3.5.

Metode de evaluare a rugozitii

Topografia suprafeei poate fi evaluat prin metode microscopice (la scara

asperitilor) sau metode nanoscopice (la scar atomic i molecular). Pentru stu-
diul la scar atomic a rugozitii suprafeelor sunt necesare metode moderne baza-
te pe difracia electronilor cu energie joas, microscopia ionic, microscopia pe ba-
z de efect tunel, microscopia de for atomic etc. Pentru studiul suprafeelor re-
zultate din prelucrare sunt suficiente metodele microscopice, n special metodele
mecanice i optice.
Metodele de msurare a rugozitii se mpart n dou mari grupe:
- metode bazate pe contactul direct ntre suprafaa de msurat i palpatorul in-
strumentului de msur;
- metode fr contact direct.
Dup principiul fizic pe care se bazeaz, tehnicile de msurare pot fi [27]:
1. metode mecanice (cu palpare direct);
2. metode optice;
3. metode cu fluide;
4. metode electrice (capacitive);
5. metode de microscopie electronice cu baleiaj 16;
6. metode de microscopie pe baz de efect tunel 17;
7. metode pe baza microscopiei de for atomic 18.
Metodele mecanice se bazeaz pe contactul direct ntre palpator i supra-
fa, metodele (2)(6) sunt metode fr contact, iar metodele (7) sunt combinaii
ale metodelor cu palpare direct (1) i STM (6).

3.5.1 Metoda mecanic cu palpare direct

Profilometrele sunt aparate cu palpare mecanic a suprafeei care permit

trasarea profilului rugozitii suprafeelor i determinarea parametrilor specifici.
Aceste aparate pot avea bune rezoluii pe vertical, de ordinul 0,1-5nm i de 0,5m,
pe orizontal, dar rezultatele depind de forma i dimensiunile palpatorului. Princi-
palele avantaje ale metodelor cu palpare direct sunt simplitatea, portabilitatea uno-
ra dintre instrumente, preul sczut al echipamentelor (n raport cu celelalte meto-
de), posibilitatea actual de a realiza hri de rugozitate 3D.
Rugozimetrele sunt profilometre dotate cu accesorii mecanice, electronice
i informatice, care permit att nregistrarea profilului i calculul parametrilor ru-
gozitii, ct i trasarea topografiei suprafeei. Sunt aparate considerate clasice, cu
cea mai larg utilizare n industrie i n cercetare, pentru msurarea cu nalt preci-
zie a profilului suprafeei [286].
n principiu, nregistrarea profilului suprafeei explorate se obine prin de-
plasarea palpatorului pe suprafaa piesei, cu o vitez constant (15-1000m/s). Vi-
teza mic de deplasare este necesar n cazul nregistrrii rezultatelor iar vitezele mari
n cazul afirii parametrilor cu ajutorul aparatelor de msur cu cadran.

16
SEM - Scanning Electronic Microscopy
17
STM - Scanning Tunneling Microscopy
18
AFM Atomic Force Microscopy
 Vrful palpatorului este din diamant sau safir, de form conic (cu unghiul
la vrf de 60 sau 90) sau piramidal, cu raza la vrf de 1, 2, 5 sau 10 m. Sarcina
normal cu care este apsat palpatorul pe suprafaa analizat variaz ntre 25 i
100mg. Pot fi realizate mriri verticale i orizontale maxime ale profilului de
50.000 de ori, respectiv de 100 de ori [27].
Palpatorul execut o micare compus din micarea de avans orizontal, dat
de viteza constant a articulaiei palpatorului, i deplasarea vertical, impus de
profilul suprafeei. Denivelarea este tradus n semnal electric printr-un traductor
electric (inductiv, piezolelectric, capacitiv etc.) sau optic (cu fotodiode). Semnalul
continuu dat de traductor este un semnal analogic. Dup amplificare i filtrare, el
poate fi nregistrat pe hrtie sau pe band magnetic, eventual prelucrat ntr-un sis-
tem de calcul analogic, nainte de nregistrare. nregistrarea pe hrtie are forma gra-
ficului unei funcii, n care deplasarea pe orizontal a fost produs de un semnal
proporional cu variabila independent (timpul, lungimea etc.). Dup nregistrare,
extragerea de noi informaii din semnal devine greoaie i afectat de erori, constitu-
ind unul din dezavantajele aparatelor analogice. Astfel de aparate pot fi ns com-
puterizate, pentru a beneficia de memorarea numeric, care este eficient, ca i de
prelucrarea numeric, care este uor de programat. n acest scop este necesar ca
semnalul s fie eantionat, cu respectarea teoremei lui Shannon ("a eantionrii") i
apoi reprezentat numeric [210].
Profilometrele digitale actuale permit prelucrarea complex a semnalului n
form numeric, cu ajutorul unor aplicaii informatice dedicate. n figura 3.30 se
prezint schema de principiu a unui profilometru digital.
Pentru obinerea unui
profil msurat ct mai
apropiat de profilul real,
la msurarea rugozitii
prin palpare direct se
Oz impune prelucrarea sem-
Ox
nalului prin filtrare elec-
tric, filtrare care se ada-
ug filtrrilor mecani-ce
realizate chiar n tim-pul
Fig. 3.30. Schema unui profilometru digital msurtorilor, datorit
cu palpare direct [261] formei i dimensiunilor
vrfului palpatorului i a
patinei de ghidare a braului cu palpator. La prelucrarea profilului digital se pot
aplica diferite tipuri de filtre, n funcie de specificul suprafeei i de scopul i obi-
ectivele prelucrrii. Instrumentele digitale de msurare a rugozitii permit ca in-
formaiile despre suprafaa explorat s poat fi prelucrate complex, precis i rapid,
prin programe (software) specializate.
Pentru a obine informaii 3D asupra rugozitii unei suprafee se folosesc
diferite procedee de scanare a suprafeei: n coordonate polare, n spiral, n rastel.
Principala dificultate este meninerea aceluiai plan de referin, la fiecare nou
scanare. La traversarea suprafeei cu urme paralele este esenial s se menin ace-
eai origine pentru fiecare profil msurat.
 n cazul evalurii topografiei unei suprafee, nainte i dup un experiment,
cum este la ncercarea la uzare, este necesar folosirea unor sisteme precise care s
asigure reamplasarea palpatorului.
Metoda cu palpare direct prezint limitri [27, 87] n redarea fidel a pro-
filului msurat fa de cel real, cauzate de: dimensiunea vrfului palpatorului, uzura
sau chiar deteriorarea suprafeei de ctre vrful de diamant (la inspectarea su-
prafeelor foarte fine sau din materiale cu duritate mic), uzura vrfului palpa-
torului, erorile de natur dinamic i electric etc. Variaia parametrilor de ru-
gozitate poate fi determinat de cauze legate de msurarea topografiei suprafeei i
de prelucrarea datelor i este dependent de selecia ctorva factori importani. De
exemplu, geometria palpatorului (att pentru palpatoare mecanice ct i pentru cele
optice), intervalul de eantionare i lungimea de msurare sunt principalii factori
care influeneaz caracterizarea i descrierea complet a topografiei suprafeei. n
figura 3.31 se observ diferene semnificative ntre cele trei profile msurate pe
aceeai urm, cu valori diferite ale intervalului de eantionare, =1, 0.5 i 0.2 m
[211].

Fig.3.32: Urm de uzur rezultat

Fig. 3.31. Influena mrimii intervalului de ntr-o ncercare bil pe plan.
eantionare, , asupra profilului digital.
Prin profilometrie cu instrumente cu palpare direct se pot realiza studii
complexe ale urmelor de uzur. Figura 3.32 [134] prezint comparativ aspectul la
microscopul optic i profilul 2D, ambele ale unei urme de uzur produs de o bil
din oel 100Cr6 pe un disc din oel inoxidabil X10CrNiMoNb18.10. innd cont de
scrile diferite de reprezentare pe cele dou axe, se apreciaz c urma adnc de
uzur are un contur asemntor cu cel al bilei, ceea ce arat c uzura discului este
mult mai mare dect cea a bilei.
 3.5.2 Metode optice

Profilometrele optice pot oferi o rezoluie lateral mai bun, o analiz a n-

tregului cmp vizual, msurtori cu o vitez mare i examinarea nedistructiv a
formei suprafeei. Aceste metode, cu condiia selectrii adecvate a lungimii de un-
d, dau o acuratee deosebit a msurtorilor de form a suprafeei.
Metodele optice pentru analiza profilului pot fi grupate n metode geome-
trice (a secionrii oblice i a seciunii luminoase) i metode fizice (pe baza re-
fleciei pe oglind i a refleciei difuze, a distribuiei petelor de lumin, a interfe-
renei optice etc) [27]. Dup coerena luminii utilizate sunt metode cu lumin de
coeren redus (metoda secionrii oblice, metoda seciunii luminoase, metode cu
interferen optic, metoda comparativ etc.) i metode cu lumin coerent sau
monocromatic (profilometria laser, profilometria holografic etc) [286]. Cteva
dintre aceste metode sunt prezentate, pe scurt, n continuare [146].
Metoda secionrii oblice. Suprafaa de examinat se secioneaz sub un
unghi , ceea ce mrete nlimea asperitilor suprafeei cu un factor ctg , dup
care se examineaz la microscop. Pentru a nu deteriora profilul suprafeei n timpul
secionrii, este necesar aplicarea prealabil a unei acoperiri electrolitice.
Metoda seciunii luminoase. La microscopul optic se observ intersecia
suprafeei de verificat cu un plan, materializat printr-un fascicul de raze luminoase
sub form de band, care cade oblic pe suprafa. Imaginea reflectat va reprezenta
linia de intersecie, care reproduce asperitile suprafeei analizate, respectiv profi-
lul real al suprafeei.
Metode interfereniale. Metodele interfeniale sunt cele mai avantajoase
metode optice, deoarece permit msurarea direct a nlimii rugozitii [27]. Me-
toda interferenial prezint o mare acuratee, avnd rezoluia vertical de 0,80nm
i cea lateral ntre 2 i 4m, dar necesit o mare reflectivitate a suprafeelor anali-
zate. Pe acest principiu sunt construite profilometrele digitale optice, cu interfero-
metru Michelson (mriri 1,5-5x), Mirau (10-40x) sau Linnik (100-200x) [27].
Achiziia i prelucrarea datelor pe calculator asigur caracterizarea complet a su-
prafeei, comparabil cu cea a profilometrelor cu palpare direct.
Metoda comparativ. Prin observare la microscop, sunt comparate suprafaa
de msurat i suprafaa probei etalon, de rugozitate cunoscut. Mostrele de rugozitate
(STAS 7087-82) sunt prevzute cu valori pentru anumii parametri de profil i proce-
dee de prelucrare. Valoarea rugozitii se determin prin citirea direct a valorii nscrise
pe mostra de rugozitate. Este o metod simpl i rapid, dar puin precis, de apreciere
calitativ a rugozitii suprafeelor prelucrate mecanic.
Metoda pe baza refleciei pe oglind (Specular Reflection). La incidena
unei radiaii electromagnetice, de o anumit lungime de und, pe o suprafa per-
fect neted, are loc reflecia la fel ca pe o oglind, cu respectarea legii lui Snell:
unghiul de inciden este egal cu cel de reflecie i intensitatea radiaiei reflectate
este egal cu cea a radiaiei incidente. Datorit simplitii, aceast metod permite
o analiz rapid, n timpul fabricaiei, a rugozitii acoperirilor n cazul unor benzi
nguste (benzi magnetice) i mai ales pentru aprecierea aspectului general (luciul)
al unor vopseluri i acoperiri din industria hrtiei.
Metode pe baza refleciei difuze (Scattering). Pentru a evalua textura su-
prafeei este utilizat reflecia difuz sau mprtiat. Metodele au rezoluii superi-
oare metodelor cu palpare direct, prezentnd avantajul adaptrii la msurarea ra-
pid, continu a rugozitii, n timpul fabricaiei.

3.5.3 Microscopia de for atomic

Pentru investigarea materialelor conductoare sau izolatoare electric la scar

atomic, Binning, Quate i Gerber (1986) 19 au realizat microscopul de for atomi-
c (AFM), care combin principiul microscopiei pe baz de efect tunel (STM) cu
metoda palprii directe [27]. Dei AFM este o metod non optic, n general sunt
utilizate metode optice pentru amplificarea i msurarea semnalului.
De la apariia, n 1989, a primului AFM comercial, domeniul microscopiei
de for atomic a cunoscut un avnt deosebit, datorit extinderii rapide a metode-
lor de investigare bazate pe acest principiu i a lrgirii continue a domeniului de
aplicaii. Pe plan mondial au aprut modele speciale de microscoape AFM, destina-
te unui anumit scop sau unui anumit tip de aplicaii, cu performane foarte nalte n
domeniul lor de utilizare. Aceste microscoape au ncorporate echipamente auxilia-
re, destinate s simplifice la maximum operarea (pn la stabilirea automat a pa-
rametrilor de scanare), s perfecioneze i s dezvolte achiziia de imagini, asigu-
rnd posibiliti de investigare complementare i micornd gradul de subiectivitate
n interpretarea datelor obinute.
Acest instrument complex are un domeniu larg de aplicaii n microelec-
tronic i semiconductoare, n microinginerie i senzori, n studiul materialelor
plastice i al polimeri, dar i al probelor biologice; msurarea forelor ntre particu-
le i suprafee; investigarea proprietilor mecanice i chimice locale ale supra-
feelor. Este larg utilizat n domeniul metrologiei suprafeelor la nivel nanometric,
n principal pentru investigarea topografiei acestora. Cu ajutorul AFM poate fi ca-
racterizat microstructura de suprafa a noilor materiale, materiale ceramice sau
compozite, materiale pentru acoperiri i straturi cu proprieti controlate etc. Pe baza
rezultatelor se pot stabili corelaii ntre parametrii tehnologici i proprietile
suprafeelor obinute, n vederea mbuntirii tehnicilor de realizare a materia-
lului respectiv. AFM poate fi utilizat att pentru probe conductive, ct i pentru
probe neconductive electric, n mediul ambiant i fr a fi nevoie de pregtirea
special a probei.
Modul de operare standard (fig. 3.33) const n scanarea probei de investi-
gat, 5, de ctre vrfului ataat capatului unei microgrinde (cantilever), 4, simultan
msurndu-se fora de interaciune cu suprafaa. Forele de interaciune ntre vrf i
suprafaa probei produc deformarea cantileverului, care este monitorizat i trans-
format punct cu punct n informaie topografic. Componenta princi-pal a mi-
croscopului o constituie un senzor care msoar forele mici de interaciune (sub 10-10N).
Acesta este un arc cu elasticitate i mas mic, a crui micare, sub aciunea forei de in-
teraciune, este msurat prin curentul de tunelare (Binning, 1986) sau prin interferome-
trie optic (McClelland, 1987).

19
Binnig, G., Quate, C.F., Gerber, C., Atomic force microscope, Phys. Rev. Lett. 56, p.930, 1986.

Fig. 3.33. AFM - reprezentare schematic:
1. fascicul laser; 2. element de fotodetecie;
3. oglind; 4. cantilever cu vrf; 4. prob [43]
n figura 3.34 se prezin-
t exemple de profilograme 3D,
realizate prin microscopie de
for atomic, pentru ncercarea
la uzur pe tribometrul tift pe
disc: a) tift neuzat; b) tift uzat;
c) disc neuzat; d) disc uzat.

a) c)

b)
d)

Fig. 3.34 Profilograme 3D, realizate prin microscopie de for atomic

Principalele avantaje ale microscopiei de for atomic sunt:
este cea mai simpl i rapid metod n domeniul metrologiei suprafeelor;
nu necesit pregtirea special a probelor este compatibil cu aproape orice tip de prob;
prezint nalt rezoluie i mrire;
msoar suprafeele n 3D, spre deosebire de microscopia optica i SEM;
lucreaz n medii diverse: n mediul ambiant, n vid sau n mediu lichid.
3.5.4. Comparaie ntre metodele de evaluare a rugozitii
Utilizarea unei anumite metode de evaluare a rugozitii depinde de civa
factori: obinerea de informaii cantitative, posibilitatea caracterizrii topografiei
suprafeei n 3D, rezoluiile verticale i laterale (tabelul 3.7 [27, 268]), costurile,
posibilitatea controlului calitativ on-line etc.
Tabelul 3.7 Comparaie ntre metodele de evaluare a rugozitii suprafeelor
 Pentru a exemplifica diferenele
dintre reprezentrile 3D realizate prin
diverse metode, n figura 3.35 se prezin-
t suprafaa unor probe din aliaje pe baz
de fier sinterizate, utilizate n testele de
durabilitate superficial specifice lagre-
lor de alunecare [68] (figurile 3.35a1 i
3.35a2 - sinterizare la pre-siunea 500
a1) MPa i pulbere clasa <65m, figurile
3.35b1 i 3.35b2 sinterizare la presiu-
nea 300MPa i pulbere clasa <125m).
n figurile 3.35a1 i 3.35b1 se
prezint imagini ale suprafeelor la

Fig 3.35 Imagini 3D (aliaj pe baz

a2) de fier sinterizat) obinute prin:
a1) interferometrie optic;
a2) microscopie electronic SEM

scar macroscopic, realizat cu un

profilometru 3D non-contact Wyko
(cu interferometrie optic), iar figurile
3.35 a2 i 3.35 b2 imagini la scar
microscopic, realizate cu microscopul
electronic SEM Jeol 820. Prezena
porilor, dei parial blocat de oxizii de
fier, influeneaz considerabil topogra-
fia suprafeei. Analiza topografiei pe
microscop electronic (SEM) arat c
b1)
 stratul de oxid acoper uniform toat
suprafaa, ptrunznd i n pori.
Se pot formula cteva conclu-
zii.
Pentru caracterizarea detaliat a ru-
gozitii suprafeei se folosesc metoda
b2) mecanic prin palpare direct i meto-
da prin interferen optic; pentru su-
prafeele fine i moi se folosete profi-
Fig 3.35 Imagini 3D (aliaj pe baz de fier lometrul optic digital.
sinterizat) obinute prin:
b1) interferometrie optic; Metoda mecanic cu palpare direc-
b2) microscopie electronic SEM t prezint limitri de acuratee i
precizie la msurarea rugozitii n 3D; unele metode optice (a secionrii oblice,
pe baza refleciei pe oglind), metodele pe baza fluidelor i cele electrice nu dau in-
formaii tridimensionale.
Metodele optice, pe baza refleciei pe oglind, refleciei difuze i a modelului
petelor de lumin, ct i cele cu fluide i electrice, permit un control de calitate
continuu pe fluxul de fabricaie.
Msurarea rugozitii la scar atomic se face numai prin microscopia pe baz
de efect tunel i de for atomic.

3.6. Duritatea materialelor

3.6.1. Definire i metode de determinare

Duritatea este una dintre proprietile mecano-tehnologice ale unui materi-

al. n tehnic, duritatea se definete ca fiind rezistena opus de un material la p-
trunderea mecanic din exterior a unui alt corp, mai dur (numit penetrator, n cazul
ncercrilor pentru determinarea duritii materialelor) [161].
Duritatea materialelor se determin prin metode standardizate care permit compa-
rarea rezultatelor. n funcie de modul de exercitare a forei asupra penetratorului,
metodele de laborator pot fi: metode statice (viteze de acionare mai
mici dect 1 mm/s) i metode dinamice (viteze de acionare mari, cdere liber, lo-
vire) [161].
Metodele statice difer n funcie de forma i materialul penetratorului,
condiiile de lucru, dimensiunile caracteristice ale amprentelor produse de penetra-
tor. Cele mai cunoscute i utilizate metode statice sunt: metodele Brinell, Vickers,
Rockwell, Knoop. Metodele dinamice se clasific dup modul de evaluare a duri-
tii, astfel: a) metode dinamico-plastice, la care se msoar amprentele metodele
Baumann-Steinrck, Poldi; b) metode dinamico-elastice, la care se msoar nli-
mea, unghiul de ricoare metodele Shore, Reindl, Nieberding.
Standardele romneti descriu metode de determinare a duritii pentru ma-
teriale metalice dar i pentru lemn, sticl, ipsos, plci i dale ceramice, srme i
produse din oel, materiale metalice sinterizate, materiale plastice, materiale poli-
merice alveolare flexibile, ceramici tehnice avansate, materiale antifrictiune (mul-
tistrat i masive), corpuri abrazive etc.:
- pentru materiale metalice se utilizeaz metodele Brinell, Vickers,
Rockwell, Knoop, Shore;
- pentru lemn se utilizeaz metodele Brinell, Knoop, Monnin, Janka; pen-
tru plci din fibre de lemn metoda Brinell i Monnin; pentru plci din achii de
lemn metoda Monnin; placaj de lemn - metoda Brinell
- pentru materiale plastice - metoda Shore.
n tabelul 3.8 se prezint cele mai utilizate metode.
Tabelul 3.8 Metode de determinare a duritii
Penetrator Forma amprentei
Metoda
form / material vedere lateral vedere de sus

Brinell bil / oel

Vickers diamant / piramid

Knoop diamant / piramid

con / diamant

Rockwell
sfer / oel

Pentru ncercri de duritate ale mbinrilor sudate din materiale metalice

exist standarde distincte, deoarece, n acest caz, ncercrile de duritate sunt dis-
tructive i n cadrul ncercrii de duritate sunt cerute condiii speciale.
De asemenea, exist standarde romneti pentru etalonarea mostrelor eta-
lon, verificarea aparatelor de ncercare etc.
 Metoda Brinell este larg utilizat n special pentru determinarea duritii
metalelor netratate termic i a aliajelor cu duriti medii sau reduse. Penetratorul
este o bil de oel, iar sarcinile de ncercare se aleg n funcie de diametrul bilei.
Pentru metoda Vickers penetratorul este din diamant i are forma de pira-
mid dreapt regulat, iar ncercrile se mpart n trei clase, dup mrimea sarcini-
lor de ncercare [161]:
- ncercri de duritate Vickers, HV5 pn la HV100 (STAS 492/1-85);
- ncercri de duritate Vickers cu sarcini mici, HV 0,2 pn la HV 3 (STAS
492/2-85);
- ncercri de duritate Vickers cu microsarcini (microduritate Vickers), cu sar-
cini mai mici dect 0,196 daN (0,2 kgf).
Determinarea microduritii este o ncercare frecvent utilizat n studiul
proprietilor stratului superficial al pieselor supuse proceselor tribologice.
Pentru duritatea Rockwell exist mai multe scri, n funcie de material,
condiiile de ncercare fiind impuse de standarde distincte: pentru materiale metali-
ce - scrile A, B, C, D, E, F, G, H, K; pentru materiale metalice - ncercarea de du-
ritate superficial Rockwell, scrile N si T; pentru materiale pentru garnituri de fre-
care - scrile L; M; R; S; alfa; pentru aliaje dure sinterizate scara A; pentru supra-
fete curbe convexe - scrile A,B,C,F,G i superficial N si T etc.
Pentru alegerea scrii, n principiu, se recomand folosirea forelor mari i
a penetratoarelor care asigur o ptrundere mai adnc, n vederea reducerii ponde-
rii erorilor de msurare. La alegerea scrii se ine seama de material (tipul i durita-
tea previzionat), de forma pieselor de ncercat i de limitele de ptrundere a pene-
tratorului, acest ultim factor fiind foarte important la determinarea duritii acoperi-
rilor.
Deoarece duritatea se exprim prin raportarea forei de ncrcare la o arie
(care se calculeaz n funcie de metoda de determinare folosit) unitatea de msur
n Sistemul Internaional este MPa, fiind nc tolerate uniti de msur ca
daN/mm2. Valorile de duritate determinate cu o anumit metod se simbolizeaz
corespunztor. De exemplu:
- duritatea Brinell simbol HB;
- duritatea Vickers dup valoarea duritii urmeaz simbolul metodei,
HV, apoi un prim indice reprezentnd sarcina de ncercare (n daN) i de un al doi-
lea indice, reprezentnd durata de meninere a sarcinii (n secunde);
- duritatea Rockwell dup valoarea duritii urmeaz simbolul scrii
Rockwell, HRA, HRB, HRC etc.; n cazul unora din scrile Rockwell se indic i
sarcina total de ncrcare.
ntre valorile de duritate obinute cu diverse metode i scri pot fi stabilite
relaii de comparaie, dar care nu sunt unanim acceptate i validate, avnd valabili-
tate pentru un anumit material, ntr-un anumit interval de duriti. Pentru a obine o
echivalare cert a valorilor de duritate este necesar efectuarea msurtorilor pe
materialul respectiv, ntr-un interval redus de duritate, cu aparate bine reglate me-
trologic. Standardul STAS R 883-82 prezint tabele comparative ale duritii, pen-
tru metale.
 Pentru determinarea duritii au fost construite numeroase tipuri de aparate
- unele sunt dedicate unei anumite metode, cele mai multe, ns, sunt de tip univer-
sal, permind aplicarea mai multor metode, diferenierea fcndu-se prin alegerea
tipului de penetrator i a metodologiei de aplicare a forei corespunztor metodei
alese. Necesitatea de a determina duritatea n afara laboratoarelor de specialitate a
dus la apariia i apoi la diversificarea tipurilor de aparate portabile. La momentul
actual sunt larg utilizate aparatele digitale, fixe sau portabile, care mresc precizia
ncercrii i a prelucrrii datelor. n cadrul ncercrilor de duritate sunt necesare
aparate, dispozitive i metode de msurare a dimensiunilor amprentelor i a adn-
cimii de ptrundere, specifice fiecrei metode.

3.6.2 Corelaia ntre duritate i rezistena la rupere

Penetratorul utilizat n toate metodele de determinare a duritii nvinge

mai nti rezistena materialului la deformaii elastice, apoi la deformaii plastice
mici i, uneori, la deformaii plastice importante.
Duritatea poate fi
considerat ca determinnd
aceeai proprietate mecanic
a materialului, ca, de exem-
plu, rezistena la traciune,
dar n alte condiii de solici-
tare. Experimental i prin
modelare numeric s-a con-
statat o relaie de proporio-
nalitate ntre duritate i re-
zistena la traciune, cu pre-
cdere n cazul materialelor
metalice din categoria oe-
lurilor, a fontelor i a alame-
lor, dar i pentru unii poli-
meri. n figura 3.36 se poate
observa corelaia dintre cele
dou caracteristici mecanice
ale materialelor, duritatea i
rezistena la ruperea de
traciune. Se poate da chiar
i o formul ce reflect
aceast proporionalitate, cu
Rm i HB n MPa:
Fig. 3.36. Rm = 0 ,345 HB
pentru paginatie la cuprins!!

3.5. Metode de evaluare a rugozitii ..................................................................... 123

3.5.1 Metoda mecanic cu palpare direct ..................................................................... 123
3.5.2 Metode optice ....................................................................................................... 126
3.5.3 Microscopia de for atomic ................................................................................ 127
3.5.4. Comparaie ntre metodele de evaluare a rugozitii ............................................ 128
3.6. Duritatea materialelor .............................................................................................. 130
3.6.1. Definire i metode de determinare ....................................................................... 130
3.6.2 Corelaia ntre duritate i rezistena la rupere........................................................ 133