Sunteți pe pagina 1din 18

Clasificarea metodelor de analiz i caracterizare a materialelor

-Tehnici de analiz i control a biomaterialelor-

Studente: Danu Valentina


Dragomir Georgiana-Lavinia
Mardale Andreea
Grupa: 1021 B

Clasificarea metodelor de analiza si caracterizare a materialelor

De fiecare data cand un material este creat, dezvoltat sau produs, proprietatile
acestuia reprezinta o preocupare centrala. Experienta arata faptul ca proprietatile si
performanta asociate unui material sunt legate de compozitia si structura sa la toate nivelurile,
incluzand pe cele la care atomii sunt prezenti i pe cele care ne arata dispunerea n material, i
c aceast structur este rezultatul sintezei, prelucrarii i fabricarii. Materialul final trebuie s
ndeplineasc anumite cerinte i trebuie s fac acest lucru ntr-un mod economic i social
acceptabil.
Aceste elemente principale:
compoziia i structura,
proprieti,
performan
i interdependenele dintre ele definesc principalele categorii de metode de caracterizare ale
materialelor care urmeaz s fie aplicate acestor elemente.
In contextul sau general, termenul masurarea materialelor denota principii, tehnici
si operatii care disting calitativ si cantitativ caracteristicile materialelor. Materiale pot fi de
origine natural sau sintetic, prelucrate i fabricate. In functie de natura lor chimica, acestea
sunt grupate in linii mari, in mod traditional in materiale organice si anorganice. Structura lor
fizic poate fi cristalin sau amorf. Materialele compozite sunt combinatii de materiale
asamblate impreuna pentru a obtine proprietati superioare celor formate dintr-un singur
element.
n funcie de proprietile lor, materialele pot fi n linii mari clasificate n urmtoarele grupe:
-Materiale structurale: materiale de inginerie cu proprietati specifice mecanice sau termice
-Materiale functionale: materiale de inginerie cu proprietati electrice, magnetice sau optice specifice
-Materiale inteligente: materiale de inginerie cu senzori intrinseci sau incorporati care sunt capabili sa
reactioneze, ca raspuns la incarcare externa cu scopul de a optimiza comportamentul materialelor
conform cerintelor pentru materialele de performanta.
Pentru aplicatiile materialelor, calitatea, sigurana i fiabilitatea n calitate de componente ale
produselor i componentelor i sistemelor de inginerie sunt de o importan deosebit. Aceasta adaug
atribute de performan la caracteristicile care urmeaz s fie stabilite de msurarea i testarea
materialelor.
Toate materialele (nsoite de fluxul necesar de energie i informaii) se deplaseaz n cicluri
prin sistemul tehnico-economic: de la materii prime la materiale de inginerie i produse tehnice, i n
cele din urm, dup terminarea sarcinii i performanei lor, la depunere sau reciclare. Din ciclul de
materiale, care se aplic la toate ramurile de tehnologie, este evident c materialele i proprietile lor care urmeaz a fi determinate prin msurare i testare - sunt de o importan crucial pentru realizarea
de produse tehnice.

Metodele de caracterizare a materialelor cuprind analiza, masurarea, testarea , modelarea si


simularea. Aceste metode sunt enumerate in paragrafele urmatoare:
1.metodele de analiz a compozitiei si structurii de materiale cu privire la compozitia chimic,
arhitectur nanoscopica si microstructura suprafetelor si interfetelor
Masuratori ale compoziiilor chimice ale materialelor i nivelurile de anumite
substane din ele sunt vitale n momentul evalurii i mbuntirii sntii publice, a
siguranei i a mediului, sunt necesare pentru a asigura echitate comerului, i sunt necesare
atunci cnd monitorizeaz i mbuntirea produselor i serviciilor industriale. Msurtorile
chimice joac un rol crucial n cele mai multe zone ale economiei, inclusiv asistena medical,
hran i nutriie, agricultura, tehnologii de mediu, produse chimice i materiale, instrumente,
electronice, criminalistica, energie i transport.
2.metodele de msurare a propriettilor mecanice, termice, electrice, magnetice si optice
Metodele elaborate n acest capitol sunt importante n multe domenii ale tiinei i
tehnologiei materialelor, deoarece diferite proprieti fizice ale materialelor (mecanice,
termice, electronice, optice, magnetice, dielectrice, biologice) depind de arhitectura lor
geometrica, pe scri, de la atomic sau nanoscopica la semimicroscopica. Unele dintre
proprieti sunt guvernate doar de ctre un grup atomic elementar n ierarhia structural n
timp ce altele sunt cauzate de funcionarea de cooperare a mai multor faze sau structuri
microscopice n diferite dimensiuni.
3.metodele de testare a performantelor unui material prin stabilirea unor mecanisme care sunt
n detrimentul integritatii materialelor , cum ar fi coroziunea, uzura, biodegradarea
Caracteristicile suprafetei materialelor sunt, de asemenea, de mare importan. Ele
sunt responsabile pentru aspectul materialelor i fenomenelor de suprafa, i acestea au o
influen crucial asupra interaciunilor materialelor cu gaze sau lichide, solide i
interaciunile materialelor cu mediul.
4.metode de modelare si simulare prin abordri matematice si computationale
In urmatoarele paragrafe vom prezenta clasificarea materialelor in functie de criteriile
evidentiate mai sus:
1.Mass Spectrometry- Spectrometria de masa
1.1 Tehnologia ICP-MS - Inductively coupled plasma mass spectrometry (Spectrometria de
masa cu plasma cuplata inductiv)
ICP-MS este un tip de spectrometrie de masa, extrem de sensibila prin care se poate
masura o gama larga de metale si unele nemetale, la concentratii foarte mici, la nivel de 1-10
parti per trilion (ppt).Metoda ICP-MS se bazeaza pe combinarea plasmei cuplate inductiv, ca
metoda de ionizare, cu spectrometria de masa, ca metoda de separare si detectie a ionilor.
Metoda ICP-MS este o metoda puternica si versatila pentru analiza speciilor elementare,
inclusiv a speciilor izotopice.

Domenii de aplicatie
-Toxicologia medicala si legala
-Patologie: disfunctii metabolice, hepatice si renale, direct sau indirect asociatedezechilibrului
ionilor metalici
-Mediu: contaminarea cu metale a solului, apei, florei si faunei, ca si impactul poluarii asupra
organismului uman
1.2 Glow discharge mass spectrometry -GDMS-(Spectrometria de masa cu descarcare
luminiscenta)
O descrcare luminiscent este o plasm format prin trecerea curentului electric
printr-un gaz de joas presiune. Acesta este creat prin aplicarea unei tensiuni ntre doi
electrozi metalici ntr-un tub de sticl care contine gaz. Atunci cnd tensiunea depseste o
anumit valoare numit tensiune de cadere, gazul din tub ionizeaz, devenind o plasm, si
ncepe conducerea de energie electric, fcndu-l s strluceasc cu o lumin colorat.
Culoarea depinde de gazul utilizat. Descrcarea luminiscent este utilizata pe scar larg ca o
surs de lumin n dispozitive precum lumini de neon, lampi fluorescente si televizoare cu
plasm. Analiznd lumina produsa de spectroscopie poate dezvalui multe despre interactiunile
atomice din gaz, deci descarcarea luminiscenta este utilizata n fizica plasmei si chimie
analitic. Aceasta este, de asemenea, utilizat n tehnica de tratare a suprafetelor numita
pulverizare.

2.Molecular Spectrometry
2.1 Traceability in UV/Visible Molecular Absorption Spectrometry (Spectrometria de
absorbtie molecular n ultraviolet si in regiunea spectral vizibil)
Spectrometria de absorbtie molecular n ultraviolet si in regiunea spectral vizibil,
de multe ori cunoscut sub numele "UV / VIS," este unul dintre cele mai vechi si cele mai
dezvoltate metode instrumentale de analiz chimic. Spectrele de absorbie molecular n
domeniul vizibil i UV se datoreaza tranziiei unor electroni din orbitali moleculari de
legtur sau nelegtur aflai n stare fundamental, n orbitali moleculari de antilegtur care
corespund unor stri excitate. Energiile electronilor din strile moleculare fundamentale i
strile excitate sunt determinate de structura moleculei.Aceasta tehnica este complementara
spectroscopiei de fluorescenta, in care fluorescenta se ocupa cu tranzitiile de la starea excitata
la starea fundamentala in timp ce UV-VIS masoara tranzitiile de la starea fundamentala la
starea excitata.
Spectroscopia UV-VIS este utilizata in mod curent in chimia analitica pentru
determinarile cantitative a diferitelor substane de analizat, cum ar fi ionii metalelor de
tranziie, compuii organici extrem de conjugai, i macromoleculele biologice.

2.2 Fluorescence/Phosphorescence Spectroscopy FS-(Spectroscopia cu fluorescenta


/fosforescenta )
Spectroscopia cu fluorescenta/fosforescenta utilizeaza fotoni de energie mai mari
pentru a excita un eantion, care apoi va emite fotoni de energie inferioara. Aceasta presupune
deci utilizarea unui fascicul de lumin, de obicei, lumina ultraviolet, care excita electronii
din molecule de anumii compui i le face s emit lumin; n mod tipic, dar nu n mod
necesar, lumina vizibil. O tehnic complementar este spectroscopia de absorbie.Tehnica FS
a devenit populara pentru aplicatiile sale biochimice i medicale i poate fi utilizata pentru
microscopie confocala, fluorescent, rezonana energiei de transfer .

2.3 Raman Spectroscopy ( Spectroscopia Raman)


Efectul Raman apare atunci cnd un esantion este iradiat cu lumin monocromatic
intens, de obicei, de la un laser. Spectroscopia Raman este o tehnica spectroscopica folosita
pentru a observa vibratiile, rotatiile si alte moduri de frecventa joasa din sistem. Ea se bazeaz
pe mprtierea inelastic, sau imprastierea Raman, de lumin monocromatic, de obicei, de la
un laser n vizibil, apropiat de o gama in infrarou sau ultraviolet. Lumina laserului
interacioneaz cu vibraii moleculare, fotoni sau alte excitaii din sistem, rezultnd mutarea in
jos si in sus a energiei fotonilor din laser. Schimbarea de energie ofer informaii despre
modurile de vibraie din sistem.
Spectroscopia Raman este frecvent utilizata n chimie, deoarece informaiile
vibrationale sunt specifice pentru legturile chimice i simetria moleculelor. Prin urmare,
aceasta ofer o amprent prin care molecula poate fi simplu identificata.
In prezent, aceasta spectroscopie este utilizata n medicin pentru monitorizarea n
timp real a amestecurilor anestezice i amestecurilor de gaze respiratorii in timpul interventiei
chirurgicale.

2.4 Infrared Spectroscopy (Spectroscopia cu infrarosu)


Spectroscopia cu infrarosu este spectroscopia care se ocupa cu regiunea spectrului ce
se ntinde de la aproximativ 750 nm pn la 300 m(lumina cu o lungime de und mai mare i
frecven mai redus dect lumina vizibil). Aceasta acoper o gam larg de tehnici, cea mai
mare parte bazate pe spectroscopia de absorbtie. Ca n cazul tuturor tehnicilor spectroscopice,
aceasta poate fi utilizata pentru a identifica si studia chimicalele. Pentru o prob dat care
poate fi solid, lichid, sau gazos, metoda sau tehnica de spectroscopie n infrarou folosete un
instrument numit un spectrometru n infrarou (sau spectrofotometru) pentru a produce un
spectru n infrarou.

2.5 Nuclear magnetic resonance spectroscopy -NMR-(Spectroscopia de rezonanta


magnetica nucleara )
Spectroscopia de rezonant magnetic nuclear (RMN) este o tehnic de cercetare care
exploateaza propriettile magnetice ale unor nuclee atomice. Se determin propriettile fizice
si chimice ale atomilor sau moleculelor n care sunt continute. Ea se bazeaz pe fenomenul de
rezonant magnetic nuclear si poate oferi informatii detaliate cu privire la structura,
dinamica, starea de reactie si mediul chimic al moleculelor. Cmpul magnetic intramolecular
din jurul unui atom dintr-o molecul modific frecventa de rezonant, oferind astfel acces la
detalii ale structurii electronice a unei molecule.
Spectroscopia RMN are aplicatii in sisteme biomoleculare si joaca un rol important in
biologia structurala. Impreuna cu cristalografia cu raze X, spectroscopia RMN ste una dintre
cele dou tehnologii de varf pentru determinarea structurii biomacromoleculara la rezolutie
atomica.

3.Atomic Spectrometry
3.1 Atomic Absorption Spectrometry -AAS-(Spectrometria de absorbie atomica)
Spectroscopia de absorbtie atomic (AAS) este o procedur spectroanalitic pentru
determinarea cantitativ a elementelor chimice care folosesc absorbtia radiatiei optice
(lumin) de atomi liberi n stare gazoas. n chimia analitic tehnica este utilizat pentru
determinarea concentratiei unui anumit element ntr-o prob de analizat. AAS poate fi
folosita pentru a determina peste 70 de elemente diferite n solutie sau direct din probe solide
utilizate n farmacologie, biofizic si cercetare toxicologica.

3.2 Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy -ICP-AES-(Spectroscopia


de emisie a atomilor cu plasma cuplata inductiv)
Plasma cuplata inductiv-Spectroscopia de emisie a atomilor numita si plasm cuplat
inductiv ca spectrometrie de emisie optic (ICP-OES), este o tehnic de analiz utilizat
pentru detectarea urmelor de metale. Acesta este un tip de spectroscopie de emisie care
utilizeaz plasma cuplat inductiv pentru a produce atomilor si ionilor excitatii care emit
radiatii electromagnetice la lungimi de und caracteristice unui anumit element.

3.3 Spark Optical Emission Spectrometry -Spark OES (Spectrometria de emisie optica
luminoasa)
Spectrometria de emisie optic implic aplicarea de energie electric sub form de
scnteie generat ntre un electrod si un esantion de metal, prin care atomii vaporizati sunt
adusi la o stare de energie ridicat ntr-un punct asa-numit " descrcare de plasma".

3.4 Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy -GD-OES-(Spectrometrie de emisie


optica cu descarcare luminiscenta)
Spectrometria de emisie optica cu descarcare luminiscenta este rapida, o procedura
analitica usor de utilizat care poate produce informatii detaliate cu privire la cele doua straturi
(conductor si neconductor) fiind mai rapida decat metodele chimice umede si la un cost mai
mic decat alte analiza de suprafata.

3.5 X-Ray Fluorescence -XRF-(Fluorescenta de Raze X)


Fluorescenta de raze X (XRF) este emisia de raze X "secundare" (sau fluorescente)
caracteristice dintr-un material care a fost excitat de bombardarea cu raze X de nalt energie
sau raze gamma. Fenomenul este utilizat pe scar larg pentru analiza elementar si analize
chimice, n special n cadrul investigatiei de metale, sticl, ceramic si materiale de constructii
si pentru cercetare n geochimie, criminalistic si arheologie.

4.Surface Chemical Analysis


Principalele metode de analiz chimic de suprafat sunt spectroscopia de electroni
Auger (AES), Razele X ,spectroscopia fotoelectronica (XPS) si spectrometria de mas cu ioni
secundari (SIMS).Aceste trei metode ofera analize ale straturilor atomice ultraperiferice la o
suprafat solid, dar fiecare are atribute distincte care conduc la o pozitie dominant n
diferite sectoare de analiz.
4.1 Auger Electron Spectroscopy AES- (Spectroscopia cu electroni Auger)
Spectroscopia electronica Auger este o metoda analitica utilizata in special in studiul
suprafetelor si in stiinta materialelor.La baza tehnicii spectroscopice este efectul Auger, asa
cum a ajuns s fie numit, care se bazeaz pe analiza electronilor energetici emisi de un atom
excitat dup o serie de evenimente de relaxare interne.Pn la nceputul anilor 1950 tranzitiile
Auger au fost considerate efecte de poluare de catre spectroscopisti, care nu contin prea multe
informatii relevante, dar s-au studiat pentru a explica anomalii n datele de spectroscopie de
raze x. Din 1953, AES a devenit o tehnic practic si simpl si de caracterizare pentru
sondarea mediilor chimice si compozitionale si si-a gsit aplicatii n metalurgie si toat
industria microelectronica.

4.2 X-Ray Photoelectron Spectroscopy-XPS- (Spectroscopia de fotoelectroni cu raze x)


XPS foloseste raze X caracteristice pentru a excita electronii ai caror energii sunt
analizate de acelasi spectrometru care este utilizat pentru analiza inaltei energii pentru
AES.Spectroscopia de fotoelectroni cu raze X (XPS) este o tehnica spectroscopica cantitativ

sensibila la suprafat, care msoar compozitia elementar n prti la mie, formula empiric,
starea chimic si starea electronica a elementelor care exist n cadrul unui material.

4.3 Secondary Ion Mass Spectrometry-SIMS-(Spectroscopia de mas a ionilor secundari)


n spectrometria de mas cu ioni secundari, atomii si moleculele din straturile de
suprafata sunt analizate prin ndeprtarea lor folosind pulverizarea si analiza masei ulterioar
ntr-un spectrometru de mas .
Rapoartele mas / sarcin ale acestor ioni secundari sunt msurate cu un spectrometru de
mas pentru a determina compozitia elementar, izotopic sau molecular a suprafetei la o
adncime de 1 pn la 2 nm.

5.Surface Topography Analysis


5.1 Scanning electron microscope-SEM-(Microscopia electronica de baleiaj)
Un microscop electronic de baleiaj (SEM) este un tip de microscop electronic care
produce imagini ale unui eantion prin scanarea cu un fascicul focalizat de electroni.
Electronii interacioneaz cu atomii din eantion, producand diverse semnale care pot fi
detectate i care conin informaii despre topografia de suprafa a eantionului i compoziie.

6. Optical Techniques
6.1 Confocal Microscopy (Microscopia confocala)
Microscopia confocal este o tehnic optic bazat pe principiul de detectare a
focalizarii. Microscopia confocal este o tehnic optic bazat pe principiul de detectare a
focalizareii. Se aplic n mod obinuit n domeniul tiinelor biologice, n cazul n care
probele biologice relativ groase, cum ar fi celulele din tesut, sunt investigate cu ajutorul
fluorescenei. Dar este de asemenea potrivita pentru evaluarea topografiei 3-D, atunci cnd
lumina reflectat este detectat i nu fluorescena emis.

7.Scanning Probe Microscopy


7.1 Atomic force microscopy-AFM-(Microscopia de for atomic)
Microscopia de for atomic (AFM) a fost dezvoltata atunci cnd oamenii au ncercat
s extind tehnica STM pentru a investiga materialele non-conductoare, cum ar fi proteinele
Microscopul de forta atomica (AFM) este un tip de microscop cu sond de scanare (SPM).
SPMS sunt concepute pentru a masura proprietatile locale, cum ar fi nlimea, frecarea,
magnetismul, cu o sond. Pentru a dobndi o imagine, SPM scaneaz sonda pe o suprafa
mic a eantionului, msurand proprietateile locale simultan.

8.Metode analitice nucleare


8.1 Analiza activrii neutronilor (NAA)
Analiza activrii neutronilor reprezinta o metod izotop-specific , multielemental i
analitic ce determin coninutul elemental total a aproximativ 40 de elemente din majoritatea
materialelor. Metoda se bazeaz pe iradierea unei probe ntr-un camp de neutron cu ajutorul
radiailor gamma i msurarea radioactivitii emise de ctre rezultatele produse. Dei
aproximativ 75 elemente ndeplinesc acest criteriu, de la elementul 30 pn la 45 pot fi
cuantificate i analizate instrumental n majoritatea probelor.
8.2 Analiza prompt activrii Gamma ( PGAA)
Energia de legtur eliberat atunci cnd un neutron este capturat de un nucleu atomic
este n general emis n forma instantanee a razelor gamma. Msurarea energiilor
caracteristice acestor raze gamma permit identificarea calitativ a elementelor din eantion,
iar analiza cantitativ este realizat prin msurarea intensitii lor. Sursa de neutroni poate fi
un reactor de cercetare, un accelerator bazat pe un generator de neutroni sau o surs izotopic.
Analizele cele mai sensibile i precise ale unei probe se fac cu ajutorul fasciculelor de
neutroni de nalt rezoluie, iar spectrul de raze gamma este msurat n timpul iradierii care
poate avea o durat de timp variabil.
8.3 Descriera amnunit a unui neutron (NDP)
Descrierea amnunit a unui neutron este o metod a suprafeei de analiz pentru
izotopii care sunt supui unei valor pozitive induse Q (exotermic). NDP combin fizica
nuclear cu fizica atomic pentru a furniza informaii despre concentraii de suprafa ale
anumitor elemente (Li, B, N) etc. Particula ncrcat are protoni sau particule alpha i un
nucleu asociat. Energiile particulelor sunt determinate de conservarea masei de energie i
sunt predeterminate pentru fiecare reacie (pentru neuronii termici energia adus de neutroni
este neglijabil).
8.4 Analiza emisiei de fotoni (PAA)
Analiza emisiei de fotoni reprezint o metod unde fotonii sunt folosii pentru
activarea particulelor. Reaciile nucleare depind de numrul atomic i de energia fotonilor
folosii pentru radiaii. Metoda PAA este asemntoare metodei NAA n care fotonii pot
strbate complet probele, iar procedurile i calculele sunt asemntoare cu cele folosite n
metoda NAA.
8.5 Tehnica particulei ncrcate (CPAA)
CPAA poate fi privit ca un complement pentru NAA deoarece elementele msurate
sunt diferite fa de cele determinate cu ajutorul metodei de analiz a activrii neutronilor.
Tipul reaciei nucleare indus de nucleii din eantion depinde de identitatea i energia
particulei ncrcate. Protonii sunt cei mai des selectai n majoritatea cazurilor deoarece ei i
pot schimba uor viteza.

8.6 Activation Analysis with Accelerator-Produced Neutron


Aceast metod analitic nuclear este bazat pe mici acceleratori cu un voltaj sczut
(105 kV to 200 kV) ce produc neutroni 2H(d,n)3He i 3H(d,n)4He. Procedurile NAA
urmresc acelei principiu ca i la cele cu neutronii termici. Cea mai mare energie a
neutronilor poate fi folosit pentru a interaciona direct cu nuclizii int n activarea rapid a
analizei neutronilor (FNAA) sau sunt moderai de energiile termice nainte de a interaciona
cu proba.
9. Metodele Cromatografice
9.1 Cromatografia n stare gazoas (GC)
Cromatografia n stare gazoas poate fi folosit pentru a separa compui organici
volatili. Un cromatograf gaz const dintr-o faz mobil care curge (de obicei He sau H), un
injector i un detector. n cromatografie de gaze capilare, faza staionar este acoperit pe
pereii interiori ai unei stive de obicei compus din siliciu topit, iar analiii sunt repartizai
ntre faza mobil (gazul inert) i faza staionar. Metoda se folosete pentru separarea
amestecurilor complexe sau a componentelor ce sunt strns nrudite chimic i fizic.
9.2 Cromatografia lichid (LC)
Cromatografia lichid (LC) este o metod care este folosit pentru separarea
compuilor organici i anorganici din soluie. Tehnica este aplicabil n general compuilor
ionici,aromatici, alifatici sau cu cteva restricii. Procesul este format de obicei dintr-o pomp,
un dispozitiv de prob, o stiv cromatografic i un detector. Flexibilitatea tehnicii rezult din
disponibilitatea stivei cromatografice s se potriveasc cu problemele specifice de separare i
a rspunsurilor sensibile ale detectorului. Scopul metodei este separarea compuilor din
interferene pentru a obine un rspuns instrumental proporional cu nivelul analit.
9.3 Electroforez capilar (CE)
Electroforeza capilar se refer la o varietate de tehnici ce sunt bazate pe deplasarea
ctre catod a particulelor dintr-o soluie coloidal sub aciunea curentului electric. Cnd un
voltaj este aplicat unui sistem, specia ncrcat pozitiv se mic ctre electrodul ncrcat
negativ (catodul) n timp ce specia ncrcat pozitiv migreaz ctre electrodul ncrcat pozitiv
(anodul). CE este aplicabil unei game largi de analize farmaceutice, bioanalitice i de mediu.
Diferite moduri de CE sunt folosite n funcie de tipul de analit i de mecanismul de separare.

9.4 Cromatografia lichid/ Spectrometria de mas (LC/MS)


Combinaia dintre cromatografia lichid i spectrometria de mas este o unealt puternic
pentru determinarea speciei organice sau organometalice ntr-o matrice complex. n timp ce
LC este cteodata combinat cu ICP-MS (plasm cuplat inductiv-spectrometru de mas)

pentru analiza elementar, aceast secie se va concentra pe combinarea LC cu MS folosind


fie ionizarea electrospray (ESI) , fie ionizarea chimic a presiunii atmosferice (APCI) pentru
determinarea speciilor organice. De obicei, n faza invers a LC se folosesc solveni volatili
i aditivi ce reprezint combinaia dintre un spectrometru de mas i o surs APCI. ESI
reprezint abordarea preferat pentru speciile ionice i polare, n timp ce APCI este preferat
de speciile mai puin polare. Dac spectrometrul de mas are capacitatea de a efectua
spectrometrie (MS/MS) folosind disocieri de coliziune indus, analiza ionilor va aduga o
specificacitate suplimentar procesului

10.Microanalytical Chemical Characterization


10.1 Microscopia analitica a electronului (AEM)
Cand un microscop transmisie-electron (TEM) este echipat cu un spectrometru pentru
analizele chimice,se face referire la TEM.
Cele mai comune 2 tehnici de analiza chimica folosite sunt: Spectroscopia Energiei
dispersive a razelor X (XEDS), Spectroscopia de pierdere a energiei electronilor (EELS).
O sursa de electron cu emisie este folosita pentru a genera o raza monocromatica de electroni.
Apoi electronii sunt accelerati cu o energie stabilita manual, intre 100-400 keV, si focusata pe
proba folosind o serie de lentile magnetice care au un rol important pentru lentila de
condensare intr-un microscop compact mediu.
Dupa ce interactioneaza cu proba, electronii transmisi formeaza o imagine reala folosind o
lentila cu obiectiv magnetic. Aceasta imagine este marita in continuare de o serie de lentile
intermediare magnetice si proiectoare, si sunt inregistrate folosind o camera cu dispozitiv
incarcat cuplat (CCD).
In multe feluri, EELS si XEDS sunt tehnici complementare. XEDS incep sa intampine
dificultati cu elementele mai usoare precum sodiul si este dificil sau imposibil sa fie folosit
pentru elemente mai jos de carbon.
De asemenea, EELS sunt eficiente in detectarea elementelor usoare. Pentru EELS, probele
trebuie sa fie foare subtiri in comparatie cu XEDS.
Pentru XEDS, in majoritatea cazurilor, proba trebuie sa fie aproximativ mai subtiri de
500nm. Pentru EELS, proba trebuie sa fie mult mai subtire, cateva zeci de nanometri
grosime.
10.2 Microanaliza probei X-ray a electronului
Microanalizatorul de probe X-ray pentru electroni (EPMA) este un instrument analitic
bazat pe microscopul pentru scanare de electroni (SEM),ce foloseste o raza de electron, bine
precizata/focusata pe proba pentru emiterea razelor X caracteristice.
EPMA/SEM sunt capabile sa analizeze cantitativ constituenti elementari, cu exceptia H, He,
si Li, la concentratii mici la nivelul masei de 10-5.
SEM permite aplicarea tehnicilor unor cazuri speciale precum: suprafete dure, particule, fasii
subtiri de substrat. De asemenea, SEM ofera o gama larga de imagini morfologice si
cristalografice structurale care permit caracterizarea topografiei, straturilor de suprafata,
campuri magnetice si electrice asupra micrometrului pana la scara nanometrica. Doua tipuri
diferite de raze X din cadrul spectrometrului sunt folosite mai des, spectrometrul de dispersie
a energiei (EDS) si spectometrul de difractie cristalina (WDS).

10.3 Scanarea microscopiei electronice Auger


Scanarea microscopiei electronice Auger este o raza de electron analitica bazata pe
microscopul ce scaneaza electronii.
O raza de electroni primara care interactioneaza cu o proba, inlatura un electron central,
creand o lipsa de nivel central. In timp ce un electron cu o energie mai mare
isi schimba locul pentru a umple lipsa centrala. O energie sub forma de electron Auger apare,
cu energia corespunzatoare diferentei dintre cele doua nivele. Acest proces este specific
spectroscopiei electronice Auger (AES).
Exista doua tipuri de spectrometre, analizatorul oglinzii cilindrice (CMA) si analizatorul
hemisferei (HSA).
CMA are un randament mai mare datorita unghiului solid favorabil.
HSA are cea mai mare rezolutie energetica.

10.4 Microscopul cu electroni cu scanare de mediu


Microscopul cu electroni cu scanare de mediu (ESEM) este o modificare unica a
microscopului electronic de scanare (SEM).
Capabilitatea de a oferi analize morfologice si compozitionale a probelor hidratate i-au permis
ESM sa beneficieze de un numar de campuri experimentale, din cadrul stiintei
materialelor si pana la biologie.
EDS in ESEM este considerata o metoda calitativa a analizei compozitionale.

10.5 Microanaliza infra-rosu si Raman


Analizele probelor de acest tip sunt folosite in determinarea corelatiilor dintre
proprietatile performantelor microscopice ( ca si stabilitatea mecanica sau chimica, dar si
biocompatibilitatea) si microstructura materialelor. Se foloseste pentru design-ul materialelor
avand o calitate superioara.
Un microscop Raman contine o sursa de excitare laser, un microscop usor care opereaza intrun modul de reflectie si un spectrometru.
Un sistem microscopic IR opereaza in ambele moduri: reflectie si transmisie.
Microanalizele Raman si IR au tehnici ce se completeaza, aplicabile in mare parte : solidelor,
particulelor, chiar si acelor materiale din mediile lichide.
Probele in cazul Raman nu necesita acuratete; suprafetele materialelor solide sunt examinate
cu usurinta, luandu-se in calcul si transparenta materialului.
Microscopiile IR si Raman sunt importante in analizarea calitativa ale probelor microscopice.

.
11. Metode chimice clasice
11.1 Gravimetria
Gravimetria reprezint determinarea unui analit ( element sau specie) prin msurarea
de mas a unui produs definit i bine caracterizat de o reacie chimic stoichiometric.
Produsul este de obicei un solid insolubil dei acesta poate fi i un gaz degajat. De obicei
solidul este precipitat din soluie i separat prin filtrare. Determinrile gravimetrice necesit
corecii pentru orice urm de reziduu sau de impuriti rmase din proba matricei. Existnd o
gam larg de erori, metoda poate fi folosit pentru determinarea coreciilor i pentru
mbuntirea preciziei de msurare i pentru reproducerea generala a analizei gravimetrice
fr a mai ine cont de erori deoarece acestea nu afecteaz valoarea final.

11.2 Titrimetria
Ideea de baz a titrimetriei este stoichiometria reaciilor chimice ce formeaz baza
pentru titrarea dat. Analitul reacioneaz cu titrantul potrivit raportului stoichiometric definit
de ecuaia chimic corespunztoare. Punctul de echivalen corespunde punctului n care
raportul de titrant adugat la analitul prezent iniial (fiecare exprimat cu o cantitate de
substan) este egal cu raportul stoichiometric de titrant al analitului definit prin ecuaia
chimic. Obiectivul (determinarea practic al punctului de echivalen) este obinut cu
ajutorul indicatorilor vizuali. Acetia reacioneaz cu titrantul adugat la punctul final
obinndu-se un produs de culoare diferit. Alte tehnici folosite sunt:
amperometria,nefelometria, spectrofotometria etc.
11.3 Culometria
Culometria este bazat pe legile de electroliza Faraday care se refer la sarcina ce trece
printr-un electrod ce acioneaz cu cantitea de analit. Cantitatea de substan ce o conine
analitul este calculat direct de la curentul I ce trece prin electrod. Curentul controlat
culometric reprezint o metod ce este de o precizie extrem i de o incertitudine sczut.
Cele mai multe dintre titrrile acidimetrice, oxido-reductoare i compleximetrice utilizate n
titrimetrie pot fi efectuate cu ajutorul curentului controlat culometric. Acesta are avantajul c
imediat dupa ce este generat titrarea va fi i utilizat. Aceast caracteristic evit schimbrile
n concentraia pe timpul dezvoltrii i utilizrii titrantului care poate aprea convenional n
titrimetrie. Comparativ cu titrimetria ambele tehnici au un randament mai sczut. O singur
precizie n titrarea cu ajutorul curentului controlat culometric are nevoie de aproximativ 1h
pentru a o finaliza folosind probele necesare i curenii specifici.

11.4 Microscopia cu transmisie de electroni (TEM)


Un aspect cheie pentru TEM este modul de a pregti probe sufficient de subiri pentru
observare. Cea mai folosit metod este subierea chimic cu ajutorul unui acid efectund n
prealabil o subiere mecanic. Apariia metodei de lefuire utilizeaz un fascicule de ioni de
Ga pentru pulverizare cu toate c acestea au eliberat dificultatea de a prepara proba i astfel se
lrgete gama de materiale ce poate fi studiat cu ajutorul TEM. Marele avantaj al TEM fa
de alte tehnici microscopice este capacitatea de a comuta modurile de difracii i imagini
foarte uor i astfel proprietile cristalografice ale unei probe pot fi observate doar din
imagine.

11.5 Topografia Razelor X ( XRT)


Ca i n microscopia electronic de transmisie difracia razelor X poate fi folosit
pentru a reprezenta cristalografic neomogeniti n probele cristaline. O diferen
semnificativ de la TEM ar fi lipsa de lentil pentru razele X i astfel imaginile nu pot fi uor
mrite ca n OM i TEM. Cea mai bun rezoluie este determinat de dimensiunea particulei
n emulsia n film cu raze X, de obicei n jur de 2-3m care poate fi redus la 1m. Imaginile
XRT sunt obinute prin nregistrarea fasciculelor difractate de un anumit vector g, echivalent
cu imaginile cmpului ntunecat din TEM. Un avantaj al XRT fa de TEM este c putem
examina probele voluminoase ntr-o atmosfer gazoas. Datorit acestui fapt XRT este cel
mai potrivit pentru studii de fenomene n care starea de tensiune are o maxim importan.

11.6 High-Angle Annular Dark-Field STEM (HAADF-STEM)


n microscopie electronic de transmisie (STEM) , un fascicul de electroni concentrat
la o dimensiune mic este scanat n paralel pe o suprafa de prob, iar un un detector
captiveaz un semnal care rezult din interaciunea electronilor cu proba solidul. Intensitatea
semnalului, care poate varia pe poziia eantionului n funcie de structura, orientarea i
compoziia cristalului este utilizat pentru a construi dou hri dimensionale ale proprietilor
materialului n fiecare pixel. Rezoluia spaial a STEM este limitat n funcie de
dimensiunea fascicului de sond concentrat. Avantajul STEM este c nu are nevoie de lentile
de imagini care n mod inevitabil au unele erori cromatice sau o rezoluie limitat de imagini
TEM, iar grosimea eantionului poate fi relativ medie n comparaie cu probele TEM. O
penalizare STEM este viteza mai mica de imagine (secunde pn la minute pentru o singur
imagine) datorate nregistrrii de serie a semnalului.
11.7 Analiza arhitectural molecular
Materialele din domeniul de aplicare a prezentei seciuni includ molecule simple,
polimeri, macromolecule (supermolecules) precum i biomolecule cum ar fi proteinele.
Aceast seciune se refer n principal la rezonana magnetic nuclear (RMN), un detaliu
considerabil pentru puterea sa unic n analiza arhitecturii macromoleculelor.

Moleculele pot fi pretratate prin tehnici cromatografice pentru a separa sau a le


descompune n fragmente mai mici, ce pot fi analizate prin metode mai simple. Mai apoi,
fragmentele pot fi supuse analizei standard, cum ar fi FT-IR, Raman mprtiere, i
spectroscopie de fluorescen pentru identificarea bazelor constitutive. Vor fi menionate
numai tehnici optice ( bazate pe dicroism circular, transferul de energie fluorescenta de
rezonan (FRET) ), ce prevad informaii cu privire la apropierea a doua molecule colorate.
11.8 Determinarea structurala prin difracie de raze X
Principiul analizei structurale prin difracie de raze X n macromolecule este n esen
aceeai cu cea a difraciei unui cristal i de difracie a pulberii.
Pentru creterea cristalelor moleculare, sinteza moleculelor de material este necesar.
Mulumit progesului ingineresc in genetic, apare tehnica de reacie n lan a polimerazei
(PCR). Astfel, chiar i biomolecule mari, cum ar fi proteinele pot fi sintetizai n cantiti
suficiente.

11.9 Analiza de rezonan magnetic nuclear (RMN)


Analiza structural standard cu privire la RMN este urmatoarea: (1) pregtirea
probelor, (2) msurtorile spectrelor RMN, (3) analiza spectral de distribuire a semnalelor
RMN nucleelor responsabile i de a gsi conectivitatea nucleelor
prin legaturi i spaiu, i, n final (4) deducerea modelelor structurale utiliznd cunotinele
obinute n (3), precum i informaii de la alte analize chimice ca o constrngere n procedura
de montare a modelului ce urmeaza a fi analizat. Pasul final (4) presupune formarea unui lan
de inele metalice de diferite forme (de exemplu, resturile de aminoacizi din proteine) Acest
lant se afla pe un cadru avnd noduri n unele zone, noduri legate de alte noduri pe alt lan.
Din acest motiv, n special pentru macromolecule cum ar fi proteinele, este dificil s se
determine o structura molecular complet dintr-o singur analiz RMN. Este indicat sa se
faca referire la modele in defavoarea structurilor.
Cu toate acestea, comparativ cu metodele de difracie a razelor X, RMN-ul are diverse
avantaje:
1.nu sunt necesare probe cristaline unice. Probele pot fi amorfe sau n soluie.
2. Efectele interactiunii intermoleculare, care i pot modific structura molecular, pot fi
evitate dac probele sunt dispersate n soluie.
3. Pot fi detectate micri dinamice de molecule.
4. O structur local poate fi investigat n mod selectiv, fr a fi cunoscut ntreaga structur.
5. Daunele fatale din cauza iradierii cu raze X, cel mai probabil n cadrul moleculelor
organice, poate fi evitate.

11.10 Analiza fizico-chimic


Cromatografia
Cromatografia presupune separarea amestecurilor complexe n mai multe componente, ce sunt
distribuite la o faz mobil i o faz staionar. Metodele se bazeaz pe filtrarea fazei mobile
prin faza solida.Faza mobil este gazoas n cromatografia gazoas (GC) i este lichid n
cromatografia lichid (CL). Exist diferite scheme pentru cromatografie n funcie de tipul de
faz staionar (solid sau lichid) i, prin urmare, pe principiul de separare molecular (de
schimb ionic, de diferen de afinitate, de filtrare a gelului, interaciune hidrofob, etc.).
Circular Dichroism (CD)
Dicroismul circular (CD) provine din helicitate sau chiralitatea moleculelor ce prezint
absorbie optic datorit stimulrii electronice de la ultraviolete la lungimi de und vizibile.
Spectrele de proteine chirale, peptide i acizi nucleici au structuri distincte i sunt sensibile la
modificri conformaionale.
Transferul de energie fluorescent de rezonan (FRET)
Transferul de energie fluorescent de rezonan (FRET), are loc atunci cnd distana dintre un
donator de molecul colorant fluorescent i un acceptor de molecul de absorbie colorant
este suficient de aproape pentru energia stimulat electronic al moleculei donator care
urmeaz a fi transferat la molecula acceptor fara radiaie. Este important a determina
distana dintre dou molecule de aproximativ 1-10 nm, deoarece are o importan deosebit n
cadrul macromoleculor biologice.
Pentru ca FRET s aib loc, spectrul de fluorescen a donatorului i spectrul de absorbie al
acceptorului trebuie s se suprapun. Pe baza acestei tehnici, se poate studia modificarea
conformaiei unei singure molecule prin detectarea FRET sub actiunea laserului microscop
confocal (LCSM) sau a unui microscop fluorescent intern de reflectie total (TIRFM).

11.11 Texturi, faza distribuirii i Structuri finite de analiz


Aceast seciune se refer la materialele care sunt neomogene pe o scar relativ mare n ceea
ce privete compoziia lor, structura i proprietile fizice.

11.12 Analiza texturii


Texturile evolueaz prin diferite mecanisme.
Analiza structurii de difractie a razelor X
Cea mai bun tehnic folosit pentru evaluarea texturilor este cea de difracie a razelor X. n
difracia pulberii, fiecare inel de difracie formeaz pete fine ce corespund structurilor
cristaline cu diferite orientri. Dac structurile cristaline sunt orientate aleatoriu, petele sau
intensitatea de difracie este distribuit uniform n jurul cercului, Chiar dac texturile sunt

prezente, se poate observa o distribuie neomogen de pete de difracie sau de arce de


difracie.
Analiza texturii de SEM Canalizarea probei de electroni (ECP)
Dezavantajul tehnicii de difracie pentru analiza texturii reprezint lipsa de informare directa
cu privire la dimensiunea granulei. Orientarea local a cristalului poate fi determinata prin
tehnici microscopice care dezvluie, de asemenea, dimensiunea imediat a fiecarui
bob/granul.
TEM este o metod de rutin pentru a efectua astfel de msurtori, dar probele sunt limitate la
filme subiri. Canalizarea probei de electroni (ECP), care poate fi obinut prin microscopie
electronic de baleiaj (SEM), este o abordare mai convenabila pentru studii de textur
folosind probele globale.

11.13 Microanaliza elementelor si ale fazelor


Imaginile TEM cu microanaliz de elemente si faze de cmp ntunecat Imaginile TEM cu
cmp ntunecat sunt formate dintr-un fascicul difractat de un vector de difracie specific ce
furnizeaz o tehnic standardizat pentru analiza microscopic a fazelor multiple.
Microanaliza probei de electroni (EPMA)
O alt metod pentru a investiga distribuirea elementelor din cadrul materialelor solide e
aceea de scanare de catre microscopia electronilor in modul de fluorescen de raze X, de
obicei facandu-se referire microanalizatorul probelor cu electroni (EPMA).
Analiza Pierderii de energie
TEM de filtrare de energie (EFTEM) este un TEM sau STEM echipat cu un filtru de energie
ce trece doar peste electronii cu o anumit energie, utilizate pentru a construi o imagine de
distribuie spaial ale elementelor ce le corespund.
Micro-Raman de dispersie
Msurtorile Raman de dispersie poate fi cuplate cu microscoape optice pentru a investiga
distribuia local a anumitor faze, cu o rezoluie spaial de 1 pm. Limita de difracie de OM
este acum depit prin utilizarea microscopiei de scanare a cmpului apropiat optic (SNOM).
Scanarea Nano-Indenter
Materialele ntlnite adesea pot fi sub form de filme subiri sau complexe nanometrice de
faze multiple.
11.14 Analiza de difracie a structurilor fine
Mici obiecte, cum ar fi precipitate, structuri cristaline, i particule fine mai mici dect 100
nm poate fi examinate microscopic, dar si prin tehnici de difractie si spectometrie.
Unghiul Mic de Analiza de dispersie ale micilor faze

Zona Guinier-Preston (GP), un precipitat extrem de mic, cu o grosime de doar un strat atomic
i dimensiunea lateral a mai multor distane atomice, se poate observa direct prin HRTEM n
prezent; a fost descoperit iniial n difracie de raze X ca surs de dispersie difuz.
Extinderea Liniei de Analiz ale Dimensiunilor cristalitelor
Extinderea fasciculelor de raze X se produce nu numai n fasciculul primar, dar i n
fasciculele difractate cnd cristalitele sunt mici.
Analiza de dispersie a luminii Dispersia de forma unor particule
Aspectul de latex i polimer solid reflect o structur eterogen, cu dou faze.
11.15 Analiza cantitativ Stereology
Odata cu imbunatatirea calculatoarelor a fost posibil procesarea unui volumul imens de date
necesare pentru reconstrucia tridimensional a unei structuri de prob.
Stereograma
Dou micrografiilor sunt achiziionate pentru un eantion care este nclinat 1-10 n mod
eucentric n jurul unei axe de basculare. n cazul n care se intalnesc doua astfel de imagini
puse se obine Vizualizarea Stereo tridimensional a obiectului.
Tomografe stivuite
Laser de scanare Microscopia confocal (LCSM).
Rezoluia mare a LCSM permite reconstrucia de imagini 3D din imagini optice.
Tomografie computerizata cu raze X (XCT).
Tomografia (XCT) utilizeaz o radiografie pentru fasciculul de surs, dar pot fi utilizate i
pentru analiza materialelor.

Imagistica prin rezonanta magnetica (IRM).


Imagistica prin rezonanta magnetica (IRM) sau RMN-CT este, de asemenea, folosit pentru
diagnosticul clinic.