Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Iași 2023
CUPRINS:
I. Noțiuni Introductive
II. Principiul de funcționare a PLD
III. Caracteristica optică a straturilor subțiri
IV. Metode optice de studiu ale straturilor subtiri
V. Aplicații
NOȚIUNI INTRODUCTIVE:
Straturile subțiri sunt staturi de material cu grosime in interval sub-nanometric pina la microni .Ele
sunt intens folosite datorită proprietăților pe care le conferă nanostructurarea: transport de sarcină
îmbunătățita, duritate crescută și, în cazul filmelor subțiri semiconductoare, amplificarea mișcării
purtătorilor de sarcină în planul filmului subțire comparativ cu planul perpendicular pe film.
Depunerea filmelor subţiri prin ablaţie laser pulsată (Pulsed Laser Deposition PLD) este o
metoda versatilă larg folosită în domeniul producerii de straturi subţiri, este o tehnică fizică de
depunere a straturilor subțiri care utilizează un fascicul laser pulsat de mare putere-. conține o sursă
laser excimer, (λ = 248 nm şi τFWHM = 7 ns), care generează un puls laser de mare strălucire, ce
pătrunde printr o fereastră de cuarţ în camera de reacţie Acesta lovește o țintă din materialul ce
urmează să fie depus, îl vaporizează și îl deplasează de la țintă (într-un con de plasmă) pe un substrat
(cum ar fi o plachetă de siliciu orientată spre țintă) pe care ulterior se depune ca o peliculă subțire.
Ablatia laser este un proces prin care o cantitate de material este indepartata de la suprafata unui
solid/lichid in urma iradierii laser. La fluenta mare(a laserului),materialul este extras din tinta sub
forma unui jet de plasma (in forma de pana laser/plasma plume)
METODA DE DEPUNERE UTILIZATĂ -DEPUNEREA LASER
PULSATĂ (PLD)
După cum se știe principalele caracteristici ale straturilor subtiri , care determina proprietatile optice ale sraturilor simple
sau mutiple sunt -
Indicele de refractie n
Factorul spectral de extincție k – al materailului și grosimea geometrica h (grosimea optica nh)
Aceste maxime împreună cu unghiul de incidență determină proprietățile optice ale straturilor subțiri exprimate prin factorul
spectral al reflexei (sau de transmisie )
Pentru determinarea constantelor optice n și k și a grosimii optice nh se folosesc diferite metode optice –
1.Metoda interferometrică
2.Metoda fotometrică
3.Metoda elipsometrică
4.Metoda de microscopie în reflexie/transmisie
5.Spectroscopia fotoelectronilor X/ in infrarosu Fourier /Raman
6.Microscopia electronica de baleiaj
7. Difractia radioatiilor X
SPECTROFOTOMETRUL UV–VIS-NIR
-pentru caracterizarea proprietăților optice (reflectanță și
trasmitanță )
-Are 3 elemente esențiale – sursa de lumină ,detectorul ,
monocromatorul
Principiul de funcționare-
este o tehnică bazată pe absorbția luminii de către o substanță.
Proba este iluminată cu o radiație electromagnetică cu lungimi de
undă în domeniul UV și
vizibil.
În funcție de natura substanței, lumina poate fi parțial absorbită
Determinarea grosimii stratului probei semiconductoare p reprezinta
tehnica Franjelor de interferenta
Din spectrul de transmitanță se pot extrage informații legate de:
coeficientul de absorbție (α), lărgimea optică a benzii interzise (Eg),
indicele de refracție (n), energia Urbach, etc.
ELIPSOMETRUL SPECTROSCOPIC