Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
DEFECTELOR
CUPRINS
1. Limite de control
2. Acceptarea sau respingerea defectelor
3. Detectabilitatea defectelor
4. Severitatea defectelor
5. Probabilitatea aparitiei neconformitatilor
6. Criticitatea defectelor si defectarilor
7. Riscurile aparitiei neconformitatilor
8. Controlul produsului neconform
9. Procedura AMDEC
Dac variaia
mrimii
caracteristice este
limitat inferior i
superior prin
valorile limit Lci
i Lcs, cand
valoarea mrimii
caracteristice
depete limitele
stabilite - defecte
Lcs
defect
ACCEPTARE
Lci
defect
Timp
Lcs
Energia
la rupere
KV
defect
Timp
Lci
Timp
Criterii de acceptabilitate
a defectelor (criterii A/R)
Criteriul este un principiu,
o norm la care se fac
referiri pentru definirea,
aprecierea i clasificarea
situaiilor sau obiectelor
ncadrarea defectelor ca
acceptabile sau inacceptabile
se face n funcie de destinaia
produsului, de rolul funcional,
de importana acestuia ntr-un
ansamblu, de costuri, de
exigenele impuse de
standarde, coduri, norme sau
convenii ntre beneficiar i
furnizor etc.
Criterii (1)
Criteriul bunului sim, prin care un produs este declarat acceptat
dac nu are defecte sau dac, dei are, acestea sunt considerate
nepericuloase.
Subiectiv, netiinific, acest tip de criteriu se bazeaz pe experiena
ndelungat i bunul sim tehnic al unor persoane, de a intui situaiile
n care prezena unor defecte nu are consecine nefaste asupra
produsului. Aplicarea lui n practic trebuie evitat.
Criterii (2)
CRITERIUL ARBITRAR
CRITICITATEA
Criticitatea este o msur a gradului de defectare a unui
produs, ca urmare a apariiei unor defecte i a consecinelor
acestora.
Noiunea este complex i se determin prin luarea n
consideraie a probabilitii, detectabilitii i severitii
defectelor i defectrilor.
De aceea, a fost introdus factorul de risc RPN (Risk Priority
Number), definit ca fiind produsul:
RPN = P x D x S
n care: P este probabilitatea, D detectabilitatea, iar S severitatea
Un instrument practic pentru determinarea criticitii l constituie Analiza
Modurilor de Defectare i Evaluarea Criticitii (AMDEC).
E(e) si L (e) 0
unde:
P(e) este probabilitatea ca evenimentul (e) s se produc;
E(e) - efectul evenimentului (e) asupra obiectivelor;
L(e) evaluarea monetar a lui E(e).
117
1860
> 60
Identificarea
Analiza
Severitatea
Frecvena
defectrilor
Rare
< 1 la 1 000
Nefrecvente
2 10 la 1 000
(pn la 1%)
Moderate
11 25 la 1 000
(pn la 2,5%)
Frecvente
spre nalte
26 50 la 1 000
(pn la 5%)
Foarte nalt
50 la 1 000
(peste 5%)
Calculai RPN
DA
Riscul e
acceptabil ?
NU
DA
DA
NU
(NU)
Riscul e
reductibil ?
NU
Genereaz
defecte noi ?
NU
Sunt identificate toate
defectele poteniale ?
DA
Este adecvat
sigurana produsului?
DA
TERMINAT
NU
Ieire
(redefinire produs / proces / utilizare
vizat)
Nivelul riscului:
nainte .
dup..
nainte de mbuntire
Compo
-nenta,
procesul
Modul de
defectare
Poteniala
cauz a
defectrii
Legend: S severitate;
P probabilitate;
D detectabilitate;
RPN factor de risc.
Metoda
de
detectare
RPN
Dup mbuntire
Nivelul
riscului
Aciuni
preventive/
corective
Data:
ntocmit:
Verificat.
Aprobat..
RPN
Riscuri
adiionale
identificate
Examinare i inspecie
Neconformitate
Notificare compartiment
fabricaie
(aciuni corective)
Autoritate desemnat
Analiza neconformitii
Decizie
Produs neconform
nerecuperabil (rebut)
Aplicarea coreciei
Accept beneficiar
Verificare pertinent a rezultatului
aplicrii coreciei
Casare
NU
OK
DA
Reciclare
Accept beneficiar
Raport produs neconform
Expediere
AMDEC (1)
ANALIZA MODURILOR DE DEFECTARE I EVALUARE A CRITICITII
-AMDEC
- INSTRUCTIUNE DE LUCRU Scop
Prezenta instruciune de lucru are drept scop descrierea metodologiei de
execuie corect a analizei modurilor de defectare i evaluare a criticitii.
Domeniul de aplicare
Instruciunea de lucru se aplic oricrui tip de produs sau componentelor
acestuia dar i proceselor de realizare a acestora.
Analiza descris este util n etapele de proiectare-dezvoltare, n cea de
fabricaie a produsului i la proiectarea tehnologiei de control i
inspecie.
Definiii i prescurtri
AMDEC - Analiza Modurilor de Defectare i Evaluare a Criticitii
(defectelor). Echivalent (engl.): FMECA Failure Modes and
Evaluation of Criticality Analysis.
AMDEC (2)
Definiii i prescurtri (continuare)
Cauz ceva care produce ca efect defecte (neconformiti).
Probabilitate ansa unui eveniment de a produce un mod de defectare.
Detectabilitate abilitatea de a descoperi prezena unei neconformiti care
poate genera un mod de defectare.
Severitate msura sau gradul n care modul de defectare provoac daune
sau afecteaz funcionalitatea produsului sau componentelor sale
Criticitate aprecierea severitii eventualului mod de defectare mpreun cu
probabilitatea apariiei sale i abilitatea detectrii lui.
RPN Risk Priority Number - (factorul sau numrul de risc) produsul dintre
probabilitatea P, severitatea S i detectabilitatea D. Estimator al criticitii.
Aciuni corective i preventive recomandate/diminuarea
Aciune corectiv aciune de eliminare a cauzei unei neconformiti
detectate sau a altei situaii posibile nedorite, pentru a preveni reapariia lor.
Aciune preventiv - aciune de eliminare a cauzei unei neconformiti
poteniale sau a altei situaii posibile nedorite, pentru a preveni apariia lor.
AMDEC (3)
Definiii i prescurtri (continuare)
Defectare progresiv defectare produs din cauze care
persist i evolueaz n timp (de exemplu, din cauza
fenomenului de uzare).
Defectare catalectic defectare brusc i complet.
Defecte minore defecte cu criticitate neglijabil i un efect
neglijabil asupra fiabilitii i securitii sistemului n
ansamblul su.
Defecte majore defecte cu o criticitate admisibil, fiabilitatea
compo-nentelor necesitnd s fie ameliorat pentru a
mbunti fiabilitatea sistemului.
Defecte critice defecte cu criticitate extrem, inadmisibil,
care necesit reproiectarea.
AMDEC (4)
Documente de referin
SR EN 9000:2000. Sisteme de management al calitii. Principii fundamentale i
vocabular.
SR EN ISO 9001:2000. Sisteme de management al calitii. Cerine.
STAS 12689-88. Tehnici de analiz a fiabilitii sistemelor. Analiza modurilor de
defectare i a efectelor defectrilor.
Reguli de procedur
Se ntocmete o matrice a potenialelor moduri de defectare a fiecrei
componente a produsului.
n acest scop se pot folosi: analiza funcional, analiza cauz-efect (diagrama
Ishikawa), brainstorming-ul, diagrama Paretto etc.
Matricea trebuie s combine urmtoarele elemente: componena, modul de
defectare, cauza defectrii, efectul defectrii, probabilitatea,
detectabilitatea, severitatea cu cifrele necesare calculrii RPN, factorul de
risc i msurile corective recomandate pentru diminuarea criticitii.
Estimarea probabilitii.
Pentru a micora subiectivitatea acestei aciuni se vor folosi: analiza
funcional a produsului, analiza trasabilitii, condiiile de procesare, bnci
de date, lista reclamaiilor etc.
AMDEC (5)
Se vor acorda note n felul urmtor:
(1) pentru defectri rare, adic < 1 la 100 000.
(2) pentru defectri nefrecvente, adic pn la 1%.
(3) pentru defectri moderate, adic pn la 2,5%.
(4) pentru defectri frecvente, spre dese adic pn
la 5%.
(5) pentru defectri foarte frecvente catastrofice,
peste 5%.
Detectabilitatea
Pentru estimarea acestei caracteristici se au n vedere toate msurile de
prevenire i detectare a potenialelor defectri (control 100%, control
statistic de recepie, modelare, activitile de omologare i/sau
certificare, ncercri mecanice, metalurgice, inspecii finale, examinri
nedistructive la produse similare etc.).
AMDEC (6)
Se acord note n felul urmtor:
(1) pentru detectare aproape sigur. Controlul curent aproape
ntotdeauna detecteaz anomaliile care conduc la eventualele
defectri. Defectele sunt evidente.
(2) pentru anse mari de detectare. Controlul curent ofer o probabilitate
foarte mare de detectare a anomaliilor care pot conduce la defectri.
Defectele sunt uor de observat.
(3) pentru anse moderate de detectare. Probabilitatea controlului curent
de a detecta anomalia este medie. Defectele sunt detectate nainte
ca produsul s fie folosit.
(4) pentru anse mici de detectare. Probabilitatea controlului de a
detecta anomalia sunt mici. De obicei detectarea se produce n
timpul utilizrii produsului.
(5) pentru aproape imposibil de detectat. Nu sunt cunoscute metode
disponibile pentru detectarea anomaliei. Defectul rmne nedetectat
pn la producerea defectrii
AMDEC (7)
Severitatea se stabilete pe baza potenialului efect al modului de defectare
asupra utilizatorului; n felul urmtor (n ordinea creterii severitii):
(1) pentru un foarte slab efect asupra performanelor produsului; Produsul poate
fi utilizat fr pierderi ale siguranei sale. Defectarea este imperceptibil.
(2) pentru un efect minor asupra performanelor produsului. Nu sunt pierderi de
siguran, nu necesit reparaii i deranjaz puin pe utilizator. Defecte
minore.
(3) pentru un efect semnificativ asupra performanelor produsului. Performanele
produsului se degradeaz, el este mai dificil de utilizat, securitatea sa este
micorat. Clientul sesizeaz defectarea i este nemulumit. O procedur de
modificare este necesar. Defecte majore.
(4) pentru un efect extrem asupra produsului. Pierderea funciei produsului printro defectare progresiv spre catalectic, acesta devenind inutilizabil. Sunt
necesare msuri, forme de intervenie (modificare, reproiectare). Defecte
critice.
(5) pentru efect hazardat. Siguran complet compromis, legat de o defectare
neprevzut, catalectic. Produsul nu este utilizabil. Reproiectarea este
obligatorie. Defecte critice.
AMDEC (8)
Aciunile preventive sau corective recomandate trebuie bine
documentate i adaptate cazului respectiv. Ele pot include: controlul
procesului, reproiectri, programe de pregtire a personalului,
reomologri etc.
Criticitatea se determin prin multiplicarea cifrelor reprezentnd probabilitatea P, detectabilitatea D i severitatea S, adic se calculeaz
factorul de risc RPN, cu relaia:
RPN = P x D x S
Se consider c:
AMDEC (9)
Observaie
Cifrele stabilite mai sus corespund unor domenii de activitate deosebit de
riguroase (ex.: industria aerospaial, fabricarea echipamentelor medicale
etc.). Pentru alte domenii limitele respective pot fi majorate.
nregistrri
Rezultatele analizei se nscriu n formularul din anexa I L 01 A.
Observaie
Formularul din anexa I L 01 A poate fi continuat cu o serie nou de notri
P, D, S i RPN, estimate dup aplicarea msurilor corective i preventive, ca
o msur a eficienei acestora. n acest caz criticitatea trebuie s fie mai
mic (diminuat).
DE RETINUT (1/4)
DE RETINUT (2/4)
1. Ce sunt limitele de control si de cate feluri pot fi acestea?
Dac variaia mrimii caracteristice este limitat inferior i superior prin valorile limit Lci i
Lcs, limite duble (cand valoarea mrimii caracteristice depete limitele stabilite - defecte)
si daca variatia este limitata doar inferior sau superior limite unilaterale.
2. Care sunt principalele criterii de acceptabilitate a defectelor?
Criteriul bunului sim - subiectiv, netiinific, acest tip de criteriu se bazeaz pe
experiena ndelungat i bunul sim tehnic al unor persoane, de a intui situaiile n
care prezena unor defecte nu are consecine nefaste asupra produsului.
Criteriul arbitrar, prin care, stabilindu-se o list de defecte, se realizeaz un
compromis ntre exigenele unui organism de inspecie i posibilitile practice de
execuie a produsului.
Un mod de alctuire a unui asemenea criteriu l constituie elaborarea de norme sau
standarde prin care produsele sunt mprite pe clase de calitate. Pentru fiecare clas
sunt specificate defectele admise.
Criteriul raional, bazat pe studiul calitativ al influenei defectelor asupra diferitelor
caracteristici ale pieselorpermite estimarea cu destul precizie a comportrii n
exploatare a acestora.
3. Ce se intelege prin detectabilitatea unui defect?
Prin detectabilitatea unui defect nelegem capacitatea inspeciei de a sesiza prezena
acestuia prin aplicarea unor metode de investigare specifice, utiliznd echipamente
adecvate.
DE RETINUT (3/4)
4. Ce se intelege prin severitatea unui defect?
Prin severitate se nelege msura sau gradul n care defectul sau defectarea produs
de neconformitate provoac daune sau afecteaz funcionalitatea produsului sau
componentelor sale.
5. Care sunt principalii factori care conditioneaza probabilitatea de aparitie a defectelor?
La estimarea probabilitatii de apariie a defectelor, este necesar o analiz aprofundat a
procesului i a tuturor factorilor care-l condiioneaz:
DE RETINUT (4/4)
Criterii de acceptabilitate a
defectelor (criterii A/R)
CRITERIUL
BUNULUI SIMT
CRITERIUL
ARBITRAR
CRITERIUL
RATIONAL
Criteriul bunului sim - subiectiv, netiinific, acest tip de criteriu se bazeaz pe experiena
ndelungat i bunul sim tehnic al unor persoane, de a intui situaiile n care prezena unor
defecte nu are consecine nefaste asupra produsului.
Criteriul arbitrar, prin care, stabilindu-se o list de defecte, se realizeaz un compromis ntre
exigenele unui organism de inspecie i posibilitile practice de execuie a produsului.
Un mod de alctuire a unui asemenea criteriu l constituie elaborarea de norme sau
standarde prin care produsele sunt mprite pe clase de calitate. Pentru fiecare clas
sunt specificate defectele admise.
Criteriul raional, bazat pe studiul calitativ al influenei defectelor asupra diferitelor caracteristici
ale pieselorpermite estimarea cu destul precizie a comportrii n exploatare a acestora.
Simbolizare D
Simbolizare C
Simbolizare B
EN ISO 10042
EN 12062
Standard de legatura
VT
PT
MT
UT
RT
Denumirea
defectului
Numr
de
referin
ISO
6520
moderat
D
Intermed
C
sever
B
Denumirea
defectului
Numr de
referin
ISO 6520
Observaii
Fisuri
100
Fisuri n
crater
104
Sufluri i
sufluri
sferoidale
2001
2012
2014
2017
Sufluri
grupate
2013
intermediar
C
sever
B
Nu se admit
Se admit
Nu se admit
4%
2%
1%
d < 0,5 s,
0,5 a
5 mm
d < 0,4 s,
0,4 a
4 mm
d < 0,3 s,
0,3 a
3 mm
16 %
8%
4%
d < 0,5 s,
0,5 a
4 mm
d < 0,4 s,
0,4 a
3 mm
d < 0,3 s,
0,3 a
2 mm
2
Sufluri
alungite i
tubulare
3
2015
2016
4
Defecte lungi pentru:
- suduri cap la cap
- suduri n col
n ambele cazuri, dimensiunea maxim
pentru suflurile alungite i suflurile tubulare
Defecte scurte pentru:
- suduri cap la cap
- suduri n col
n ambele cazuri, dimensiunea maxim
pentru suflurile alungite i suflurile tubulare
Incluziuni
solide
(exceptnd
cele de cupru)
300
Incluziuni de
cupru
3042
Lips de topire
(topire
incompl.)
401
Nu se admit
Nu se admit
h < 0,4 s,
0,4 a
3mm, dar nu
mai lungi
dect
grosimea
h < 0,3 s,
0,3 a
2mm, dar nu
mai lungi
dect
grosimea
Nu se admit
Nu se admit
h < 0,4 s,
0,4 a
3 mm, dar nu
mai lungi
dect
grosimea
h < 0,3 s,
0,3 a
2 mm, dar nu
mai lungi
dect
grosimea
h < 0,5 s,
0,5 a
2 mm
h < 0,5 s,
0,5
4mm, dar nu mai
lungi dect
grosimea
h < 0,5 s,
0,5 a
2 mm
h < 0,5 s,
0,5 a
4 mm, dar nu mai
lungi dect
grosimea
Nu se admit
Se admite, dar
numai cu
intermiten i
fr ieire la
suprafa
Nu se admite
Patrundere nominala
Patrundere efectiva
,
Lips de
ptrundere
(ptrundere
incomplet)
Defecte lungi:
Nu se admit
Nu se admite
s
t
Patrundere nominala
,
Patrundere efectiva
Patrundere efectiva
Poziionare
greit i lips
de ptrundere
la sudura n
col
10
Patrundere nominala
Defecte scurte:
h < 0,2 s,
max. 2 mm
h < 0,1 s,
max. 1,5 mm
h < 1 mm +
+ 0,3 a,
max. 4 mm
h < 0,5 mm +
+ 0,2 a,
max. 3 mm
h < 0,5 mm +
+ 0,1 a,
max. 2 mm
Supranlare
excesiv
502
Cresttur
continu sau
cresttur
intermitent
h < 1,5 mm
h < 1,0 mm
h < 0,5 mm
h < 1 mm +
+ 0,25 b,
max. 10 mm
h < 1 mm +
+ 0,15 b,
max. 7 mm
h < 1 mm +
+ 0,1 b,
max. 5 mm
h < 1 mm +
+ 0,25 b,
max. 5 mm
h < 1 mm +
+ 0,15 b,
max. 4 mm
h < 1 mm +
+ 0,1 b,
max. 3 mm
h < 1 mm +
+ 0,3 a,
max. 5 mm
h < 1 mm +
+ 0,2 a,
max. 4 mm
h < 1 mm +
+ 0,15 a,
max. 3 mm
11
12
503
Sudura nominala
Convexitate
excesiv
13
Sudura efectiva
h
14
Sudura efectiva
,
Sudur n col
cu grosimea
total mai
mare dect
grosimea
nominal
Sudura nominala
Sudur n col
cu grosimea
total mai
mic dect
grosimea
nominal
Defecte lungi
Nu se admit
Nu se admite
Defecte scurte
h < 0,3 mm + 0,1 a
Sudura efectiva
max. 2 mm
max. 1 mm
h < 1 mm +
+ 1,2 b,
max. 5 mm
h < 1 mm +
+ 0,6 b,
max. 4 mm
Sudura nominala
504
b
Figura A
h < 0,15 t,
max. 4 mm
h < 0,1 t,
max. 3 mm
t
t
507
Figura B
Defect de
aliniere
18
Se admite
5041
Pictur
17
h < 1 mm +
+ 0,3 b,
max. 3 mm
Exces de
ptrundere
16
max. 3 mm
max. 2 mm
19
Subiere
Supratopire
511
509
Defecte lungi
Nu se admit
Defecte scurte
t
Defect de
simetrie a
sudurii n col
512
h < 0,1 t,
max. 1 mm
h < 0,05 t,
max. 0,5 mm
h < 2 mm +
+ 0,2 a
h < 2 mm +
+ 0,15 a
h < 1,5 mm +
+ 0,15 a
h < 1,5 mm
h < 1 mm
h < 0,5 mm
z2
20
h < 0,2 t,
max. 2 mm
z1
21
Retasur la
rdcin
Cresttur la
rdcin
515
5013
22
Scurgere de
metal
506
Defecte
scurte
Se admit
Nu se admit
23
Reluare
defectuoas
517
Se admite
Nu se admite
24
Arsur
601
25
Strop
602
26
Defecte
multiple ntr-o
seciune
transversal
h1
h
h2
h4
h1
0,25 s sau
0,25 a
max. 10 mm
h3
h5
h4
h2
h6
h 1 +h 2+h 3+h 4 +h 5 +h 6 = h
0,2 s sau
0,2 a
max. 10 mm
0,15 s sau
0,15 a
max. 10 mm
D2
D3
D4
D5
D6
D7
l p = 12 mm
d1= 4,3 mm
d2, 3, 4, 6, 7, = 1 mm
d5 = 2,8 mm
Lp = 200 mm
Conform EN ISO 5817, pt clasa C intermediar
d < 0,4 s,
Dimensiunea maxim pentru o suflur izolat: 4 mm
OK!
OK!
Nu se admite
Observatii
Imperfectiunile sunt indicate la dimensiunile lor reale.
Detectarea si evaluarea lor poate necesita utilizarea unui
ansamblu de metode de examinare nedistructiva.
Metodele necesare pentru detectarea imperfectiunilor nu fac
obiectul standardului 5817. Acest standard este direct
aplicabil la examinarea vizuala a sudurilor si nu prezinta
detalii privind metodele recomandate pentru detectarea sau
masurarea prin metodele END.
Imbinarile sudate, in mod normal trebuie evaluate separat
pentru fiecare tip de imperfectiune.
Oricare doua imperfectiuni alaturate, separate printr-o
distanta inferioara dimensiunii celei mai mici din cele doua
imperfectiuni trebuie considerata ca o singura imperfectiune.
SFARSIT