Sunteți pe pagina 1din 10

2.Aliaje cu memoria formei. Metode de obinere i testare 2.1.

Obinerea aliajelor cu memoria formei


1. 2. 3. 4. Tehnologia actuala ofera patru posibilitati: obtinerea aliajelor policristaline prin procedeul clasic de topire directa a materiei prime obtinerea aliajelor prin metalurgia pulberilor obtinerea aliajelor prin solidificare rapida obtinerea aliajelor monocristaline prin procedee neconventionale de crestere a cristalelor

2.1.1. Topirea si turnarea aliajelor cu memoria formei

AMF cu structura policristalina se pot elabora prin topire directa in cuptorul cu inducie n: atmosfera obisnuita, vid, atmosfera de protectie. In cazul aliajelor de Cu-Zn viteza de incalzire este mica, rezultnd pierderi mari de Zn prin oxidare. Topirea si turnarea trebuie efectuate cat mai rapid utilizand materii prime de inalta puritate si cntrite cu mare precizie. Intervalul de solidificare in domeniul de compozitie care prezinta interes este foarte ingust 2830C. Solidificarea este sotita de reduceri importante de volum ceea ce conduce la apariia de retasuri mari de solidificare ale lingoului turnat. De aici rezult necesitatea utilizrii pulberilor exoterme pentru obinerea unei solidificari controlate. In cazul aliajelor Cu-Al-Ni topirea se realizeaza de obicei in vid sau gaze inerte cu materii prime pure Cu, Al , Ni 99,99%. Se pot aduga elemente de aliere precum Mn, Ti, pentru imbunatatirea caracteristicilor mecanice i elemente modificatoare Co, Fe, Ti, V sau Zr (0,5%) pentru finisarea granulaiei.
2.1.2. Aliajele cu memoria formei obinute prin metalurgia pulberilor

Aliajele policristaline Cu-Al-Ni obinute prin topire clasic sunt fragile prelucrarea ulterioar fiind destul de dificil. O metod eficient pentru obinerea unui aliaj policristalin Cu Al Ni este prin metalurgia pulberilor. Pulberile se obin prin pulverizare n ap, metod relativ acceptabil din punct de vedere al pretului. Pulberile se preseaz izostatic la cald dup care se lamineaz la 900oC. Rcirea se face la 0oC n ap cu ghea, structura final fiind martensitic. Este cunoscut faptul c dup atomizare suprafaa particulelor este acoperit cu un film subire de oxid.

Finisarea dimensiunii grauntilor se realizeaza prin inhibarea cresterii acestora datorita filmului stabil de alumina format pe suprafata particulelor de pulbere, chiar i dup prelucrarea la cald.

Fig.2.1 Microstructura unui aliaj Cu14.2Al4.2Ni obinut prin netalurgia pulberilor

2.1.3. Aliaje cu memoria formei obtinute prin solidificare rapida

Se pot obtine dimensiuni ale grauntilor de 1m-20m. Microstructura unei benzi obinute prin rcire rapid este prezentat n figura 1.7.

Fig.2.2.Microstructur pe suprafaa unei benzi obinut prin solidificare rapid dintr-un aliaj Cu-Al-Ni

Transformarea iniial este ncetinit n acesta tehnic si conduce la obtinerea unui histerezis lrgit.

2.1.4. Obtinerea monocristalelor din aliaje cu baza Cu prin metoda Bridgman

Se pot obtine monocristale cu diferite orientari cristalografice si proprietati mecanice superioare materialelor obtinute prin procedee clasice. Monocristalele din sistemul Cu-Zn-Al pot atinge o rezistenta la tractiune de 800 MPa. Instalatia costa dintr-un cuptor vertical cu un gradient termic preferential. arja se introduce intr-un tub de cuart care coboar prin cuptor i pe masur ce scade temperatura are loc solidificarea cristalului cu o anumita orientare. Materia prima consta din aliaj obtinut in cuptor cu inductie sau cuptor cu rezistenta electrica, din elemente cu puritate de 99,95%. Gradientul de temperatura se obtine prin utilizarea de autotransformatoare. Tubul de cuart are dimensiuni standardizate cuprinse intre 5mm si 15mm si este acoperit cu ciment refractar. arja se intoduce in cuptor in zona de temperatura maxima unde se mentine timp de o ora pentru topire.Tubul coboara cu o viteza de 3,6 cm/h; intervalul de solidificare fiind cuprins intre 7800C si 1060C. Solidificarea se initiaza la varf si cresterea are loc intr-o singura directie apoximativ 7 ore.Orice vibratie perturbeaza orientarea interfetei solid-lichid si modifica orientarea cristalului. Cristalul modificat se introduce intr-un recipient cu apa la temperatura ambianta unde se realizeaza calirea. Factorii care influenteaza cresterea monocristalelor sunt: gradientul de temperatura al cuptorului; timpul de mentinere in zona de topire viteza de coborare a monocristalului si implicit viteza de racire a materialului

2.2.Testarea aliajelor cu memoria formei


Aliajele cu memoria formei pot fi testate din punctul de vedere al caracteristicilor de memorie ct i al caracteristicilor mecanice prin investigaii specifice. Caracteristicile de memorie deriv din transformri martensitice reversibile, de aceea investigaiile trebuie s pun n eviden n primul rnd acest aspect prin urmtoarele tipuri de investigaii: calorimetrie diferenial de baleiaj; determinarea rezistivitii electrice; microscopie electronic; microscopie optic;

difractometrie de radiaie X ncercarea la traciune.

2.2.1.Metoda DSC (Differential Scanning Calorimetry)

Dac proba sufer transformri de faz n intervalul studiat atunci apare un efect termic care const fie n absorbie de cldur - efect endoterm, fie cedare de cldur - efect exoterm. Instrumentul va detecta dac temperatura probei scade sub temperatura referinei respectiv efect endoterm, sau crete peste temperatura referinei efectul exoterm (fig.2.3). Proba i referina sunt nclzite cu vitez constant diagrama prezentnd pe axa x temperatura care este proporional cu timpul. Picurile apar ca o deviaie de la linia de baz a determinrii i pun n eviden efectele termice care nsoesc transformrile pe care le sufer proba. Calorimetria diferenial de baleiaj este o metod de analiz care permite pe lng stabilirea punctelor de transformare ale unui material n timpul unui proces de nclzire sau de rcire cu vitez constant precum i studiul termodinamicii respectiv al cineticii acestor transformri.

Fig2.3 Schema DSC cu compensare de putere Elmer Perkin

Schema unui DSC de tip Elmer Perkin este sintetizat n figura 2.5. Cele dou termorezistene sunt conectate astfel nct s msoare fluxul termic pe care cele dou elemente de nclzire l genereaz. De exemplu dac proba sufer o transformare nsoit de un efect termic endoterm

rezistena de sub creuzetul cu proba va fi alimentat cu putere suplimentar astfel nct ntre prob i referin s nu existe nici o diferen. Pe de alt parte dac efectul este exoterm atunci cea care va primi putere suplimentar va fi rezistena de sub referin astfel nct s se anuleze diferena de temperatur creat prin suprnclzirea probei. Curbele rezultate din calorimetru sunt prelucrate, n sensul eliminrii punctelor care nu sunt implicate n transformarea reversibil, se traseaz linia de baz pe baza softului incorporat n programul Origin7. Punctele din afara liniei de baz sunt eliminate iar punctele critice de transformare sunt determinate precis.

Fig2.4 Prelucrare curbe DSC

2.2.2. Msurarea Rezistivitii Electrice (ER)

Tehnica msurarea rezistivitii electrice (electrical resistivity) pe care o vom numi mai departe tehnica ER este deosebit de utilizat n studiul aliajelor cu memoria formei. Aliajele cu memoria formei prezint diferite fenomene (efect de memorie ntr-un singur sens, efect de memorie n dublu sens, superelasticitate, comportare tip cauciuc) care sunt induse fie prin modificri ale temperaturii fie sub influena unei tensiuni mecanice. Toate aceste efecte sunt caracterizate de modificarea structurii cristaline a aliajului cu memoria formei (AMF). Variaia rezistivitii electrice cu temperatura este o funcie liniar atunci cnd nu exis transformare de faz. S-a observat c orice modificare structural indus termic sau mecanic conduce implicit la modificarea rezistivitii electrice a aliajului.

Principiul de baz al unei astfel de determinri presupune conectarea in punte Wheatstone alimentat n curent continuu a patru fire dintre care unul (R1) este proba din aliaj cu memoria formei (fig2.5.). Materialele din care sunt fabricate celelalte trei fire nu prezint transformri de faz n intervalul de temperatur studiat.

R1
U0 R2

R4

U
R3

Fig.2.5. Schema de conectare a probei (R1) n circuitul de msur

n figura 2.6. se prezint o diagram de variaie a rezistivitii electrice cu temperatura. Determinarea s-a fcut pe o prob din AMF CuAl13Ni4 clit de la 8500C n ap cu ghea. Se observ c la creterea temperaturii variaia rezistivitii este liniar atta timp ct n prob nu are loc nici o transformare de faz. Deviaia de la aceast variaie liniar apare n momentul n care ncepe transformarea martensitei n austenit. Cnd aceast transformare este finalizat apare din nou o dreapt cu aceeai pant ca la nceput. La rcire fenomenul este invers. Respectiv apare transformarea austenitei n martensit. Se pot astfel determina punctele critice As, Af, Ms, Mf.

12.5

12.0
Resistivity (micOhm-cm)

As=800C Af=1020C Ms=980C Mf=600C

11.5

11.0

10.5

10.0 0

CuAlNi Annealed at 850degC Dt.23-03-2006


20 40 60 80 100 120 140

Temperature (C)

Fig.2.6. Variaia rezistivitii electrice cu temperatura n cazul aliajului cu memoria formei Cu Al 13 Ni4

2.2.3.Microscopie electronic

Permite analiza microstructurii aliajului din perspectiva transformrii martensitice.

Fig.2.7. Microscopul electronic de baleiaj de tip Zeiss

Microscoapele electronice se mpart, dup tipul si destinaia lor in cteva grupe: microscoape electronice de transmisie, utilizate pentru cercetri ultrastructurale; microscoape electronice de baleiaj folosite la studiul ultramorfologiei suprafeei cu ajutorul electronilor secundari sau retromprtiai; microscoape electronice de transmisie si baleiaj, care permit studii ultrastructurale prin transmisie de electroni si studiul a suprafeelor cu ajutorul electronilor secundari sau retomprtiai; microscoape cu emisie fotoelectronic, cu aceleai aplicaii ca si cele de baleiaj. microscoape ionice cu emisie de cmp care permit vizualizarea directa a modului de orientare a atomilor intr-o proba de analizat; microscoape electronice analitice de transmisie, cu aplicaii in cercetrile ultrastructurale i analitice;

microsonde electronice utilizate n analiza calitativ i cantitativ a probelor de analizat si la studiul suprafeelor.

Fig.2.8. Micrografii SEM ale aliajului cu memoria formei Cu Al 13 Ni4

Microsonda electronica Analiza cu microsonda electronica constituie o metoda moderna de stabilire a compoziiei chimice calitative, cantitative si structurale a unei zone microscopice din proba de analizat.

Fig. 2.9. Analiza cu radiaii X realizat cu un analizor plasat pe un microscop SEM

2.2.5. Analiza prin difractometrie de radiaie X

Fig.2.10 Analiza cu radiaii X dup lungimea de und realizat pe AMF Cu Al13 Ni4

2.2.6. ncercarea la traciune

Proprietile mecanice ale materialelor reflect comportarea acestora atunci cnd sunt supuse unor eforturi mecanice externe. Aceste proprieti pot fi proprieti de rezisten (limit de rupere, limit de curgere, duritate) sau proprieti de plasticitate (alungirea la rupere, striciunea sau gtuirea la rupere ). Atunci cnd un material are pe lng proprieti de rezisten i proprieti bune de plasticitate putnd absorbi energie n domeniul deformaiilor plastice este un material tenace. Proprietile mecanice sunt deosebit importante att n proiectare ct i n alegerea tehnologiilor de prelucrare.

b.

a.

c.

Fig. 2.11.Maina de ncercare la traciune (a),sistemul prindere a probei (b), proba din aliajul CuAl13Ni4 (c)
10

L
8

Forta [kN]

0 -0.5 0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0

Alungire absoluta [mm]

S-ar putea să vă placă și