Sunteți pe pagina 1din 6

ELEMENTE DE ŞTIINŢA ŞI INGINERIA MATERIALELOR

LUCRAREA DE LABORATOR NR. 6

STUDIUL MICROSCOPIC AL MATERIALELOR METALICE. MICROSCOPUL


METALOGRAFIC

1. PRINCIPIUL LUCRĂRII

1.1. Pregătirea probelor metalografice

Studiul microscopic al materialelor metalice se face în scopul punerii în evidenţă a


constituenţilor structurali pe baza individualizării din punct de vedere al componentei granulare
vizibilă la microscop pe suprafaţa unei probe metalografice.
Proba metalografică este un eşantion detaşat din aliajul metalic de cercetat având o suprafaţă
pregătită special în scopul analizei metalografice la microscop. Pregătirea probei metalografice este
o activitate care începe cu stabilirea zonei din care se detaşează probe, astfel încât să se atingă
scopul cercetării. La stabilirea acestei zone trebuie să se ţină seama de următoarele aspecte: se
analizează structura unui semifabricat sau a unei piese finite; dacă se analizează o piesă defectă sau
ruptă, proba se detaşează din imediata vecinătate a locului cu defect şi pentru comparaţie se va mai
pregăti o probă şi din altă zonă fără defect; la piesele turnate se vor detaşa din toate zonele
caracteristice de solidificare; la piesele tratate superficial (adică termochimic), proba va cuprinde şi
stratul superficial, care se examinează în mod special.
Operaţia de tăiere a probei nu trebuie să producă modificări în structura materialului prin
deformare sau prin încălzire. O tăiere corectă se realizează prin aşchiere cu răcire abundentă. În
cazul aliajelor foarte dure, se pot folosi discuri abrazive cu diamant, sau procedee neconvenţionale
(ca de exemplu electroeroziune).
Formele şi dimensiunile probelor metalografice pot fi foarte diverse, în funcţie de formele şi
dimensiunile pieselor sau semifabricatelor din care provin. Se recomandă când este posibil
dimensiunile 15 x 15 x l0 mm sau asigurarea unei suprafeţe de cercetat de cel puţin 1 cm2.
Obţinerea suprafeţei plane, ce urmează a se cerceta, se realizează prin pilire, frezare,
polizare.
În cazul necesităţii cercetării unor straturi subţiri, se poate mări suprafaţa de cercetat, dacă
suprafaţa plană se prelucrează înclinat sub un unghi de câteva grade. Aşa cum se observă din figura
6.1, dimensiunea stratului examinat devine L = s/sin , unde s este grosimea reală a stratului.

Figura 6.1.

Probele cu dimensiuni foarte mici sau la care este necesară cercetarea stratului superficial, se
înglobează într-o răşină (fig. 6.2) sau se fixează în dispozitive speciale.
Pregătirea suprafeţelor de examinat se face prin şlefuire şi lustruire.
Şlefuirea se execută manual sau mecanic, folosind hârtii abrazive cu granulaţie din ce în ce
mai fină, respectându-se următoarele reguli:
- nu se trece pe o altă hârtie abrazivă decât după ce s-a constatat că au dispărut toate rizurile
de la şlefuirea anterioară;
- la schimbarea hârtiei, se schimbă şi poziţia probei, astfel ca direcţia urmelor să fie
perpendiculară pe direcţia urmelor de la şlefuirea anterioară;
- se va evita încălzirea probei în timpul şlefuirii;
- la sfârşitul operaţiei de şlefuire proba se spală pentru îndepărtarea particulelor de abraziv
care au aderat la suprafaţă.
Lustruirea se realizează de obicei mecanic,
pe maşini de lustruit prevăzute cu un disc rotativ,
acoperit cu postav. Agentul de lustruire îl constituie
suspensia de alumină (Al2O3) sau magnezia usta
(M2O - oxid de magneziu) în apă. Pentru materiale
dure se folosesc pastele cu pulbere de diamant.
Lustruirea electrolitică se bazează pe
dizolvarea anodică a vârfurilor
microneregularităţilor suprafeţei şlefuite în prealabil.
Obţinerea unor suprafeţe corespunzătoare cu luciu-
oglindă se realizează, folosind electrolitul şi regimul Figura 6.2.
electric, adecvate materialului respectiv.
După lustruire, probele se spală cu apă, se degresează cu alcool şi se usucă în curent de aer
cald sau prin tamponare cu vată sau hârtie de filtru.
Suprafaţa probei metalografice pregătită în acest mod, prezintă luciu-oglindă şi la examinare
poate fi pusă în evidenţă prezenţa fisurilor, suflurilor, retasurilor, incluziunilor nemetalice.
Pentru punerea în evidenţă a structurii este necesar să se aplice un atac metalografic,
ce constă din aducerea suprafeţei în contact cu un reactiv metalografic care dizolvă sau colorează
selectiv, diferiţii constituenţi, făcându-i să se poată distinge unul de celălalt. Atacul metalografic se
poate executa prin imersare sau prin tamponare cu vată îmbibată în reactiv. După atac, proba se
spală în apă, apoi în alcool şi se usucă în curent de aer cald. Reactivii metalografici folosiţi sunt în
general, soluţii ale unor acizi, compoziţia lor chimică şi domeniul de aplicabilitate, fiind
reglementate prin STAS 4203-74.
Atacarea suprafeţei probei metalografice se poate face şi electrolitic, metoda bazându-se pe
faptul că viteza de dizolvare electrolitică a diferitelor faze ale aliajului este diferită. Aparatura este
aceeaşi ca la lustruirea electrolitică, numai regimurile de lucru şi electroliţii se schimbă.
Proba se consideră atacată, când suprafaţa pregătită şi-a pierdut luciul devenind uşor mată.
Schimbarea aspectului se explică prin aceea că, datorită dizolvării selective a unor faze, pe suprafaţa
probei se formează un microrelief, ce modifică local unghiul de reflexie a luminii, creându-se zone
de umbră, ce marchează prezenţa adânciturilor.
Durata atacului variază de la câteva secunde, la câteva minute şi se stabileşte numai prin
încercări repetate şi examinări la microscop. Corectitudinea concluziilor desprinse din studiul
microscopic este strict dependentă de corectitudinea atacului metalografic.

1.2. Microscopul metalografic

Pentru un ochi normal, distanţa minimă dintre două puncte ce se pot vedea separat este de
0,07 - 0,05 mm.
Întrucât structura materialelor metalice este mult mai fină, cercetarea se poate face cu
ajutorul instrumentelor optice ajutătoare: lupa şi microscopul metalografic.
Microscopul metalografic se compune în principal din trei sisteme: sistemul de iluminare,
sistemul optic şi sistemul mecanic.
Sistemul de iluminare asigură trimiterea pe suprafaţa probei, a unui fascicul de lumină
suficient de intens, astfel încât să asigure vizibilitatea suprafeţei examinate, cunoscut fiind faptul că
pierderile de lumină în sistemul optic pot depăşi 75 %. Metalele fiind opace, studiul nu se poate
face decât în lumină reflectată. Iluminarea probelor metalografice se poate face vertical sau oblic. În
cazul iluminării verticale, razele incidente cad perpendicular pe suprafaţa de examinat, astfel că
proeminenţele apar luminate, iar adânciturile întunecate, datorită faptului că razele reflectate sub
unghiuri diferite nu mai ajung în obiectiv (fig. 6.3,a).
În cazul iluminării oblice (fig. 6.3,b) adânciturile apar luminate, iar proeminenţele
întunecate.

a) b)

Figura 6.3.

Figura 6.4. Schema optică a microscopului metalografic.


1. bec; 2,3. lentile colectoare; 4. diafragma de apertură (deschizătură); 5. diafragma de câmp;
6,7,8. lentilele sistemului de iluminare; 9. placa de reflexie; 10. obiectiv; 11. pentaprismă; 12. ocular; 13. probă.

Sistemul de iluminare se compune din: sursa de lumină, lentile, diafragmă, filtre (eventual
colorate).
Razele de lumină trebuie proiectate, în aşa fel încât, să nu prezinte reflexe dăunătoare, iar la
o iluminare intensă să nu se producă încălzirea probei.
Sistemul optic al microscopului metalografic asigură dezideratele măririi puterii separatoare
a ochiului şi conţine două sisteme principale de lentile, adică obiectivul şi ocularul. Schema de
formare a imaginii într-un microscop metalografic este prezentată în figura 6.4.
Sistemul de lentile obiectiv are o lentilă frontală plan convexă, care determină puterea de
mărire a obiectivului şi o serie de lentile secundare pentru eliminarea aberaţiilor de sfericitate şi
aberaţiilor cromatice ale lentilei obiectiv. Aberaţia de sfericitate apare datorită formei sferice a
suprafeţelor lentilei, ceea ce implică existenţa unor unghiuri diferite de refracţie pentru razele
marginale, faţă de cele care trec prin centrul lentilei.
Aberaţia cromatică se datorează dispersiei şi refracţiei neegale a fasciculelor cu diferite
lungimi de undă, formate la trecerea razei de lumină albă printr-o lentilă pozitivă.
Obiectivele acromatice sunt cele corectate numai pentru fasciculele din zona centrală a
spectrului (adică galben-verde), iar obiectivele apocromatice sunt cele corectate pentru tot spectrul.
Ocularele măresc imaginea reală dată de obiectiv şi corectează erorile optice pe care le pot
produce chiar obiectivele de calitate. Ocularele pot fi: simple, de compensaţie şi pentru fotografiere.
Ocularele simple se folosesc cu obiectivele acromatice, iar cele de compensaţie cu obiectivele
apocromatice.
Cele mai importante caracteristici ale microscopului metalografic sunt: puterea de mărire,
apertura, puterea de separare, adâncimea de pătrundere şi planeitatea câmpului.
Puterea de mărire este o proprietate caracteristică obiectivului, imaginea dată de obiectiv
fiind apoi mărită de ocular, rezultă că puterea de mărire a microscopului va fi:
M = Mob  Moc (6.1)
unde: Mob - este mărirea obiectivului, iar Moc - mărirea ocularului.
Apertura caracterizează puterea de restrângere a razelor de către lentilele folosite. Notând cu
, semiunghiul conului de lumină (vezi fig. 6.4) şi cu n indicele de refracţie al mediului (n = l
pentru aer), apertura A este data de relaţia:
A = n  sin (6.2)
Din motive constructive, cea mai mare valoare pentru  este 72 . 0

Apertura fiind o mărime caracteristică obiectivului, este gravată pe exteriorul acestuia.


Puterea de separare reprezintă fineţea redării detaliilor de către un sistem optic şi este
caracterizată prin distanţa minimă dintre două puncte ale obiectului, care apar distinct în imagine.
Se calculează cu relaţia:

d [m] (6.3)
2A
în care λ este lungimea de undă a luminii folosite.
Microscopul metalografic are o putere de separare maximă teoretică de 0,2 m, ceea ce
limitează mărirea microscopului la Mv = 1500, chiar în condiţiile utilizării obiectivelor cu imersie în
ulei de cedru (n = 1,55).
Adâncimea de pătrundere reprezintă posibilitatea obiectivului de a reda clar, imaginea unor
puncte ce se găsesc în plane diferite. Este invers proporţională cu mărirea şi cu apertura, de unde
rezultă că, examinarea la măriri mari trebuie făcută pe probe cărora li s-a aplicat un atac
metalografic slab.

1.3. Aprecierea rezultatelor cercetării metalografice

În momentul efectuării studiului microscopic asupra unei probe, trebuie să se cunoască


următoarele: compoziţia chimică a aliajului, condiţiile solidificării, tratamentele termice,
prelucrările prin deformare plastică, într-un cuvânt „istoricul” materialului metalic.
Imaginea microscopică va evidenţia forma, natura şi mărimea constituenților structurali.
Aceşti constituenţi pot fi omogeni sau eterogeni.
Constituenţii omogeni (monofazici) pot fi: metalul pur, soluţia solidă sau compusul definit.
Cristalele fiind poliedrice, iar atacul metalografic producându-se la limitele dintre grăunţi,
aceşti constituenţi apar la microscop sub forma unor reţele poligonale, sau poligoane izolate atunci
când mai există şi alţi constituenţi.
Un caz aparte îl reprezintă soluţiile solide, care pot avea aspect dendritic, atunci când sunt
neomogene, sau aciculare când sunt puternic tensionate.
Compusul definit este constituentul monofazic, cu reţeaua cristalină formată din două sau
mai multe feluri de atomi, care au o distribuţie precisă în reţea. Componenţii se află într-un
anumit raport cantitativ în moleculă, are reţea cristalină proprie, proprietăţi bine definite,
temperatură unică de topire (respectiv de solidificare) şi se exprimă printr-o formulă chimică
ce nu respectă întotdeauna legea valenţei.
Constituenţii eterogeni sunt amestecuri mecanice de două sau mai multe faze. Dacă
amestecul se separă din topituri, se numeşte eutectic, iar dacă rezultă dintr-o soluţie solidă, se
numeşte eutectoid. Pot avea aspect lamelar, când fazele amestecului se prezintă sub forma unor
lamele alternante, sau globular, când una din faze reprezintă masa de bază în care, cealaltă fază se
găseşte sub forme, mai mult sau mai puţin, globulizate (rotunjite).

2. CONŢINUTUL ŞI SCOPUL LUCRĂRII

În cadrul lucrării de laborator studenţii se vor familiariza cu principalele probleme legate de


analiza metalografică.
În acest scop vor participa la pregătirea completă a unei probe metalografice şi îşi vor însuşi
modul de lucru cu microscoapele metalografice din dotarea laboratorului.

3. APARATURA NECESARĂ ŞI MODUL DE LUCRU

Pentru efectuarea lucrării sunt necesare:


- instalaţie de şlefuit şi lustruit probele metalografice;
- materiale abrazive (set de hârtii abrazive de granulaţii diferite, suspensie de Al203, postav);
- reactivi metalografici diferiţi;
- microscoape metalografice.
Studenţii vor urmări pregătirea completă a unei probe metalografice de către tehnicianul
laboratorului. Împărţiţi pe grupe, îşi vor însuşi modul de manevrare al microscopului metalografic,
modul de schimbare a măririi microscopului, reglarea focalizării imaginii.
Vor examina la microscop câte o probă metalografică la măriri diferite.

4. CONŢINUTUL REFERATULUI

Referatul va conţine:
- succesiunea operaţiilor de pregătire a probei;
- descrierea microscopului metalografic utilizat, indicându-se caracteristicile acestuia;
- schiţa structurilor cercetate.
UNIVERSITATEA PETROL-GAZE DIN PLOIEŞTI
DEPARTAMENTUL: Inginerie Mecanică
DISCIPLINA: Studiul Materialelor
ANUL: I I.E.D.M.
SEMESTRUL II DATA ...............................
FIŞA LUCRĂRII NR. 6
Tema: Studiul microscopic al materialelor metalice. Microscopul metalografic

Microscop: marca .............................. provenienţa ....................... anul fabricaţiei .......................


caracteristici tehnice: .....................................................................................................
data ultimei verificări metrologice ..................
Succesiunea operaţiilor de pregătire:
Nr.
Denumirea operaţiei Materiale folosite
operaţie
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12

Compoziţie:…….Mărire:………. Compoziţie:…….Mărire:………. Compoziţie:……Mărire:.……

Compoziţie:…….Mărire:………. Compoziţie:…….Mărire:………. Compoziţie:……Mărire:.……

Întocmit: Verificat:
Nume ................
Prenume ............
Grupa..................
Semnătura............

S-ar putea să vă placă și