CAPITOLUL III

Metode difractometrice de analiz structural

3.1. Metodele roentgenografice de analiz structural
3.1.1. Metoda Laue
n anul 1912 M.Laue a expus ideea, conform creea,
cristalele reale pot fi utilizate n calitate de reea de difracie
tridimensional pentru radiaiile cu lungimea de und comen-
surail cu distana interatomic, iar pe aza taloului de di-
fracie poate fi studiat distriuia atomilor n cristale. !stfel
de radiaie poate fi radiaia "oentgen. #deea lui Laue, experi-
mental a fost confirmat de ctre colaoratorii $.%riedric& 'i
$.(nipping n acela'i an, pe aza cristalului de sfalerit )*n+,.
Modul de obinere a tabloului de difracie de la cristal
fix, n rezultatul radiaiei lui cu spectrul policromatic al
radiaiei Roentgen este propus de metoda Laue.
-aloul de difracie se nregistreaz de oicei, pe un film
plat instalat perpendicular pe direcia fasciculului primar. .ac
filmul se instaleaz dup cristal, taloul nregistrat se nume'te
lauegram )fig./0,a,. n acest caz se nregistreaz maxime de
difracie n inter1alul ung&iurilor de la 23 pn la /43. 5entru
oinerea taloului de difracie )roentgenogramei, de la un
cristal cu dimensiuni geometrice mari 'i cu un coeficient de
asorie pronunat, caseta cu filmul "oentgen se instaleaz
pn la cristal )fig./0,b,. !stfel pe film se nregistreaz maxime
n inter1alul de ung&iuri 243 'i 043. "oentgenograma oinut
se numeste epigram.
n metoda Laue se utilizeaz spectrul policromatic )spec-
trul de frnare,, care poate fi oinut de la orice tu "oentgen,
destinat pentru analiza structural, ns mai eficace este tuul
cu anodul de 6olfram care funcioneaz la tensiuni egale cu 74
pn la 0489. +e poate de folosit , de asemenea, tuuri cu anod
de moliden sau cupru. n acest caz, taloul spectrului continuu
oinut posed o intensitate mai mic, pe el apar liniile spectru-
27
lui liniar care pot complica taloul roentgenogramei Laue. :x-
poziia oinerii taloului de difracie depinde de dimensiunile
cristalului 'i de proprietatea de asorie a lui, distana cristal-
film, calitatea instalaiei camerei 'i fasciculului primar, regimul
de funcionare al tuului "oentgen 'i, adesea, acest inter1al de
timp se conine ntre 4,7 pn la 2 ore.
%ig./0. Metodele Laue de oinere a roentgenogramelor;
a, metoda direct< , metoda indirect,
unde A colimator, C cristal, F caseta cu film "oentgen,
P maximul de difracie )reflexul,.
Metoda Laue se efectueaz n camera =.5= )=amera
pentru determinarea parametrilor cristalului,, ="" )=amera
"oentgen cu rotaie, etc. 5e lauegram )fig./9, maximele de
difracie sunt distriuite pe linii zonale. %iecare linie zonal se
oine de la familiile de plane ce aparin unei zone cristalografice.
"azele reflectate de la planele zonale alctuiesc o suprafa conic,
axa creia formeaz axa zonei, iar una din generatoare coincide cu
fasciculul primar. >ng&iul de la 1rful conului este egal cu ung&iul
dulu dintre axa zonei 'i direcia fasciculului primar )fig.?4,;
22
=
=
%
%
%ig./9. Lauegrama cristalului @i).MA,
2
oinut
utiliznd radiaia moliden nefiltrat
%ig.?4. Binerea suprafeei conice de ctre razele
reflectate pe planele zonei,
unde; S
4
C sensul razei incidente< S C sensul razei difractate<


C axa zonei<

C ung&iul dintre axa zonei 'i direcia

razei incidente.
La intersecia conurilor de difracie cu filmul "oentgen
)film plat, perpendicular pe generatoarea comun a tuturor co-
nurilor C adic fasciculul primar C se oin linii zonale. %orma
liniilor zonale )elips, paraol, &iperol, dreapt, depinde de
2D
ung&iul dintre axa zonei 'i direcia fasciculului primar. Liniilor
zonale respecti1e le corespund ung&iurile;
43 E F E ?73C elips,
! G ?73 C paraol,
?73 E F E 943 C &iperol,
! G 943 C linie dreapt.
%ig.?1. Binerea unei linii zonale )dreapt,< axa zonei
este perpendicular pe direcia fasciculului primar )FG943,
Metoda "aue este utilizat# la determinarea orientaiei spa$
iale %i simetriei monocristalului. n acest scop se construie'te
proiecia gnomostereografic# a cristalului conform lauegramei.
"elaia dintre reflexiile pe lauegram 'i proiecia gnomo-
stereografic a cristalului este prezentat n fig.?2, unde -
urma razei primare pe lauegram< R maxim de difracie oi-
nut de la familia de plane reticulare )&8l, ale cristalului =. !m-
ele raze se afl n planul desenului. =ircumferina pe desen
reprezint seciunea sferei< PP C urma planului de proiecii< BH
C polul proieciilor< @H C normala la planul de ferlexie a
cirstalului< @ C proiecia gnomostereografic a planului )&8l,.
20
%ig.?2. "elaia dintre reflexiile pe lauegram 'i proiecia
gnomostereografic a cristalului unde; &'(l) C planul reflector
al cristalului< FF filmul "oentgen< C*+ normala planului
)&8l,< *, proiecia sferic a normalei< *+ proiecia gnomic
a planului )&8l,< R- reflexie pe lauegram< urma razei inci-
dente< PP urma planului de proiecii< H polul proieciilor<
* proiecia gnomostereografic a planului )&8l,.
!stfel, pentru determinarea proieciei gnomostereografice
a cristalului este necesar de msurat pe lauegram distana R
de la centrul lauegramei )urma fasciculului primar, pn la
fiecare maxim )reflexie, al liniei zonale studiate, dup care
calculm 1aloarea ung&iului - conform formulei;
D
O R
t g = 2 , )/.1,
29
R
F
P
P
F
*+
C
unde . distana dintre cristal 'i film &C), mrimea stan-
dard care se indic n pa'aportul camerei.
D4
!poi se determin ) (
2
?7

= Rtg CN , )/.2,
unde; R raza reelei $ulf )=BH,.
5e proiecia gnomostereografic reflexiile sunt distriuite
pe o linie zonal, punctele respecti1e )@, sunt situate pe acela'i
meridian al reelei $ulf. !xa zonei )directia cristalografic a
reelei directe, pe proiecie se determin ca polul arcului cercu-
lui mare )meridianul,. !stfel, pe lauegram pot fi determinate
direciile cristalografice ale reelei directe 'i reciproce.
!naliza proieciei gnomosteriografice, oinute pe lauegram
ofer posiilitatea orientaiei, stailirea singoniei 'i a clasei de di-
fracie a cristalului. !ceste proleme sunt descrise n I14J.
n metoda Laue toate razele difractate apar concomitent,
deaceea simetria distriuiei maximelor de difracie fa de
centru roentgenogramei corespunde simetriei distriuiei
planelor de reflexie a cristalului n raport cu axele sau planele
de simetrie paralele direciei de propagare a fasciculului primar
al razelor K.
/imetria fasciculului razelor difractate se 0a deosebi de
simetria cristalului cu centrul de simetrie, deoarece difracia
adaug# obligatoriu centrul de simetrie grupului punctual
reflexiile de la planele '(l %i l ( ' fa# de nodul 1122233 au
acelea%i intensit#i - Legea Friedel.
.e exemplu, axa de simetrie de ordinul doi, perpendicu-
lar pe direcia fasciculului primar conduce la un talou de
difracie ec&i1alent cu planul de simetrie. !stfel, cristalele
celor trei clase de simetrie
m
C
'
2
2
=
,
m C
s
=
'i
2
2
= C

aparin aceleia'i clase de simetrie de difracie sau "aue$clase
de simetrie
m
C
'
2
2
=
.
Laue-clasa sau clasa de difracie a cristalului numim
totalitatea elementelor de simetrie ale cristalului plus centrul
D1
de simetrie, lundu$se n consideraie %i elementele deri0abile
posibile.
@umrul Laue-claselor de simetrie constituie cifra 11
)din cele /2 de grupuri punctuale de simetrie cristalografice,
toate fiind centrosimetrice.
Lauegrama reflect simetria axial 'i planar paralel
razei incidente. n conformitate cu aceasta, n total pot exista
14 tipuri de lauegrame )fig.?/,;
=
1
G1, =
1
Gm,
=
2
G2, =
21
G2m,
=
/
G/, =
/1
G/m,
=
?
G?, =
?1
G?m,
=
2
G2, =
21
G2m.
%ig.?/. *ece tipuri de lauegrame
.e la cristalele triclinice nu se oin lauegrame simetrice<
cristalele monocline redau lauegrame cu axa de simetrie C
4
54,
dac axa cristalografic b coincide cu fasciculul primar, sau linia
de simetrie )planul, C
0
5m, dac axa de ordinul doi este per-
pendicular )sau planul de simetrie paralel, cu raza K incident.
D2
-aelul 7.
Determinarea singoniei i clasei de difracie (clasei
Laue de simetrie) a cristalului dup simetria lauegramelor
Singonia
Clasa de
difracie
(clasa
Laue de
simetrie)
Grupurile
punctuale de
simetrie
posibile
Tipul de simetrie al
lauegramei cnd cristalul
este filmat n lungul direciei
cristalografice respective
[001] [100] [010] [110] [111]
Triclinic
1
1,
1
1 1 1 1 1
Monoclinic 2Lm 2, m, 2Lm m m 2 1 1
Romic mmm
222, mm2,
mmm
2m 2m 2m m 1
Trigonal
/ /, / / 1 1 1 1
/ m /2, /m, / m /m 2 2 2 1
Tetragonal
?Lm ?,
?
, ?Lm ? m m m 1
?Lmmm
?22, ?mm,
?2
m, ?Lmmm
?m 2m 2m 2m 1
!e"agonal
2Lm 2, 2 , 2Lm 2 m m m 1
2Lmmm
222, 2mm,
2 m2, 2Lmmm
2m 2m 2m 2m 1
#uic
m / 2/, m / 2m 2m 2m m /
m / m
?/2, / ? m m
/ m
?m ?m ?m 2m /m
Lauegramele de la cristalele romice conin dou linii
)plane, de simetrie reciproc perpendiculare =
21
G2m, dac o
oarecare ax principal coincide cu raza primar "oentgen.
Brientnd cristalele de singonie cuic cu axele n fasciculul
"oentgen incident oinem Lauegrame de tipul =
?1
G?m, n
direcia diagonalelor spaiale - =
/1
G/m, pentru clasa B
&
Gm/m
'i =
/
G/ C pentru Laue-clasa -Gm/. n ta.7 sunt prezentate 11
Laue-clase )clase de difracie, n corespundere cu grupele
punctuale de simetrie atunci cnd axele, diagonalele muc&iilor
sau celulei sunt orientate n direcia fasciculului primar.
D2
3.1.. Metoda monocristalului rotitor !Metoda oscila"iei#
Metoda monocristalului rotitor &oscilant) presupune obinerea
tabloului de difracie, care apare n urma radiaiei
monocristalului rotitor &oscilant) n 6urul unei di$
recii cristalografice perpendiculare fasciculului
primar de raze 7 monocromatice.
Metoda monocristalului rotitor se efectueaz cu aMutorul
="" )=amera "oentgen cu rotaie,.
Metoda oscilaiei monocristalului pre0ede efectuarea n 6urul
unei axe &unei direcii cristalografice fixate)
perpendiculare pe fasciculul primar de raze 7
oscilaii cu perioade limitate.
#nter1alul ung&iurilor N al oscilaiilor poate lua urmtoa-
rele 1alori; 7, 14, 17, 24, 273.
+tudiul monocristalelor prin metoda oscilaiilor se efec-
tueaz cu aMutorul camerei =.5=. n raport cu metoda rotaiei,
metoda oscilaiei monocristalului are o serie de a1antaMe;
8) expoziia roentgenogramei obinute prin metoda oscilaiei
este mai mic# de 9:2;<= dec#t n metoda rotaiei>
4) n cazul metodei oscilaiilor roentgenograma obinut# este
mai puin sensibil# deza6ust#rii cristalului &de0iaiei mbi$
n#rii direciei cristalografice cu axa de oscilaii a camerei)>
/, roentgenograma oscilaiei conine mai puine maxime
&reflexii) pe fiecare linie stratal#, ceea ce conduce la o
indexare mai simpl# a ei.
-aloul de difracie oinut prin aceast metod poate fi
descris folosind noiuni de reea reciproc# 'i sfera ?@ald
)sfera de reflexie,. n fig.?? reeaua reciproc a cristalului este
redat ca o totalitate de plane reticulare perpendiculare axei de
rotaie )oscilaie, care coincide cu direcia cristalografic
1u0@3. "otirea cristalului n Murul axei perpendiculare pe
fasciculul primar corespunde rotaiei reelei reciproce n Murul
axei paralele ce trece prin nodul cu indici nuli. La rotaia
D/
reelei reciproce nodurile ei re1in pe suprafaa sferei :6ald 'i,
ndeplinind condiia Laue, conduc la apariia taloului de
interferen. "eflexiile )maximele de intrferen, pe roentgeno-
gram reprezint rezultatul interseciei n unul 'i acela'i punct
pe filmul cilindric a mai multor raze difractate. "azele difracta-
te se distriuie pe o totalitate de suprafee conice, axa crora
coincide cu axa de rotaie )oscilaie, a cristalului 'i intersectea-
z filmul cilindric pe circumferine. %ilmul desf'urat reprezin-
t linii perpendiculare pe axa de rotaie. .e aceea, reflexiile pe
film sunt distriuite pe linii. !ceste linii se numesc stratale 'i
reprezint intersecia conurilor de difracie cu filmul cilindric.
:le apar ca rezultat al interseciei nodurilor reelei reciproce cu
sfera :6ald.
n calitate de linie nul se selecteaz acea care coincide
cu direcia fasciculului primar 'i care se oine n rezultatul
interseciei planului reticular nul al reelei cu sfera de reflexie.
@umrul liniilor stratale oinute prin rotaie )oscilaie,
pe roentgenogram este limitat de dimensiunea casetei camerei.
Liniile stratale se numr n sus 'i n Mos de la linia nul )n sus
cu semnul plus, n Mos cu semnul minus, n raport cu care
roentgenograma este simetric. .istanele dintre linii sunt
determinate de ung&iurile de la 1rf a conurilor de difracie,
ns, distanele dintre planele reticulare perpendiculare axei de
rotaie n spaiul reciproc al cristalului reprezint perioada de
identitate n direcia axei de rotaie )oscilaie, #
u16
. ntre
perioada de identitate 'i distana interplanar a reelei reciproce
d
O
exist relaia;
O
1
d
A = . )/./,
D?
%ig.??. +c&ema formrii 'i registraiei taloului de la difracie,
oinut prin metoda cristalului rotitor, unde C$ cristalul<1u0@3
axa de rotaie a cristalului< F C filmul "oentgen< R
c
C raza
casetei cilindrice<

1
4
= =
S S
- raza sferei :6ald<l
n
C
distana dintre linia nul )nG4, 'i linia n stratal< d
B
distana
interplanar a reelei reciproce.
.in fig.?? oser1m c

L 1
sin
O
nd
n
= , unde
n

C
ung&iul dintre generatoarea conului 'i planul perpendicular pe
axa sa< n numrul liniei stratale< 8<C C raza sferei :6ald.
-ot din aceast relaie se oine;
n
c
n
l
R
ctg =
,
unde R
c
C raza casetei cilindrice )filmului,< l
n
C distana dintre
linia de strat de ordinul n 'i cea nul msurat pe
roentgenogram.
D7
F
R
c
"ezol1nd aceste trei ecuaii oinem;
2
1

+ =
n
C
l
R
n I . )/.?,
9ederea unei roentgenograme oinute prin oscilaie este
redat n fig.?7.
%ig.?7. "oentgenograma oinut de la cristalul #n5,
radiat cu raze K nefiltrate )anodul =u,
5recizia determinrii perioadei de identitate prin metoda
descris cre'te cu mrirea distanei dintre liniile stratale, de
aceea, se msoar distanele ntre liniile maximal ndeprtate
de la cea nul.
.eterminarea perioadelor de identitate prin metoda osci-
laiei )rotaiei, n Murul axelor, diagonalelor feelor sau diagona-
lelor spaiale ne ofer posiilitatea cunoa'terii dimensiunilor
celulei elementare, 1olumului ei 'i tipul reelei Pra1ais a cris-
talului.
D2
3.1.3. Metoda $e%&e'Sc(errer
binerea tabloului de difracie de la o prob# policristalin#
fix# sau n rotaie, n rezultatul radiaiei ei cu raze Roentgen
monocromatice, poart# denumirea de metoda De$e-%c&errer.
%enomenul difraciei radiaiilor K monocromatice )ca-
racteristice, de la policristale a fost oser1at n anul 1912 de
ctre .eQe 'i +c&errer. Metoda se aplic pentru determinarea
structurii atomare a sustanelor policristaline )deseori a
sustanelor policristaline cu structuri nu prea complexe care
nu pot fi oinute n form monocristalin,< efectuarea analizei
calitati0e de faz, identificarea fazelor cristaline n minerale,
aliaMe, soluii solide etc., cunoscnd distanele interplanare d
'(l
'i
A
'(l
.
!ceast metod este util pentru analiza cantitati0# de
faz, adic identificarea fazelor n sustana cristalin 'i determi-
narea cantitati1 a lor< studierea tranziiei de faz< determinarea
dimensiunilor medii a locurilor )cristalitelor, proelor policris-
taline )sau a funciei de distriuie a lor dup dimensiuni,, care
determin profilul maximelor de difracie< studierea tensiunilor
interne< texturii C orientarea preferenial a cristalitelor n proa
policristalin, ct 'i la determinarea precis a parametrilor celulei
elementare a sustanei.
Metoda experimental 'i aparatul matematic au fost per-
fecionate de ctre !.Rull. .e aceea, analiza structural a
sustanelor policristaline se numeste metoda .ebDe$/c'errer$
Eull )sau prescurtat C metoda .ebDe,. -aloul de difracie n
metoda .eQe poate fi oinut cu aMutorul modelului reelei
reciproce 'i a sferei :6ald. 5entru aceasta, fiecare cristalit din
proa policristalin se nlocuie'te cu reeaua lui reciproc cu
centrul comun pentru tot conglomeratul de cristalite. 5roa
policristalin conine cristalite cu orientarea la fel de proail,
ceea ce este ec&i1alent cu rotaia unui singur cristalit 'i, res-
pecti1, al reelei sale reciproce. 5entru o astfel de pro nodu-
DD
rile reelei reciproce redate de 1ectorul )
'(l
1or fi reprezentate
pe o suprafa sferic cu raza
.
hkl
hkl
d
1
= H
%iecrei treimi
'(l din nodurile reelei reciproce i 1a corespunde o sfer
=
hkl
H
const. !'a dar, totalitatea 1ectorilor )
'(l
se nlocuie'te
cu o sistem de sfere concentrice de raza hkl
H
. -otalitatea
acestor sfere reprezint spaiul reciproc policristalului )fig.?2,.

%ig.?2. !spectul n spaiul reciproc al proei
policristaline
5entru determinarea direciei razelor difractate de la
policristal este necesar de construit sfera :6ald )sfera reflexiei,
cu raza 1L )unde S lungimea de und a razelor K monocro-
matice,. =onstrucia sferei :6ald se efectueaz n conformitate
cu ecuaia condensat )1ectorial, a lui Laue, astfel nct,
centru comun al sferelor, ce reprezint policristalul n spaiul
reciproc, s se afle pe suprafaa sferei :6ald, iar centrul ei C pe
direcia fasciculului primar al razelor K )fig.?D,. "azele
difractate 1or trece din centrul sferei de reflexie, alctuind o
familie de conuri de difracie cu ung&iurile la 1rf egale cu ?-.
D0
%ig.?D. #nterpretarea taloului de difracie de la o pro
policristalin, unde B C centrul sferelor concentrice care repre-
zint n spaiul reciproc policristalul< B
1
C centrul sferei :6ald.
-aloul de difracie, n form de circumferine concentri-
ce, se nregistreaz pe un film cilindric, perpendicular pe fasci-
culul incident< pe acest film cilindric cu axa perpendicular pe
direcia razei incidente 'i care trece prin pro, oinem un sis-
tem de arcuri simetrice n raport cu punctul de ie'ire a razei pri-
mare )fig.?0,.
D9
%ig.?0. .eQegrama oinut de la o pro de germaniu,
utiliznd =u(
N
C radiaie
Metoda .eeQ a proelor cilindrice policristaline se
efectueaz n camera #D )Camera .ebDe, sau n camera
"oentgen uni1ersal )#R', pe filme cilindrice cu diametrul de
7D,/ )11?,2, mm. B astfel de camer este comod fiindc
mrimea distanei medii ntre liniile simetrice pe
roentgenogram )debDegram#, de la centru )ie'irea razei
primare, n milimetri corespunde ung&iurilor n grade. -aloul
de difracie nregistrat se cuprinde n inter1alul de la ? 3pn la
073.
%iecare perec&e de linii simetrice pe deQegram se
oine n rezultatul TreflexieiU razelor "oentgen de la o familie
de plane reticulare. .ac scopul final al interpretaiei deQegra-
mei este de a determina parametrii celulei elementare a sus-
tanei studiate, atunci este necesar de indexat fiecare linie
)indexarea liniei const n determinarea indicilor '(l ale ei,.
#ndexarea roentgenogramelor de la sustane cu simetria Moas
'i cu celulele elementare mari este dificil, iar uneori C imposi-
il, din cauza c pe roentgenogram lipsesc reflexe de intensi-
tate mic iar multe maxime de la planele cu distane interplana-
re de acela'i ordin se contopesc. :xist dou metode principale
de indexare a deQegramelor; analitic# 'i grafic#.
04
Metoda analitic
1
5entru aceasta este necesar de determinat relaia dintre
ung&iurile V 'i indicii '(l a liniilor pe deQegram. n acest
scop se folose'te formula Pragg-$ulf
'(l '(l
d sin 2 =
)/.7,
'i formula ptratic a cristalului cuic;
2
2 2 2
2
1
a
l ( '
d '(l
+ +
= . )/.2,
.e aici rezult;
( )
2 2 2
2
2
2
?
sin l ( '
a
+ + =

.
+criind ultima relaie pentru reflexele cu lungimi de und

de la fiecare familie de plane cu indicii )&8l,, oinem;

( )
2
1
2
1
2
1
2
2
1
2
?
sin l ( '
a
+ + =

,
( )
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
?
sin l ( '
a
+ + =

,
( )
2
/
2
/
2
/
2
2
/
2
?
sin l ( '
a
+ + =

, '.a.m.d.
n final a1em;
: ) ( : ) ( ... : sin : sin : sin
2
2
2
2
2
2
2
1
2
1
2
1 /
2
2
2
1
2
l k h l k h + + + + =
... : ) ( :
2
/
2
/
2
/
l k h + + )/.D,
>ng&iul Pragg se determin dup formula;

2
/24
?
2

=
R
l
, )/.0,
unde 2l C este distana dintre liniile simetrice pe deQegram<
" C raza camerei .eQe.
1
5entru cristalul de singonie cuic
01
=alculnd ptratul sinusurilor ung&iurilor de difracie pentru
liniile = pe deQegram, determinm un 'ir de numere care
corespund raporturilor sumelor ptratelor indicilor de interferen.
!cest 'ir poate fi redus, aducndu-l la o form a numerelor simple.
5entru aceasta, considerm primul numr al 'irului 1, 2 sau /.
.ac dup reducere oinem; 1;2;/;?;7;2;0;9;..., sau
2;?;2;0;14;12;1?;12.., sau /;?;0;11;12;12;19;24;.., atunci n cores-
pundere cu legea diminurii, a1em reea primiti1 )P,, centrat n
1olum )A, sau cu fee centrate )F,, respecti1 pentru sistemul cuic.
!stfel, cunoscnd 'irul de rapoarte
2
sin , se determin ti-
pul celulei elementare 'i pentru fiecare linie de pe deQegram,
ncepnd cu prima, nscriem indicii de interferen '(l.
=onstanta reelei se calculeaz din relaia;
2 2 2
sin 2
l ( ' a + + =

. )/.9,
Metoda grafic
5entru cristalele cu simetrie cuic oinem un grafic
simplu )fig.?9, care ne d posiilitatea s indexm roentgeno-
grama 'i s determinm constanta reelei cristaline. Araficul se
construie'te cu aMutorul relaiei;
2 2 2
2
sin l ( '
a
+ + =

. )/.14,
02
%ig.?9. Araficul de indexare a roentgenogramei
cristalului de singonie cuic
2
.ac pe axa asciselor se depune
a

)lungimea de und
raportat la constanta reelei,, iar pe ordonate C sin , atunci
este e1ident c dependena

=
a
f

sin
, pentru orice treime
din '(l 1a fi o dreapt care 1a trece prin originea de coordonate
)fig.?9,.
5entru utilizarea acestui grafic este necesar de depus pe o
and de &rtie 1alorile sin n aceea'i scar. !poi suprapu-
nem anda paralel cu axa ordonatelor a graficului , astfel nct
nceputul ei s coincid cu originea 'i o deplasm pe direcia
orizontal pn la coincidena punctelor depuse pe and cu
2
@umerele 1,2,/ etc. corespund sumei ptratelor indicilor de interferen.
0/
anumite linii ale graficului, care 1or indica suma ptratelor in-
dicilor
2 2 2
l ( ' + + . 5e ascis citim 1aloarea
a

. %iind
cunoscut

se determin parametrul reelei a.

Analiza structural este determinati* +n dez*oltarea
,tiin"ei des-re structura ,i -ro-riet"ile su%stan"ei. Metode-
le studiate mai sus reprezint -rima eta- a in1estigaiilor
structurale a sustanei. ?le ne ofer# posibilitatea rezol0#rii
unui ntreg %ir de problemeF
determinarea gradului de cristalinitate a substanei,
determinarea singoniei,
determinarea parametrilor reelei cristaline,
determinarea tipului reelei Gra0ais,
determinarea claselor de cristalizare %i de difracie ale
mono %i policristalelor etc.
B alt serie de proleme, care pot fi soluionate cu aMuto-
rul metodelor date, sunt prolemele cu caracter aplicati1;
determinarea gradului de perfeciune a monocristalelor,
determinarea dimensiunilor cristalitelor,
determinarea componenei de faz#,
depistarea prezenei defectelor n cristale etc.
n acest scop se utilizeaz "oentgen-camere oi'nuite 'i
speciale, care prezint un suiect de studiu special.
La eta-a a doua a analizei structurale se soluioneaz a'a
proleme principale ale structurii sustanei ca;
determinarea distribuiei densit#ii de electroni n celula
elementar# %i, totodat#, n substan#. Aceasta ne permite s#
determin#m cu mare precizie parametrii celulei elemen$
tare, s# calcul#m razele metalice, co0alente, ionice %i Han
der Iaals ale atomilor>
determinarea gradului de mpac'etare ale atomilor,
ionilor, moleculelor, n substana cristalin#>
determinarea tipului leg#turii interatomice &leg#turii c'imice)>
0?
determinarea amplitudinilor oscilaiilor atomilor &spectrul
fononic) al substanei etc.
=unoa'terea precis a parametrilor reelei d posiilita-
tea de a staili tipul imperfeciunilor structurale n cristale, de
apreciat transformrile structurale care apar n rezultatul 1aria-
iei temperaturii, te&nologiei prelucrrii etc.
"ezol1area prolemelor analizei structurale la ni1elul ce-
rinelor contemporane ine de rezultatele perfecionrii apara-
turii, preciziei experimentului 'i a metodelor aplicate n dome-
niul analizei structurale. #nstalaiile contemporane destinate
analizei structurale sunt difractometrele, funcionarea crora se
azeaz pe roentgenometrie de nalt precizie, diriMate de
computere. :le permit studierea reelei reciproce a mono C 'i a
policristalelor, utiliznd contoarele de nregistrare precis a
cuantelor de raze K care posterior dau informaie preioas
pentru analiza structural.
07