.
Din punct de vedere strict logic i funcional circuitul logic de
comutare este echivalent celui de negare, cu dou ieiri, din logica
dinamic ( 10.3.2; fig 10.24).
n tabela de adevr 10.19 sunt redate valorile celor dou stri
logice; i aceast tabel este foarte redus n raport cu cea din logica
dinamic: sunt suficiente, pentru analiza variantei n logic de tip
cablat, numai trei coloane (x, y 1 , y 2 ).
De asemenea acest circuit logic nu admite dubleii (1/1) i (0/0)
ntre cele dou ieiri (y 1 /y 2 ), deoarece
Tab 10.19
y1
y2
y1 y 2 x x 0
Se poate, relativ uor, observa c ntre
intrare (unic) i ie ire (dubl) sunt admii dubleii de
valori (x / y 1 , 2 ) :
repetor
logic : x / y 1 : 1 / 1 i 0 / 0;
inversor logic : x / y 2 : 1 / 0 i 0 / 1.
277
La fel, acestui circuit logic de repartizare avnd, de asemenea, o

intrare i dou ieiri i corespunde avertizorul sistemului de aterizare
dup instrumente-ILS. Aa cum s-a vzut, mrimea de intrare este, de
asemenea, electric - n bobina unui electromagnet.
Diferena esenial, din punct de vedere constructiv, const n
faptul c acest dispozitiv, destinat afiajului pentru piloi, nu are
contacte electrice n circuitele de ieire; armtura sa mobil acioneaz ,
prin deplasarea ntre cele dou poziii extreme, sectorul de afiaj cu
dungi albe i dungi roii.
n figura 10.33b) este redat structura logic, de asemenea, far a
mai reprezenta n detaliu circuitul de intrare (x), iar n tabela 10.20 sunt
precizate, din punct de vedere funcional, cele dou stri logice i
fizice.
Tab.10.20
Stare
fizic
acionat
revenit
y1 = x
y2 = x
Valoare
logic
Afiaj
Valoarea
logic
Afiaj
alb
rou
Curentul prin bobina avertizorului I A v , care reprezint mrimea

fizic de intrare determin, dac depete valoarea de prag la acionare,
atragerea armturii magnetice i, prin aceasta, afiarea culorii alb (y 1 =
1); scderea acestui cur ent sub valoarea de revenire permite bascularea
armturii magnetice i deci afiaj de culoare rou (y 2 = 1).
Caracteristica sa general corespunde, de asemenea, unui circuit
basculant monostabil, avnd o coresponden funcional direct cu
releul circuitului de cale:
278
afiaj alb circuit de cale liber ;

afiaj rou circuit de cale ocupat.
D - Circuit logic sumator - SAU
Numit i colector sau de disjuncie, are dou intrri i o singur
ieire (2i/1e), fiind necesare dou relee (R a , R b ) pentru realizarea sa, cu
contacte utilizate a - a 1 respectiv b - b 1 (fig.10 .34a).
a)
Iia
Uia
Uib
xa
xb
Ra
Rb
Iib
k
a
b)
a1
b
b1
y
k
a
a1
b1
b
Fig. 10.34
Structura logic, n circuitul de ieire, este echivalent cu dou
repetoare conectate n derivaie (fig.10.30), iar funcia logic de lucru
este :
y x a xb .
Reprezentarea logic i graful sunt identice cu cele de tip SAU din

logica majoritar (10.3.1; fig.10.7 b, c). Are patru stri logice,
corespunznd unei funcionri corecte - fr defectri, care sunt redate
279
n tabela 10.21, unde n prima linie este prezentat starea schemei

electrice din figura 10.34a).
Tab.10.21
xa
xb
0
1
0
1
0
0
1
1
0
1
1
1
Mai trebuie precizat c cele dou relee

gravitaionale au contacte active a - a 1 i b - b 1 de
tipul argint-grafit (conectate n paralel); cele doua
intrri (x
i x b ) sunt complet separate, logic i
electric.
E - Circuitul logic de coinciden I

Este numit i produs logic, de conjuncie i are, ca i circuitul de
tip SAU, dou intrri independente i o singur ieire; pentru aceasta
sunt necesare dou relee, ale cror contacte sunt legate n serie la ieire
(fig.10.34b) fiind echivale nte, din acest punct de vedere, cu dou circuite logice repetoare (fig.10.30) care sunt conectate n serie; la fel ca i
n cazul precedent, contactele de lucru a - a 1 i b - b 1 sunt din argintgrafit.
Tab.10.22
Funcia logic de lucru este :
xa
xb
y x a xb ,
cu reprezentarea logic din figura 10.7d) i graful
desenat n figura 10.7e) - 10.3.1. Cele patru stri
logice, pentru funcionare norma-l, sunt redate n

tabela 10.22, prima linie corespunznd desenului
din figura 10.34b).

F - Circuitul logic NUMAI
Este derivat dintr-un circuit SAU i reprezint o sum de dou
semnale logice negate:
y x a xb ,
280
n concordan cu tabela de adevr 10.23 i schema (simplificat) din

figura 10.35a).
xa
Tab.10.23
xb
y
un ansamblu NU/SAU, respectiv cu dou circuite
de negare NU conectate n paralel, avnd dou
intrri i o singur ieire (2i / 1e). Altfel spus,
prin grupul de contacte k (doi dublei), se poate
Din punct de vedere logic este echivalent cu
obine semnal logic y = 1 la ieire numai dac este

acionat releul x a sau (numai) releul x b .
a)
b)
a1
y
a2
b
k
c)
b
b2
k
k
y
b2
a
y
a2
b
b1
Fig. 10.35
Prin nsumarea unui singur semnal negat (NU) cu cellalt fr

negare (DA) se obine un circui t logic parial - NUMAI (fig.10.35b):
semnalul logic la ieire este activ (y = 1) numai dac este acionat releul
x a , releul x b fiind revenit :
y x a xb .
281
xa
Tab.10.24
xb
y
ieire (y) se obin pentru fiecare din cele patru
stri, ale acestei structuri, n funcie de semnalele
logice aplicate la intrare (x a i x b ),situaie descris
n tabela 10.24, unde linia a doua reprezint starea
n acest caz valorile semnalul ui logic la
schemei desenate n figura 10.35b).

Procednd n mod strict complementar, se obine o a doua variant
de circuit parial NUMAI
y x a xb ,
cu schema din figura 10.35c), respectiv tabela de adevr 10.25, n care

linia a treia corespunde strii schemei logice i electrice.
Tab.10.25
Adoptarea
uneia
sau
celeilalte
variante
xa
xb
pariale se face dup aspecte de elaborare practic
i economice deoarece, aa cum se poate observa,
din punct de vedere logic - fiabilist, nu sunt
diferene eseniale.
G - Circuitul logic NICI

Face, de asemenea, parte din categoria celor cu dou intrri i cu o
ieire (2i / 1e) avnd o larg utilizare, n logica de tip cablat, pe ntru
protecii la rspuns fals. Este complementar fa de circuitul logic I, cu
o structur bazat pe utilizarea a dou relee de tip gravitaional.
n schema din figura 10.36a), unde este redat structura logic a
acestui circuit, de asemenea simplificat la maximum, se vede c sunt
conectate n serie contactele stabilite pentru ce le dou relee n stare
282
revenit: pentru a obine semnal activ la ieire (y) este necesar ca nici
unul dintre cele dou relee (x a i x b ) s nu fie excitate.
Din punct de vedere structural circuitul NICI este echivalent cu
ansamblul a dou circuite elementare de tip NU/I, respectiv cu dou
circuite de negare nseriate; din tabela de adevr 10.26, unde prima linie
corespunde cu starea schemei desenate (fig.10.36a), rezult expresia
funciei logice a semnalului de ieire: y x a xb .
a)
a
k
b)
a2
b2
a1
y
b
b2
c)
b1
a2
Fig. 10.36
xa
Tabela 10.26
xb
y
Expresia reprezint produsul a dou variabile
logice negate.
Pe de alt parte, aplicnd formula
lui De Morgan :
x a xb x a xb ,
rezult c aceast structur NICI, n logic de tip

283
cablat, corespunde celei n logic uzual DTL - diod transistor logic de

tipul SAU / NU - NICI (cu dou intrri i 1 , i 2 ), circuit care a fost
analizat anterior ( 10.1; fig.10.1) i care reprezint suma negat a dou
variabile logice.
xa
Tab.10.27
xb
y
derivat din circuitul I, este numit de interdicie
care, n practic, mai poart i denumirile de anu-
lare, blocare sau oprire. Valorile logice ale
variabilelor, pentru cele patru stri valide, se
O alt structur n logic de tip cablat,
gsesc
n tabela
10.27,
iar
structura
logic,
simplificat, este redat n figura 10.36b).

Funcia logic de lucru are expresia:
y xa xb
i corespunde unui circuit parial - NICI: releul R b interzice, prin

acionare, activarea marimii de ieire y chiar dac releul R a este n stare
activ. Structura sa logic se obine prin nserierea unui circuit de tip
repetor - DA cu unul de tip inversor - NU.
xa
Tab.10.28
xb
y
un circuit NICI, este redat n tabela de adevr
10.28 i prin schema logic din figura 10.36c).
Varianta complementar, derivat tot dintr-
Este tot un circuit de interdicie (anulare,

blocare,
oprire), deosebindu -se de cel precedent
prin negarea celeilalte variabile logice de intrare:

y xa xb
n acest caz mrimea x a , prin activare, interzice mrimea x b . Ca

structur logic este format dintr-un circuit de tip NU nseriat cu unul
de tip DA.
284
Toate aspectele abordate i tratate pn acum i ndeosebi cele cu

privire la logica de tip cablat, conduce la concluzia c, pentru funciu nile de protecie, n cazul sistemelor cu mare rspundere funcional,
este necasar ca funcia de fiabilitate fa de rspuns fals R R F (t) s fie ct
mai mare (posibil):
RRF ( t ) 1 ,
respectiv funcia de nonfiabilitate fa de rspuns fals s aib valori ct

mai mici (posibil);
FRF ( t ) 1 RRF ( t ) 0 .
n practica acestor sisteme este necesar evaluarea indicatorilor

R R F (t) i F R F (t) n timpul normal de via ( 4.3) i pe durate crit ice de
proces, cnd pot s apar stri caracterizate prin rspuns fals; aceste
durate sunt precizate pe faze procesuale - etape i au valori, n general,
mult mai mici dect durata normal de via. Spre exemplu, la sistemul
ILS (aterizare dup instrumente) faza critic are un timp cel mult egal
cu durata aterizrii avionului.
Pentru exprimarea fiabilitii funcionale se prefer valorile
(probabiliste) ale funciei F R F (t) care, fiind foarte mici, pot fi precizate
mai uor prin puteri negative ale bazei 10, fa de cele ale funciei
R R F (t) care sunt exprimate prin valori apropiate de unitate.
n tabela 10.29 sunt precizate categoriile defectrilor i , n funcie
de acestea, valorile probabiliste ale funciei de nonfiabilitate n raport
cu rspunsurile false F R F (t), pentru durata de o or (t = 1h). n acest fel
se face i o conexiune direct cu fenomenul de defectare ( 2.2) care
poate provoca apariia unui rspuns fals. Se face precizarea c att
prefixele, ct i simbolurile utilizate corespund submultiplilor zecimali
285
n conformitate cu standardul SR ISO 31-0, iar categoriile prin care se

definesc valoric clasele, n raport cu trei ordine de mrime, sunt marcate
spre a fi puse n eviden.
Nr
crt.
Categoria defectrii
FRF
(t =1h)
Tab.10.29
Denumire
Simbol
probabil
10 - 1
deci
foarte probabil
10 - 2
centi
miliprobabil
10 - 3
mili
uzual probabil
10 - 4
puin probabil
10 - 5
microprobabil
10 - 6
micro
foarte puin probabil
10 - 7
improbabil
10 - 8
nanoprobabil
10 - 9
nano
10
foarte improbabil
10 - 1 0
11
ultraimprobabil
10 - 1 1
12
picoprobabil
10 - 1 2
pico
13
supraimprobabil
10 - 1 3
14
extrem de improbabil
10 - 1 4
15
femtoprobabil
10 - 1 5
femto
16
attoprobabil
10 - 1 8
atto
17
zeptoprobabil
10 - 2 1
zepto
18
yoctoprobabil
10 - 2 4
yocto
Astfel, de exemplu, releul de siguran cu armtur gravitaional,

din acest punct de vedere, face parte din categoria supraimprobabil a
defectrii (10 - 1 3 ), clasa picoprobabil (10 - 1 2 ).
286
Tot valori extreme de mici se impun i n tehnica zborurilor spai ale, mergnd pn la valoarea 10 - 2 4 pentru o component (la durata de 1
or).
Asemenea condiii fiabiliste severe trebuie s ndeplineasc i alte
elemente de circuit ca, de exemplu, subsistemul de decizie SSD (voter)
n structurile cu redundan majoritar (8.2 ; fig.8.6), dac cerinele de
sistem impun acest lucru.
Notnd cu F p r (t) funcia de nonfiabilitate a subsistemului de
protecie i cu F s i s t (t) funcia de nonfiabilitate ce corespunde subsis temului protejat, se poate evalua gradul (eficiena) de protecie p r :
pr
Fsist
.
F pr
n practic, innd seam de cerinele aplicaiei n cauz, se

consider c acest grad de protecie, exprimat prin raportul funciilor de
nonfiabilitate, trebuie s corespund, minimum, cu trei ordine de
mrime :
F pr
Fsist
10
F pr 10 3 Fsist .
Astfel, la limit, dac un subsistem protejat oarecare este

caracterizat prin valoarea (probabi list) a funciei de nonfiabilitate
Fsist ( t 1h ) 10 6 ,
subsistemul de protecie trebuie s aib o funcie de nonfiabilita te de cel

puin
Fpr ( t 1h ) 10 3 10 6 10 9 .
Raionnd (teoretic) se poate afirma c este cu att mai bine cu ct

valoarea funciei de nonfiabilitate pentru protecie F p r (t) este mai mic;
287
totui, n planul practicii, aceast valoare minim este limitat jos din
considerente tehnico - economice.
Protecia excesiv fa de rspunsuri false are ca efect direct o
scdere
proteciei
fa
de
rspunsurile
eronate
(de
asemenea
necorecte); prin aceasta procesul protejat sufer o ncetinire sau chiar o

blocare
ceea
ce,
domeniul
transporturilor,
determin
scderi
inadmisibile ale coeficientului de disponibilitate (k D ; 2.2).

Pe de alt parte este necesar a observa c, atunci cnd este necesar,
i unele structuri simple - extrem de fiabile, pot suferi dezvoltri - cu
precauie
deosebit;
astfel,
de
exemplu,
la
releul
gravitaional
(fig.10.29) pot exista mai multe grupuri de contacte, dublet sau triplet,
cu izolare galvanic ntre circuitele conectate la ieire.
De asemenea implementrile contactelor argint - grafit se fac
numai n cazul n care trebuie evitat sudura dintre contacte. n fine
trebuie precizat faptul c n schema de fiabilitate este necasar s fie
incluse i componentele secundare de circuit : suduri de fludor, fire sau
trase de conexiune, borne etc.
n ncheierea unei aprecieri globale asupra logicii de tip cablat,
n raport cu logica majoritar ( 10.3.1) respectiv cu logica dinamic (
10.3.2), sunt enumerate avantajele i dezavantajele utilizrii procedeelor
respective la realizarea echipamentelor cu nalt fiabilitate funcional.
Avantaje :
1 prezint o mare rezisten la defectare, att la nivel de
component (microscopi c) ct i la nivel de subsistem sau sistem
(macroscopic) ;
2 se caracterizeaz prin structuri relativ simple, cu numr redus
de componente n echipament ;
288
3 permite, relativ simplu, obinerea unor protecii eficiente ca,

de exemplu, separarea galvanic sau scurtcircuitarea elementelor /
subansamblelor de execuie; aceast ultim operaie se obine uor
utiliznd perechea de contacte r - r 2 ale unui simplu circuit de negare
(fig.10.32) ;
4 semnalele logice n stare fizic au amplitudini i mportante
(tensiuni, intensiti, puteri electrice), ceea ce le confer o bun
stabilitate funcional fa de perturbaii ;
5 au o durat mare de via, de ordinul anilor, unele ajungnd la
cateva decenii (30 de ani) ;
6 avnd acumulat, n timp, o lung experien de ordin teoretic
dar mai ales de ordin practic, comportamentul fiabilistic previzional al
ecestor echipamente, n elaborare actual, nu las loc unor surprize
funcionale neavenite.
Dezavantaje :
1 echipamentele n cauz au volum i mase relativ mari ;
2 consum important de energie electric ;
3 sunt construite cu elemente n micare; aceast caracteristic,
ct i cele de la punctele precedente (1 i 2) le fac improprii pentru
utilizri la bordul vehiculelor (ocuri, vibrai i, accelerri etc.);
4 avnd o inerie mare nu pot asigura durate mici i foarte mici
de comutaie; de aici apare imposibilitatea de a fi folosite la procese
rapide ;
5 pentru fabricarea lor sunt necesare i de unele materiale
deficitare - scumpe (ar gint, aur, cupru, aliaje speciale etc.) care cresc,
uneori, substanial costul echipamentelor respective.
n concluzie final cu privire la problematica logicii de tip cablat,
trebuie subliniat faptul c are la baz, teoretic dar mai ales practic,
289
mult experien inginereasc imbogit cronologic ; cu toate c acest

tip de logic a cedat i cedeaz, n continuare, locul altor tipuri de
logic (mai ales de tip programat), unele procedee se menin n utilizri
pentru dirijarea circulaiei / navigaiei . Totodat se impune a fi
reamintit faptul c aa cum, n general, nu poate exista fiabilitate
absolut, nici n tehnicile de realizare a logicii de tip cablat nu se poate
atinge valoarea zero pentru funcia de nonfiabilitate F p r (t), dar se pot
obine valori extrem de mici - dup cerine.
290
Capitolul 11
Costurile fiabilitii funcionale.
Fiabilitatea cost
11.1. Costuri generale

Ca un corolar la aspectele problematicii fiabilitii tratate n cele
zece capitole se concluzioneaz, indubitabil, c toate procedeele i
metodele de cretere a fiabilitii funcionale se bazeaz pe utilizarea
redundanei de echipament ; pe de alt parte, aplicarea unei redundane
excesive, nejustificat n raport cu gradul de fiabilitate funcional ce
trebuie atins conduce, n general, la creterea greutii , volumului i
costului echipamentelor.
Acest cost este n legtur direct cu condiiile funcionale de
proces. De exemplu costurile echipamentelor de protecie pentru dirijare
orientare a zborului unui avion de pasageri transoceanic sunt cu mult
mai mari dect cele ale echipamentelor de la bordul unui mic avion
utilitar sau de turism.
Pentru a estima aceste costuri, n prim faz, este necesar s se
considere principalele etape de analiz a fiabilitii ( 1.1.2 ; fig. 1.2).
n continuare se introduce un criteriu cantitativ, evaluabil, cu
denumirea de pertinen: calitatea (proprietatea) unui sistem tehnic de a
satisface anumite cerine obiective n raport cu costul necesar:
Pert
Ef
.
C
291
11 Costurile fiabilitii funcionale. Fiabilitatea cost
n aceast relaie Ef este eficiena care reprezint produsul

ponderat al performanelor funcionale ale sistemului, exprimate printr -o
mrime msurabil, iar C este costul corespunztor.
Pentru a optimiza pertinena este necesar ca eficiena s fie maxi m, iar costul minim. Aceast problem se poate rezolva considernd
urmtoarele criterii (condiii impuse, cerine de proces) :
a cerine funcionale (funciuni es eniale ; 1.2) ;
b condiii de protecie (mai ales fa de rspuns fals) ;
c condiii economice specifice ;
d greutate i volum ;
e grad de complexitate ;
f mentenan.
C
Ct
Ci
Ct min
Cm
R(t)
0
0,2
0,4
Ropt
0,6
0,8
1,0
Fig. 11.1
Dac, de exemplu, se urmrete obinerea unui anumit nivel de
fiabilitate este necesar o analiz previzional a costurilor n raport cu
nivelul respectiv. Acest aspect este redat n figura 11.1 avnd notaiile :
C costuri ;
292
C i costuri de implementare (proiectare, fabricaie, montaj etc.) ;

C m costuri de mentenan (revizii, reparaii etc.) ;
C t cost total ;
R(t) valorile funciei de fiabilitate.
Curbele costului de implementare C i respectiv al costului de
mentenan C m au variaii inverse, una fa de cealalt, n raport cu
valorile funciei de fiabilitate R(t) ; rezult c la un cost total,
C t =C i +C m ,
de valoare minim C t
mi n
corespunde o valoare optim pentru funcia de
fiabilitate (R o p t ).
La echipamentele sistemelor cu mare rspundere funcional
trebuie s se ia n calcul timpul pe toate etapele duratei de via, dar,
mai ales, pe durata normal de via ( 4.3).
C
Cm
Ci
Copt
Fig. 11.2
gopt
Atunci cnd se are n vedere gradul de complexitate (g) al

echipamentului, pentru o anumit valoare a funciei de fiabilitate (de
exemplu R = R o p t = const.), analiza se face cu ajutorul curbelor din
figura 11.2 ; n cazul n care condiiile economice specifice impun
costuri egale pentru implementare (C i ) i pentru mentenan ( C m ) :
C m = C i ; R(t) = const.,
293
rezult valorile optime ale gradului de complexitate g o p t respectiv costul

optim C o p t corespunztor echipamentului.
Dac pn la intersectarea celor dou curbe (C m i C i ) valorile
costurilor sunt oarecum apropiate, dup punctul de intersectare costurile
difer substanial. Astfel variaia costului de implementare C i este foarte
lent
datorit,
primul
rnd,
produciei
moderne
robotizate
echipamentului ; variaia costului de mentenan C m este rapid (crete

exponenial n funcie de gradul de complexitate g) din cauza manoperei
de ntreinere tehnic ce nu poate fi automatizat (calibrri, revizii,
reparaii etc.).
Pentru uurarea analizei costurilor fiabilitii, n funcie de
precizia necesar, poate fi utilizat metoda cuantificrii cheltuielilor
prin stabilirea unor cuantumuri standard, metod ce este recomandat,
ndeosebi, structurilor modulare de echipament (de exemplu pentru cele
n logic majoritar ; 10.3.1). n fapt este o operaie de transformare a
unor variaii continue n variaii tip treapt, avndu -se n vedere valorile
admisibile ( 1.2.2 ; fig. 1.8).
11.2. Costuri de implementare

Aceste costuri includ toate cheltuielile antrenate de condiiile
impuse
fiabilitii
funcionale,
inclusiv
cheltuielile
de
prototip
experimental, atunci cnd acesta este necesar.

Toate costurile trebuie s fie determinate n ordinea fazelor de
elaborare, ncepnd cu nivelul impus al fiabilitii funcionale i
terminnd cu concluziile care se refer la modelul de laborator (de
regul, electronic).
294
Succesiunea determinrilor necesare este redat prin organigrama

din figura 11.3, cu semnificaiile urmtoare :
II 1.1
II. 1
II 1.2
II
II 2.1
II. 2
II 2.2
I
III 1.1
III. 1
III 1.2
III
III 2.1
III. 2
III 2.2
Fig. 11.3
I Modelarea fiabilitii funcionale necesare la niv el macroscopic
de sistem (cap. 1).
II Modelarea solicitrilor exterioare (n ambian ; 4.4.3).
II.1 Modelarea proiectiv a activitii de mentenan pentru toat
durata de via a echipamentului ( 4.3).
II. 1.1 Analiza valorilor statistice.
II. 1.2 Stabilirea i rezolvarea ecuaiilor difereniale (cap. 3).
II. 2
Modelarea ncercrilor de fiabilitate necesare.
II. 2.1 Analiza solicitrilor deterministe.

II. 2.2 Analiza solicitrilor aleatoare.
III Modelarea solicitrilor interioare (n microambian; 4.4.2).
III. 1
Modelarea fenomenelor de defectare (cap. 2).
III. 1.1 Modelarea proceselor nereversibile.

295
III. 1.2 Modelarea proceselor reversibile.

III. 2
Analiza consecinelor defectrilor ( 10.2).
III. 2.1 Structuri necesare i concluzii asupra echipamentului real

(cap. 5).
III. 2.2 Concluzii finale asupra co mportrii probabiliste a
modelului de laborator (prototip experimental sau model simulat).
Dac rezult, n final, c nivelul necesar al fiabilitii funci onale
nu este atins se reiau, parial sau total, unele faze i anume, cele care
sunt mai slabe n aportul lor fiabilistic ; aceste reluri, cu modificrile
pe care le antreneaz, trebuie s se gseasc ntre limitele unor costuri
raionale.
11.3. Costurile mentenanei

Echipamentele de tip profesional i ndeosebi cele cu mare
rspundere funcional, necesit o riguroas activitate de ntreinere
tehnic i deci importante cheltuieli (aparatur specializat, materiale,
salarii pentru personal cu grad ridicat al calificrii etc.).
Aceast activitate este orientat, n general, spre dou domenii
distincte,
ambele
avnd
importan
major
pentru
asigurarea
fiabilitii necesare ; efectuareea operaiilor de mentenan trebuie s fie

asigurat pe toat durata de via a echipamentelor ( 4.3).
Un prim domeniu este cel al activitii preventive, profilactice,
avnd scopul de a reduce substanial probabilitatea de apariie a
defectrilor ; acest efect se obine prin verificri tehnice, calibrri,
reglaje, revizii i reparaii toate periodice, programate riguros n timp
( 2.2). Stabilirea costurilor necesare are un caracter determinist,
urmrindu-se evitarea celor dou tendine contradictorii :
296
- ndesirea nejustificat a interveniilor care conduce la co sturi

sporite n mod inutil (2.2 ; fig. 2.11 ; 2.12) ;
- rrirea excesiv a interveniilor, dei aparent determin o
reducere a costurilor de mentenan, influeneaz negativ
fiabilitatea provocnd, n transporturi, pagube cu costuri mult
mai mari, inclusiv pierderi de viei omeneti.
Un alt domeniu de activitate, de asemenea, la fel de important
pentru asigurarea fiabilitii necesare sistemelor, este cel al restabilirii
funcionrii echipamentelor la parametrii nominali, restabilire impus de
apariia uneia sau mai multor defectri, inclusiv n cazul sistemelor
tolerante la defectri ( 8.3). Acest fel de activitate, n literatura de
specialitate i n practica echipamentelor, se mai numete ridicarea
deranjamentelor sau pur i simplu reparaia.
Dei apariia defectrilor este aleatoare, calculul costurilor nece sare restabilirii se face determinist, dup modul n care este prevzut
operaia de restabilire.
n schema din figura 11.4 sunt expuse cele patru procedee princi pale de restabilire.
A
ad
B
X
rf
Fig. 11.4
297
Notaiile folosite sunt urmtoarele:

ad
apariia defectrii n sistem ;
X detectarea, identificarea i eventual izolare a defectrii (pentru

evitarea efectului de defectare n avalan ; 2.1) ;
A
reparare pe cale manual, la locul de amplasare, a suban-
samblului defect ;
B reparare pe cale manual a echipamentului n uniti specializate (ateliere, laboratoare) ;
C
trecerea manual pe un sistem sau subsistem de rezerv ;
reconfigurarea automat a subsistemului defectat sau a n-
tregului sistem (8.3.2) ;

Y restabilirea strilor de sistem de dinaintea apariiei defectrii,
sau altor stri instantanee necesare pentru desfurarea procesului
n condiii normale prevzute ;
rf
reluarea funcionrii normale, n bune condiii.
Procedeul A este, relativ, cel mai simplu pentru ridicarea deranjamentelor : se realizeaz la faa locului, n teren, fr a necesita
transportul echipamentului la o unitate specializat.
Etapele necesare realizriii restabilirii, pe aceast cale, sunt
urmtoarele :
A1 Observarea apariiei defectrilor de ctre personalul opera ional care utilizeaz manevreaz (manipuleaz) echipamnetul respec tiv.
A2 Anunarea personalului rspunztor de mentenan i depla sarea acestuia la locul de amplasare a echipamentului n teren.
A3 Izolarea zonei defectrii, tehnic i / sau operaional (operaie
extrem de important n unele situaii din transporturi).
A4 Stabilirea cauzei producerii defectrii (sau defectrilor) ; stabilirea efectelor, dei necesar, nu este suficient.
298
A5 Identificarea defectrii prin diagnoz tehnic neautomat.

A6 Efectuarea reparaiei propriu-zise.
A7 ncercri prin probe, verificri, reglaje i calibrri prin care
se confirm c reparaia a fost bine efectuat, iar sistemul, n ansamblul
su, este n stare de bun funcionare.
A8 Repunerea operaional n funciune i predarea ctre
personalul care utilizeaz echipamentul respectiv n proces.
Acest procedeu de restabilire se reduce, n practic, la ridicarea
unor deranjamente simple, care nu necesit msurri i verificri
complicate sau operaii de separare dificile : nlocuirea unor sigurane
fuzibile, relee sau altor componenete amovibile, modulare etc.
De asemenea necesit durate de deplasare mai mult sau mai puin
lungi pentru personalul de intervenie, timp n care sistemul n cauz nu
funcioneaz deloc sau funcioneaz cu deficiene.
Procedeul B de reparare este cel mai laborios i se aplic numai
dac restabilirea nu poate fi realizat prin procedeul A ; cronologic, a
fost primul aplicat i se caracterizeaz prin durate mai mari de
restabilire i costuri ridicate ale mentenanei. Etapele necesare reparrii
sunt i etapele cii precedente (A), dar intervin i altele n plus, dup
cum este artat n algoritmul care urmeaz.
B1 Observarea apariiei defectrilor de ctre personalul care
utilizeaz manevreaz (manipuleaz) echipamnetul respectiv.
B2 Anunarea personalului rspunztor de mentenan i depla sarea acestuia la locul de amplasare a echipamentului.
B3 Izolarea zonei defectrii, tehnic i / sau operaional (operaie
extrem de important n unele situaii din transporturi).
B4 Stabilirea producerii defectrii sau defectrilor (stabilirea
efectelor, dei necesar, nu este suficient).
299
B5
Identificarea defectrii prin diagnoz tehnic neautomat.
B6
Stabilirea procedurii optime de reparare.
B7
Demontarea subansamblului defect.
B8
Transportul acestuia la atelier sau laborator.
B9
Efectuarea reparaiei propriu-zise.
B10 Transportul invers al subansamblului reparat la locul de

amplasare.
B11 Montarea subansamblului reparat.
B12 ncercri
care se
confirm
prin
probe, verificri, reglaje i calibrri prin
reparaia a fost bine efectuat, montarea echipamentului este corect i

sistemul este n stare de bun funcionare.
B13 Repunerea operaional n funciune i predarea ctre
personalul care utilizeaz echipamentul respectiv n proces.
Deoarece nu necesit alte echipamente specializate de teren,
locale, apare ca evident avantajul unui cost de implementare redus, dar
necesit durate relativ mari de scoatere din funciune , ceea ce are ca
efect direct o valoare sczut a factorului de disponibilitate k D (2.2 ).
Procedeul C elimin dezavantajul duratelor lungi de scoatere din
funciune ; timpul necesar de comutare manual pe un subsistem de
rezerv, de regul identic cu cel de baz, este cu mult mai scurt, dar nu
are totdeauna o durat neglijabil.
Fa de cazul precedent (B) sunt eliminate n teren etapele B4
B5B6 care sunt transferate laboratorului sau atelierului de reparaii.
Alte etape pot fi rezolvate fr caracter de urgen (B7 B8B9B10).
Procedeul D este cel mai eficient avnd, practic, toate a vantajele
existente la cele trei procedee expuse anterior ; mai mult, timpul necesar
reconfigurrii automate (rigid sau flexibil) este neglijabil, ndeosebi
300
la echipamentele electronice. Nu mai sunt necesare n teren etapele B1 B2-B3, iar altele sunt transferate la atelierul sau laboratorul de reparaii
(B4 -B5-B6-B9).
Cu cheltuieli de mentenan minime se asigur o disponibilitate
maxim (k D = 1). n schimb necesit costuri relativ ridicate pentru
echipament la implementare; acest neajuns devine din ce n ce mai puin
important
odat
cu
dezvoltarea
tehnologiilor
de
fabricaie
echipamentelor electronice i implicit, cu scderea preului de cost la

producia robotizat.
*
Prin specificul su tehnic, activitatea de mentenan nu poate fi
automatizat total sau mcar parial dominant; operaii extrem de
simple ca, de exemplu, strngerea unui urub la cuplu sau ajustarea unei
componente reglabile sau semireglabile (trimer, poteniometru rezistiv
etc.) nu sunt posibile n regim automatizat la interveni i n echipament,
mai ales amplasate n teren.
De
asemenea
operaiile
de
detectare
identificare
componentelor sau subsistemelor defectate i mai ales nlocuirea

acestora (demontare, montare) pun probleme insurmontabile
pentru
efectuarea automat (ch iar i n condiii de laborator specializat).

Pe de alt parte, n toate domeniile de transport, echipamentele de
orientare dirijare sunt amplasate la bord sau la sol, acoperind zone
(distane) mari sau foarte mari: linii i staii de cale ferat, auto strzi,
artere i zone rutiere metropolitane, porturi, aeroporturi i rute de zbor
sau
navigaie
etc.
aceste
condiii
costurile
mentenanei
sunt
importante, necesitnd studii i analize de pre complexe n activitatea

de inginerie electronic aplicat.
301
Optimizarea previzional i operativ a acestei activiti presupune

maximizarea avantajelor i minimizarea dezavantajelor prin :
- organizarea procesual sistemic corespunztoare ;
- funcionalitate, performan, eficientizare ;
- idei i contribuii inginereti novatoare prin valorificri realiste
ale laturii euristice imaginative
problematic.
302
n procesul de gndire
Capitolul 12
Aplicaii
12.1. Probleme de fiablilitate

Ca orice activitate de acest fel, rezolvarea unor probleme de
fiabilitate conduce la o nelegere mai bun i la o aprofundare a
noiunilor de ordin teoretic ; totodat constituie un exerciiu de calcul
pentru proiectare (analiz i sintez).
Urmrind acest scop, problemele sunt expuse n ordinea tematicii
din capitolele anterioare, acest lucru fiind precizat i prin numrul de
capitol ce corespunde fiecrei probleme.
Se recomand ca la abordarea oricrei probleme s se nceap cu
stabilirea grafului de fiabilitate ; evident cnd este necesar ; astfel se
evit o pierdere de timp prin desfurarea unor calcule n alt ordine
dect cea logic (i corect).
De asemenea, pentru o verificare rapid i eficient asupra
corectitudinii de rezolvare, la fiecare problem este indicat rezultatul.
Spre a elimina unele calcule laborioase, ce nu sunt necesare pentru acest
fel de exerciii, se opereaz cu valorile medii, exprimate cu trei
zecimale, ale intensitii (ratei) de defectare
0 , ale funciei de
nonfiabilitate F(t) i ale funciei de fiabilitate R(t) . Valorile acestora

sunt precizate n tabelele 12.2-12.3-12.4.
303
12 - Aplicaii
ntruct
aceste
probleme
fac
obiectul
studiului
fiabilitii
funcionale, caracteristic sistemelor cu mare rspundere funcional

i echipamentelor de tip profesional, calculele se fac pentru durata de
baz (normal de exploatare - 4.3).
Avnd n vedere faptul c aceste probleme sunt necesare studiului,
att fiabilitii clasice (gene rale) ct i fiabilitii funcionale, se
recomand rezolvarea lor n dou etape:
prima etap, pentru disciplinele din anii III IV, ndeosebi la
cursul Calitate, fiabilitate i securitate n transporturi: problemele
A ... G;
a doua etap, de aprofundare, la activitatea de pregtire prin
masterat: problemele H ... R.
Precizia de calcul trebuie s corespund scopului urmrit: pentru
rezolvri curente, uzuale, este suficient s se opereze cu trei zecimale,
pentru valori
medii, aa cum sunt redate n tabela
din cadrul
paragrafului urmtor. n unele situaii de evaluare expeditiv
previzional se pot utiliza numai primele dou zecimale dar nu mai

puin de att.
Pentru precizie ridicat este necesar s se utilizeze mai multe
zecimale, dup cerinele de calcul ajungnd pn la 6 zecimale (ca de
exemplu, la problema I).
n fine, n calculele cu precizie foarte ridicat nalt se poate
opera cu pn la 24 zecimale. Aplicaiile respective, dei sunt mai puin
ntlnite n practic, au o importan deosebit n cadrul fiabilitii
funcionale; un exemplu semnificativ este cel al logicii de tip cablat,
putndu-se ajunge la categoria yoctoprobabil ( 10.3; tab. 10.29).
304
PROBLEMA A (cap. 1)
n cadrul unui sistem de reglare automat a circulaiei rutiere dup
procedeul DDC Direct Digital Control (Reglare digital direct) este
detectat un autovehicul care se deplaseaz n localitate cu viteza instan tanee de 61 km/h.
tiind c:
- viteza ideal este de 50 km/h;
- eroarea de msurare: 3 km/h;
- abaterea admisibil: 9 km/h,
s se determine:
a) valoarea
limit
minim
vitezei
instantanee
la
care
se
nregistreaz un rspuns fals;

b) valoarea limit maxim a vitezei instantanee pentru care se
nregistreaz un rspuns eronat;
c) domeniul valorilor de vitez care corespunde rspunsului
perfect.
Rezultate:
a) 59 km/h;
b) 41 km/h;
c) 47~53 km/h.
PROBLEMA B (cap.4)
Pentru un lot de 1000 componente identice, supuse la ncercare, se
nregistreaz defectrile aprute la intervale de timp egale cu o
sptmn. Aceste componente se gsesc n durata de baz (normal de
exploatare), iar numrul de defectri care s -au produs n prima
sptmn este egal cu 10.
n aceste condiii s se calculeze, pentru sfritul fiecreia dintre
primele 6 sptmni, frecvena statistic de defectare, ech ivalentul
305
12 - Aplicaii
statistic al probabilitii de defectare (funciei de nonfiabiliate) i

echivalentul statistic al probabilitii de funcionare (funciei de
fiabilitate).
Rezultatele se vor prezenta sub forma unei tabele i se vor
comenta.
Rezultate:
t
1
Tab. 12.1
6
f*(t) []
10,000
9,900
9,800
9,700
9,600
9,510
F*(t)
0,010
0,020
0,030
0,039
0,049
0,058
R*(t)
0,990
0,980
0,970
0,961
0,951
0,942
PROBLEMA C (cap. 4)
O component are, dup 15 ani de funcionare n regim de baz
(etapa nor mal de exploatare), o valoare a funciei de fiabiliate egal cu
0,874.
S se determine care au fost valorile funciei de fiabilitate:
a) n momentul intrrii n funciune;
b) dup primul an;
c) dup cel de al aselea an de funcionare.
Rezultate: a) 1,0;
b) 0,990;
c) 0,947.
PROBLEMA D (cap. 5)
Un echipament electronic fr redundan, cu funcionare n durata
normal de via, este realizat cu urmtoarele componente:
- rezistori cu 4 borne: 1 buc.
- tranzistori de nivel mic: 6 buc.
- sigurane fuzibile: 1 buc.
306
- rezistori bobinai fici: 9 buc.

- diode Zenner: 2 buc.
- conectori simpli de nivel mic: 1 buc.
- circuite integrate simple: 3 buc.
- condensatori trimer: 2 buc.
- condensatori cu 4 borne: 1 buc.
- bobine de nivel mic: 2 buc.
- suduri cu fludor: 38 buc.
- circuite imprimate (1 plac): 120 cm 2 .
Se mai precizeaz c acest echipament constituie un subsistem
montat la bordul unui vehicul feroviar i are o utilizare intermitent cu
timpul relativ de funcionare (solicitri specifice de ambian):
T r a = 0,7
De asemenea solicitrile n microambian sunt neglijabile fa de
cele din ambian (durate foarte scurte de funcionare).
n aceste condiii s se calculeze:
a) durata medie de funcionare fr defectri;
b) valoarea funciei de fiabilitate pentru o lun (30 zile);
c) valoarea funciei de fiabilitate pentru un trimestru (3 luni x 30
de zile).
Rezultate: a) 11091 ore ;
b) 0,937;
c) 0,823.
PROBLEMA E (cap. 5)
Pentru circuitul de cale cu schema funcional neredundant din
figura 12.1 se dau urmtoarele valori ale funciei de fiabilitate pe
subsisteme:
- emitorul (E):
R E =0,750;
307
12 - Aplicaii
- diportul de cuplaj la emisie (C e ):
R e = 0,900;
- diportul de cuplaj la recepie (C r ):
R r = 0,950;
- receptorul (R):
R R = 0,800.
I1
U1
(X)
I2
U2
(L)
(Y)
Ce
Cr
Fig.12.1
tiind c funcia de nonfiabilitate a ntregului circuit de cale (n

acelai
interval
de
timp) este
egal
cu
0,565
se
calculeze
probabilitatea de defectare a liniei (L), inclusiv joantele izolante.

S se interpreteze rezultatul obinut.
Rezultat:
F L = 0,152.
PROBLEMA F (cap. 5)
Un sistem de reglare automat a circulaiei rutiere dup procedeul
semafoare sincronizate unda verde are urmtoarele valori ale funciei
de fiabilitate pentru primele 5 posturi, care funcioneaz n tandem
ncepnd cu postul pilot P 1 fig. 12.2:
R 1 = 0,999;
R 5 = 0,980.
308
R 2 = 0,995;
R 3 = 0,999;
R 4 = 0,995;

(A)
P1
P2
P3
P4
P5
(B)
Fig. 12.2
tiind c aceste valori de probabilitate corespund unei
funcionri permanente cu durata de un an (360 zile), pentru lanul de 5
posturi, s se determine:
a) probabilitatea de defectare pentru durata unui an;
b) valoarea funciei de fiabilitate pentru aceeai durat.
Rezultate: a) 0,0317;
b) 0,9683.
PROBLEMA G (cap. 8)
Un sistem cu structur de redundan permanent general are
funcia de fiabilitate R(t) > 0,950.
S se determine care este valoarea minim a funciei de fiabilitate
(pentru acelai interval de timp) a echipamentului de baz, tiind c cele
5 echipamente de rezerv sunt identice cu cel de baz.
Rezultat: 0,435.
PROBLEMA
H (cap. 1)
n cazul general al sistemelor de telecomand i electronic n

transporturi, la nivel macroscopic, fiabilitatea funcional este afectat
de:
- perturbri p ale semnalelor S (informaionale);
- defectri (d) ale componentelor ( C) de echipament;
- erori (e) ale oper atorilor umani (O).
309
12 - Aplicaii
S se determine numrul de defeciuni posibile, simple sau

multiple, dac n fiecare caz particular perturbrile, defectrile i erorile
sunt considerate o singur dat.
Rezultat:
7.
PROBLEMA I (cap. 5)
Un sistem de telecomand cu funcionare permanent este compus
din trei subsisteme funcionale pentru un anumit punct de execuie fig.
12.3.
Valorile
intensitilor
(ratelor)
de
defectare
ce
corespund
subsistemelor sunt:
P C d = 0,05010 - 6 h - 1 pentru postul de comand PCd;
C T = 0,15010 - 6 h - 1 pentru canalul de transmitere a informaiei de
comand / control;
P E x = 0,017510 - 6 h - 1 pentru punctul de execuie PEx.
PCd
CT
PEx
Fig. 12.3
tiind c sistemul se afl n durata de baz (normal de exploatare)

s se determine, cu 6 zecimale exacte, valoarea funciei de fiabilitate
pentru ntregul sistem la sfritul primei luni (30 de zile).
Rezultat:
310
0,999843.
PROBLEMA J (cap. 5)
Un sistem care funcioneaz n durata de baz este caracterizat
printr-o valoare a funciei de fiabilitate R = 0,435.
S se determine:
a) structura necesar de redundan permanent general, utiliznd
echipamente produse n serie identice, astfel nct valoarea funciei de
fiabilitate, raportat la acelai interval de timp, s fie mai mare de
0,950;
b) pstrnd acele ai condiii s se determine structura necesar
pentru un interval de timp de trei ori mai scurt.
S se reprezinte grafic structura respectiv i s se discute
aspectele tehnico-economice care pot s apar n privina rezolvrilor
posibile ale problemei.
Rezultat: a) d = 6;
b) d = 3.
PROBLEMA K (cap. 6)
Dou componente electronice de acelai tip identice sunt
caracterizate prin indicatorii de fiabilitate proprii:
m
F ( t ) 1 e t ;
R( t ) e t .
Fiecare component, prin proprietile sale, nu se poate defecta

dect prin scurtcircuitare[-] nte bornele sale, iar ambele sunt conectate
ntr-o schem electric derivaie.
S se determine sensurile de variaie pentru cei trei indicatori,
precizai mai sus, n ipoteza adoptrii unei structuri fiabiliste de tip
serie.
Rezultate: a)
m's
1 1
m;
2
b) Fs' F ( 2 F ) F ;
c) R's R 2 R .
311
12 - Aplicaii
PROBLEMA
L (cap. 7)

m
F ( t ) 1 e t ;
R( t ) e t .

dect prin ntrerupere [+] ntre bornele sale, iar ambele sunt conectate
ntr-o schem electric serie.
S se determine sensurile de variaie pentru cei trei indicatori,
precizai mai sus, n ipoteza adoptrii unei structuri fiabiliste de tip
serie.
Rezultate: a)
m's
PROBLEMA
1 1
m;
2
b) Fs' F ( 2 F ) F ;
c) R's R 2 R.
(cap. 7)

m
F ( t ) 1 e t ;
R( t ) e t .

dect prin ntrerupere [+] nte bornele sale, iar ambele sunt conectate
ntr-o schem electric derivaie.
S se precizeze structura fiabilist ce corespunde unei ame liorri a
fiabilitii de grup i s se determine sensurile de variaie pentru cei trei
indicatori precizai mai sus.
Rezultate: a)
312
m'D
3 1
m;
2
b) FD' F 2 F ;
c) R'D R( 2 R ) R.
PROBLEMA N (cap. 8)
S se determine structura cea mai simpl a unui sistem care
funcioneaz n perioada de baz i pentru care durata medie a timpului
de funcionare se dubleaz n raport cu o singur component (toate
componentele sunt identice). S se interpreteze rezultatul obinut.
Rezultat: 3 < d < 4.
PROBLEMA O (cap. 8)
Un echipament de identificare automat a autovehiculelor Id,
avnd funcionare permanent, este alimentat cu energie electric dintr o baterie de acumulatoare Ac cuplat n regim tampon la un redresor
Red (fig. 12.4); la rndul su, redresorul Red este conectat n
220 V
50Hz ~
Red
Ac
Id
Fig. 12.4
permanen la reeaua general de electroalimentare (220V -50Hz) astfel
c alimentarea echipamentului de identificare este asigurat din redresor
sau din acumulatoare (p e durata de autonomie prevzut).
Se mai precizeaz c bateria de acumulatori Ac se poate defecta
numai prin cretere parametric [+]: la limit rezistena sa intern crete
foarte mult (R i ). De asemenea i redresorul Red se defecteaz
numai prin cretere parametric deoarece n circuitul su de ieire este
montat o siguran fuzibil (n serie).
313
12 - Aplicaii
Se cunosc urmtoarele valori ale funciei de fiabilitate pentru

durata de un an (360 zile):
R R e d = 0,970 (inclusiv reeaua de electroalimentare);
R A c = 0,990 (inclusiv conexiunile sale la redresorul Red);
R I d = 0,980 (inclusiv cablul de legtur la bateria de acumula tori).
n aceste condiii s se determine care este valoarea probabilitii
de nerealizare a funciunii eseniale, de identificare automat pentru
durata de un an.
Rezultat:
0,0203.
PROBLEMA
P (cap. 9)
Un echipament de comand (C d fig. 12.5) este separat galvanic

de cel de execuie (Ex) prin doi condensatori identici (C 1 , C 2 ). Ambii
condensatori de separare se pot defecta numai
prin clacare [-]
(scurtcircuitare la strpungerea dielectricului).
Cd
C1
Ex
C2
Fig. 12.5
Principalii indicatori de fiabilitate ai celor doi condensatori sunt:
a) media timpului de funcionare: m
b) funcia de fiabilit ate:
R( t ) e t ;
c) funcia de nonfiablitate: F ( t ) 1 e t .
Deoarece separarea galvanic este necesar numai n curent
continuu, n regim permanent, s se precizeze structura fiabilist care
314
corespunde diportului de separare galvanic, s se determine expresiile

de calcul ale celor trei indicatori de fiabilitate, de mai sus, ca i
sensurile de variaie ale acestora.
Rezultate: a)
PROBLEMA
m'D
3 1
m;
2
b) R'D R( 2 R ) R ;
c) FD' F 2 F .
(cap. 10)
Un sistem cu mare rspundere funcional, avnd categoria

defectrii nanoprobabil, este protejat printr-un subsistem cu logic de
tip cablat, eficiena proteciei fiind de 10 6 .
S se determine valoarea funciei de nonfiabilitate i cate goria
defectrii pentru protecie fa de rspuns fals, n intervalul de timp de o
or.
Rezultat:
F R F (t =1h) = 10 - 1 5 / femtoprobabil.
PROBLEMA
R (cap. 12)
n structura echipamentului unui sistem de reglare automat a

circulaiei rutiere dup procedeul und-verde (semafoare sincronizate),
care este compus din 9 posturi, se produce o defectare ce conduce la o
funcionare parial prin dou subsisteme, cu 4 respectiv cu 5 posturi de
intersecie.
S se precizeze:
a) numrul postului probabil defect din amonte;
b) numrul postului probabil defect din aval;
c) tipul de rspuns funcional n aceast situaie.
Rezultate: a) nr. 4;
b) nr. 5;
c) eronat.
315
12 - Aplicaii
12.2. Valori ale principalilor indicatori de

fiabilitate
n tabela 12.2 sunt redate valorile medii aproximative ale
intensitii (ratei) defectrilor pentru 54 componente care sunt mai des
ntlnite n structurile echipamentelor pentru telecomenzi i electronic
n transporturi. Aceste valori provin din tabela 4.3 - 4.4.2 prin
considerarea solicitrilor medii probabile ( 2.2 fig. 2.9) i ale
valorilor nominale parametrice ( 3.2).
n
vederea
utilizrii
acestor
date
primare
se
recomand
considerarea urmtoarelor aspecte:

aceste valori corespund duratei normale de via (de exploatare,
4.3);
prin utilizarea n calcule a unei precizii medii, reduse la trei
zecimale, se urmrete obinerea unor rezultate estimative:
rezolvarea problemelor cu caracter didactic (12.1), respectiv
evaluri orientative n vederea estimrilor fiabiliste pentru
echipamente ce urmeaz a fi elaborate sau ameliorate etc.;
n situaiile n care se cere atestarea fiabilitii ( 1.1.2) aceste
date nu asigur precizia necesar; pentru aceasta vor fi folosite
valorile maxime ale indicatorului o i din tabela 4.3 - 4.4.2,
ceea ce permite determinarea valorii probabile care corespunde
nivelului fiabilist minim probabil;
n practic pot fi ntlnite i alte componente care nu sunt
cuprinse n tabel: componente vechi cu frecven mic de
utilizare, componente din noile generaii tehnologice etc.;
pentru
316
acestea,
valorile de
calcul
se vor
aproxima
prin
comparaie cu cele existente n tabel, lund ca referin

componentele cele mai apropiate privind procesul de uzur
defectare (cap. 2 i cap. 3);
n acelai mod va fi stabilit adaosul valoric de calcul pentru
solicitrile din ambian: plecnd de la datele din tabela 4.4 -
4.4.3 se vor crete sau scdea valorile coeficientului j n
funcie de condiiile concrete: regim mai greu sau mai uor, mai
dur sau mai puin dur etc.; aici intervine i aspectul euristic
ingineresc bazat pe o cunoatere competent a condiiilor
privind desfurarea procesului de transport.
Nr.
crt.
Denumirile componentelor
oi
Tab. 12.2
medie [x10 - 6 h - 1 ]
Acumulatori electrici de capacitate mic
0,109
Ampermetre electromagnetice
0,360
Amplificatori magnetici
0,256
Ansamble mecanice cinematice simple
0,528
Bobine de nivel mic
0,039
Circuite imprimate (1 dm 2 )
0,054
Circuite integrate de complexitate medie
0,304
Circuite integrate simple
0,087
Comutatori
0,219
10
Condensatori ceramici
0,045
11
Condensatori cu hrtie
0,048
12
Condensatori cu 4 borne
0,034
13
Condensatori electrolitici
0,089
14
Condensatori semireglabili (trimeri)
0,080
15
Condensatori variabili cu dielectric aer
0,190
16
Conectori de putere
0,390
317
12 - Aplicaii
17
Conectori multipli
0,219
18
Conectori simpli de nivel mic
0,168
19
Conexiuni prin wrapare
0,001
20
Contactori termobimetal
0,182
21
Contactori uzuali
0,179
22
Cuple electrice de putere
0,390
23
Diode de nivel mic
0,069
24
Diode de putere
0,406
25
Diode Zenner
0,265
26
0,588
27
0,111
28
Lmpi cu incandescen pentru

semnalizare
Microcomutatori
29
Poteniometri bobinai reglabili
0,544
30
Poteniometri cu pelicul de carbon
0,288
31
Relee miniatur
0,152
32
Relee Reed
0,055
33
Relee speciale
0,001
34
Relee termice
0,414
35
Relee uzuale
0,132
36
Rezistori bobinai fici
0,049
37
Rezistori bobinai reglabili
0,544
38
Rezistori cu 4 borne
0,032
39
Rezistori cu pelicul de carbon (chimici)
0,030
40
Rezistori metalici
0,024
41
Selsine
0,312
42
Servomotoare de mic putere
0,549
43
Sigurane fuzibile
0,089
44
Socluri simple
0,168
318
0,237
45
Suduri cu fludor
0,008
46
Tahometri
0,381
47
Termistori
0,276
48
Tiristori
0,181
49
Transformatori de impulsuri
0,256
50
Transformatori de nivel mic
0,039
51
Tranzistori de nivel mic
0,069
52
Tranzistori de putere
0,406
53
Tuburi electronice speciale
0,673
54
Voltmetre electromagnetice
0,360
Tabelele care urmeaz 12.3 a, b conin valorile indicatorului de

repartiie a timpului de funcionare F(t); acesta se evalueaz prin
probabilitatea de defectare i depinde de variabilele compuse ( t) i
(t) n care:
- reprezint intensitatea (rata) de defecta re (pe durata normal de
via) ce corespunde unei singure componente de circuit;
- suma intensitilor (ratelor) de defectare ale elementelor pentru
un model structural de fiabilitate serie ( 1.1.2), avnd o variaie
fiabilist dup legea exponenialnegativ ( 4.3).
Se reamintete c mrimile i sunt constante (pe durata
normal de via): = const.;
= const., i deci variabilele compuse
(t) i (t) sunt proporionale cu timpul t.

ntruct valorile tabelate ale funciilor F(-t) i F(-t) reprezint
o etap de calcul, avnd date primare ce provin din tabela anterioar
12.2, sunt valabile toate aspectele expuse anterior. n plus trebuie
precizate urmtoarele:
319
12 - Aplicaii
prin
esena
lor
indicatorii
F(-t)
F(-t)
exprim
probabilitatea de defectare n timp; aceast proprietate este

utilizat, ndeosebi, pentru a calcula fiabilitatea n raport cu
rspunsul fals ( 1.2.1, 10.2 i 10.3);
pentru echipamentele sistemelor cu mare rspundere funcional
inidicatorul F(t) rareori dep ete valoarea probabilist 0,5
motiv pentru care tabelul cuprinde numai intervalul 0,000 ~
0,503; pentru valori mai mari, pn la unitate, se vor folosi alte
tabele sau se vor calcula funciile exponeniale n cauz;
pentru a uura efortul de calcul, n tabela 12.3a), domeniul de
precizie ridicat cuprinde limitele 0,000 ~ 0,100 cu pasul 0,001,
cu 6 zecimale exacte pentru funciile de nonfiabilitate F( -t) i
F(-t);
dac valoarea cutat nu coincide cu cea tabelat, se va
interpola liniar ntre cele dou valori limit ale plajei care
conine valoarea respectiv;
precizia de calcul este mai bun la valori mici i medii ale
variabilelor (t) i (t) ; la valori mari ale acestora, dac
precizia de calcul o cere, se va considera un numr cores punztor de zecimale.
Valorile funciei de fiabilitate R(t), exprimat prin probabilitatea
de bun funcionare, avnd variabilele compuse (t) i (t) sunt
redate n tabelele 12.4 a, b.
320
t
t
0,000
0,001
0,002
0,003
0,004
0,005
0,006
0,007
0,008
0,009
0,010
0,011
0,012
0,013
0,014
0,015
0,016
0,017
0,018
0,019
0,020
0,021
0,022
0,023
0,024
0,025
0,026
0,027
0,028
0,029
0,030
0,031
0,032
0,033
0,034
0,035
0,036
0,037
0,038
0,039
F(-t)
F(-t)
0,000000
0,001000
0,001998
0,002996
0,003992
0,004988
0,005982
0,006976
0,007968
0,008960
0,009950
0,010940
0,011928
0,012916
0,013902
0,014888
0,015873
0,016856
0,017839
0,018821
0,019801
0,020781
0,021760
0,022738
0,023714
0,024690
0,025665
0,026639
0,027612
0,028584
0,029554
0,030524
0,031493
0,032461
0,033428
0,034395
0,035360
0,036324
0,037287
0,038249
t
t
0,040
0,041
0,042
0,043
0,044
0,045
0,046
0,047
0,048
0,049
0,050
0,051
0,052
0,053
0,054
0,055
0,056
0,057
0,058
0,059
0,060
0,061
0,062
0,063
0,064
0,065
0,066
0,067
0,068
0,069
0,070
0,071
0,072
0,073
0,074
0,075
0,076
0,077
0,078
0,079
F(-t)
F(-t)
0,039211
0,040171
0,041130
0,042089
0,043046
0,044003
0,044958
0,045913
0,046866
0,047819
0,048771
0,049721
0,050671
0,051620
0,052568
0,053515
0,054461
0,055406
0,056350
0,057293
0,058235
0,059177
0,060117
0,061057
0,061995
0,062933
0,063869
0,064805
0,065740
0,066673
0,067606
0,068538
0,069469
0,070399
0,071328
0,072257
0,073184
0,074110
0,075036
0,075960
t
t
0,080
0,081
0,082
0,083
0,084
0,085
0,086
0,087
0,088
0,089
0,090
0,091
0,092
0,093
0,094
0,095
0,096
0,097
0,098
0,099
0,100
0,101
0,102
0,103
0,104
0,105
0,106
0,107
0,108
0,109
0,110
0,111
0,112
0,113
0,114
0,115
0,116
0,117
0,118
0,119
Tab. 12.3a
F(-t)
F(-t)
0,076884
0,077806
0,078728
0,079649
0,080569
0,081488
0,082406
0,083323
0,084239
0,085154
0,086069
0,086982
0,087895
0,088806
0,089717
0,090627
0,091536
0,092444
0,093351
0,094257
0,095163
0,096067
0,096970
0,097873
0,098775
0,099675
0,100575
0,101474
0,102372
0,103270
0,104166
0,105061
0,105956
0,106849
0,107742
0,108634
0,109525
0,110415
0,111304
0,112192
321
12 - Aplicaii
322
t
t
0,100
0,110
0,115
0,120
0,125
0,130
0,135
0,140
0,145
0,150
0,155
0,160
0,165
0,170
0,175
0,180
0,185
0,190
0,195
0,200
0,205
0,210
0,215
0,220
0,225
0,230
0,235
0,240
0,245
0,250
0,255
0,260
0,265
0,270
0,275
0,280
0,285
0,290
0,295
0,300
F(-t)
F(-t)
0,095163
0,104166
0,108634
0,113080
0,117503
0,121905
0,126284
0,130642
0,134978
0,139292
0,143585
0,147856
0,152106
0,156335
0,160543
0,164730
0,168896
0,173041
0,177165
0,181269
0,185353
0,189416
0,193459
0,197481
0,201484
0,205466
0,209429
0,213372
0,217295
0,221199
0,225084
0,228948
0,232794
0,236621
0,240428
0,244216
0,247986
0,251736
0,255468
0,259182
t
t
0,305
0,310
0,315
0,320
0,325
0,330
0,335
0,340
0,345
0,350
0,355
0,360
0,365
0,370
0,375
0,380
0,385
0,390
0,395
0,400
0,405
0,410
0,415
0,420
0,425
0,430
0,435
0,440
0,445
0,450
0,455
0,460
0,465
0,470
0,475
0,480
0,485
0,490
0,495
0,500
F(-t)
F(-t)
0,262877
0,266553
0,270211
0,273851
0,277473
0,281076
0,284662
0,288230
0,291780
0,295312
0,298827
0,302324
0,305803
0,309266
0,312711
0,316139
0,319549
0,322943
0,326320
0,329680
0,333023
0,336350
0,339660
0,342953
0,346230
0,349491
0,352735
0,355964
0,359176
0,362372
0,365552
0,368716
0,371865
0,374998
0,378115
0,381217
0,384303
0,387374
0,390429
0,393469
t
t
0,505
0,510
0,515
0,520
0,525
0,530
0,535
0,540
0,545
0,550
0,555
0,560
0,565
0,570
0,575
0,580
0,585
0,590
0,595
0,600
0,605
0,610
0,615
0,620
0,625
0,630
0,635
0,640
0,645
0,650
0,655
0,660
0,665
0,670
0,675
0,680
0,685
0,690
0,695
0,700
Tab. 12.3b
F(-t)
F(-t)
0,396494
0,399504
0,402499
0,405479
0,408445
0,411395
0,414331
0,417252
0,420158
0,423050
0,425928
0,428791
0,431640
0,434475
0,437295
0,440102
0,442894
0,445673
0,448437
0,451188
0,453926
0,456649
0,459359
0,462056
0,464739
0,467408
0,470065
0,472708
0,475337
0,477954
0,480558
0,483149
0,485726
0,488291
0,490844
0,493383
0,495910
0,498424
0,500926
0,503415
t
t
0,000
0,001
0,002
0,003
0,004
0,005
0,006
0,007
0,008
0,009
0,010
0,011
0,012
0,013
0,014
0,015
0,016
0,017
0,018
0,019
0,020
0,021
0,022
0,023
0,024
0,025
0,026
0,027
0,028
0,029
0,030
0,031
0,032
0,033
0,034
0,035
0,036
0,037
0,038
0,039
R(-t)
R(-t)
1,000000
0,999000
0,998002
0,997004
0,996008
0,995012
0,994018
0,993024
0,992032
0,991040
0,990050
0,989060
0,988072
0,987084
0,986098
0,985112
0,984127
0,983144
0,982161
0,981179
0,980199
0,979219
0,978240
0,977262
0,976286
0,975310
0,974335
0,973361
0,972388
0,971416
0,970446
0,969476
0,968507
0,967539
0,966572
0,965605
0,964640
0,963676
0,962713
0,961751
t
t
0,040
0,041
0,042
0,043
0,044
0,045
0,046
0,047
0,048
0,049
0,050
0,051
0,052
0,053
0,054
0,055
0,056
0,057
0,058
0,059
0,060
0,061
0,062
0,063
0,064
0,065
0,066
0,067
0,068
0,069
0,070
0,071
0,072
0,073
0,074
0,075
0,076
0,077
0,078
0,079
R(-t)
R(-t)
0,960789
0,959829
0,958870
0,957911
0,956954
0,955997
0,955042
0,954087
0,953134
0,952181
0,951229
0,950279
0,949329
0,948380
0,947432
0,946485
0,945539
0,944594
0,943650
0,942707
0,941765
0,940823
0,939883
0,938943
0,938005
0,937067
0,936131
0,935195
0,934260
0,933327
0,932394
0,931462
0,930531
0,929601
0,928672
0,927743
0,926816
0,925890
0,924964
0,924040
t
t
0,080
0,081
0,082
0,083
0,084
0,085
0,086
0,087
0,088
0,089
0,090
0,091
0,092
0,093
0,094
0,095
0,096
0,097
0,098
0,099
0,100
0,101
0,102
0,103
0,104
0,105
0,106
0,107
0,108
0,109
0,110
0,111
0,112
0,113
0,114
0,115
0,116
0,117
0,118
0,119
Tab. 12.4a
R(-t)
R(-t)
0,923116
0,922194
0,921272
0,920351
0,919431
0,918512
0,917594
0,916677
0,915761
0,914846
0,913931
0,913018
0,912105
0,911194
0,910283
0,909373
0,908464
0,907556
0,906649
0,905743
0,904837
0,903933
0,903030
0,902127
0,901225
0,900325
0,899425
0,898526
0,897628
0,896730
0,895834
0,894939
0,894044
0,893151
0,892258
0,891366
0,890475
0,889585
0,888696
0,887808
323
12 - Aplicaii
324
t
t
0,105
0,110
0,115
0,120
0,125
0,130
0,135
0,140
0,145
0,150
0,155
0,160
0,165
0,170
0,175
0,180
0,185
0,190
0,195
0,200
0,205
0,210
0,215
0,220
0,225
0,230
0,235
0,240
0,245
0,250
0,255
0,260
0,265
0,270
0,275
0,280
0,285
0,290
0,295
0,300
R(-t)
R(-t)
0,900325
0,895834
0,891366
0,886920
0,882497
0,878095
0,873716
0,869358
0,865022
0,860708
0,856415
0,852144
0,847894
0,843665
0,839457
0,835270
0,831104
0,826959
0,822835
0,818731
0,814647
0,810584
0,806541
0,802519
0,798516
0,794534
0,790571
0,786628
0,782705
0,778801
0,774916
0,771052
0,767206
0,763379
0,759572
0,755784
0,752014
0,748264
0,744532
0,740818
t
t
0,305
0,310
0,315
0,320
0,325
0,330
0,335
0,340
0,345
0,350
0,355
0,360
0,365
0,370
0,375
0,380
0,385
0,390
0,395
0,400
0,405
0,410
0,415
0,420
0,425
0,430
0,435
0,440
0,445
0,450
0,455
0,460
0,465
0,470
0,475
0,480
0,485
0,490
0,495
0,500
R(-t)
R(-t)
0,737123
0,733447
0,729789
0,726149
0,722527
0,718924
0,715338
0,711770
0,708220
0,704688
0,701173
0,697676
0,694197
0,690734
0,687289
0,683861
0,680451
0,677057
0,673680
0,670320
0,666977
0,663650
0,660340
0,657047
0,653770
0,650509
0,647265
0,644036
0,640824
0,637628
0,634448
0,631284
0,628135
0,625002
0,621885
0,618783
0,615697
0,612626
0,609571
0,606531
t
t
0,505
0,510
0,515
0,520
0,525
0,530
0,535
0,540
0,545
0,550
0,555
0,560
0,565
0,570
0,575
0,580
0,585
0,590
0,595
0,600
0,605
0,610
0,615
0,620
0,625
0,630
0,635
0,640
0,645
0,650
0,655
0,660
0,665
0,670
0,675
0,680
0,685
0,690
0,695
0,700
Tab. 12.4b
R(-t)
R(-t)
0,603506
0,600496
0,597501
0,594521
0,591555
0,588605
0,585669
0,582748
0,579842
0,576950
0,574072
0,571209
0,568360
0,565525
0,562705
0,559898
0,557106
0,554327
0,551563
0,548812
0,546074
0,543351
0,540641
0,537944
0,535261
0,532592
0,529935
0,527292
0,524663
0,522046
0,519442
0,516851
0,514274
0,511709
0,509156
0,506617
0,504090
0,501576
0,499074
0,496585
Fiind, de asemenea, funcii exponeniale, aspectele precizate

anterior sunt valabile; n plus este necesar a se remarca cele ce urmeaz.
Indicatorii R(-t) i R(-t) exprim, probabilistic, proprietatea
de bun funcionare (corect) n timp; utilizarea lor este
eficient, mai ales, pentru calculul fiabilitii generale (clasice)
i fiabilitii n raport cu rspunsul eronat ( 1.2.1).
Sistemele cu fiabilitate ridicat i ndeosebi, cele de nalt
fiabilitate sunt caracterizate, n general, prin valori mari ale
funciei R(t ); pentru acest motiv valorile tabelate se o presc la
limita inferioar 0,496.
De asemenea, ca i n tabela 12.3, pentru precizie ridicat,
domeniul 0,000~0,100 este extins pentru funciile R(-t) i
R(-t).
12.3. Fiabilitatea previzional a unui inductor de

cale din sistemul de control automat al vitezei
trenului
12.3.1. Modul de funcionare a sistemului (sintez)
Pentru a putea calcula aceast fiabilitate (funcional) previzional
este necesar s se cunoasc principiul pe care se bazeaz func ionarea
sistemului la nivel macroscopic, ca i procedeele aplicate la nivel
microscopic. Fr a intra n detalii, n prealabil, se abordeaz i se
expun (sintetic) aspectele funciona le pentru rspunsuri corecte ( 1.2.1).
325
12 - Aplicaii
n desenul din figura 12.6 este redat schema general, simplificat la maximum, a structurii electrice de sistem, cu notaiile :
G b generatorul (electronic) al semnalului de control ; acest generator face parte din echipamentul de bord (Ech. b ord) ;
L b bobina inductorului de bord parcurs de curentul, la bord, I b ;
L s bobina inductorului de sol adus la rezonan prin condensa torul
Cs
care,
mpreun
cu
bobina
Ls,
face
parte
din
echipamentul de sol (Ech. s ol) ;

v contact al releului de comand a unitii verde din luminosemnalul de circulaie ; acesta reprezint sursa de informaie
pentru controlul automat al vitezei.
~G
(Ech. bord)
Lb
Is
Ls
(Ech. sol)
Ib
Bord
Sol
Cs
v
Fig.12.6
n fapt cele dou bobine, pe durata cuplajului sol bord, au
proprietiile unui transformator (special) cu cuplaj variabil ntre
nfurarea L b primar i nfurarea L s secundar ; astfel se induce
curentul I s (semnal de control al vitezei la sol).
Cuplajul sol-bord se poate produce asociat cu fenomenul de
rezonan electric, atunci cnd contactul de releu v este deschis releu
326
dezexcitat (), sau f r rezonan dac contactul v este nchis (stabilit)

releu excitat ():
contactul v scurtcircuiteaz condensatorul C s iar
efectul n aceast situaie este de cretere substanial a amplitudinii

curentului I s (transformator cu nfurarea secundar n scurtciruit).
ntr-o prim analiz funcional de sistem, rezult ca fiind
caracteristice patru stri distincte.
I Stare fr cuplaj sol-bord, cnd vehiculul motor feroviar nu se
afl n punctul de amplasare a inductorului n cal e (sol). Regimul
electric de funcionare este de transformator cu nfurarea secundar n
gol: curentul I b la bord este prereglat la valoarea nominal I 0 (de stare
pasiv):
Ib = I0 > Iact.
I a c t este valoarea - prag de activare a echipamentului de bord
pentru controlul unei anumite trepte de vitez. Aceste valori sunt
precizate n figura 12.7, prin diagrama de interaciune sol bord.
Ib
ti
Tp
Imax
II
Io
Iact
t
0
Imin
Io
III
II
Fig. 12.7
S-au mai utilizat notaiile:
T p perioada semnalului de control al vitezei (I b ) gener at n
echipamentul de bord (G b fig.12.6);
327
12 - Aplicaii
t i durata impulsului de interaciune sol-bord (durat care depinde

de viteza instantanee a vehiculului motor n punctul de cuplaj).
Circulaia,
aceast
stare,
se poate
face
la orice
vitez
instantanee Vit i n s t pn la cea maxim permis Vit p e r m , indiferent de

starea inductorului de sol:
Vit
inst
Vit
perm.
II Stare de cuplaj sol-bord cnd contactul v (al releului de

comand pentru afiaj verde la luminosemnalul de circulaie din cale)
este stabilit - releu excitat (fig. 12.6). Regimul de funcionare este
echivalent unui transformator cu nfurarea secundar n scurtcircuit:
curentul I b crete progresiv n amplitudine pn la valoarea maxim I ma x
(fig. 12.7):
Imax > I0 > Iact.
Acest efect este reprezentat prin nfurtoarea de modulaie
trasat ntrerupt ngroat II (la alternanele pozitive i la alternane le
negative). La nivel macroscopic de sistem, din punct de vedere
funcional, situaia este echivalent celei anterioare de la starea I:
pragul de amplitudine pentru activare (I a c t ) fiind depit nu se produce
nici o restricie de vitez (instantanee): vehiculul feroviar se poate
deplasa cu viteza prestabilit i permis Vit
per m.
III. 1 Stare de cuplaj sol - bord cnd contactul v este ntrerupt

(releu dezexcitat ). Dup cum se poate vedea n figura 12.6 bobina L s ,
a inductorului de la sol, este acordat la rezonan cu condensatorul C s :
f p2
1
2 L s C s 2
n aceast formul s-au notat cu:

328
1
T p2
2kHz ~ .
f p 2 frecvena semnalului purttor de 2 kHz, semnal care este de

form sinusoidal (~);
T p 2 perioada semnalului purttor corespunznd frecvenei de 2
kHz (fig. 12.7);
C s 2 valoarea capacitii condensatorului C s (fig. 12.6) pentru care
frecvena circuitului rezonant derivaie, astfel format, are valoare de 2
kHz.
Acest circuit prezint ntre bornele sale, la rezonan, o rezisten
foarte mare (teoretic infinit),
Zs2
Ls
Cs 2 r
unde r reprezint rezistena de pierderi a circuitului; pentru a avea o

valoare ct mai mic, miezurile bobinelor L s i L b sunt confecionate din
ferit de calitate corespunztoare.
Prin urmare, pe durata cuplajului sol - bord, n bobina L b se va
reflecta o rezisten electric de valoare ridicat provocnd, astfel, o
scdere important a amplitudinii curentului I b (nfurtoarea III din
diagrama 12.7). Aceast variaie n timp a semnalului I b , cu frecvena de
2kHz, are loc sub valoarea limit de prag I a c t , pe durata t i ; la nivel
macroscopic informaia transmis este total restrictiv pentru circulaie:
dac se depete, n acest regim, luminosemnalul din teren (care nu
afieaz verde) intervine, la bord, frnarea automat total -oprire de
urgen necondiionat, deoarece:
Ib < Iact < I0 < Imax.
III. 2 Stare de cuplaj sol - bord atunci cnd este necesar ca
vehiculul motor feroviar s circule ntr-un regim de restricie parial a
vitezei instantanee:
0 < Vit i n s t Vit p e r m .
329
12 - Aplicaii
Acum viteza (maxim) permis vit p e r m are o valoare mai mic dect
n situaia precedent (III.1); aceasta, deoarece, n teren, luminosemnalul
de
circulaie
are
unitile
luminoase
verde -pasiv
(releu
dezexcitat / contact v ntrerupt) i galben - activ (releu excitat / contact

g stabilit).
Schema respectiv este reprodus n figura 12.8 i se obine, prin
dezvoltare, din schema 12.6. Notaiile care apar n plus, fa de cele
folosite anterior, au urmtoarele semnificaii:
C s 1 condensator pentru modificarea frecvenei de rezonan a
circuitului derivaie de la valoarea de 2 kHz la valoarea de 1 kHz;
A, B, C bornele de cuplaj la cablul de legtur cu luminosemnalul din teren.
Is
Ls
Cs1
A
Cs2
C
Cablu
g
v
Fig. 12.8
Acest cablu este de construcie special, astfel nct s fie protejat
fa de scurtcircuit ntre firele sale.
n aceast stare, restrictiv pentru vitez, frecvena semnalu lui
purttor (sinusoidal) este:
330
f p1
1
1
1kHz f p 2
T p1
2 L s ( C s 2 C s1 )
deoarece contactele de la luminosemnalul din cale sunt: v ntrerupt;

g stabilit.
Aceast schimbare a frecvenei de rezonan, n inductorul de la
sol, este detectat la bord, efectul de variaie a amplitudinii semnalului
de control fiind acelai ca n situaia precedent (III. 1 fig. 12.7). n
consecin se controleaz (automat) treapta de vitez inferioar: dac
viteza instantanee este mai mare dect cea permis se produce o frnare
automat.
Momentul n care intervine aceast aciune, n echipamentul de
bord (Ech. b ord), este precizat n diagrama I b = f(t) din figura 12.7 prin
semnul x pe coordonata timpului. Durata impulsului t i este de ordinul
milisecundelor; fiind mai lung la viteze mici de circulaie utilizarea
acestui procedeu se preteaz, mai ales, pentru controlul vitezei la ramele
de metrou i la trenuri cu viteze mici i medii.
Mai trebuie reinut faptul c realizarea echipamentului se bazeaz
pe logica de tip cablat ( 10.3.3) , iar contactele v i g sunt de tipul
argint - grafit (relee gravitaionale ).
n figura 12.9 este reprezentat schema electric complet a unui
inductor de cale cu structura 1 kHz / 2 kHz (valori rotunjite). Pentru o
bun protecie fa de solicitrile din ambian, ntregul echipament este
montat ntr-o carcas de siluminiu cu impregnare n poliuretan.
Fa de aspectele precizate i analizate anterior sunt de remarcat
cele ce urmeaz.
Bobina L s (fig. 12.8) este realizat prin dou bobine identice L
i L, conectate n serie i n faz, dar care au miezuri magnetice (ferit)
separate. Fiind cuplate strns (ntre ele) se obine o valoare ridicat a
331
12 - Aplicaii
inductanei totale, deoarece factorul de cuplaj este foarte apropiat de

unitate,
k
M
L' L"
1,
unde cu M se noteaz inductana mutual.

L
s1
L
C1
b1
C2
b3
b4
C3
b5
C4
b7
b8
C5
b9
b14
C8
b15
Cs2 = C1+ C2 + C3
b12
C7
b13
b6
b10 C s1
C6
b11
b16
C j
j 4
3C s 2
f1
1
1kHz
2 Lt ( Cs1 Cs 2 )
f2
1
2kHz
2 Lt Cs 2
s2
D1
b2
D2
s3
b18
Uinv = 5 kV
D3
b19
D4
b17
s4
C
B
A
Fig. 12.9
Cele dou bobine fiind identice (L = L = L), rezult pentru inductana total
L t = L+ L + 2M 4 L,
ntruct, la cuplaj strns, inductana mutual este egal cu cea a une i
bobine M = L= L = L.
332
Astfel se obine o reducere a volumului, greutii i costului pentru

bobina inductorului de sol (L s = L t ). Spre a fi protejate la ntrerupere i
la scurtcircuitare ntre spire, bobinajele sunt executate cu conductor de
cupru dublu emailat, cu diametrul de 0,6 mm.
Capacitatea necesar acordului pe frecvena de 2 kHz (C s 2 ) este
obinut cu ajutorul a trei condensatori (C 1 , C 2 i C 3 ), care sunt cuplai
n permanen la bornele extreme ale bobinelor L i L.
Spre a se obine frecvena de rezonan de 1 kHz se folosesc
condensatorii C 4 ~ C 8 care sunt cuplai n paralel la grupul C 1 ~ C 3 prin

bornele B-C; la rndul lor, acetia sunt cuplai prin cablu la contactul de
releu g (fig. 12.8). Toi condensatorii fac parte din c ategoria componentelor de tip profesional, avnd dielectric din mic , pierderi foarte
mici i o tensiune nominal de 500V.
Pentru a se putea mri distana dintre punctul de amplasare a
inductorului i luminosemnalul de circulaie a fost prevzut grupul de
diode D 1 ~ D 4 (identice) , prin care se realizeaz o redresare monoalternan a semnalului de control. Astfel distana inductor luminosemnal
poate crete datorit faptului c atenuarea, n cablul de legtur, este
mai mic (n component continu de ct n component alternativ). i
diodele sunt de tip profesional, cu tensiune nominal invers de 5 kV i
curent nominal direct de 10 A.
Celelalte notaii, care mai apar n schem, sunt:
s 1 ~ s 4 puncte de conexiune prin suduri cu fludor ;
b 1 ~ b 1 9 puncte de conexiune prin born metalic cu filet.
Bornele de interconectare A B C sunt duble pentru a obine o
interconectare fiabil ntre firele interioare cablaj convenional
(clasic) i firele exterioare (capt de cablu).
333
12 - Aplicaii
12.3.2. Condiii generale de calcul

1 Durata medie de interaciune bordsol: t i = 60s (fig. 12.7 - 12.3.1).
2 Intervalul mediu de timp ntre trenuri succesive: T s u c = 10 minute.
3 Solicitri n ambian dur la nivelul solului.
4 Toate evalurile vor fi fcute dup criteriul primei defectri ( 2.1).
5 Se iau n calcul toate defectrile de ordin I ( 8.1).
6 Regimul de funcionare corespunde duratei normale de via a
echipamentului ( 4.3).
7 Sunt neglijabile probabilitile de ntrerupere sau de scurtcirc uitare
ale conexiunilor convenionale din interiorul carcasei de siluminiu
( 4.4.2).
8 Valorile de timp pentru care se va calcula fiabilitatea:
1 zi = 24 ore;
1 lun = 720 ore;
1 trimestru = 2.160 ore;
1 semestru = 4.320 ore;
1 an = 8.640 ore.
9 Indicatorii de fiabilitate pentru care se fac calculele de determinare

sunt:
valoarea medie a timpului de funcionare ntre dou

defectri succesive m
(MTBF);
funcia de fiabilitate R(t);
funcia de nonfiabilitate F(t).
10 Se vor stabili grafurile fiabiliste pe baza crora se calculeaz indicatorii de fiabilitate precizai la pct. 9:
334
fiabilitatea general (clasic);
fiabilitatea funcional la rspunsuri eronate;
fiabilitatea funcional la rspunsuri false.
12.3.3. Fiabilitatea general/clasic

Calculele i analiza rezultatelor se fac, n acest caz, pentru o
evaluare prospectiv, ncadrat ntr-un anumit interval de confiden
(cap. 2 i cap. 3), considerat ca fiind suficient pentru studii fiabiliste
previzionale.
O alt modalitate sigur de rezolvare a evalurii fiabilitii se
obine prin considerarea valorilor maxime ale intensitilor (ratelor) de
defectare. Astfel se realizeaz atestarea fiabilitii: indicatorii fiabiliti
depesc, probabilistic, un nivel minim admisibil ( 1.1.2). Deoarece
inductorul de cale este un echipament de tip profesional, cu mare
rspundere funcional, n determinrile care urmeaz se va utiliza
aceast modalitate.
Dup gradul de complexitate al sistemului n cauz, s-au impus
dou metode: o metod de calcul pentru sisteme complexe prin
evaluri preliminare pe subsistem i o alta pentru sisteme (relativ)
simple prin evaluri directe la nivel de sistem.
Indiferent
de
metoda
aplicat,
sunt
necesare
unele
calcule
pregtitoare, obligatorii, plecnd de la date primare l a nivel de

component i opernd succesiv se ajunge la evaluarea fiabilist de
sistem (nivel macroscopic). Spre a se evita unele omisiuni, ndeosebi la
sistemele complexe, aceste calcule se fac etapizat (n etape principale
sau n etape secundare).
A Calculele la solicitri n microambian ( 4.4.2) sunt, de
regul, laborioase i se refer la caracteristici electrice, statice i
dinamice, la nivel de component.
I n prima etap se stabilete valoarea timpului relativ de
funcionare ( 4.4.2):
335
12 - Aplicaii
T fe
Tre
unde T f e este timpul de funcionare efectiv, iar T este timpul total

considerat.
ntruct, prin enunul temei, se consider c circul, n medie, 6
trenuri ntr-o or, iar durata medie de interaciune (de funcio nare
efectiv) este de 1 minut/tren, rezult:
Tre
6
0 ,1 .
60
Aceast valoare reprezint un coeficient de calcul pentru toate

componentele din schema electric a inductorului de la sol (solicitri
electrice).
II n etapa urmtoare se trece la determinarea coeficientului de
solicitare (k s ), pentru fiecare component n parte ( 4.4.2), n funcie
de gradul de ncrcare prin solicitrile electrice pe care le suport
componenta n cauz. De exemplu, se produc solicitri intense n etajele
de putere (electric): blocuri de electroalimentare, etaje finale, etaje de
ieire etc.
n cazul inductorului de la sol gradul de ncrcare este redus i
toate componentele de acelai tip suport solicitri practic egale.
a Bobinele L i L sunt parcurse, pe durata de interaciune solbord, de un curent electric cu intensitatea efectiv:
I s = 30 mA~.
Conductorul cu care acestea sunt bobinate are diametrul, respectiv
seciunea:
= 0,6mm;
336
0,28mm
Deoarece ncrcarea nominal a unui astfel de conductor este de

2A/mm 2 , rezult c firul bobinelor poate fi parcurs de un curent nominal
I 0 = 560 mA i deci, pentru coeficientul de solicitare al bobinelor,
rezult valoarea:
k sL
Is
30 mA
0 ,054 .
I o 560 mA
b Punctele de sudur cu fludor pot fi considerate c suport o

solicitare electric real tot de 30 mA (ca i bobinele), valoarea
nominal fiind ns cu mult mai mare; n practic aceasta este
considerat ca fiind de 1A (la echipamente de tip profesional). Rezult
un coeficient de solicitare (pentru suduri):
kss
Is
30
0 ,03 .
I o 1000
c Conexiunile prin born metalic cu filet (b; fig. 12.9) sunt

echivalente celor prin wrapare, avnd acelai coeficient de solicitare ca
i conexiunile prin sudur cu fludor:
k s b = 0,03.
d Condensatorii suport solicitri egale, avnd tensiunea
nominal de lucru egal cu 500V~ i o tensiune efectiv la borne de
aproximativ 5V~:
k sC
5V ~
0 ,01 .
500V ~
e Diodele, aparent, au un coeficient de solicitare cu un ordin de

mrime mai mic dect condensatorii:
k sD
5V ~
0 ,001 ,
5 kV ~
dar, la nivel de component singular, ele necesit o echivalare a

solicitrii electrice i, deci, o corecie a factorului k s D .
337
12 - Aplicaii
Dup cum se observ din schema electric (fig. 12.9), acestea se

afl ntr-o structur de redundan permanent: diodele D 1 -D 2 i D 3 -D 4 ,
care sunt corectate cte dou n derivaie, suport solicitri mai mici (la
nivel individual). n aceast privin trebuie reinut c (fig. 12.10):
ID1
ID2
D1
D1.2
I/2
D2
Fig. 12.10
diodele ambelor perechi sunt identice, iar efectul de redundan

se manifest numai prin structurile derivaie;
ambele diode dintr-o anumit pereche suport, la borne, aceeai
tensiune direct, respectiv aceeai tensiune invers;
curentul principal I se divide n mod egal prin curenii I D 1 i I D 2 :
I D 1 = I D 2 = I/2.
Acest fapt conduce la concluzia c solicitarea, numai de natur
electric, pe care o suport fiecare diod (din fiecare dublet) se reduce,
n mod real, la jumtate din intensitatea curentului principal I.
Prin urmare se echivaleaz (ech) valoarea factorului k s (tab. 4.1):
ksDech
ksD 0 ,001
0 ,0005 .
2
2
n acest fel fiecare pereche derivaie, de diode, este echivalent

cu cte o singur diod conectat n serie pe circuitul principal; aceast
echivalen se va reprezenta astfel:
Dech
338
D1.2
D3.4
Spre a nu complica (inutil) notaiile de calcul pentru diode, mai

departe, acestea se vor nota fr indicele ech, subnelegndu-se acest
lucru:
k s D = k s D 1 . 2 = k s D 3 . 4 = 0,0005.
III n aceast etap se stabilesc, tot pe tipuri de componente,
valorile de calcul ale coeficienilor , ale intensitilor (ratelor) de
defectare nominale i ale intensitilor de calcul n funcie de toate
solicitrile electrice suportate.
a n cazul inductorului din cale, dup cum se constat din
valorile coeficienilor de solicitare (cuprinse ntre limitele 0,0005 i
0,054), regimul de solicitare electric este descrcat ( 4.4.2).
Din acest motiv valorile factorului de calcul , pentru fiecare
component n parte, vor fi egale cu cele ale factorului k s :
L = k s L = 0,054 ;
s = k s s = 0,03 ;
b = k s b = 0,03 ;
C = k s C = 0,01;
D = k s D = 0,0005;
b Acum este momentul introducerii valorilor intensitii (ratei)

nominale de defectare pentru fiecare tip de component. Deoarece se
urmrete obinerea valorii previzionale (deduse) pentru atestarea unui
nivel minim al fiabilitii, valorile nominale luate n calcul vor fi cele
maxime ( 4.4.2, tab. 4.3):
Nr. crt. 5:
O L = 0,04510 - 6 h - 1 ;
Nr. crt. 45:
O s = 0,00910 - 6 h - 1 ;
Nr. crt. 19:
O b = 0,00210 - 6 h - 1 ;
Nr. crt. 10:
O C = 0,08110 - 6 h - 1 ;
Nr. crt. 24:
O D = 0,46210 - 6 h - 1 .
Trebuie precizat c acele componente care nu se gsesc exprimate

explicit n tabela 4.3 vor fi echivalate, prin proprieti comune de
fiabilitate, cu componente ale cror valori 0 se gsesc n tabel. n
aceast situaie sunt componentele:
339
12 - Aplicaii
condensatorii
cu
dielectric
din
mic
sunt
echivalai
cu
condensatorii ceramici (nr. crt. 10);

conexiunile prin borne metalice cu urub filetat sunt echivalente
celor prin wrapare (n r.crt. 19).
c Dispunnd de datele pariale, ale fiecrui tip de component, se
trece la determinarea valorilor finale de calcul ale intensitilor (ratelor)
de defectare pentru solicitri electrice:
e i = i T r e o i = 0,1 i o i ,
relaie n care cu i s-a notat variabila de rang. Conform formulei de
calcul rezult:
e L = 0,1 L O L = (0,1x0,054x0,045)10 - 6 h - 1 = 0,000.24310 - 6 h - 1 ;
e s = 0,1 s o s = (0,1x0,03x0,009) 10 - 6 h - 1 = 0,000.02710 - 6 h - 1 ;
e b = 0,1 b o b = (0,1x0,03x0,002) 10 - 6 h - 1 = 0,000.00610 - 6 h - 1 ;
e C = 0,1 C o C = (0,1x0,01x0,081) 10 - 6 h - 1 = 0,000.08110 - 6 h - 1 ;
e D = 0,1 D O D = (0,1x0,0005x0,462) 10 - 6 h - 1 =0,000.02310 - 6 h - 1 .
Pentru o eviden mai bun, nainte de a se trece la calcule pe
subsistem, rezultatele obinute pn acum sunt nregistrate centralizat n
tabela 12.5 (pe tipuri de componente).
Tab. 12.5
ei
[x10 - 6 h - 1 ]
0,000.243
Tipul
componentei
Bobine (L)
0,054
oi
[x10 - 6 h - 1 ]
0,045
Suduri cu fludor (s)
0,03
0,009
0,000.027
Borne cu urub metalic (b)
0,03
0,002
0,000.006
Condensatori (C)
0,01
0,081
0,000.081
Diode (D)
0,0005
0,462
0,000.023
340
B Calculele la solicitri n ambian ( 4.4.3) sunt, relativ, mai

simple fa de cele din microambian deoarece toate componentele
inductorului suport aceleai tipuri de solicitare care, practic, se afl la
acelai nivel.
I Ca i la solicitrile de microambian calculele ncep cu timpul
relativ de solicitare n ambian; dar, spre deosebire de microambian,
unde solicitrile electrice exist numai pe durata de cuplaj sol -bord, aici
exist dou tipuri de solicitri.
a) O solicitare permanent variabil, de natur meteo -climatic,
pentru care Tra 1.
b) O alt solicitare, cu intermitene, de asemen ea variabil, de
natur mecanic, la trecerea trenului: vibraii, oscilaii n plan vertical
etc. Deoarece aceast solicitare exist, practic, pe durata trecerii
locomotivei (la amplitudini maxime), timpul relativ T r a este egal cu cel
din microambian:
Tra Tre 0 ,1.
II Determinarea factorului de ambian se face, de asemenea,

considernd cele dou tipuri de solicitri.
a) Spre deosebire de echipamentele montate n dulapuri, cofrete
etc., inductorul este amplasat la nivelul cii, unde pot exi sta ploi
toreniale, inundaii, zpad ngheat, temperaturi care, vara sub
radiaia solar direct, pot atinge valori ridicate de pn la 85 0 C. Din
cauza acestui climat dur, la nivelul solului, se va lua n calcule
(acoperitor) dublul valorii factorului ( 4.4.3; tab. 4.5):
= 2 2 = 2x16 = 32.
b) Solicitrile de natur mecanic, la trecerea trenului, sunt
inferioare celor care se manifest asupra echiapmentului corespunztor
de bord; n sens acoperitor se consider c la sol, sub tren, aceste
341
12 - Aplicaii
solicitri reprezint 50%, n intensitate, din cele de la bord. Utiliznd

datele din tabela 4.4 - 4.4.3 se obine:
5 = 50;
"
5
2
50
25.
2
III Cea de a treia caracteristic este reprezentat prin asocierea,

n calcule, a intensitii nominale de defectare 0 :
'
'a = Tra 0 = 32 1 0 = 32 0 ;
''
0 = 25 0,1 0 = 2,5 0
'a' = Tra
nsumnd cele dou intensiti de defectare se obine relaia:

a = 'a 'a' = 32 0 + 2,5 0 = 34,5 0 ,
care conduce la relaia general de calcul:
a i = 34,5 o i , unde i este
variabil de rang, iar o i reprezint valoarea intensitii nominale de

defectare ce corespunde componentei de rang i (tab. 12.5).
Prin urmare, pentru cele 5 tipuri de componente, rezult valorile:
a L = 34,5 O L = 34,5 x 0,04510 - 6 h - 1 = 1,55210 - 6 h - 1 ;
a s = 34,5 a s = 34,5 x 0,00910 - 6 h - 1 = 0,31110 - 6 h - 1 ;
a b = 34,5 a b = 34,5 x 0,00210 - 6 h - 1 = 0,06910 - 6 h - 1 ;
a c C = 34,5 O C = 34,5 x 0,08110 - 6 h - 1 = 2,79410 - 6 h - 1 ;
a D = 34,5 O D = 34,5 x 0,46210 - 6 h - 1 = 15,93910 - 6 h - 1 .
C Calculele la solicitri combinate se fac nsumnd valorile (la
fiecare tip de component), obinute n etapele precedente, p entru
solicitri n microambian i pentru solicitri n ambian:
ti = ei + ai.
n aceast relaie t reprezint intensitatea total a de defectrilor,
iar i este variabila de rang n funcie de tipul componentei:
342
t L = e L + a L = (0,000.243+1, 552)10 - 6 h - 1 = 1,552.24310 - 6 h - 1 ;

t s = e s + a s = (0,000.027+0,311)10 - 6 h - 1 = 0,311.02710 - 6 h - 1 ;
t b = e b + a b = (0,000.006+0,069)10 - 6 h - 1 = 0,069.00610 - 6 h - 1 ;
t C = e C + a C = (0,000.081+2,794)10 - 6 h - 1 = 2,794.08110 - 6 h - 1 ;
t D = e D + a D = (0,000.023+15,939)10 - 6 h - 1 = 15,939.02310 - 6 h - 1 .
D S S Metoda de calcul pe subsistem presupune stabilirea, n
prealabil, a grafurilor corespunztoare fiecrui subsistem; dac totui
exist subsisteme de mare complexitate se va recurg e la utilizarea de
fraciune graf a subsistemului, astfel nct s poat fi evitate erorile
prin omisiuni sau prin repetare (pentru unele componente). Aceast
metod este eficient n cazul sistemelor mari, cu grad ridicat de
complexitate, avnd structuri neomogene i o varietate important a
tipurilor de componente.
I n cazul inductorului de cale (fig. 12.9), primul subsistem
abordat n calcul este ansamblul bobinelor de cuplaj sol -bord: bobinele
L - L i punctul de sudur dintre ele s 1 .
Graful de fiabilitate este simplu figura 12.11 a). Intensitatea de
defectare a subsistemului ( 5.1) este:
L = 2 t L + t s = (2 x 1,552.243 + 0,311.027)10 - 6 h - 1 =
3,415.51310 - 6 h - 1 ,
deoarece bobinele sunt identice.

II Urmtorul subsistem este format din condensatorii C 1 - C 2 - C 3
(acord pe frecvena de 2kHz) ca i din bornele de conexiune aferente
(fig. 12.11b):
C 1 .3 = 3 t C + 7 tb = (3x2,79 4.081 + 7x0,069.006)10 - 6 h - 1 =

=8,865.28510 - 6 h - 1 .
343
12 - Aplicaii
i aici, ca i n continuare, componentele identice se grupeaz

pentru calcul.
(i)
a)
(e)
L
s1
(i)
b1
C1
b2
b3
C2
b19
b6
C3
b5
b4
b)
(e)
(i)
b7
C4
b8
b9
C5
b10
c)
b14
C7
b13
b12
C6
b11
(e)
b15
C8
b16
b18
(i)
(e)
s2
D1
D3
s3
D2
s4
d)
b17
D4
(i)
(e)
s2
D1.2
s3
D3.4
s4
b17
e)
Fig. 12.11
III Subsistemul condensatorilor pentru acord la rezonan pe
frecvena de 1 kHz are graful cel mai dezvoltat fig. 12.11c):
C t C + 11 t b )10 - 6 h - 1 = (5x2,794.081 + 11x0,069.006)10 - 6 h - 1 =

=14,729.47110 - 6 h - 1
344
IV Ultimul subsistem, abordat n calcul, este cel al diodelor D 1 ~ 4

cu punctele de sudur s 2 ~ s 4 i borna de conexiune cu exteriorul b 1 7
(fig. 12.11d). Conform transfigurrii efectuate anterior (fig. 12.10),
graful acestui subsistem are structura din figura 12.11e) n care D 1 . 2 i
D 3 . 4 reprezint diodele echivalente avnd, fiecare n parte, intensitatea
de defectare (echivalent):
t D = 15,939.02310 - 6 h - 1 .
Prin urmare, pentru structura serie (transfigurat), rezult u rmtoarea relaie de calcul:
D = (3 t s + t b + 2 t D ) 10 - 6 h - 1 = (3x0,311.027 + 0,069.006 +
+ 215,939.023) 10 - 6 h - 1 = 32,880.13310 - 6 h - 1 .
V Dup efectuarea calculelor pentru toate subsistemele, din
structura sistemului n cauz, se trece la elaborarea grafului de sistem i
la calculul intensitii (ratei) defectrilor pentru ntregul sistem s i s t
(fig. 12.12):
sist
j L C1.3 C4.8
j 1
= (3,415.513 + 8,865.285 + 14,729.471 + 32,880.133) 10 - 6 h - 1 =

=59,890.40210 - 6 h - 1 .
(i)
(e)
L
C1.3
C4.8
Fig. 12.12
D S Metoda de calcul direct pe sistem este eficient n cazurile

sistemelor relativ simple i fr o mare varietate a componentelor
utilizate.
345
12 - Aplicaii
n cazul tratat, al inductorului de cale, avnd puine componente,

calculele vor fi relativ simple; graful corespunztor este reprezentat n
figura 12.13 unde, pentru reducerea dimensiunii desenului, sunt redate
prin linii ntrerupte urmtoarele componente (fig. 12.9):
conexiunile prin borne metalice b 2 ~ b 5 i b 8 ~ b 1 5 ;
condensatorii C 5 - C 6 - C 7 .
(i)
L
s1
s2
C8
D1.2
s3
b1
b6
C4
D3.4
b16
s4
b17
b18
C1
C2
b7
C3
b19
(e)
Fig. 12.13
Succesiunea calculelor ca i rezultatele care se obin sunt concen trate n tabela 12.6, unde s-au notat cu:
n numrul de componente care sunt de acelai tip (practic
identice);
ti
(x10 - 6 h - 1 )
(buc)
Bobine (L)
1,552.243
3,104.486
Suduri cu fludor (s)
0,311.027
1,244.108
Conexiuni metalice (b)
0,069.006
19
1,311.114
Condensatori (C)
2,794.081
22,352.648
Diode (ech D)
15,939.023
31,878.046
Componente
346
Tab. 12.6
k
(x10 - 6 h - 1 )
t i intensitatea (rata) defectrilor ce corespunde fiecrui tip de

component pentru solicitare total (n microambian i n
ambian);
k intensitatea total de defectare ce corespunde grupului de n
componente, practic identice.
Relaiile de calcul, direct pe sistem, sunt:
k n ti
sist k L s b C D
k 1
= (3,104.486 + 1,244.108 + 1,311.114 + 22,352.648 +

+ 31,878.046)10 - 6 h - 1
= 59,890.40210 - 6 h - 1
Trebuie remarcat faptul c rezultatul obinut s i s t , pentru suma

intensitilor de defectare, prin calcul direct pe sistem, este (i trebuie
s fie) egal cu cel de la paragraful precedent (D S S ).
Dac este necesar, se recomand efectuarea calculelor prin ambele
metode (D S S i D S ) pentru a se verifica faptul c nu s -au strecurat erori;
acest calcul dublu este, practic, obligatoriu ndeosebi n cazul sistemelor
mari (complexe) neomogene.
E Calculul indicatorilor de fiabilitate
Media timpului de funcionare ntre defectri succesive (MTBF) :

m sist
sist
1
59 ,890.402 10 - 6 h -1
Funcia de fiabilitate:
16.697 ore 695 zile =23 luni =1,93 ani.
R s i s t (t) = exp.(- s is t t)
R s is t (1zi) = exp( -59,890.402 10 - 6 24) = exp(-0,001.437) = 0,999

R s is t (1 lun) = exp(-59,890.40210 - 6 720) = exp(-0,043.121) = 0,957
R s is t (1trim) = exp(-59,890.40210 - 6 2.160) = exp(-0,129.360) = 0,879
R s is t (1sem) = exp(-59,890.40210 - 6 4.320) = exp(-0,258.720) = 0,773
R s is t (1an) = exp(-59,890.40210 - 6 8.640) = exp(-0,517.450) = 0,596.
347
12 - Aplicaii
Funcia de nonfiabilitate:
F s i s t (t) = 1-exp(- s i s t t)
F s i s t (1zi) = 1-exp(-0,001.437) = 0,001

F s i s t (1 lun) = 1-exp(-0,043.121) = 0,043
F s i s t (1trim) = 1-exp(-0,129.363) = 0,121
F s i s t (1sem) = 1-exp(-0,258.726) = 0,227
F s i s t (1an) = 1-exp(-0,517.453) = 0,404
Pn acum, la inductorul de cale, este de remarcat faptul c solici trile electrice sunt foarte mici fa de cele ale ambianei; explicaia
const n aceea c semnalele electrice au valori mici, iar apariia i
existena lor sunt condiionate de duratele scurte ale cuplajului sol -bord.
12.3.4. Fiabilitatea funcional la rspuns eronat

Cu toate c strile de sistem caracterizate prin rspuns eronat
(necorect) nu au consecine grave n desfurarea proceselor de
circulaie/navigaie ( 1.2), rspunsurile eronate reduc eficiena tehnico economic;
pentru
acest
motiv,
primul
rnd ,
acestea
trebuie
controlate i deci evaluate.

Spre deosebire de fiabilitatea general/clasic ( 12.3.3) a unui
sistem,
care
cuprinde
totalitatea
componentelor
de
echipament,
fiabilitatea la rspuns eronat are un caracter selectiv: din mu limea

componentelor care formeaz un sistem, numai o anumit submulime (a
aceluiai sistem) este implicat n producerea rspunsurilor eronate.
Pentru acest motiv, n cadrul sistemelor neredundante, indicatorii
acestei fiabiliti sunt superiori celor ai fiabilitii clasice (5.1).
De
asemenea,
raport
cu
fiabilitatea
clasic,
fiabilitatea
funcional, prin definire, trebuie s conin informaia referitoare la

funciunile
ndeplinite
de
sistem.
Aceast
condiie
conduce
la
necesitatea realizrii unei analize de discriminare a defectrilor:

afecteaz sau nu afecteaz o anumit funciune a sistemului.
348
Avnd n vedere toate aceste considerente rezult c metoda de

calcul eficient este cea de evaluare pe subsistem ( 12.3.3 D S S ),
evaluare ce implic o analiz complex bazat pe cunoaterea competent a procesului n cauz ca i a echipamentelor care sunt utilizate la
realizarea acestuia.
Pentru a nu se produce unele confuzii la notarea etapelor de
analiz i calcul, n continuare, acestea sunt notate cu caractere ale
alfabetului grec (), fr legtur direct cu notaiile paragrafelor
D S S i D S .
) Pentru inductorul de cale (2.000 / 1.000Hz) se pornete
evaluarea de la cele trei stri ale afiajului la luminosemnalul LS din
cale, de la care se obine informaia necesar pentru controlul automat
discontinuu al vitezei: V verde, G galben, R rou. Aceast
informaie, de tip binar, este injectat n structura inductorului prin
intermediul contactelor de releu v verde i g galben (fig. 12.8).
n tabela 12.7 este redat sintetic analiza rspunsurilor eronate
care se pot produce prin apariia defectrilor de echipament; stabilirea
acestor rspunsuri se face prin comparare cu starea de rspuns corect (
12.3.1 fig.12.9).
Notaiile utilizate n tabel sunt:
V, G, R indicaiile asupra regimului de circulaie afiate prin
luminosemnalul de cale (LS); prin
ncadrare n cte un cerc, n tabel,
se pune n eviden starea corect (de bun funcionare) n sistem;

v, g contacte ale releelor de comand a afiajului la luminosemnalul din cale (conectate printr -un cablu electric special fig. 12.8);
A, B, C bornele inductorului prin intermediul crora se realizea z conectarea la luminosemnal (fig. 12.9);
349
12 - Aplicaii
RE rspuns eronat care se poate produce n urma apariiei unei

defectri (aleatoare) n fiecare din cele trei stri de baz (V, G, R);
1,2 stare fiabilist asociat regimului de circulaie corespunztor
afiajului la luminosemnal.
Tab. 12.7
Afiaj
Contacte
LS
de relee
cale
Borne untate
Rezonan
1) Componente implicate:
L + , L + , b 1 , s 1 , b 2 , b 1 5 , s 2 , s 3 , s 4 , b 1 7 , b 1 9 , b 6
G
1 kHz
C 1 + , C 2 + , C 3 + , b 1 , ..., b 6
C 4 + , ..., C 8 + , b 7 , ..., b 1 6 , b 1 8 , b 1 9 , b 6
R
2 kHz
Tip de
rspuns
corect
RE
Observaii
Fig. 12.9
Fig.
12.6- 12.9
corect
Fig. 12.9
RE
Fig. 12.9
RE
Fig. 12.9
corect
Fig. 12.9
V1) Aceast stare este caracterizat printr-un rspuns eronat

atunci cnd luminosemnalul LS afieaz verde; n prima linie a tabelei
este precizat rspunsul corect (fr defectri) n raport cu care este
definit rspunsul eronat.
Rspunsul necorect eronat poate fi provocat de defectarea
oricrei componente din cele 12 implicate i anume, defectare prin
cretere parametric [+], problem ce a fost tratat anterior:
350
elemente defectabile exclusiv prin cretere parametric ( 7.1.1.)

cum sunt, n acest caz, sudurile cu fludor (s 1 , s 2 , s 3 , s 4 ) i
conexiunile prin borne metalice (b 1 , b 2 , b 1 5 , b 1 7 , b 1 9 , b 6 );
elemente defectabile dominant prin cretere parametric (
7.1.2); din aceast categorie fac parte bobinele L i L .
Pentru a justifica starea de rspuns eronat este necesar o
aprofundare a procesului de cuplaj sol-bord n dou situaii-limit
distincte (fig. 12.14):
a Situaia n care vehiculul motor se afl la distan de
inductorul din cale ( 12.3.1 I):
Lb = LI ;
LbI
Ub
U
b I o. .
X LI L I
Trebuie precizat c, n aceste relaii, L I este valoarea inductanei

proprii a bobinei de bord L b , U b este tensiunea semnalului de control
aplicat la bornele bobinei L b (tensiune care este practic constant), iar
X L I reprezint reactana inductiv a bobinei L b (n situaia a). Deoarece
ntrefierul are, acum, valoarea maxim ma x , inductana proprie L I i
reactana proprie X L I au valori corespunztoare amplitudinii de regim
staionar constant I 0 .
a)
Lb
b)
Ib
Lb
max
Ib
min
Fig. 12.14
b Cealalt situaie limit corespunde cuplajului maxim sol bord, cnd cele dou armturi magnetice (mobil bord i fix sol)
351
12 - Aplicaii
sunt simetric suprapuse n plan vertical (fig. 12.6). ntruct, acum,

nfurarea L s este ntrerupt (efect perfect echivalent cu lipsa ei),
rezult:
Lb = LIII;
I bIII
Ub
Ub
Io .
X LIII L III
Aceast relaie este justificat prin faptul c ntrefierul are, n

acest moment, valoarea minim m i n (egal cu 140 mm spre a se evita o
coliziune ntre cele dou bobine, L b i L s , din cauza oscilaiilor bobinei
de bord, n plan vertical, la deplasarea vehiculului pe linie).
n echipamentul de bord, la plecarea n curs a vehiculului motor,
se verific i / sau se regleaz valoarea de prag I a c t (pentru activarea
frnrii automate) la valoarea:
I a c t = 0,7I 0 .
Cnd amplitudinea semnalului de control I b scade i atinge pragul
I a c t (fig. 12.7 III) un releu electronic rapid cu memorie reine aceast
informaie, declannd i executnd frnarea automat.
Acelai efect, de frnare automat, se produce la defectarea
oricrei componente din circuitul de untare, prin contactul v stabilit,
respectiv prin bornele A - C de conectare la cablul de legtur (cnd
luminosemnalul LS din cale afieaz verde).
G 1) Un alt rspuns eronat se produce dac starea inductorului
corespunde afiajului galben G n cale, iar n schema sa apar defectri
(de asemenea de ordin I - 8.1). Cele 9 componente implicate n acest
rspuns necorect eronat, datorit defectrii prin cretere parametric
[+], anuleaz posibilitatea obinerii rezonanei inductorului pe frecvena
de 1 kHz; prin aceasta, la bord, nu se poate obine informaia corect de
circulaie, astfel c se introduce frnarea automat care nu este necesar
(n acest caz).
352
G 2) Acest rspuns eronat poate fi provocat la defectarea oricrei

componente dintre cele precizate: grupul celor 5 condensatoare (C)
respectiv al conexiunilor prin borne metalice (b). Pentru a se produce
efectul de anulare a realizrii rezonanei pe frecvena de 1 kHz,
defectrile n cauz sunt caracterizate prin cretere parametric [+], iar
starea de sistem, la nivel macroscopic este echivalent celei din cazul
precedent (G 1).
n ultima linie din tabela 12.7 este precizat starea de rspuns
corect atunci cnd afiajul luminosemnalului LS din cale este rou, iar
n structura indicatorului se produce rezonana pe frecvena de 2 kHz:
oprire necondiionat. O alt restricie funcional mai important nu
poate exista.
Este de observat c rspunsurile eronate, n cazul inductorului, pot
s apar prin schimbri de stare n sensul
R,
ceea
ce corespunde proprietilor funcionale de sistem ( 1.2.3).

) n figura 12.15 a) este redat graful corespunztor rspunsului
eronat V 1) pentru care sunt necesare, n calcul, urmtoarele valori ale
datelor primare:
L
0 ,84 ( 6.1; tab. 6.1);
L
t L =1,552.24310 - 6 h - 1 ( 12.3.3);
t b =0,069.00610 - 6 h - 1 (12.3.3);
t s =0,311.02710 - 6 h - 1 ( 12.3.3).
Aceste valori primare sunt identice cu cele ale fiabilitii

generale/clasice, deoarece defectrile de componente sunt cauze ale
solicitrilor, iar rspunsul reprezint efectul defectrilor, indiferent de
caracteristicile solicitrilor.
Pentru structura de fiabilitate neredundant de tip serie corespunde relaia de calcul (pe subsistem):
L 2
L
tL 6 tb 4 ts
L
353
12 - Aplicaii
= (2 0,84 1,552.243 + 6 0,069.006 + 4 0,311.027) 10 - 6 h - 1 =

= 4,265.91210 - 6 h - 1 .
(i)
a)
L+
L+
b1
s1
b2
b15
b6
b19
b17
s4
s3
s2
(e)
(i)
b)
(e)
C1+
C2+
C3+
b1
b6
(i)
c)
(e)
C4+
C8+
b7
b16
b18
(i)
d)
b19
b6
(e)
L+
C1.3+
C4.8+
D1.4
Fig. 12.15
Rspunsul eronat G 1) corespunde cu graful de fiabilitate din
figura 12.15 b) i relaia de calcul cu rezultatul:
C 1.3 3
C
tC 6 tb
C
= (3 0,70 2,794.081 + 6 0,069.006) 10 - 6 h - 1 = 6,281.60610 - 6 h - 1 .

Aici mai apar datele primare:
C
0 ,70
C
( 6.1; tab. 6.1);
t C = 2,794.08110 - 6 h - 1 ,
t b avnd valoarea din cazul precedent.
354
Pentru rspunsul eronat G 2) rezult graful fiabilistic din figura

.12.15c), cruia i corespunde relaia de calcul i rezultatul:
C 4 .8 5
C
tC 13 tb
C
=(5 0,70 2,794.081 + 13 0,069.006) 10 - 6 h - 1 = 10,676.36110 - 6 h - 1 ,

cu datele primare, n cauz, care au aceleai valori ca i n cazurile
precedente.
nainte de a trece la calculul final pentru rspuns eronat pe sistem,
trebuie analizat situaia diodelor D 1 . 4 (fig. 12.9). Prin structura
schemei, dup care sunt conectate, se vede c acestea sunt protejate
dublu: att la creterea parametric [+] ct i la scdere parametric [ -]
(7.2).
Datorit acestei tolerane la defectri, care acoper orice defectare
de ordin I i de ordin II, ca i unele defectri de ordin III, intensitatea
total a defectrii (rate i) acestor diode este nul:
D+ = D
= D+
= D1.4 = 0
Se reamintete condiia c, prin tem la acest studiu de caz, se

consider toate defectrile de ordin I ( 12.3.2).
) n desenul din figura 12.15 d) este expus graful de fiabilitate cu

toate cele 4 grupe de componente (subsisteme) din structura inducto rului. Conform valorilor de calcul obinute pentru subsisteme, n final
pe sistem se determin:
R E = L+ + C 1 . 3 + + C 4 . 8 + + D 1 . 4 =
=(4,265.912 + 6,281.606 + 10,676.361 + 0)10 - 6 h - 1 =21,223.87910 - 6 h - 1 .
Acum se pot calcula valorile principalilor indicatori ai fiabilitii
funcionale la rspuns eronat.
355
12 - Aplicaii
Media timpului de funcionare ntre defectri succesive (MTBF)

la rspuns eronat:
mRE
1
1
47.116 ore 1.963 zile 65luni 5 ,45 ani

RE 21,223.879 10 6 h 1
Funcia de fiabilitate la rspuns eronat:

R R E (t) = exp(- R E t)
RRE(1zi) = exp(-21,223.87910-6 24) = exp(-0,000.509) =0,999.5
RRE(1lun) = exp(-21,223.87910-6 720) = exp(-0,015.281) =0,985
RRE(1trim) = exp(-21,223.87910-6 2.160) = exp(-0,045.843) =0,955
RRE(1sem) = exp(-21,223.87910-6 4.320) = exp(-0,091.687) =0,912
RRE(1an) = exp(-21,223.87910-6 8.640) = exp(-0,183.370) =0,834
Funcia de nonfiabilitate la rspuns eronat:
F R E = 1-exp(- R E t)
FRE(1 zi) = 1-exp(-21,223.87910-6 24) = 1-exp(-0,000.509) = 0,000.5
FRE(1 lun) = 1-exp(-21,223.87910-6 720) = 1-exp(-0,015.281) = 0,015
FRE(1 trim) = 1-exp(-21,223.87910-6 2.160) = 1-exp(-0,045.843) = 0,045
FRE(1 sem) = 1-exp(-21,223.87910-6 4.320) = 1-exp(-0,091.687) = 0,088
FRE(1 an) = 1-exp(-21,223.87910-6 8.640) = 1-exp(-0,183.370) = 0,166
12.3.5. Fiabilitatea funcional la rspuns fals

Aceasta
reprezint
punctul
forte
al
fiabilitii
funcionale:
indicatorii si trebuie s fie mult superiori ( 10.3.3 tab. 10.29) celor

ai fiabilitii funcionale la rspuns eronat i, cu att mai mult, celor
ai fiabilitii generale/clasice.
Prin aceasta se impune ca, atunci cnd orice alt soluie raional
(din punct de vedere funcional, tehnic, economic) nu este posibil, s
se recurg la transformarea rspunsului fals n rspuns eronat ( 1.2.3).
356
Cum nici aceast transformare nu este totdeauna posibil

raional, restul de nonfiabilitate funcional trebuie admis, dar numai la
nivelul cerinelor de proces. Astfel, de exemplu, fia bilitatea la rspuns
fals a sistemului de control automat al vitezei trenului nu va trebui, cu
orice pre, s ating nivelul unui vehicul spaial, cu referire la o
funciune analoag. Cu alte cuvinte fiabilitatea cost i atunci cnd sunt
tratate problemele rspunsului fals (cap. 11).
Avnd n vedere aceste aspecte, rezult c fiabilitatea funcional
la rspuns fals are trei trsturi comune cu cea la rspuns eronat:
este, de asemenea, selectiv dar mai restrictiv;
metoda de calcul, mai eficient, este cea de subsistem;
algoritmul de desfurare a calculului este, n general, identic
dar cu prevederile care se impun.
) n tabela 12.8 este redat structura sinoptic a
analizei
rspunsurilor false posibile n condiiile considerrii tuturor defectrilor

de ordin I (12.3. 2). Notaiile folosite sunt (fig. 12.8 i fig. 12.9):
v, g contacte ale releelor de comand a afiajului la luminosemnalul LS din cale;
A, B, C borne de conectare la cablul electric de legtur cu contactele v i g din echipamentul de luminosemnal LS;
RF stare de rspuns fals la inductor;
L , L bobine de cuplaj sol-bord;
C 1 . 3 condensatori pentru rezonan la frecvena de 2 kHz;
C 4 . 8 condensatori pentru rezonan la 1 kHz (conectai n paralel
cu C 1 . 3 ).
De la nceput trebuie remarcat faptul c, n privina rspunsului
fals, inductorul este expus la defectri prin scdere parametric [ ];
aceasta este o prim deosebire esenial fa de rspunsul eronat (
12.3.4).
357
12 - Aplicaii
Tab. 12.8
Afiaj
Contacte
LS
de relee
cale
corect
Fig. 12.9
1 kHz
corect
Fig. 12.9
RF
Fig. 12.6
RF
Fig. 12.8
RF
Fig. 12.8
Borne untate
1 Componente implicate: L ,
2 Componente implicate C 1 ,
C2 ,
Rezonan
C3
3 Componente implicate: C 4 , ...., C 8

R
2 kHz
Tip de
rspuns
Observaii
corect
Datorit acestui mod de defectare, la limit, se produce un efect de

scurtcircuitare a nfurrii secundare (L s ) a transformatorului echiva lent ( 12.3.1 fig. 12.6).
Acest efect, la bobinele L i L , apare prin strpungerea
izolaiei dintre spire; spre a se diminua acest fenomen, la
confecionarea bobinajelor, este folosit un conductor de
cupru dublu emailat ( 12.3.1);
Condensatorii C 1 . 3 i C 4 . 8 , prin strpungerea dielectricului
dintre armturi, produc acelai efect; spre a se micora
probabilitatea de apariie a unei astfel de defectri sunt
utilizai, la fabricaia inductorului, condensatori cu tensiune
nominal ridicat (500V).
O prim consecin a acestor defectri, la nivel de sistem, este
aceea c , prin creterea intensitii curentului I s , la cuplaj sol-bord (fig.
358
12.6) se produce o cretere corespunztoare a intensitii curentului I b

din inductorul de bord (fig. 12.7 II):
Ib
ma x
> I0 > Iact.
Ori acelai efect se obine (la funcionare valid) dac sunt

stabilite contactul v (afiaj verde la LS), respectiv contactul g (afiaj
galben la LS). n consecin,
pentru starea de afiaj verde la
luminosemnalul LS, la apariia unor astfel de defectri, nu se pot

produce rspunsuri false.
Defectrile (acestor componente) prin cretere parametric [+] nu
pot produce, de asemenea, dect rspuns eronat ( 12.3.4 tab. 12.7),
astfel c sunt excluse la analiza rspunsului fals ( 6.1).
n prima linie a tabelei 12.8 este redat sintetic starea de bun
funcionare (normal, fr defectri) a inductorului, prin care se
confirm concluziile la cele analizate anterior.
G 1) Acest rspuns fals se poate produce, deci, la defectarea
oricreia din cele dou bobine, prin care se realizeaz cuplajul sol-bord
(fig. 12.6).
Celelalte componente (ca, de exemplu, sudura s 1 ) sunt excluse
deoarece, prin defectare, nu pot provoca efectul de scurtcircuitare n
nfurarea secundar a transformatorului echivalent.
Caracterul de rspuns fals const, n acest caz, n faptul c o
informaie cu caracter permisiv limitat (pentru vitez) ce corespunde
afiajului galben la sol, este interpretat la bord ca fiind o informaie
permisiv total, care corespunde unui afiaj verde (la s ol):
G
G 2) Tot un rspuns fals se produce la defectarea, prin clacare, a

oricrui condensator C 1 , C 2 , C 3 (fig. 12.9).
359
12 - Aplicaii
Efectul este anularea oricrei posibiliti de restri cionare a

vitezei (G
V).
G 3) Rspunsul fals , n acest caz, este selectiv deoarece se poate

produce numai atunci cnd contactul g este stabilit (fig. 12.8). i n
aceast situaie se manifest o modificare periculoas a informaiei prin
trecere intempestiv de la vitez limitat (G) la vitez nelimitat (V).
) n diagrama din figura 12.16a) este reprezentat graful cores punztor rspunsului fals G1, pentru calculul cruia sunt necesare
datele:
L
0 ,16
L
( 6.1 tab. 6.1 poz. 5);
t L = 1,552.24310 - 6 h - 1
(i)
a)
b)
(e)
L
(e)
C2
C3
(i)
(e)
C4
d)
(i)
C1
c)
( 12.3.3 C).
C5
C6
C7
(i)
C8
(e)
C1.3
C4.8
D1.4
Fig. 12.16
ntruct datele primare pentru bobine, la nivel mic de semnal, sunt
precizate pentru conductor de cupru cu un singur strat de email, se
impune o corecie prin trecere la dublu strat (de email); aceast corecie
360
prin echivalen (ech) const n reducerea intensitii de defectare prin

scdere parametric [ ] la 50%:
L
1
( ech ) 0 ,16 0 ,08.
L
2
Prin urmare, pentru subsistemul celor dou bobine identice L ' i
L' ' rezult relaia de calcul,
L 2
L
( ech ) tL ,
L
sau introducnd valorile corespunztoare:

L = (2 0,08 1,552.243)10 - 6 h - 1 = 0,248.35010 - 6 h - 1 .
Rspunsul fals G 2) are graful fiabilistic din figura 12.16 b),
fiind necesare datele celor trei condensatori (identici):
C
0 ,30 ;
C
t C = 2,794.08110 - 6 h - 1 .
Relaia de calcul i efectuarea acestuia conduce la rezultatul:

C1.3 3
C
tC ;
C
C 1 . 3 = (3 0,30 2,794.081)10 - 6 h - 1 = 2,514.67310 - 6 h - 1

Aceleai date primare de calcul sunt necesare i n cazul
rspunsului fals G 3), acesta diferind de cel anterior prin numrul de
condensatori identici (fig. 12.16c):
C 4 .8 5
C
tC ;
C
C 4 . 8 = (5 0,30 2,794.081)10 - 6 h - 1 = 4,191.12110 - 6 h - 1 .

Ca i n cazul rspunsului eronat, tolerana la defectri [+,] a
diodelor D 1 . 4 se menine: D 1 . 4 = 0.
361
12 - Aplicaii
) Graful fiabilistic din fig. 12.16d) reprezint structura de calcul

pentru indicatorii precizai n tem; acest graf conduce la relaia
urmtoare, cu rezultatul:
RF = L + C1.3 + C4.8 + D1.4 =
= (0 ,248.350 + 2,514.673 + 4,191.121 + 0)10 - 6 h - 1 = 6,954.14410 - 6 h - 1 .
Avnd n analiz i calcul o structur de sistem simpl (2 bobine i
8 condensatoare identice), numai n aceast situaie, se poate aplica
metoda de calcul direct pe sistem ( 12.3.3 D S ). Dup graful
corespunztor reprodus n figura 12.17 se obine relaia general de
calcul:
RF 2
L
( ech ) tL 8 C tC .
L
C
Introducnd valorile adecvate se obine (la al doilea calcul):

R F = (2 0,08 1,552.243 + 8 0,30 2,794.081)10 - 6 h - 1 =
= 6,954.14410 - 6 h - 1 ,
confirmnd astfel c nu s-au produs erori de calcul.
(i)
(e)
L1
L2
C1
C2
C3
C4
C8
Fig. 12.17
Cu valoarea intensitii (ratei) defectrilor R F , pentru ntregul
inductor, se poate trece la calculul principalilor indicatori ai fiabilitii
funcionale la rspuns fals.
Media timpului de funcionare ntre defectri succesive
(MTBF) la rspuns fals:
362
mRF
RF
1
143.799 ore = 5.991 zile = 199 luni = 16,6 ani.
6 ,954.144 10 6 h 1
Funcia de fiabilitate la rspuns fals:

R R F (t) = exp ( - R F t);
RRF(1zi) = exp(-6,954.144 10-6 24) = exp(-0,000.167) = 0,999.866;
RRF(1lun) = exp(-6,954.144 10-6 720) = exp(-0,005.007) = 0,995.011;
RRF(1trim) = exp(-6,954.144 10-6 2.160) = exp(-0,015.020 = 0,985.101;
RRF(1 sem) = exp(-6,954.144 10-6 4.320) = exp(-0,030.041) = 0,970.441;
RRF(1an) = exp(-6,954.144x10-6 8.640) = exp(-0,060.083) = 0,941.763.
Funcia de nonfiabilitate la rspuns fals:
F R F = 1- exp (- R F t);
FRF(1 zi) = 1-exp(-6,954.14410-6 24) = 1-exp(-0,000.167) = 0,000.134;
FRF(1 lun) = 1-exp(-6,954.14410-6 720) = 1-exp(-0,005.007) = 0,004.989;
FRF(1 trim) =1 -exp(-6,954.14410-6 2.160) = 1-exp(-0,015.020) = 0,014.899;
FRF(1 sem) = 1-exp(-6,954.14410-6 4.320) = 1-exp(-0,030.041) = 0,029.559;
FRF(1 an) = 1-exp(-6,954.14410-6 8.640) = 1-exp(-0,060.083) = 0,058.237.
12.3.6. Unele elemente de defectologie fiabilist

Plecnd de la aspectele importante analizate n manual, pn acum,
rezult necesitatea mbinrii unei activiti practice, de fenomen fizic,
cu o activitate de factur teoretic bazat pe model matematic;
armonizarea i mbinarea cu ingeniozitate inginereasc a acestor dou
laturi conduce la obinerea unor bune sau foarte bune rezultate.
Avnd la baz studiul uzurii i al defectrii, ca i consecinele
funcionale ale acestora, inginerul de proces hardware (specializat) are
posibilitatea de a obine un rezultat previzional corect asupra compor 363
12 - Aplicaii
trii unui anumit echipament, pe o durat oarecare, mai mult sau mai
puin ndelungat.
Aceast previziune tehnic, ce se poate realiza n domeniul
ingineriei electronice, poate fi obinut prin defectologie fiabilist,
noiune neleas ca reprezentnd o analiz tehnico -tinific aplicat n
fiabilitatea funcional cu referire, n aceast lucrare, la procesele de
circulaie / navigaie.
Algoritmul de analiz a acestei cauzaliti complexe, ca relaie
funcional ntre cauz i efect, cuprinde (cu necesitate) urmtoarele
etape: component solicitare uzur defectare rspuns funcional
la nivel de macrosistem ( 10.2 fig. 10.2). Aceste etape au fost
parcurse la determinarea:
fiabilitii generale/clasice ( 12.3.3),
fiabilitii funcionale la rspuns eronat ( 12.3.4),
fiabilitii funcionale la rspuns fals ( 12.3.5),
etape care, la rndul lor, au desfurare bazat pe studiile teoretice i
practice, parcurse anterior n cadrul lucrrii.
Rezultatele obinute sunt concentrate n tabela 12.9, unde s -au
notat cu:
R(t), F(t) funcia de fiabilitate respectiv de nonfiabilitate;
R s i s t , R R E , R R F funcia de fiabilitate general/clasic, la rspuns
eronat respectiv la rspuns fals;
F s i s t , F R E , F R F funcia de nonfiabilitate general/clasic, la rs puns eronat respectiv la rspuns fals;
m(MTBF) media timpului de funcionare ntre defectri succesive.
Valorile din tabel, sub aspect analitic, pun n eviden unele
rapoarte ale nivelului de fiabilitate atins, ca de exemplu:
364
RRF
0 ,941.763
( 1an )
1,58 ;
Rsist
0 ,596
mRF 16 ,6
8 ,60 .
msist . 1,93
Tab. 12.9
Indicator
Rsist
RRE
RRF
zi
0,999
0,999.5
0,999.866
lun
0,957
0,985
0,995.011
trim.
0,879
0,955
0,985.101
sem.
0,773
0,912
0,970.441
an
0,596
0,834
0,941.763
Fsist.
FRE
FRF
zi
0,001
0,000.5
0,000.134
lun
0,043
0,015
0,004.989
trim.
0,121
0,045
0,014.899
sem.
0,227
0,088
0,029.559
an
0,404
0,166
0,058.237
m MTBF (ani)
1,93
5,45
16,6
timp
R(t)
Indicator
timp
F(t)
Concluzii directe, mult mai cuprinztoare, se desprind dac se

reprezint grafic datele respective pentru func ia de fiabilitate n relaie
cu duratele standard ale timpului (fig. 12.18):
- zi (24h)
- lun (720h)
- trimestru (2.160h)
- semestru (4.320h)
- an (8.640h)
Din motive de spaiu al reprezentrii pe orizontal, abscisa este
marcat la scar ptratic
t( h ) ; prin aceasta alura curbelor trasate este
365
12 - Aplicaii
modificat, fr ns a afecta valorile parametrice nscrise ca i

variaiile lor:
R s i s t = f ( t ),
R R E = f ( t ),
R R F = f ( t ).
R(t)
1.0
RRF
0.9
RRE
0.8
0.7
0.6
Rsist
0.5
Zi
Lun
Trim.
Sem.
An
0.4
0.3
0.2
0.1
t( h )
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
Fig. 12.18
Fr a intra n detalii, care dei au importana lor, din aceast
diagram se poate concluziona c, mai ales, nivelul de fiabilitate la
rspuns fals (protecie) este insuficient ( 10.3).
366
Ca n orice elaborare de sistem tehnic (nainte de fabricare,

montare etc.) i n cazul inductorului de cale se pot face ameliorri ale
fiabilitii funcionale; principalele ci de realizare sunt expuse n
continuare.
Modificarea structurilor fiabiliste permite utilizarea mai eficient a
proprietilor modului de defectare; astfel se pot limita i mai multe
efecte nefaste ale defectrilor ( 6.2 fig. 6.3).
Creterea redundanei, ndeosebi, prin mrirea ordinului defectrii;
eliminarea
defectrilor
de
ordin
inferior
permite
creterea
substanial a fiabilitii funcionale (cap.8).

Utilizarea unor tehnici specifice de realizare a funciun ilor de
protecie (cap. 9).
Introducerea unor componente foarte fiabile n structuri electrice
simple ca, de exemplu, logica de tip cablat (cap. 10).
Un alt aspect, care nu este deloc neglijabil, este cel al mentenanei
pe toat durata de via a echipamentului. Pe baza valorilor indicatori lor
de fiabilitate pentru durate standard de timp (zi, lun etc.) este necesar
s se prevad un regim optim de revizii i reparaii prin care s se
asigure nivelul minim obligatoriu de fiabilitate funcional, cu costuri
economice raionale, n direct legtur cu gradul de mare rspundere
funcional al sistemului n cauz.
367
13 Notaii, abrevieri i simboluri grafice utilizate
Capitolul 13
Notaii, abrevieri i
simboluri grafice utilizate
13.1. Notaii i abrevieri

13.1.1 Caractere n alfabet latin
A
A aerian, amplificare, amplificator, amplitudine, rspuns admisibil
(funcional), unitate
alb de afiaj.
A/D analog / digital

Ac acumulator (electric)
Af afiaj
Av avertizor
a ambian , coeficient de asemnare (funcional)
ac acumulare, mrime acumulat
ac acionat, de acionare
ad admisibil, valoare admisibil
a d apariia defectrii
am amorsare, de amorsare
aux auxiliar
B
B band de frecven, baterie electric, bobin , buton (electric),

inducie magnetic
368
BL sector de bloc de linie automat

b born electric
bl blocare, de blocare
C
C capacitate electric, circuit electric, comparator logic, componente de echipament,
condensator (electric), cost (n general)
CHD ciclu histerezis dreptunghiular

CM cmp magnetic
C S C circuit de supraveghere i comutaie
Cd mrime (semnal) de comand
Ch cheie pentru contact electric, cheltuieli, costuri
C i cost de implementare
Cm element de comutaie, comutator
C m cost al mentenanei
C s interval de confiden (ncredere) pentru solicitri
Ct mrime (semnal) de control
C t cost total
c conexiune, cuplaj, de cuplaj, element comun, mrime comun
ca curent alternativ (electric)
cc curent continuu (electric)
D diod, dispersia timpului de funcionare, disponibilitate funcio nal, structur derivaie de fiabilitate (redundant ).
D/A digital / analog
DS structur de fiabilitate derivaie- serie
369
Df date de fiabilitate
Dr drosel (bobin) de filtrare
d conexiune derivaie (paralel ), date, defectare, diferenial , semnal
de date
din dinamic
dir direct, mrime direct
E
E element (circuit) de ieire, emitor, rspuns eronat, tensiune

electric constant
EA electroalimentare
E a tensiune de alimentare (constant)
Ech echipament
Ef eficien, produsul ponderat al performanelor funcionale
E o tensiune de referin
E p tensiune de polarizare
Ex element ( semnal, subansamblu) de execuie
e coeficient de rspuns eronat, energie, eroare uman, estimat,
ieire , mrime de ieire, tensiune electromotoare variabil
ec economic
ech echivalent
ef efectiv, valoare efectiv
el electric
e v ieire de verificare
ext exterior
F
F feroviar, funcie matematic compus, funciune, rspuns fals

FE funciune esenial
370
F R E (t) funcia de nonfiabilitate la rspuns eronat

F R F (t) funcia de nonfiabilitate la rspuns fals
F S fiabilitate de sistem
FT fototranzistor
FTB filtru trece band
F(t) funcia de repartiie a timpului de funcionare (funcia de non fiabilitate, probabilitatea de defectare)
F + (t) funcia de nonfiabilitate pentru defectri prin cretere
parametric
F (t) funcia de nonfiabilitate pentru defectri prin scdere
parametric
F * (t) funcia statistic de nonfiabilitate
f coeficient de rspuns fals, frecven, funcional
f i frecvena de repetiie a impulsurilor
f m frecvena semnalului modulator
f o frecven central, frecven de referin
f p frecvena semnalului purttor
f (t) densitatea de probabilitate a timpului de funcio nare (frecvena
de repartiie a defectrilor)
f + (t) frecvena de repartiie a defectrilor prin cretere parametric
f
(t) frecvena de repartiie a defectrilor prin scdere parametric
f * (t) frecvena statistic de apariie a defectrilor

G
G generator de semnal, unitate galben de afiaj

g grad de complexitate (al unui sistem sau echipament)
H
H histerezis, intensitatea cmpului magnetic
371

I
I cantitate de informaie, element (circuit) de intrare, importan

funcional, instrument de msurare, intensitatea curentului
electric, rspuns ideal (funcional)
ILS Instruments Landing System (Aterizare dup instrumente)
IT nalt tensiune
I a curent de alimentare (electric)
I e intensitatea curentului de ieire
I i intensitatea curentului de intrare
I o curent de repaus, curent electric nominal
i curent electric variabil, impuls, intrare, mrime de intrare,
variabil de rang
id caracteristic ideal, ideal, mrime ideal
int de interior, interior, intern
J
j variabil de rang
K
K comutator, contactor (electric), contor, funcie de transfer

funcional, ntreruptor
k coeficient , constant, contact electric, de contact, factor,
variabil de rang
k D factor de disponibilitate
k s coeficient de solicitare
L
L bobin, inductan, nfurare (electric), lamp cu

incandescen, linie de transmisie
372
LS luminosemnal (dispozitiv pentru semnalizare luminoas)

L c nfurare (bobin) de cuplaj
L e nfurare (bobin) de ieire
L i nfurare (bobin) de intrare
L p nfurare primar
L s nfurare secundar
l variabil de rang
lim de limitare, limitor
M
M maxim, memorie, numr constant, numr oarecare (major),

valoare maxim
MTBF Mean Time Between Failures / valoarea medie a timpului de
funcionare ntre dou defectri succesive, dac repararea poate fi
asimilat cu nlocuirea.
MTFF Mean Time to First Failure /valoarea medie a timpului de
funcionare pn la prima defectare, n cazul elementelor
reparabile.
MTTF Mean Time To Failure / valoarea medie a timpului de
funcionare pn la prima defectare, n cazul elementelor nereparabile.
Mf model de fiabilitate, modul funcional
Mv multivibrator (circuit basculant astabil)
m materiale, media timpului de funcionare, mentenan, minim,
numr oarecare (minor), numr variabil, valoare mini m
m R E media timpului de funcionare la rspuns eronat
m R F media timpului de funcionare la rspuns fals
max maxim, valoare maxim
med mediu, valoare medie
373
min minim, valoare minim

m + media timpului de funcionare pentru defectri prin cre tere
parametric
m media timpului de funcionare pentru defectri prin scdere
paramentric
*
m media statistic a timpului de funcionare

N
N naval, numr oarecare (major)

NMR-N Modular Redundancy / redundan cu N module
NU circuit logic de negare
n indice de rang, numr oarecare (minor), numr variabil
n + numrul componentelor defectate prin cretere parametric
n numrul componentelor defectate prin scdere parametric
O
O operare uman, operator, oscilator

o de referin, de rezonan, nominal, rezidual, unitar, valoare
ideal, valoare iniial, valoare medie
op operaional
opt optim, valoare optim
P
P probabilitate, procesor, punte (electric), rspuns perfect

(funcional), unitate de procesare
P L poart logic
PR punte redresoare
Pr element de protecie
P(t) probabilitate de bun funcionare
374
p mrime perturbatoare, paramentru funcional, permanent,

perturbaie, primar (element, semnal), valoare de prag
pr de protecie, protecie
Q
Q(t) probabilitate de defectare

R
R rspuns funcional, receptor, releu, rezisten electric constant,

rezistor, rutier, unitate rou de afiaj
R D (t) funcia de fiabilitate a unei structuri fiabiliste derivaie
RE rspuns eronat, reea electric
RF rspuns fals
R R E (t) funcia de fiabilitate la rspunsuri eronate
R R F (t) funcia de fiabilitate la rspunsuri false
R S (t) funcia de fiabilitate a unei structuri serie
R b unitate rou de afiaj - baz
Red redresor
R k rspuns corect ( fu ncional)
R r unitate rou de afiaj rezerv
R s rezisten de sarcin (electric)
R(t) funcia de fiabilitate (probabilitatea de bun funcionare)
R + (t) funcia de fiabilitate pentru defectri prin cretere parametric
R (t) funcia de fiabilitate pentru defectri prin scdere
parametric
R * (t) echivalentul statistic al probabilitii de funcionare (funciei
de fiabilitate)
r caracteristic real, de rezerv, mrime (semnal) de reacie, real,
reparare, reparaie, rezerv, rezisten electric variabil,
rezisten instantanee la defectare
375
rev revenire (dezexcitare), revenit

rez de rezerv, rezerv
S semnal (oarecare ), siguran fuzibil, sistem te hnic, spaial,

structur serie de fiabilitate
(neredundant )
SAU circuit logic de nsumare

SD structur de fiabilitate serie - derivaie
SG separare galvanic
I circuit logic de coinciden
SL structur logic
SR Standby Redundancy / redundan n ateptare / rezervare pasiv
sau semiactiv
SS subsistem (tehnic)
SSD subsistem de decizie
SSP subsistem de protecie (supraveghere)
SSV subsistem de verificare (control)
STOP ncetinire sau blocare n desfurarea procesului de aplicaie
S m semnal modulator
S p semnal purttor
Sz de semnalizare, semnalizare
s conectare prin sudur cu fludor, de sarcin, sarcin, secundar
(element, semnal), semnal logic de blocare (STOP), serial, serie,
solicitare, spaiu
sat de saturaie, saturat, saturaie
st static
str de strpungere, strpungere (electric)
T
T durat, interval de timp, perioad (ciclu), toleran, transistor

T E x durat de execuie (funcional)
376
TMR Triple Modular Redundancy / redundan modular tripl

TTL tranzistor - tranzistor - logic
T d durat de via
T i perioad de repetiie a impulsurilor
Tr transformator (electric)
T r timp relativ de funcionare
Tr e transformator de ieire
T t durat de temporizare, durat total
t timp variabil, total, valoare total
t F cuantila timpului de funcionare
t d momentul defectrii
t i durata impulsului
t p durata pauzei dintre dou impulsuri consecutive
U
U tensiune electric constant, unitate de calcul, unitate funcional

U b tensiune la borne
U e tensiunea semnalului de ieire
U i tensiunea semnalului de intrare
U o tensiune de prag, tensiune nominal
u tensiune electric variabil, util, utilizare
V stare valid (fr defectri) a unui sistem (subsistem , component), tensiune electric constant, unitate verde de afiaj, vehicul,
voltmetru
V stare nevalid (cu defectri) a un ui sistem (subsistem,
component)
377
v semnal de verificare, tensiune electric variabil, vitez, vitez

instantanee, vitez variabil
W
W energie, funcie logic de lucru

X
X reactan
x mrime variabil, variabil de intrare, variabil logic
Y
y mrime variabil, variabil de ieire, variabil logic

Z
z(t) rata (intensitatea) de defectare

z + (t) intensitatea (rata) defectrilor prin cretere parametric
z (t) intensitatea (rata) defectrilor prin scdere parametric
z * (t) rata (intensitatea) statistic de defectare.
13.1.2 Caractere n alfabet grec

A,
atenuare, coeficient de solicitare electric (n microambian),

parametru funcional, unghi
B,
coeficientul de solicitare n ambian, parametru funcional, unghi

378

,
parametru funcional, unghi

,
f deviaie de frecven
p abatere parametric funcional
t interval de timp (repetitiv sau nerepetitiv), unitate de timp
parametru funcional
E,
baza logaritmilor naturali, eroare

H,
eficien, randament
f eficien fiabilist
,
element (dispozitiv) de supraveghere i comutare

,
suma intensitilor (ratelor ) de defectare la structuri fiabiliste

neredundante
s intensitatea echivalent de defectare a unei structuri fiabiliste
de tip serie
valoare constant a ratei (intensitii) de defectare
a intensitate (constant) de defectare datorit solicitrilor din
ambian
379
e intensitate (constan t) de defectare datorit solicitrilor e lectrice

(n microambian)
o intensitate (rat) nominal a defectrilor (constant)
+ intensitate (rat) constant a defectrilor prin cretere
parametric
intensitate (rat) constant a defect rilor prin scdere
parametric
,
sum, nsumare
abaterea medie ptratic a timpului de funcionare
constant de timp
faz, unghi
flux, tensor de stare
380
13.2. Simboluri grafice

1
born funcional (de intrare, ieire)
circuit logic NU / de negare
circuit logic SAU / de nsumare
circuit logic I / de coinciden
condensator cu 4 borne
conectare la mas, respectiv la pmnt
[+], [ ]
cretere, respectiv scdere parametric
element de reglaj continuu, respectiv n trepte
fi / conector
10
impuls triunghiular exponenial de polaritate

pozitiv, respectiv negativ
11
inversor de impulsuri n polaritate
12
nsumarea (suprapunerea) efectelor
13
relaie de echivalen ntre mrimi fizice, parametri,

componente sau structuri
14
rezistor cu 4 borne
15
schimbarea strii funcionale de sistem la nivel

macroscopic
16
siguran fuzibil
stare activ, respectiv pasiv a unui element de
comutaie
17
18
unitate de semnalizare cu lumin alb, respectiv

cromatic (de culoare C)
381
14. Bibliografie
( n
ordine alfabetic )
Alexandrescu, C.M.
Boicu, I.
Pascu, V.
Sisteme de comand centralizat a circulaiei. Centrul de Documentare

i Publicaii Tehnice MTTc, Bucureti, 1973
Alexandrescu, C.M.
Farini, D.
Bdescu, I.
Posibiliti de realizare a unui sistem de teletransmisie cu fiabilitate

funcional ridicat pentru instalaia de B.L.A. Buletin informativ al
Oficiului de Informare Documentar pentru Transporturi i
Telecomunicaii, nr. 2/1987, p. 37-45
Alexandrescu, C.M.
Bdescu, I.
Sistem automat de semnalizare rutier cu fiabilitate funcional ridicat

cu microcalculator MISAF-80. Buletinul tiinific al Asociaiei
Oamenilor de tiin de pe lng Academia Romn, secia Sisteme
Generale, nr. 1/1988, p. 17-25
Alexandrescu, C.M.
Farini, D.
Bdescu, I.
Protecia informaiei prin codare polinomial - ciclic n sisteme de

telecomand pentru traficul feroviar. Revista Cilor Ferate Romne nr.
3/1993, p.25-29
Alexandrescu, C.M.
Semnale, circuite i sisteme. Universitatea Politehnica Bucureti, 2002
Alexandrescu, C.M.
Farini, D.
Bdescu, I.
Control of Road and Railway Transport with Systems base on Mind

Microcomputer. Buletinul Universitii Politehnica din Bucureti, 1995
Aron, I.
i alii
Sisteme de navigaie aerospaial. Editura Scrisul Romnesc, Craiova,

1988
Bdescu,I.
Alexandrescu, C.M.
Automat de semnalizare rutier cu microprocesor, cu nalt fiabilitate

funcional. Conferina Naional de Electronic, Telecomunicaii,
Automatic i Calculatoare, Bucureti, 1986, Vol. CNETAC, p.305311.
Bdescu, I.
Microprocesoare. Editura Printech, Bucureti, 2002
Bazovsky, I.
Fiabilit. Thorie et pratique de la sret de fonctionnement. Dunod,

Paris, 1996
Boicu, I.
Fiabilitate funcional n transporturi, curs. Universitatea Politehnica

Bucureti, 2008
382

Boicu, I.
Model boolean de analiz a toleranei de defectri pentru sisteme

tehnice cu fiabilitate funcional ridicat. Revista inginerilor de
automobile, nr.1, 1999
Boicu, I.
Stnciulescu, S.
Stan, A.I.
Unele aspecte ale analizei fiabilitii funcionale la instalaiile de

centralizare electrodinamic. Conferina Naional de Electronic,
Telecomunicaii, Automatic i Calculatoare, Bucureti, 1984
Boicu, I.
Evaluarea influenei abaterilor parametrice asupra

funcionale. Revista inginerilor de automobile, nr.5/1997
Boicu, I.
i alii
Dictionary of standardized electrotechnical terminology / Dicionarul

terminologiei electrotehnice standardizate. Editura tehnic, Bucureti,
1996
Boicu, I.
i alii
Analiza fiabilitii funcionale a instalaiei de frnare la autoturismul

Dacia 1300. Revista inginerulului de automobile, nr. 4-5/1992 i nr.
1/1993
Boicu, I.
Stoian, Z.
Aproximarea funciei de fiabilitate pentru structuri redundante utiliznd

metoda elementului finit. Buletinul tehnic al Registrului Naval Romn,
nr. 2/1989
Boicu, I.
Sisteme de reglare a circulaiei. Universitatea Politehnica Bucureti,

1982
Boicu, I.
Despre probabilitatea de bun funcionare a sistemelor radioelectronice

cu mare rspundere funcional. Revista Telecomunicaii, nr. 9/1967
Boicu, I.
On the operational reliability of remote control systems. Conference on

synthesis and analysis of the man-machine system, Sofia, 1971
Boicu, I.
i alii
Fiabilitatea, securitatea tehnic i eficiena economic a blocului de

linie automat cu transmiterea informaiei fr circuite fizice. Revista
Cilor Ferate, nr. 7/1970
Boicu, I.
Dispozitiv electronic automat de semnalizare i avertizare. Brevet de

invenie, nr. 67.377/1974
Boicu, I.
Bloc de linie automat i instalaii speciale. Editura Didactic i

Pedagogic, Bucureti, 1965
Boicu, I.
i alii
Eclipsor electronic de tip maritim. Cercetri n tehnologie electronic i

fiabilitate. Editura Didactic i Pedagogic, Bucureti, 1979
Boicu, I.
Stan, A.
Electroalimentare. Universitatea Politehnica Bucureti,

1977
Boicu, I.
Despre influena tipului de defectare asupra probabilitii de bun

funcionare a aparaturii electronice. Revista Telecomunicaii, nr.
8/1967
fiabilitii
prile I-II,
383

Boicu, I.
Analiza fiabilitii funcionale a sistemelor electronice de comand.

Tez de doctorat, Universitatea Politehnica Bucureti, 1970
Boicu, I.
Cu privire la modul de defectare a elementelor componente utilizate n

echipamente electronice i de telecomunicaii. Revista Telecomunicaii,
nr. 5-6/ 1969
Boicu, I.
Unele aspecte teoretice ale analizei fiabilitii funcionale. A II-a

Conferin a electricienilor, Bucureti, 23-26.09.1969
Boicu, I.
Stoian, Z.
Metode de determinare a parametrilor de fiabilitate cu controlul

preciziei de calcul. Conferina Naional de Electronic,
Telecomunicaii, Automatic i Calculatoare, Bucureti, noiembrie,
1986
Boicu, I.
Neme, C.
Teleavertizor. Brevet de invenie, nr. 74.654/1978
Boicu, I.
Stoian, Z.
Determinarea funciei de fiabilitate cu eroare controlat n cazul

structurilor derivaie. Revista Telecomunicaii, nr. 6/1990
Buciuman, I.
Siguran i securitate la cile ferate. Jurnal feroviar, nr. 7/2003
Clin, S.
i alii
Automatizri i protecie prin relee. Editura Didactic i Pedagogic,

Bucureti, 1977
Ctuneanu, V.M.
Mihalache, A.
Bazele teoretice ale fiabilitii. Editura Academiei Romne, Bucureti,

1983
Ctuneanu, V.M.
Bacivarof, A.
Structuri electronice de nalt fiabilitate. Editura Militar, Bucureti,

1989
Ctuneanu, V.M.
Popeniu, F.
Optimizarea fiabilitii sistemelor.

Bucureti, 1989
Contensou, J.N.
Picot, Y.
Systemes: sret de fonctionnement et scurit. Revue franaise

d`informatique et de recherche oprationnelle, nr. 9/1968
Coteanu, I.
i alii
Dicionarul explicativ al limbii romne. Ediia a II-a. Editura Univers

Enciclopedic, Bucureti, 1996
Dragomirescu , M.
i alii
Construcia i fiabilitatea aparaturii radiotehnice. Partea a II-a.

Fiabilitate, Universitatea Politehnica Bucureti, 1977
Drujinin, G.V.
Sigurana n funcionare a sistemelor. Editura Tehnic, Bucureti, 1968
Dru, Gh.
Radiodirijarea. Editura tehnic, Bucureti, 1987
Gnedenko, B.V.
Beleaev, I.K.
Soloviev, A.D.
Metode matematice n teoria siguranei. Editura tehnic, Bucureti,

1968
384
Editura Academiei Romne,

Godza, G.
Contribuii la elaborarea sistemelor distribuite tolerante la defecte.

Tez de doctorat, Universitatea Politehnica Bucureti, 2006
Haviland, R.P.
Techniques de fiabilit et dure de vie des quipements. Eyrolles, Paris,

1966
Hayward, R.H.
Reliability predictions. Assessment of failure rate leads to system

security. Electrical times, nr. 5/1968
Hladiuc, E.
Popescu, A.V.
Navigaie aerian. Editura Junimea, Iai, 1977
Hoyland, A.
Rausand, M.
System reliability theory: models and statistical methods. Wiley, New

York, 1994
Ionescu, T.
Asupra fiabilitii echipamentelor de automatizare feroviar tratat pe

baza datelor de exploatare. Revista Cilor Ferate, nr. 2/1972
Ionescu, T.
Fiabilitatea circuitelor de cale. Revista Cilor Ferate, nr. 4/1971
Isaic Maniu, Al.

i alii
Fiabilitate ans i risc. Bucureti, Editura Tehnic, 1986
Jireghie, C.
Danci, T.
Semaforizarea interseciilor stradale. Editura Tehnic, Bucureti, 1987
Koppehele, F.
Erhhung der Zuverlssigkeit von Nachrichtenanlagen

Redundanz. Nachrichtentechnische Zeitschrift, nr. 4/1964
Lzroiu, D.F.
i alii
Fiabilitatea sistemelor. Teorie i proiectare. Universitatea Politehnica

Bucureti, 1982
Lorin, P.
Le train grande vitesse. Fernand Nathan - SNCF, Paris, 1981
Martens, H.
Zuverlssigkeit im Eisenbahnsicherungswesen. Der Fernmelde

Praktiker, nr. 11/1966
Mihoc, Gh.
i alii
Bazele matematice ale teoriei fiabilitii. Editura Dacia, Cluj-Napoca,

1976
Minea, M.
Tehnologia i fiabilitatea echipamentelor. Indrumar pentru activiti de

laborator. Universitatea Politehnica, Bucuresti, 1997
Momete, C.T.
Simion, G.
Inductor de cale RS 80.883 SF184. Electromagnetica, Bucureti, 2001
Pankaj, J.
Fault tolerance in distributed systems. Prentice Hall Inc., 1994
Sinha, S.K.
Kale, B.K.
Life testing and reliability estimation. New Delhi, Wiley Eastern

Limited, 1979
Stan, A.I.
Boicu, I.
Sisteme de reglare a circulaiei. ndrumar de laborator i culegere de

probleme. Universitatea Politehnica Bucureti, 1984
durch
385

Stan, A.I.
David, S.
Centralizri electrodinamice i bloc de linie automat. Editura Didactic

i Pedagogic, Bucureti, vol. 1/1983 i vol.2/1984
Stanciulesco, F.
La conception et la ralisation lectronique des schemas logiques

grande fiabilit. Bulletin mensuel de l`Association internationale du
Congrs des Chemins de Fer, Cyberntique et lectronique dans les
Chemins de Fer, nr. 7/1967
Sterian, C.
Circuit logic NICI cu fiabilitate sporit prin redundan activ tip

serie. Revista Cilor Ferate Romne, nr. 3 / 1973
Sterian, C.
Criteriu de alegere a schemei de redundan activ aplicate la

mrirea fiabilitii circuitelor electronice. Revista Cilor Ferate
Romne, nr. 12 / 1971
Sterian, C.
Circuit logic NICI cu fiabilitate sporit prin redundan activ tip

derivaie. Revista Cilor Ferate Romne, nr. 4 / 1973
Turbu, Gh.
Boicu, I.
Spirea, E.
i alii
Inginerie de sistem, automatizri i informatic in transporturi. Editura

Tehnic, Bucureti, vol.1/ 1988 i vol.2/1989
Vtescu, V.
i alii
Scheme de siguran intrinsec de funcionare pentru automatizri

feroviare. Sesiunea de comunicaii tiinifice ICPTT, vol. III, Bucureti,
1979
***
Instalaia INDUSI pentru controlul punctal al vitezei. Centrul de

Documentare i Publicaii Tehnice - Ministerul Cilor Ferate, vol.1,
1969
386

Curs Fiabilitate

Încărcat de

Informații document

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Curs Fiabilitate

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Fiabilitate funcional n electronic

1.1.1. Importana fiabilitii funcionale n transporturi .....................

1.1.2. Scurt istoric. Principii de abordare ...........................................

1.2. Analiza funcional a proceselor de circulaie i navigaie...............

1.2.1. Funciune i rspuns .................................................................

1.2.2. Evaluarea funcional a parametrilor de sistem ........................

1.2.3. Transformarea rspunsului fals n rspuns eronat ....................

2. UZUR I DEFECTARE .......................................................................

2.1. Deterioarea componentelor de echipament ......................................

2.2. Modele de analiz a uzurii i defectrii .............................................

3. VARIABILITATEA PARAMETRIC N RELAIA

3.1. Abordarea sistemic a funcionalitii ..............................................

3.2. Modele de variaie parametric .........................................................

3.3. Studii de caz .......................................................................................

4. INDICATORII STATISTICI I INDICATORII PROBABILISTICI

4.1. Aspecte statistice .................................................................................

4.2. Indicatorii probabilistici ...................................................................

4.3. Modelarea matematic a duratei de via .........................................

4.4. Date primare de fiabilitate .................................................................

4.4.1. Consideraii generale ...............................................................

4.4.2. Solicitri n microambian ......................................................

4.4.3. Solicitri n ambian ...............................................................

4.4.4. Solicitri combinate ................................................................

5. STRUCTURI / SISTEME DE FIABILITATE .........................................

5.1. Schema structural pentru sisteme neredundante ...........................

5.2. Schema structural pentru sisteme redundante ...............................

5.3. Scheme structurale decompozabile ...................................................

5.3.1. Structuri serie derivaie (SD) ................................................ 106

5.4.1. Structuri tip stea i structuri tip triunghi .................................. 112

6. ANALIZA MODULUI DE DEFECTARE .............................................. 118

7. PROTECII FIABILISTE PRIN MODUL DE DEFECTARE......... 130

8. REDUNDANA FIABILIST . TOLERANA LA DEFECTRI ........ 155

Fiabilitate funcional n electronic

8.2. Redundana de echipament............................................................... 160

Costuri generale ........................................................................... 291

Costuri de implementare ............................................................... 294

Costurile mentenanei ................................................................... 296

12. APLICAII .................................................................................................. 303

Probleme de fiabilitate .................................................................. 303

Valori ai principalilor indicatori de fiabilitate ............................. 316

Fiabilitatea previzional a unui inductor de cale din sistemul

12.3.1. Modul de funcionare a sistemului (sintez) .........................

12.3.2. Condiii generale de calcul .....................................................

12.3.3. Fiabilitatea general / clasic .................................................

12.3.4. Fiabilitatea funcional la rspuns eronat ...............................

12.3.5. Fiabilitatea funcional la rspuns fals ...................................

12.3.6. Unele elemente de defectologie fiabilist ..............................

13. NOTAII, ABREVIERI I SIMBOLURI GRAFICE UTILIZATE ....

Notaii i abrevieri ......................................................................... 368

13.1.1. Caractere n alfabet latin .......................................................

13.1.2. Caractere n alfabet grec ........................................................ 378

Simboluri grafice ..........................................................................

14. BIBLIOGRAFIE ........................................................................................

Fiabilitate funcional n electronic

Fiabilitate funcional n electronic

(software) nu se pot realiza fr existena

unui sistem material (hardware) corespunztor, iar de comportarea

diferitele funciuni ndeplinite. O categorie extrem de important este

pentru studeni: capitolele 1-2-4-5-6-8-9-12 i problemele A-G;

Fiabilitate funcional n electronic

Fiabilitate funcional n electronic

la instalaii de pilotare automat a autovehiculelor. Arterele rutiere, n

Fiabilitate funcional n electronic

cu pierderi de viei omeneti, pagube materiale importante, poluarea